JPS60230670A - 感光体の表面電位測定装置 - Google Patents
感光体の表面電位測定装置Info
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- JPS60230670A JPS60230670A JP59086156A JP8615684A JPS60230670A JP S60230670 A JPS60230670 A JP S60230670A JP 59086156 A JP59086156 A JP 59086156A JP 8615684 A JP8615684 A JP 8615684A JP S60230670 A JPS60230670 A JP S60230670A
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- JP
- Japan
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- photoreceptor
- detection electrode
- pull power
- voltage
- surface potential
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/02—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for laying down a uniform charge, e.g. for sensitising; Corona discharge devices
- G03G15/0266—Arrangements for controlling the amount of charge
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は複写機の感光体の表面電位測定装置に関するも
のである。
のである。
（従来技術）
従来、この種装置としては、特開昭５７−８０５７０号
あるいは特開昭５８−４４４５０号忙示されるように、
帯電した面からの静電誘導を応用し、チョッパ一方式に
より電位を検出するものが公知となっている。
あるいは特開昭５８−４４４５０号忙示されるように、
帯電した面からの静電誘導を応用し、チョッパ一方式に
より電位を検出するものが公知となっている。
しかしながら、この公知例は静電誘導によるものである
から、検出ヘッドの汚れ等の影響を受けやすく、またヘ
ッドの大きさが大きく、実装上の制約を受ける。さらに
回路が高インピーダンス回路であるから、温度、外来ノ
イズ等の影響を受けやすい上にチョッパなどの部品が必
要で、回路が複雑かつ高価であるという欠点がある。
から、検出ヘッドの汚れ等の影響を受けやすく、またヘ
ッドの大きさが大きく、実装上の制約を受ける。さらに
回路が高インピーダンス回路であるから、温度、外来ノ
イズ等の影響を受けやすい上にチョッパなどの部品が必
要で、回路が複雑かつ高価であるという欠点がある。
（目的）
本発明は、この様な従来例の欠点に鑑みてなされたもの
であり、電位の検出を帯電用チャージャーの領域内で行
なうことになり、電位計の実装上の制約をなくし、さら
に構造が簡単で汚れの影響を受けに＜＜、かつ低コスト
で電位測定が可能な感光体の表面電位測定装置を提供す
ることを目的とするものである。
であり、電位の検出を帯電用チャージャーの領域内で行
なうことになり、電位計の実装上の制約をなくし、さら
に構造が簡単で汚れの影響を受けに＜＜、かつ低コスト
で電位測定が可能な感光体の表面電位測定装置を提供す
ることを目的とするものである。
（構成）
本発明は、従来の表面電位の測定方法装置とは異なシ、
静電抜刀様において、感光体の帯電につかりチャージャ
ーの特性を利用し、チャージャーの放電領域内でかつ、
放電中に放電の結果帯電した感光体の表面電位を測定す
る。詳しく言えば、チャージャーの放電領域中でかつ感
光体表面近傍に設置された検出電極に出力電圧を外部信
号で制御できる電源によシバイアスミ位を与えておき、
この電極に流れる電流が一定になるようにバイアス電位
を制御したときのバイアス電圧が感光体の表面電位の高
さとともに増大するという特性によって表面電位を測定
するものである。したがって従来の表面電位の測定原理
である静電誘導現象とか、静電荷間のクーロン力とが、
電界による逆圧電効果などとは異なる検出原理に基づく
測定装置である。
静電抜刀様において、感光体の帯電につかりチャージャ
ーの特性を利用し、チャージャーの放電領域内でかつ、
放電中に放電の結果帯電した感光体の表面電位を測定す
る。詳しく言えば、チャージャーの放電領域中でかつ感
光体表面近傍に設置された検出電極に出力電圧を外部信
号で制御できる電源によシバイアスミ位を与えておき、
この電極に流れる電流が一定になるようにバイアス電位
を制御したときのバイアス電圧が感光体の表面電位の高
さとともに増大するという特性によって表面電位を測定
するものである。したがって従来の表面電位の測定原理
である静電誘導現象とか、静電荷間のクーロン力とが、
電界による逆圧電効果などとは異なる検出原理に基づく
測定装置である。
以下実施例について説明する。
第１図は特許請求の範囲の１に記載した発明に対応する
実施例の回路図である。これは感光体をプラスに帯電さ
せる場合の例である。感光体６を帯電させるチャージャ
ー１は感光体６に対向しており、コロノード２には高圧
電源５が接続されている０高圧電源５の他端、シールド
３、感光体６の背面電極は接地される。感光体６は矢印
の方向に回転する。チャージャー１の開口部で感光体６
の移動方向の下流の感光体６の表面近傍に表面電位検出
電極４が設けられる。感光体６ｆ：帯電させているとき
にはコロノード２がら検出電極４へ電流ＩＶが流れる。
実施例の回路図である。これは感光体をプラスに帯電さ
せる場合の例である。感光体６を帯電させるチャージャ
ー１は感光体６に対向しており、コロノード２には高圧
電源５が接続されている０高圧電源５の他端、シールド
３、感光体６の背面電極は接地される。感光体６は矢印
の方向に回転する。チャージャー１の開口部で感光体６
の移動方向の下流の感光体６の表面近傍に表面電位検出
電極４が設けられる。感光体６ｆ：帯電させているとき
にはコロノード２がら検出電極４へ電流ＩＶが流れる。
Ａ、Ｂ点間では電源はフローテ４へ流れる電流が検出で
きる。
きる。
Ｉｖはコロナ放電による電流であるから交流成分を多く
含むので、制御回路が不安定になるのを防ぐためＲ１と
並列にＣ１ヲ設は交流成分の除去を行っている。電流Ｉ
ＶはＲ１によ、！ＤＶ＝ＩｖＸＲ１の関係で電圧信号に
変換される。この電圧は＋ＶをＲ２゜Ｒ３で分割した基
準電圧と比較され、差の電圧がオペアンプＱ１によシ増
幅される。例えばＩｖが大きいときは、基準電圧より大
きい電圧が発生するので、Ｑｌの出力は正の電圧が出力
され、Ｒ４ヲ介して、フメトカプラＰＣ１の発光ダイオ
ードの電流が増大する。電流が増すと発光強度が増し、
ＰＣＩの受光素子であるフメトトランジスタの電流が増
える。電流が増すとトランジスタＱ２のベース電位が低
下し、 Ｃ２のコレクタ電流が減少する。コレクタ電流
が減少するとＲｓによる電圧降下が減りＢ点に対してＡ
点の電位が上昇する。Ａ、Ｂの電位差は検出電＆４のバ
イアス電圧であるから、電圧が高くなることによシエＶ
が減少する。っまりＩｖが一定になるようにバイアス電
圧が変化するようにフィードバック制御系が構成されて
いる。
含むので、制御回路が不安定になるのを防ぐためＲ１と
並列にＣ１ヲ設は交流成分の除去を行っている。電流Ｉ
ＶはＲ１によ、！ＤＶ＝ＩｖＸＲ１の関係で電圧信号に
変換される。この電圧は＋ＶをＲ２゜Ｒ３で分割した基
準電圧と比較され、差の電圧がオペアンプＱ１によシ増
幅される。例えばＩｖが大きいときは、基準電圧より大
きい電圧が発生するので、Ｑｌの出力は正の電圧が出力
され、Ｒ４ヲ介して、フメトカプラＰＣ１の発光ダイオ
ードの電流が増大する。電流が増すと発光強度が増し、
ＰＣＩの受光素子であるフメトトランジスタの電流が増
える。電流が増すとトランジスタＱ２のベース電位が低
下し、 Ｃ２のコレクタ電流が減少する。コレクタ電流
が減少するとＲｓによる電圧降下が減りＢ点に対してＡ
点の電位が上昇する。Ａ、Ｂの電位差は検出電＆４のバ
イアス電圧であるから、電圧が高くなることによシエＶ
が減少する。っまりＩｖが一定になるようにバイアス電
圧が変化するようにフィードバック制御系が構成されて
いる。
トランスＴ１ダイメート・ブリッジＤ１コンデンサＣ２
は電源がフローティングである必要があるため、トラン
スＴで交流入力に対して絶縁し、整流、平滑する機能を
有する。Ｒ６はトランジスタＱ２のベースバイアスとＰ
ｃｔのフメトトランジスタのコレクターバイアスを与え
る抵抗である。これらでコントローラプル電 を構成す
る。ＲｏとＰＣ２の発光ダイメートは一定電流が流れて
いるときのバイアス電圧を、感光体６０表表面位データ
として得るための回路である。Ａ、Ｂ間の電圧によシＲ
０に流れる電流が変化し、これに応じてＰＣ２のフメト
トランジスタの電流が変化し、ＲＩＯに発生する電圧と
して、絶縁された形で感光体の表面電位の信号が出力さ
れる。
は電源がフローティングである必要があるため、トラン
スＴで交流入力に対して絶縁し、整流、平滑する機能を
有する。Ｒ６はトランジスタＱ２のベースバイアスとＰ
ｃｔのフメトトランジスタのコレクターバイアスを与え
る抵抗である。これらでコントローラプル電 を構成す
る。ＲｏとＰＣ２の発光ダイメートは一定電流が流れて
いるときのバイアス電圧を、感光体６０表表面位データ
として得るための回路である。Ａ、Ｂ間の電圧によシＲ
０に流れる電流が変化し、これに応じてＰＣ２のフメト
トランジスタの電流が変化し、ＲＩＯに発生する電圧と
して、絶縁された形で感光体の表面電位の信号が出力さ
れる。
第３図は特許請求の範囲２項に記載した発明に対応する
実施例の回路図である。この例も第１図と同様にプラス
帯電の場合である。第１図と共通する部分の説明は省略
する。
実施例の回路図である。この例も第１図と同様にプラス
帯電の場合である。第１図と共通する部分の説明は省略
する。
検出電極４に流れる電流ＩＶは抵抗Ｒ１で検出され、０
点の電圧と比較され、増幅される。出力電圧はＤ点の電
圧で与えられ、ＩＶが目標値に一致するときのコントロ
ーラプル電源７の出力電圧を与えるためのメツセット電
圧と加算、増幅されるＱ２の出力電圧はＡ／Ｄコンバー
タに入力され、デジタルデータに変換される。デジタル
データに変換するのは、第１図の例と同じように検出電
極４のバイアス電源は接地に対して絶縁されている必要
があシ、電源に対して絶縁で信号を送ることが必要にな
るためである。アナログのままフメトヵプラで信号音速
ると、温度特性が悪いので、検出精度が忍くなる。ここ
ではデジタル死後フメトヵプラーで０Ｎ−ＯＦＦデータ
として信号を送るので温度特性による悪影響がさけられ
る。フォト力２−で送られた信号はさらにＤ／Ａ変換さ
れ、コントｏ−クプル％涼７に入力される。この電源７
は第２図に示すような特性を持つもので、入力信号に対
して、出力電圧が一義的に決まるものである。このよう
な特性をもつ電源をっがえば、検出電極４を流れる電流
ＩＶを一定にするように電源の出力音外部信号で制御し
ているとき、電源の出力を第１図のように直接表面電位
信号としてとシださなくてもＱ２の出力端子からアナロ
グ信号とし） て、またＡ／Ｄコンバータの出力からデ
ジタル信号として、感光体の表面電位信号を得る仁とが
できる。
点の電圧と比較され、増幅される。出力電圧はＤ点の電
圧で与えられ、ＩＶが目標値に一致するときのコントロ
ーラプル電源７の出力電圧を与えるためのメツセット電
圧と加算、増幅されるＱ２の出力電圧はＡ／Ｄコンバー
タに入力され、デジタルデータに変換される。デジタル
データに変換するのは、第１図の例と同じように検出電
極４のバイアス電源は接地に対して絶縁されている必要
があシ、電源に対して絶縁で信号を送ることが必要にな
るためである。アナログのままフメトヵプラで信号音速
ると、温度特性が悪いので、検出精度が忍くなる。ここ
ではデジタル死後フメトヵプラーで０Ｎ−ＯＦＦデータ
として信号を送るので温度特性による悪影響がさけられ
る。フォト力２−で送られた信号はさらにＤ／Ａ変換さ
れ、コントｏ−クプル％涼７に入力される。この電源７
は第２図に示すような特性を持つもので、入力信号に対
して、出力電圧が一義的に決まるものである。このよう
な特性をもつ電源をっがえば、検出電極４を流れる電流
ＩＶを一定にするように電源の出力音外部信号で制御し
ているとき、電源の出力を第１図のように直接表面電位
信号としてとシださなくてもＱ２の出力端子からアナロ
グ信号とし） て、またＡ／Ｄコンバータの出力からデ
ジタル信号として、感光体の表面電位信号を得る仁とが
できる。
この例に示した電源は特別なものではなく、Ｄ／Ａ変換
器の出力を入力とする、直流増幅器でもよいし、あるい
は、直流安定化電源の基準電圧としてＤ／Ａ変換器の出
力電圧をつかうものでもよい。
器の出力を入力とする、直流増幅器でもよいし、あるい
は、直流安定化電源の基準電圧としてＤ／Ａ変換器の出
力電圧をつかうものでもよい。
以上説明した実施例はいづれも感光体の帯電極様に感光
体の表面電位の検知が可能である。
体の表面電位の検知が可能である。
（効果）
本発明は以上の通シであシ、本発明の表面電位測定装置
によれば、電位の測定を帯電用チャージャーの領域内で
行なうことによシミ位計の実装上の制約をなくし、さら
に構造が簡単で汚れの影響を受けにくく検出部の清掃も
容易で、かつ低コストで感光体の表面電位の測定ができ
る。
によれば、電位の測定を帯電用チャージャーの領域内で
行なうことによシミ位計の実装上の制約をなくし、さら
に構造が簡単で汚れの影響を受けにくく検出部の清掃も
容易で、かつ低コストで感光体の表面電位の測定ができ
る。
第１図はＭ１発明に対応する実施例に係る表面電位測定
装置を示す回路図、第２図はコントローラプル電源の特
性図、第３図はＭ２発明に対応する実施例に係る表面電
位測定装置を示す回路図である。 工・・・・・・チャージャー、２・・・・・・コロノー
ド、４・・・・・・検出電極、６・・・・・・感光体、
７・・・・・・コントローラプル電源。 第２図 入カ信号
装置を示す回路図、第２図はコントローラプル電源の特
性図、第３図はＭ２発明に対応する実施例に係る表面電
位測定装置を示す回路図である。 工・・・・・・チャージャー、２・・・・・・コロノー
ド、４・・・・・・検出電極、６・・・・・・感光体、
７・・・・・・コントローラプル電源。 第２図 入カ信号
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、感光体と対向しているチャージャー、チャージャー
のコロノードと感光体間に設けられた検出電極、検出電
極と感光体の背面導体間に設置されたコントローラプル
電源、検出電極とコント四−ラプル電源間を流れる電流
を検出し一定電流になるように前記コントローラプル電
源を制御する手段、コントローラプル電源の出力を検出
する手段とよシなることを特徴とする感光体の表面電位
測定装置。 ２、感光体と対向しているチャージャー、チャージャー
のコロノードと感光体間に設けられた検出電極、検出電
極と感光体の背面導体間に設置されたコントローラプル
電源、検出電極とコント目−ラプル電源間を流れる電流
を検出し一定電流になるように前記コントローラプル電
源を制御する手段、コントローラプル電源の制御信号を
出力する手段とよシなることを特徴とする感光体の表面
電位測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59086156A JPH0664104B2 (ja) | 1984-05-01 | 1984-05-01 | 感光体の表面電位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59086156A JPH0664104B2 (ja) | 1984-05-01 | 1984-05-01 | 感光体の表面電位測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60230670A true JPS60230670A (ja) | 1985-11-16 |
| JPH0664104B2 JPH0664104B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=13878875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59086156A Expired - Lifetime JPH0664104B2 (ja) | 1984-05-01 | 1984-05-01 | 感光体の表面電位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0664104B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115078930A (zh) * | 2022-06-14 | 2022-09-20 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种基于电晕放电源的集电极式电位测量装置及方法 |
-
1984
- 1984-05-01 JP JP59086156A patent/JPH0664104B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115078930A (zh) * | 2022-06-14 | 2022-09-20 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种基于电晕放电源的集电极式电位测量装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0664104B2 (ja) | 1994-08-22 |
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