JPS60236074A - 光−電変換同調式部分放電測定装置 - Google Patents
光−電変換同調式部分放電測定装置Info
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- JPS60236074A JPS60236074A JP9260484A JP9260484A JPS60236074A JP S60236074 A JPS60236074 A JP S60236074A JP 9260484 A JP9260484 A JP 9260484A JP 9260484 A JP9260484 A JP 9260484A JP S60236074 A JPS60236074 A JP S60236074A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、部分放電測定装置に係り、特に、光ケーブル
を使って検出部と測定部との間を結合し、例えば電気機
器の絶縁内部や送配電線などに発生する部分放電に伴っ
て電気回路に生ずるパルスの発生用を測定するようにし
た光−電変換同調式部分放電測定装置に関するものであ
る。
を使って検出部と測定部との間を結合し、例えば電気機
器の絶縁内部や送配電線などに発生する部分放電に伴っ
て電気回路に生ずるパルスの発生用を測定するようにし
た光−電変換同調式部分放電測定装置に関するものであ
る。
電気機器絶縁物は、内部に空隙や亀裂があると、この中
で使用中の電界により部分放電が発生し、これが絶縁物
にｔＭ傷を与えて絶縁破壊の原因となる。このような絶
縁の不良や劣化を早期に検出するために、部分放電に伴
うパルス電流を測定する技術が、電気機器の商用試験や
保守試験に利用されている。
で使用中の電界により部分放電が発生し、これが絶縁物
にｔＭ傷を与えて絶縁破壊の原因となる。このような絶
縁の不良や劣化を早期に検出するために、部分放電に伴
うパルス電流を測定する技術が、電気機器の商用試験や
保守試験に利用されている。
部分１】り電が発生ずると、被試験′Ｉａ置中の高電圧
導体から絶縁物を通して機器の鉄心やケースなどの接地
導体へパルス電流が流れるので、このパルスミ流を高電
圧導体や）１に１ｉｌｌ導体に神べｊ、７た検出ｉｌ＋
インピーダンスを１ｉｌｌ Ｉ−、’（、あろい（，１
被試験１４′装置ζ―並列に接続した結合ｍ：１ン：％
：／ ｌｌ−、ｊ検出用−ｆン１゜−ダンスとを通し
てペルス電圧とし“ｒｉｐ出Ｕ５、測定する方法が用い
ｉ＋ 、１１．−（いる。このパルス電１１’、 １．
１普通、１ミリポルｌ川）１１・の極めで小さいイバ号
−乙し、るので、これを増幅する必要がｉＦ＋る。１１
シ電に住゛）パルス電流は、１７．イタ１１秒ＩＩＩ
ｌ・の短１．’１ 間のパルスであるので、数−ＩＳｌ
−１−Ｉヘル゛ンから数１メガヘルツの広い周波数成分
を４）っているが、これを増幅する増幅器の周波数帯域
によっ′ζ種々の特徴がノ１まれる。
導体から絶縁物を通して機器の鉄心やケースなどの接地
導体へパルス電流が流れるので、このパルスミ流を高電
圧導体や）１に１ｉｌｌ導体に神べｊ、７た検出ｉｌ＋
インピーダンスを１ｉｌｌ Ｉ−、’（、あろい（，１
被試験１４′装置ζ―並列に接続した結合ｍ：１ン：％
：／ ｌｌ−、ｊ検出用−ｆン１゜−ダンスとを通し
てペルス電圧とし“ｒｉｐ出Ｕ５、測定する方法が用い
ｉ＋ 、１１．−（いる。このパルス電１１’、 １．
１普通、１ミリポルｌ川）１１・の極めで小さいイバ号
−乙し、るので、これを増幅する必要がｉＦ＋る。１１
シ電に住゛）パルス電流は、１７．イタ１１秒ＩＩＩ
ｌ・の短１．’１ 間のパルスであるので、数−ＩＳｌ
−１−Ｉヘル゛ンから数１メガヘルツの広い周波数成分
を４）っているが、これを増幅する増幅器の周波数帯域
によっ′ζ種々の特徴がノ１まれる。
本発明に関する同調式測定器は、１−記の検出用インピ
ーダンスにて検出したパルス電圧を、ラジオ放送波その
他のなｉＪ害電波の少ない周波数帯域、例えば４００Ｋ
Ｉ＋、を中心としてそのＩｔ ’−Ｆ４こ骨４５ＫＩＩ
２ （１／２イ”−Ｉ” ＋Ｘ＋ ） ＋：（どの帯１
・・いｔｌ）をもつ１．’、１波増波器幅器幅ずろ。こ
の方式の’ｔ、′１１？？は、１１１公昭４２ ２３２
３ｒｉ号公＋口に述べているように、人力パルス信号に
、Ｌつ゛（４００Ｋｌ＋２の振動＋’ｌパルス出力を牛
しるが、帯域幅が一！−４５Ｋ１１．と広いために、約
２ ａ １１ ’ｓで振動が減衰する。したがってこれ
を検波するごとにより、約２０ ｐ Ｓの分解能でパル
スを観測し３１数することができる。一方において、こ
の方式は、上述のように外部からの１１１Ｊ害♀１を音
の侵入が少なく、現場で簡易に測定ができろ特徴を合わ
せもっている。これに比して、例λば数Ｋｌ＋□から数
−Ｉ Ｍ １１２に至る広い帯域の増幅器を用いる場合
は、パルスの分解能はｌマイク１１秒程度に高いが、り
（部から侵入する妨害雑音の層上！を受けやすく、イン
ピーダンス整合とか局部派動の防１になど、４１す定に
は高度の技術を要する欠点がある。
ーダンスにて検出したパルス電圧を、ラジオ放送波その
他のなｉＪ害電波の少ない周波数帯域、例えば４００Ｋ
Ｉ＋、を中心としてそのＩｔ ’−Ｆ４こ骨４５ＫＩＩ
２ （１／２イ”−Ｉ” ＋Ｘ＋ ） ＋：（どの帯１
・・いｔｌ）をもつ１．’、１波増波器幅器幅ずろ。こ
の方式の’ｔ、′１１？？は、１１１公昭４２ ２３２
３ｒｉ号公＋口に述べているように、人力パルス信号に
、Ｌつ゛（４００Ｋｌ＋２の振動＋’ｌパルス出力を牛
しるが、帯域幅が一！−４５Ｋ１１．と広いために、約
２ ａ １１ ’ｓで振動が減衰する。したがってこれ
を検波するごとにより、約２０ ｐ Ｓの分解能でパル
スを観測し３１数することができる。一方において、こ
の方式は、上述のように外部からの１１１Ｊ害♀１を音
の侵入が少なく、現場で簡易に測定ができろ特徴を合わ
せもっている。これに比して、例λば数Ｋｌ＋□から数
−Ｉ Ｍ １１２に至る広い帯域の増幅器を用いる場合
は、パルスの分解能はｌマイク１１秒程度に高いが、り
（部から侵入する妨害雑音の層上！を受けやすく、イン
ピーダンス整合とか局部派動の防１になど、４１す定に
は高度の技術を要する欠点がある。
第１図は当該従来の同調式部分放電測定回路の典型的な
態様を示す図、第２図は第１図に示す測定器の構成例を
示すブロック図である。図において、Ｎｆａ工（験電源
、２はインピーダンス素子、３は回軸ケーブル、４は測
定器、５はパルス検出器、ｆｉ ｔｉｔ減衰器、７は同
誹１増幅器、８は検波積分器、９目指示装置、ＣＸは被
試験装置、Ｃ９は結合コンデンリ゛、′１゛は１ ノン
スをそれぞＪ１小し７ている。
態様を示す図、第２図は第１図に示す測定器の構成例を
示すブロック図である。図において、Ｎｆａ工（験電源
、２はインピーダンス素子、３は回軸ケーブル、４は測
定器、５はパルス検出器、ｆｉ ｔｉｔ減衰器、７は同
誹１増幅器、８は検波積分器、９目指示装置、ＣＸは被
試験装置、Ｃ９は結合コンデンリ゛、′１゛は１ ノン
スをそれぞＪ１小し７ている。
第１図において、１ランス′１゛の一次１ 綿に＋１５
Ａ：験電源１が１ｇ粒さＪ・１、神試験装置ｒ：Ｘｌ、
ｌ、この１ランスＴの−７次巻線にインピーダンス素イ
２と直列にして接続される。そして測定２に４ζ：ｌ、
同軸］ｒ−ブル３を介し結合ゴ！ンデンリＣＸと直列に
し、て被試験装置０、の両◇：１；に・１「２列接続さ
４′１イ１゜ここで、被試験装置０ゆに印加した直重１
「に３１゛って当該被試験装置Ｃイに部分放電が発仕す
ると、被試験装置ＣＸ１結合コンデン・すＣｘ、及び測
定器４よ〃）なるループでパルス電流が環流する。この
パルスの発生量（発生回数）を測定するのが測定器４で
あり、測定器４の構成例を示したのが第２図である。ま
た、第３間は部分放電パルスの信号波形を示す図である
。
Ａ：験電源１が１ｇ粒さＪ・１、神試験装置ｒ：Ｘｌ、
ｌ、この１ランスＴの−７次巻線にインピーダンス素イ
２と直列にして接続される。そして測定２に４ζ：ｌ、
同軸］ｒ−ブル３を介し結合ゴ！ンデンリＣＸと直列に
し、て被試験装置０、の両◇：１；に・１「２列接続さ
４′１イ１゜ここで、被試験装置０ゆに印加した直重１
「に３１゛って当該被試験装置Ｃイに部分放電が発仕す
ると、被試験装置ＣＸ１結合コンデン・すＣｘ、及び測
定器４よ〃）なるループでパルス電流が環流する。この
パルスの発生量（発生回数）を測定するのが測定器４で
あり、測定器４の構成例を示したのが第２図である。ま
た、第３間は部分放電パルスの信号波形を示す図である
。
第２図において、検出器５は、被試験装置０８内で発生
した部分１１（電に伴うパルスが発へにすると、これを
検出するものであり、ごのパルスの１例を示したのが第
３図（Ａ）である。検出器５で検出された第３図（Ａ）
図示の如きパルスは、減衰器６で所望のレヘルに減衰さ
−ｌた後、例えば４００Ｋｌｈに同調せしめた同調回路
を含む同調増幅器７で第３図（Ｂ）図示の如き４００Ｋ
ｌ＋２の振動波形で増幅する。同調増幅器７は、その周
波数帯域を広くとり、１１つ放送波帯域を避けた４００
に１１□±４５Ｋｌ（、に選ぶことにより、放送波の妨
害を受けることがないようにしている。そして同調増幅
後、検波積分器８でまず整流して第３図（Ｃ）図示の如
き２０μｓ程度の整流波形を得、これを積分している。
した部分１１（電に伴うパルスが発へにすると、これを
検出するものであり、ごのパルスの１例を示したのが第
３図（Ａ）である。検出器５で検出された第３図（Ａ）
図示の如きパルスは、減衰器６で所望のレヘルに減衰さ
−ｌた後、例えば４００Ｋｌｈに同調せしめた同調回路
を含む同調増幅器７で第３図（Ｂ）図示の如き４００Ｋ
ｌ＋２の振動波形で増幅する。同調増幅器７は、その周
波数帯域を広くとり、１１つ放送波帯域を避けた４００
に１１□±４５Ｋｌ（、に選ぶことにより、放送波の妨
害を受けることがないようにしている。そして同調増幅
後、検波積分器８でまず整流して第３図（Ｃ）図示の如
き２０μｓ程度の整流波形を得、これを積分している。
ト述の如きパルスの発生量の測定位置は、被試験装置Ｃ
Ｘの図示下側でも可能であるが、機器によっては、機器
の低圧側をケースと共に接地する等、接地を取り外せな
い機器もある。また被試験’Ａ’＋ｆｆｌ ＣＸの図示
１−側や結合コンデンサＣＫの図示り側でも可能である
が、高圧側での測定のためには、例えばパルス検出器５
と減衰器６以下の測定器本体との間を電圧的に絶縁する
必要がある。場合によっては、被試験装置ＣＸから離れ
た測定器４をケーブル３で接続する場合、この測定系が
誘導や１を音を受りる。また測定器４を別に＋ａ Ｉ＋
！！する１合、ｌ’ＤＩＩ！！電位の変動からくる♀１
を音を受＋） ｚ）ｒ’−とＩ）ある。これらの１′１
を音を減らずために１）、検出器５と測定器本体との間
を電位的に絶縁４−る、−と力りｑ！ましい。
Ｘの図示下側でも可能であるが、機器によっては、機器
の低圧側をケースと共に接地する等、接地を取り外せな
い機器もある。また被試験’Ａ’＋ｆｆｌ ＣＸの図示
１−側や結合コンデンサＣＫの図示り側でも可能である
が、高圧側での測定のためには、例えばパルス検出器５
と減衰器６以下の測定器本体との間を電圧的に絶縁する
必要がある。場合によっては、被試験装置ＣＸから離れ
た測定器４をケーブル３で接続する場合、この測定系が
誘導や１を音を受りる。また測定器４を別に＋ａ Ｉ＋
！！する１合、ｌ’ＤＩＩ！！電位の変動からくる♀１
を音を受＋） ｚ）ｒ’−とＩ）ある。これらの１′１
を音を減らずために１）、検出器５と測定器本体との間
を電位的に絶縁４−る、−と力りｑ！ましい。
〔発明のｌｌ的とＩ Ｍ成］
本発明は、１−記のＰＪ察にノ、（づくもので□Ｆ）７
．−（、高圧側でもあるいは被試験装］６゛とは別の接
他電荀においても、パルスの発生上が測定でき、またラ
ジオ放送波などの々Ｊｊ ′１’ｉ Ｉｔ音の影響を受
けることなく、パルス分解能も充分であり、かつ、／ｌ
ｌｌ＋定回路の！Ｉ！ｌ整なども容易に行える光−電変
換同調式部分放電測定装置を（に供するごとをｌｌ的と
するものＣある。
．−（、高圧側でもあるいは被試験装］６゛とは別の接
他電荀においても、パルスの発生上が測定でき、またラ
ジオ放送波などの々Ｊｊ ′１’ｉ Ｉｔ音の影響を受
けることなく、パルス分解能も充分であり、かつ、／ｌ
ｌｌ＋定回路の！Ｉ！ｌ整なども容易に行える光−電変
換同調式部分放電測定装置を（に供するごとをｌｌ的と
するものＣある。
以−Ｆ、本発明の実施例を図面を参照１．７つ″）説明
する。
する。
第４図は本発明の１実施例を説１り目゛る図、第５図は
本発明の具体的な１実施例構成をボず図で５）、る。図
において、ｌ、２，４． ＣＫ、ｅｘ とｉ’ ＋；１
それぞれ第１図に対応するものを示し、］Ｏは検出部、
１２はパルス検出器、１３は減衰器、１４は広帯域増幅
器、１５はミキシング器、１６と２８は電−光変換器、
１７は印加電圧波形検出器、１８ζ１［位相検出器、１
９は減衰器制御器、２０と２１は光−電変換器、２２は
分離器、２３は同調増幅器、２４はゲーｉ・、２５は検
波積分器、２６は指軍装置、２７はゲート波発生器、２
９は減衰器制御器、Ｐ Ｃは光ケーブルをそれぞれ示し
ている。
本発明の具体的な１実施例構成をボず図で５）、る。図
において、ｌ、２，４． ＣＫ、ｅｘ とｉ’ ＋；１
それぞれ第１図に対応するものを示し、］Ｏは検出部、
１２はパルス検出器、１３は減衰器、１４は広帯域増幅
器、１５はミキシング器、１６と２８は電−光変換器、
１７は印加電圧波形検出器、１８ζ１［位相検出器、１
９は減衰器制御器、２０と２１は光−電変換器、２２は
分離器、２３は同調増幅器、２４はゲーｉ・、２５は検
波積分器、２６は指軍装置、２７はゲート波発生器、２
９は減衰器制御器、Ｐ Ｃは光ケーブルをそれぞれ示し
ている。
本発明においては、先に述べた如き同調式部分Ｊｉｋ電
測定装置において、測定回路から直接同軸ケーブルによ
り測定器を接続するのではなく、第４図図示の如く、測
定回路に光−電変換手段を備える検出部１０を接続し、
該検出部１０での検出信号を一１１光信号に変換し゛ζ
光ケーブルＰＣを介して測定器４に伝達するように構成
するようにしている。この、１、うな構成を採用するの
に件って当然のこと乍ら、測定器４にも光−電変換手段
を備え、光ケーブルｌ） Ｃを介して送られてくる検出
部１０からの光信号を再び電気信号に変１ｆｉし処理す
るように構成される。従っ゛（測定器４で（１１、Ｉｌ
ｌび電気信号に変換した出力を、先に述べた如き同ｊｌ
ｌｌ増幅器に供給し、そしてその出力を検波１１１ｉ分
する。
測定装置において、測定回路から直接同軸ケーブルによ
り測定器を接続するのではなく、第４図図示の如く、測
定回路に光−電変換手段を備える検出部１０を接続し、
該検出部１０での検出信号を一１１光信号に変換し゛ζ
光ケーブルＰＣを介して測定器４に伝達するように構成
するようにしている。この、１、うな構成を採用するの
に件って当然のこと乍ら、測定器４にも光−電変換手段
を備え、光ケーブルｌ） Ｃを介して送られてくる検出
部１０からの光信号を再び電気信号に変１ｆｉし処理す
るように構成される。従っ゛（測定器４で（１１、Ｉｌ
ｌび電気信号に変換した出力を、先に述べた如き同ｊｌ
ｌｌ増幅器に供給し、そしてその出力を検波１１１ｉ分
する。
光ケーブル１）（二を介１．７で信号を伝達する九ツノ
°−プル結合手段を採用することに、１、っ°６第４図
を参照して明瞭となる如く、検出部１（）、換言ずれば
測定回路と４１１１定器４とは電気的に絶縁されるので
、第１図図示従来例の如く、放電パルスの検出点を低圧
側に限定・りす、高圧側にしても、全く同じ測定！ｉｉ
４を用いることができる。従って、回し測定器４を用い
ても、検出部１０は、第４図の如く結合コンデンリＣＫ
の図示上側や被試験装置（への図示ｌ−側にも適宜接続
替えをずろことが＋ｊｌ能である。
°−プル結合手段を採用することに、１、っ°６第４図
を参照して明瞭となる如く、検出部１（）、換言ずれば
測定回路と４１１１定器４とは電気的に絶縁されるので
、第１図図示従来例の如く、放電パルスの検出点を低圧
側に限定・りす、高圧側にしても、全く同じ測定！ｉｉ
４を用いることができる。従って、回し測定器４を用い
ても、検出部１０は、第４図の如く結合コンデンリＣＫ
の図示上側や被試験装置（への図示ｌ−側にも適宜接続
替えをずろことが＋ｊｌ能である。
次に、第４図及び第５図図示の検出部１０と同調増幅器
を含む測定器４の具体的な実施例（＾１成を第５図を参
照しつつ説明する。第５図（八）においてパルス検出器
１２は、第２図図示のパルス検出器５に対応するもので
あり、ここで放電パルスの検出を行う。検出された放電
パルスの検出信号番Ｊ、減衰器１３により所望のレベル
に減衰させた後、広帯域増幅器あるいは同調増幅器１４
により増幅される。他方、印加電圧波形検出器１７では
、試験電圧の基本波形（例えば商用電源波形）の検出を
行い、位相検出器１８により基本波形の位相検出、例え
ば零点（零クロス点）検出を行う。そして、ミキシング
器１５では、増幅器１４の出力と位相検出器１８の出力
とのミキシングを行い、ミキシングした出力信号を電−
光変換器１６により光信号に変換する。この光信号が光
ケーブルＰＣを介して検出部１０から測定器４に送られ
る。
を含む測定器４の具体的な実施例（＾１成を第５図を参
照しつつ説明する。第５図（八）においてパルス検出器
１２は、第２図図示のパルス検出器５に対応するもので
あり、ここで放電パルスの検出を行う。検出された放電
パルスの検出信号番Ｊ、減衰器１３により所望のレベル
に減衰させた後、広帯域増幅器あるいは同調増幅器１４
により増幅される。他方、印加電圧波形検出器１７では
、試験電圧の基本波形（例えば商用電源波形）の検出を
行い、位相検出器１８により基本波形の位相検出、例え
ば零点（零クロス点）検出を行う。そして、ミキシング
器１５では、増幅器１４の出力と位相検出器１８の出力
とのミキシングを行い、ミキシングした出力信号を電−
光変換器１６により光信号に変換する。この光信号が光
ケーブルＰＣを介して検出部１０から測定器４に送られ
る。
これに対して測定器４ （第５図（Ｂ））では、光１８
号を光−電変換器２１により電気信号に変換し、この電
気信号を分局１器２２により放電パルスの検出信号と試
験電源の位相信月とに分離する。ここで分前された放電
パルスの検出信号は同調増幅器２３に供給され、位相信
号はゲート波発生器２７に（ｌ給される。同調増幅器１
４および２３は、先に述べたり■く、放電パルスの電圧
によって予め定０ めた周波数の振動型ｊ１を発生する１Ｉｉｌ ＡＩ！、
１回路をイ１゛するものである。この同１ｉ１１周波数
以夕１の信号はミニ１−シング器１５で放電パルス信号
２−同・の光伝ｉスジステム１６、Ｐ Ｃ１２１にのせ
ｉｔ ４またｊ（、分Ｈ１器２２の周波数特ｒ１に、ｌ
、っ°（、容易ζ、二分聞１されろという特徴が、同調
式測定器を使うご占によって７１まれる。この他、印加
電圧波形検出器１７の代わりに、充電電流波形検出を行
い、この信号をミー１−シング器１５以Ｆで、上述と同
様の操作により測定器４に送り、この↑＋’ｔ ＋［Ｉ
を放電パルスと同時に測定することも可能である。また
減衰器１３のレンジ切換点を表示する伝りを、−に記の
同調信号と別の周波数の信号として、ミキシングａｊ：
ｌ ｄに送り、上述と同様に測定器４に′Ｃ３このイ
、）号を分離しで、利用することもできる。ゲート２４
は、デー１波発生器２７で発’ｌ二り、たゲート信号に
従って同調増幅器２３の出力信号を選択的に検波積分器
２５４に出力するものである。
号を光−電変換器２１により電気信号に変換し、この電
気信号を分局１器２２により放電パルスの検出信号と試
験電源の位相信月とに分離する。ここで分前された放電
パルスの検出信号は同調増幅器２３に供給され、位相信
号はゲート波発生器２７に（ｌ給される。同調増幅器１
４および２３は、先に述べたり■く、放電パルスの電圧
によって予め定０ めた周波数の振動型ｊ１を発生する１Ｉｉｌ ＡＩ！、
１回路をイ１゛するものである。この同１ｉ１１周波数
以夕１の信号はミニ１−シング器１５で放電パルス信号
２−同・の光伝ｉスジステム１６、Ｐ Ｃ１２１にのせ
ｉｔ ４またｊ（、分Ｈ１器２２の周波数特ｒ１に、ｌ
、っ°（、容易ζ、二分聞１されろという特徴が、同調
式測定器を使うご占によって７１まれる。この他、印加
電圧波形検出器１７の代わりに、充電電流波形検出を行
い、この信号をミー１−シング器１５以Ｆで、上述と同
様の操作により測定器４に送り、この↑＋’ｔ ＋［Ｉ
を放電パルスと同時に測定することも可能である。また
減衰器１３のレンジ切換点を表示する伝りを、−に記の
同調信号と別の周波数の信号として、ミキシングａｊ：
ｌ ｄに送り、上述と同様に測定器４に′Ｃ３このイ
、）号を分離しで、利用することもできる。ゲート２４
は、デー１波発生器２７で発’ｌ二り、たゲート信号に
従って同調増幅器２３の出力信号を選択的に検波積分器
２５４に出力するものである。
減衰器１３は、所望のレヘルに減衰さ一ロるため従来は
直接手動操作などに、）、って、ｉ＋！、１５にしてい
たが、本発明においては、第５図図示の如く、測定器４
側に減衰器制御器２つを設け、この信号を、電−光変換
器２８、光ケーブルｐｃ、光−電変換器２０を介し７て
減衰器制御器１９に送り、減衰器制御器１【）により減
衰器１３を制御するように構成する。このようにするこ
とによって、高圧側あるい番、１測定器４とは別の接地
電位側に存在する検出部１０内の減衰器１３の減衰レヘ
ルを、被試験装置ＣＸに電圧を印加したままの状態で調
整することが可能となる。
直接手動操作などに、）、って、ｉ＋！、１５にしてい
たが、本発明においては、第５図図示の如く、測定器４
側に減衰器制御器２つを設け、この信号を、電−光変換
器２８、光ケーブルｐｃ、光−電変換器２０を介し７て
減衰器制御器１９に送り、減衰器制御器１【）により減
衰器１３を制御するように構成する。このようにするこ
とによって、高圧側あるい番、１測定器４とは別の接地
電位側に存在する検出部１０内の減衰器１３の減衰レヘ
ルを、被試験装置ＣＸに電圧を印加したままの状態で調
整することが可能となる。
以１−の説明から明らかなように、本発明によれば、従
来、同軸ケーブルを用いて測定器を測定回路に接続して
いたものを光ケーブル結合を用いるようにし、しかも放
電パルスの検出信号の処理を同調方式で行うようにした
ので、上述の如く、商用電源の印ＪＩＩＩ電圧位相や減
衰器調整のための制御、その他の上記同調周波数領域以
外の周波数の多信号を、測定すべき放電パルス検出信月
と並行して送受信することが可能となると共に、被測定
装置２ と測定器間の接１１！！を電（☆的にり１４１１−・１
ごとができ、また族１１パルスの測定（☆置を１１（圧
倒のｊ］でなく 、＋１；圧側でも置くことが＋−１ｆ
ｉヒになり、＋良＋＋！！が取り夕１・ｉ！ない機器の
測定も■１能になる。また、同調１−．１波数以外の妨
害雑音を受りることなく、！’ｆｊｌｌ！！電荀の変動
や測定ケーブルなどの受ける誘導などのための雑音を減
らすこともできる。
来、同軸ケーブルを用いて測定器を測定回路に接続して
いたものを光ケーブル結合を用いるようにし、しかも放
電パルスの検出信号の処理を同調方式で行うようにした
ので、上述の如く、商用電源の印ＪＩＩＩ電圧位相や減
衰器調整のための制御、その他の上記同調周波数領域以
外の周波数の多信号を、測定すべき放電パルス検出信月
と並行して送受信することが可能となると共に、被測定
装置２ と測定器間の接１１！！を電（☆的にり１４１１−・１
ごとができ、また族１１パルスの測定（☆置を１１（圧
倒のｊ］でなく 、＋１；圧側でも置くことが＋−１ｆ
ｉヒになり、＋良＋＋！！が取り夕１・ｉ！ない機器の
測定も■１能になる。また、同調１−．１波数以外の妨
害雑音を受りることなく、！’ｆｊｌｌ！！電荀の変動
や測定ケーブルなどの受ける誘導などのための雑音を減
らすこともできる。
第１図は従来の同調式部分放電−ＩＩ定回路の１例を示
す図、第２図は従来の測定器の構成例を示すブロック図
、第３図はｊノ（電パルスの信号波形を示す図、第４図
は本発明の１実施例を説明する図、第５図は本発明の具
体的な１実施例構成を示ず図である。 １・・・試験ｉ源、２・・・インピーダンス素子、３・
・・同軸ケーブル、４・・・測定器、５と１２・・・パ
ルス検出器、６と１３・・・減衰器、７と２３・・・同
＃ｊｉＪ増幅器、８と２５・・・検波積分器、９と２６
・・・指示装置、１０・・・検出部、１４・・・広帯域
増幅器、１５・・・ミキシ３ ング器、１６と２８・・・電−光変換器、１７・・・印
加電圧波形検出器、１８・・・位相検出器、１９と２９
・・・減衰器制御器、２０と２１・・・光−電変換器、
２４・・・ゲート、２７・・・ゲート波発生器、ＣＸ・
・・被試験装置、Ｃ８・・・結合コンデンサ、Ｔ・・・
トランス、ＰＣ・・・光ケーブル。 特許出願人 株式会社 日本計測器製造所代理人弁理士
森 １） 寛 （外３名）４
す図、第２図は従来の測定器の構成例を示すブロック図
、第３図はｊノ（電パルスの信号波形を示す図、第４図
は本発明の１実施例を説明する図、第５図は本発明の具
体的な１実施例構成を示ず図である。 １・・・試験ｉ源、２・・・インピーダンス素子、３・
・・同軸ケーブル、４・・・測定器、５と１２・・・パ
ルス検出器、６と１３・・・減衰器、７と２３・・・同
＃ｊｉＪ増幅器、８と２５・・・検波積分器、９と２６
・・・指示装置、１０・・・検出部、１４・・・広帯域
増幅器、１５・・・ミキシ３ ング器、１６と２８・・・電−光変換器、１７・・・印
加電圧波形検出器、１８・・・位相検出器、１９と２９
・・・減衰器制御器、２０と２１・・・光−電変換器、
２４・・・ゲート、２７・・・ゲート波発生器、ＣＸ・
・・被試験装置、Ｃ８・・・結合コンデンサ、Ｔ・・・
トランス、ＰＣ・・・光ケーブル。 特許出願人 株式会社 日本計測器製造所代理人弁理士
森 １） 寛 （外３名）４
Claims (1)
- 被試験装置に試験霜月〜を印加すると共に当該試験電圧
が印加された状ｒ＋＝の丁で当該試験電圧ｒｉ’ ｌ’
１で発生ずる部分放電に基づく放７Ｂパルスを、Ｑｌ該
放電パルスがもっている１４波数成分内の周波数に同調
する同調回路を用いて測定する部分放電測定装置におい
て、電気信号を−［１光信号に変換し光ケーブルを介し
て伝送し再び電気信号に変換する光ケーブル結合手段と
、上記放電パルスに３１っで生じる周波数成分内の予め
定めた周波数の振動電圧を抽出する同調回路とをそなえ
、ト記光ノノーープル結合手段を使って伝達されｌ−記
同、１ｌｉ１１回路を介ｊ７て抽出された１−記予め定
めた周波数成分のｙ：ｉ：Ｉ＋を検波積分することを特
徴とする光−電変換同調ｆ（部分放電測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9260484A JPS60236074A (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | 光−電変換同調式部分放電測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9260484A JPS60236074A (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | 光−電変換同調式部分放電測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60236074A true JPS60236074A (ja) | 1985-11-22 |
| JPH0522874B2 JPH0522874B2 (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=14059051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9260484A Granted JPS60236074A (ja) | 1984-05-09 | 1984-05-09 | 光−電変換同調式部分放電測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60236074A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6321874U (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-13 | ||
| JPH02287170A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-11-27 | Hydro Quebec | 携帯用局部放電検出器装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5167765U (ja) * | 1974-11-22 | 1976-05-28 | ||
| JPS55152474A (en) * | 1979-05-18 | 1980-11-27 | Hitachi Ltd | Partial discharge detection circuit |
-
1984
- 1984-05-09 JP JP9260484A patent/JPS60236074A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5167765U (ja) * | 1974-11-22 | 1976-05-28 | ||
| JPS55152474A (en) * | 1979-05-18 | 1980-11-27 | Hitachi Ltd | Partial discharge detection circuit |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6321874U (ja) * | 1986-07-25 | 1988-02-13 | ||
| JPH02287170A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-11-27 | Hydro Quebec | 携帯用局部放電検出器装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0522874B2 (ja) | 1993-03-30 |
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