JPS60236594A - X線診断装置 - Google Patents
X線診断装置Info
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- JPS60236594A JPS60236594A JP59094796A JP9479684A JPS60236594A JP S60236594 A JPS60236594 A JP S60236594A JP 59094796 A JP59094796 A JP 59094796A JP 9479684 A JP9479684 A JP 9479684A JP S60236594 A JPS60236594 A JP S60236594A
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- JP
- Japan
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- subject
- distortion
- picture
- processing
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、被写体を透畑したX線を検出することにより
、医学的診鵬に有込な画像及び計測値音出力することが
できるX線診断装置に関する。
、医学的診鵬に有込な画像及び計測値音出力することが
できるX線診断装置に関する。
従来のX組診断装勤の中で%にデジタル・フルオログラ
フ装機は、造影前の被写体を透通したX線の強弱を電気
信号の強弱に変換し、これらの電偲信号の強弱を対数変
換して画素濃度とするマスク画(JJ(Iobj)を記
憶しておく。
フ装機は、造影前の被写体を透通したX線の強弱を電気
信号の強弱に変換し、これらの電偲信号の強弱を対数変
換して画素濃度とするマスク画(JJ(Iobj)を記
憶しておく。
また、同様にして造影中の被写体がら有られるコントラ
スト画像(Ico)をめ、Iobj画像とI c o
ii!ii*との間でサブトラクト処理を行々って造影
組織の上に重なる背景を除去し、造影組織のみのサブト
ラクト画像(Ls I)を表示して循環器系の疾患診断
に供していた。
スト画像(Ico)をめ、Iobj画像とI c o
ii!ii*との間でサブトラクト処理を行々って造影
組織の上に重なる背景を除去し、造影組織のみのサブト
ラクト画像(Ls I)を表示して循環器系の疾患診断
に供していた。
しかしながら、前記Ls■画像の画素濃度から造影組織
の原形状を表示した)、断面積2体積等を計測しようと
する時、シェープインク等による装置固有の歪み、散乱
X線による歪み、背景による線質硬化の歪み、造影剤自
身による線質硬化歪みが複雑に作用し合って、迄影糺織
の実体厚と上記のLsx画像の画素濃度値から開側した
it測厚との間に大きなずれが生じてしまう。このため
、Lsr画像の画素濃度イ的から血官の狭窄率、梗塞率
、心容積等を推定することは精度が低く、極端な場合に
は誤診にもつながるという欠点を為していた。
の原形状を表示した)、断面積2体積等を計測しようと
する時、シェープインク等による装置固有の歪み、散乱
X線による歪み、背景による線質硬化の歪み、造影剤自
身による線質硬化歪みが複雑に作用し合って、迄影糺織
の実体厚と上記のLsx画像の画素濃度値から開側した
it測厚との間に大きなずれが生じてしまう。このため
、Lsr画像の画素濃度イ的から血官の狭窄率、梗塞率
、心容積等を推定することは精度が低く、極端な場合に
は誤診にもつながるという欠点を為していた。
本発明は上記事情に鑑みて成されたもので必り、被写体
画像又は造影中の被写体画像に非線型歪みの補正を施し
て診断士有効な1iI119t’t Mることかできる
X線診断装置を提供することを目的とするものである。
画像又は造影中の被写体画像に非線型歪みの補正を施し
て診断士有効な1iI119t’t Mることかできる
X線診断装置を提供することを目的とするものである。
ト卯日的′j7−嘉罰寸入奇りの太癌叩の柄塊Fトー粕
写体を置かないでXa曝射して鞠られたエアーバス画像
(Io)と、被写体を置いてXa曝射した場合の被与体
画像(I obj )と、既知厚でかつ既知X線透過萄
性を有する物質Aから成る平板ファントム及び被与体を
置いてXM曝射した場合の被写体+平版A画像(Iob
j+*)とを前記画像収集装置で収集して前記画像記憶
装置に記憶し、この画像記憶装置から読み出した前記I
o両画像Iobj画修及びIobj+A画像とから装置
固有の非線型歪みを袖正した画像(Lobj及びLob
j+A)をそれぞれ得る装置固有歪み補正演算部と、前
記Lobj 画像に対して各画素毎忙散乱係数(SC)
を算出して得る散乱X線補正係数演舅剖と、前記散乱係
数(SC)とLobj 5bi像とから散乱X線による
非線型歪みを補正した被写体の画像(Mo b j )
を算出して伯る散乱X線補正演算部とを設けたことを判
徴とするものである。
写体を置かないでXa曝射して鞠られたエアーバス画像
(Io)と、被写体を置いてXa曝射した場合の被与体
画像(I obj )と、既知厚でかつ既知X線透過萄
性を有する物質Aから成る平板ファントム及び被与体を
置いてXM曝射した場合の被写体+平版A画像(Iob
j+*)とを前記画像収集装置で収集して前記画像記憶
装置に記憶し、この画像記憶装置から読み出した前記I
o両画像Iobj画修及びIobj+A画像とから装置
固有の非線型歪みを袖正した画像(Lobj及びLob
j+A)をそれぞれ得る装置固有歪み補正演算部と、前
記Lobj 画像に対して各画素毎忙散乱係数(SC)
を算出して得る散乱X線補正係数演舅剖と、前記散乱係
数(SC)とLobj 5bi像とから散乱X線による
非線型歪みを補正した被写体の画像(Mo b j )
を算出して伯る散乱X線補正演算部とを設けたことを判
徴とするものである。
以下に本発明の原理及び実施例を詳細に説明するへ
先ず、本発明の原理について説明する。本発明に係るX
線診断装置は、基本的には下記の4工程を実行する装置
よ多構成される。
線診断装置は、基本的には下記の4工程を実行する装置
よ多構成される。
第1に、画像収集に際して第1図(a) 、 (b)
、 (C)に示すようにして3種の画像を祷る、ここで
、同図において1で示すものはX!発生器であシ、2で
示すものは裕写体で1.3で示すものは既知厚であシか
つ既知X線透過触性を有する物質A(例えばAt、Cu
等)のA平板ファントムでアリ、4で示すものはX線透
過像を増幅して光学像に変換するイメージインテンシフ
ァイア(以下、1.Iと略する)である。先ず、第1図
(a)に示すように照射域に@写体2.A平板ファント
ム3を共に廁かない状態でX線を曝射してエアーパス画
像Io を有る。尚、以下の説明において「エコとはビ
デオ信号を対数変換したものを示す。次に、第1図(c
)に示すように照射域に被写体2とAXfl−板フアン
トム3とを置いた状態でX線を曝射して被写体十平板へ
画像(Iobj+a)を得る。最後に、第1図(b)K
示すように照射域に′@零鉢体2みを置いた状態でX線
をl暴射して被写体画像(、Iobj)を得る。
、 (C)に示すようにして3種の画像を祷る、ここで
、同図において1で示すものはX!発生器であシ、2で
示すものは裕写体で1.3で示すものは既知厚であシか
つ既知X線透過触性を有する物質A(例えばAt、Cu
等)のA平板ファントムでアリ、4で示すものはX線透
過像を増幅して光学像に変換するイメージインテンシフ
ァイア(以下、1.Iと略する)である。先ず、第1図
(a)に示すように照射域に@写体2.A平板ファント
ム3を共に廁かない状態でX線を曝射してエアーパス画
像Io を有る。尚、以下の説明において「エコとはビ
デオ信号を対数変換したものを示す。次に、第1図(c
)に示すように照射域に被写体2とAXfl−板フアン
トム3とを置いた状態でX線を曝射して被写体十平板へ
画像(Iobj+a)を得る。最後に、第1図(b)K
示すように照射域に′@零鉢体2みを置いた状態でX線
をl暴射して被写体画像(、Iobj)を得る。
第2に、前記Iobj 画像及びIobj+a画像に対
してシューブインク等の装置固有の非線型歪みを補止し
た画’h (Lobj及びLo b j+A)を鞠る。
してシューブインク等の装置固有の非線型歪みを補止し
た画’h (Lobj及びLo b j+A)を鞠る。
このLobj I[II+i& 、Lobj+A画魯は
前記Iobj+*画像と前記Io Nil像との差分を
各画素毎にめればよい。
前記Iobj+*画像と前記Io Nil像との差分を
各画素毎にめればよい。
従って、Lobj TIJJ<IJ、Lobj+人画体
は下記の式(1)。
は下記の式(1)。
(2)で表わされる。
Lobj”Io Iobj 囮・・・・・・・・・・・
(1)Lobj+A= Io −Iobj+A””””
四′°°゛(2)第3に、前記り。bj両画像対して各
画素毎に散乱係数(SC)全算出する。この散乱係数(
SC)は下記の式(8)で表わされる。
(1)Lobj+A= Io −Iobj+A””””
四′°°゛(2)第3に、前記り。bj両画像対して各
画素毎に散乱係数(SC)全算出する。この散乱係数(
SC)は下記の式(8)で表わされる。
・・・・・・・・・・・・・・・(81ここで、ZAは
A平板ファントム3の厚さである。
A平板ファントム3の厚さである。
パラメータα、β、rは前記物質Aと被写体2とに類似
した物質で構成したファントムを用いて予めめられた線
質硬化歪みである。
した物質で構成したファントムを用いて予めめられた線
質硬化歪みである。
第4に、前記し。bj両画像散乱係数(SC)とから、
装置固有の非想型歪みが補正されたし。bj両画像対し
てさらに散乱X&lによる非線型歪みの補正を実行する
。装部、固有の非線型歪み補正及び散乱X線による歪み
補正が実行された被写体画像をMobjと表わせは、こ
のMobj 画像は下記の式(4)%式% (4) このように、初写体画偏に対して装置固有の非線型歪み
補正と散乱X##による歪み補正とを行うことができる
ため、補正後の画像を表示することにより診断上有効な
画像を提供することができる。
装置固有の非想型歪みが補正されたし。bj両画像対し
てさらに散乱X&lによる非線型歪みの補正を実行する
。装部、固有の非線型歪み補正及び散乱X線による歪み
補正が実行された被写体画像をMobjと表わせは、こ
のMobj 画像は下記の式(4)%式% (4) このように、初写体画偏に対して装置固有の非線型歪み
補正と散乱X##による歪み補正とを行うことができる
ため、補正後の画像を表示することにより診断上有効な
画像を提供することができる。
次に、本発明を造影畑注入装置とサブトラクト処理部と
を具備したX軸診断装置に適用し、装置固有の非線型歪
みと散乱X&lによる非線型歪みとを補正した造影組織
画像(サブトラクト画像)をめることができる原理につ
いて、第2図(a)乃至第2図(9)を参照して説明す
る。第2図(、・、) 、 (b) 、 (c)はそれ
ぞれエアーパス画像(Io)、造影前被写体画イ像r岬
フカ画イ髪1−Lハ 刈拐山兄譬kiili+ 144
4 /−・ノドラスト画像Ico)をめる場合の概略説
明図である。第2図図示2aは造影前の座管を示し、第
2図図示28′は造影中の血、管を示している。第1図
(a) 、 (b) 、 (0)の各場合の収梁データ
を対数変換した前記Io画fJ、Iol)j画像+ I
CO画像を第2図(d)。
を具備したX軸診断装置に適用し、装置固有の非線型歪
みと散乱X&lによる非線型歪みとを補正した造影組織
画像(サブトラクト画像)をめることができる原理につ
いて、第2図(a)乃至第2図(9)を参照して説明す
る。第2図(、・、) 、 (b) 、 (c)はそれ
ぞれエアーパス画像(Io)、造影前被写体画イ像r岬
フカ画イ髪1−Lハ 刈拐山兄譬kiili+ 144
4 /−・ノドラスト画像Ico)をめる場合の概略説
明図である。第2図図示2aは造影前の座管を示し、第
2図図示28′は造影中の血、管を示している。第1図
(a) 、 (b) 、 (0)の各場合の収梁データ
を対数変換した前記Io画fJ、Iol)j画像+ I
CO画像を第2図(d)。
(e) 、 (f)に示す、次に、前記IobjlTI
I像とICO画像とに対して装置固有の非線型歪みの補
正を行なって補正後のマスク画(&Lobjとコントラ
スト画像Lcoをめる。Lobj画傳は画像c式(1)
に従ってめ、LCO画像も同様にして下記の式(5)に
従ってめる。
I像とICO画像とに対して装置固有の非線型歪みの補
正を行なって補正後のマスク画(&Lobjとコントラ
スト画像Lcoをめる。Lobj画傳は画像c式(1)
に従ってめ、LCO画像も同様にして下記の式(5)に
従ってめる。
L(Bo= Io Ico ・・・・・・・・中・・・
・(5)このようにしてめたLobj画像とり。0画像
とを第2図(2)) 、 01)に示す。次に、装置固
有の非線型歪みが補正された前記Lobj画傷とLCO
画像とからサブトラクト画像(I、s r )をめる−
このLSI画併は、下記の式(6)K従って各画素毎に
サブトラクト処理を実行することによりめられる。
・(5)このようにしてめたLobj画像とり。0画像
とを第2図(2)) 、 01)に示す。次に、装置固
有の非線型歪みが補正された前記Lobj画傷とLCO
画像とからサブトラクト画像(I、s r )をめる−
このLSI画併は、下記の式(6)K従って各画素毎に
サブトラクト処理を実行することによりめられる。
Ls!= Lco −Lobj ・・・・・・・・・・
・・・・・(6)と−のサブトラクトm4To (T、
o t )′&tjA 9−112QrisF 云”f
−次に、このサントラクト画像(Lsr)に対して散
乱X#I!による非線型歪みの補正を実行して、補正後
のサントラクト画像(Msx)をめる。このMsr画像
は散乱係数をSCとして MsI= Lsi/SC・・・・・・・・・・・・・・
・(7)よ請求められる。、向、この散乱係数(SC)
は前記式(8)に基づいて予めめておく。従って、前述
したように被写体2とA平板ファントム3とを照射域に
朧いてX線を曝射した際の級与体+平板A画像(Iob
j+A)を予め収集し、前記式(2) ′Jk:実行し
て画像Lobj+Aを算出して前記式(3)の実行に供
するようにする。この結果曲られたMSI画像を第2図
(j)に示す。このようにして、サブトラクト1惜(M
a r )をめることによシ装置固有の非線型歪みと散
乱XMによる非線型歪みとを補正したサブトラクト像を
表示することができ、診断上極めて有効な画像を提供す
ることができる、 また、上記のサブトラクト像(Msx)を用いることに
より、造影組織厚と画素濃度とが線型関係を有する造影
組織厚画像Zlsxをめることができる。この造影組織
厚画像ZIstは、下記の式(8)を実行することによ
請求められる。
・・・・・(6)と−のサブトラクトm4To (T、
o t )′&tjA 9−112QrisF 云”f
−次に、このサントラクト画像(Lsr)に対して散
乱X#I!による非線型歪みの補正を実行して、補正後
のサントラクト画像(Msx)をめる。このMsr画像
は散乱係数をSCとして MsI= Lsi/SC・・・・・・・・・・・・・・
・(7)よ請求められる。、向、この散乱係数(SC)
は前記式(8)に基づいて予めめておく。従って、前述
したように被写体2とA平板ファントム3とを照射域に
朧いてX線を曝射した際の級与体+平板A画像(Iob
j+A)を予め収集し、前記式(2) ′Jk:実行し
て画像Lobj+Aを算出して前記式(3)の実行に供
するようにする。この結果曲られたMSI画像を第2図
(j)に示す。このようにして、サブトラクト1惜(M
a r )をめることによシ装置固有の非線型歪みと散
乱XMによる非線型歪みとを補正したサブトラクト像を
表示することができ、診断上極めて有効な画像を提供す
ることができる、 また、上記のサブトラクト像(Msx)を用いることに
より、造影組織厚と画素濃度とが線型関係を有する造影
組織厚画像Zlsxをめることができる。この造影組織
厚画像ZIstは、下記の式(8)を実行することによ
請求められる。
ここで、画像Mc oは前記コントラスト画像Lcoに
対して散乱X線による非線型歪みた補正した画像であシ
、下記の式(9)よ請求められる。
対して散乱X線による非線型歪みた補正した画像であシ
、下記の式(9)よ請求められる。
Mco =Lco/ SC・・・・・・・・・・・・・
・・(9)また、パラメータγ、s、tは造影血液に類
似した物質と被写体に類似した物・質とから稿成される
ファントムを用いて予めめられるものであり、造影剤自
身及び背景による線質硬化歪みを示している。
・・(9)また、パラメータγ、s、tは造影血液に類
似した物質と被写体に類似した物・質とから稿成される
ファントムを用いて予めめられるものであり、造影剤自
身及び背景による線質硬化歪みを示している。
このように、装置固有の非線型歪みと散乱)1による非
線型歪みとを補正した後に造影組織厚画偉ZIsrをめ
ることができるため、このZIsi画僑よりめられる造
影組織の厚さ、−f:の厚さ形状、断面積及び体積等の
泪測値の精度を高めることができる。
線型歪みとを補正した後に造影組織厚画偉ZIsrをめ
ることができるため、このZIsi画僑よりめられる造
影組織の厚さ、−f:の厚さ形状、断面積及び体積等の
泪測値の精度を高めることができる。
次に、この発明の一実施例について図面を参照りながら
説明する。
説明する。
第3図は、この発明の一実施例である)1診断装Nを示
すブロック図である。
すブロック図である。
同図において、X線発生部1.被写体2.A平板ファン
トム3及び1.I4については既に第1図。
トム3及び1.I4については既に第1図。
第2図において説明したため、その詳細な説明を省絡す
る、尚、第3図に示す前記A子板ファントム3は、後述
するシステムコントローラ12の制@1に基づいて、X
i照躬域内に出入可能となっている、5で示すのは、前
言ピ■・工4により変換された光を集光し、その光強度
をW41節する光学系たとえばレンズ・光学フィルタ系
あるいはレンズ・絞υ系でおり、6で示すのは、前記光
学系5を透過した光学傳を光電変換する2次元検出器た
とえば撮像管である。7で示すのは、前記2次元検出ム
ロよシ出力される電気信号を対数変換し増幅する対数変
換型増幅器であり、8で示すのは前記2次元検出器6よ
シ出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換するA
/D変換器で必り、9で示す/7′1針 床二六廿1ト
?入の 韮1&プ門壽・ソ廿り韮i侃記憶装敵とを有す
る画像処理装置であり、1oで示すのは、前記画像処理
装置9より出力されるデジタル信号をアナログ信号に変
換するD/A変換器である。11で示すのは、前記D/
A変換器8より出力されるアナログ信号に基づき、被検
体の画像を表示する画像表示装置である。12で示すの
は、X線発生為1、造影剤注入装置14、A平板ファン
トム3.光学系5、対数変換型増幅ゐ7、A/D変換器
8画像処理装置9等の装徴各剖の動作を制御するところ
の、中央演算処理装置を内臓するシステムコントローラ
で−1,13で示すのは、前記゛システムコントローラ
12内にあらかじめプログラムされているところの、被
検体2内の目的部位に応じた撮影条件と画像処理モード
とシーケンスと等を選択する選択キイを有する操作パネ
ルである。14で示すのは、システムコントローラ12
の制御を受けて所定時期に所定量の面前造影剤を被検体
2内に自動注入する造影剤注入装置であり、15で示す
のは、被検体2の心電開側をしてそのデジタルデータを
1ilIi (i #を刊! * 習Q f出力する、
A/D変換器内臓の心電]測装俤である。
る、尚、第3図に示す前記A子板ファントム3は、後述
するシステムコントローラ12の制@1に基づいて、X
i照躬域内に出入可能となっている、5で示すのは、前
言ピ■・工4により変換された光を集光し、その光強度
をW41節する光学系たとえばレンズ・光学フィルタ系
あるいはレンズ・絞υ系でおり、6で示すのは、前記光
学系5を透過した光学傳を光電変換する2次元検出器た
とえば撮像管である。7で示すのは、前記2次元検出ム
ロよシ出力される電気信号を対数変換し増幅する対数変
換型増幅器であり、8で示すのは前記2次元検出器6よ
シ出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換するA
/D変換器で必り、9で示す/7′1針 床二六廿1ト
?入の 韮1&プ門壽・ソ廿り韮i侃記憶装敵とを有す
る画像処理装置であり、1oで示すのは、前記画像処理
装置9より出力されるデジタル信号をアナログ信号に変
換するD/A変換器である。11で示すのは、前記D/
A変換器8より出力されるアナログ信号に基づき、被検
体の画像を表示する画像表示装置である。12で示すの
は、X線発生為1、造影剤注入装置14、A平板ファン
トム3.光学系5、対数変換型増幅ゐ7、A/D変換器
8画像処理装置9等の装徴各剖の動作を制御するところ
の、中央演算処理装置を内臓するシステムコントローラ
で−1,13で示すのは、前記゛システムコントローラ
12内にあらかじめプログラムされているところの、被
検体2内の目的部位に応じた撮影条件と画像処理モード
とシーケンスと等を選択する選択キイを有する操作パネ
ルである。14で示すのは、システムコントローラ12
の制御を受けて所定時期に所定量の面前造影剤を被検体
2内に自動注入する造影剤注入装置であり、15で示す
のは、被検体2の心電開側をしてそのデジタルデータを
1ilIi (i #を刊! * 習Q f出力する、
A/D変換器内臓の心電]測装俤である。
次に、前記画像処理装置9について詳述する。
第4図に示すように、画像処理装置9は、jlij 傷
処理コントローラ20と、セレクタ21と、画像前処理
装置22と、画像後処理装置23とを有する。画像処理
コントローラ20は、心電耐測装飲15よυ出力され、
心電データバス■を介して伝送されるデジタル心電計測
データとシステムコントローラ12より出力される副側
j信号A1とを入力し、画像処理装置9内各部の動作シ
ーケンス等の制御を与える制御信号を出力するように#
!成されている。セレクタ21は、対数変換型増幅器7
より出力され、画像データバス■を介して伝送される画
像データと、佐述の画像後処理装置23より出力され、
画像データバス■を介して伝送される前処理用画像デー
タとを入力し、前計画像データおよび前処理用l!]i
偉データのいずれか一系統のデータを、曲1像処理コン
トローラ20より出力される制御信号S1により選択し
、俵述の画像前処理装置22に、画像データバス■を介
して出力する切り換えスイッチとして構成される。画像
前処理装置22は、前記セレクタ21よ多出力されると
ころの装置固有歪み補正用画像データ(エアーパス画像
データ)を記憶し、この記憶されている補正用画体デー
タを基にして、前記セレクタ21を介して前記対数変換
型増幅器7よ多出力される画像データに対して、シエー
デンク歪み等の装置固有歪みを補正するように、画像処
理コントローラ20よ多出力される制御信号P1により
前処理を行い、画像データバス■を介して前処理拶の画
像データを出力するように構成されている。尚、1If
Il像前処理装匝22についてはさらに詳しく観述する
。画像後処理装置23は、画像前処理装置22より出力
され、画像データバス■を介して入力する前処理後の画
像データを人力し、画像処理コントローラ20よ多出力
される制御信号Q1によシ、前記前処理後の画像データ
につき、散乱係数SCをめる処理、散乱xm歪み補正処
理、サフトラクト処理、線質硬化歪み補正処理等の処理
を行い、非線型歪みが補正された造影組織厚画像を作成
し、その造影組織厚画伶から血管厚、面管り面積+ r
u容積等のディメンジョン及び機能を絹測する処理等を
行って記憶し、画像デークツ(ス■を介して表示用の画
像データを画像表示装置11に出力し、また、前処理用
画体データを画像データノくス■を介して前記セレクタ
21に出力するように構成されている。
処理コントローラ20と、セレクタ21と、画像前処理
装置22と、画像後処理装置23とを有する。画像処理
コントローラ20は、心電耐測装飲15よυ出力され、
心電データバス■を介して伝送されるデジタル心電計測
データとシステムコントローラ12より出力される副側
j信号A1とを入力し、画像処理装置9内各部の動作シ
ーケンス等の制御を与える制御信号を出力するように#
!成されている。セレクタ21は、対数変換型増幅器7
より出力され、画像データバス■を介して伝送される画
像データと、佐述の画像後処理装置23より出力され、
画像データバス■を介して伝送される前処理用画像デー
タとを入力し、前計画像データおよび前処理用l!]i
偉データのいずれか一系統のデータを、曲1像処理コン
トローラ20より出力される制御信号S1により選択し
、俵述の画像前処理装置22に、画像データバス■を介
して出力する切り換えスイッチとして構成される。画像
前処理装置22は、前記セレクタ21よ多出力されると
ころの装置固有歪み補正用画像データ(エアーパス画像
データ)を記憶し、この記憶されている補正用画体デー
タを基にして、前記セレクタ21を介して前記対数変換
型増幅器7よ多出力される画像データに対して、シエー
デンク歪み等の装置固有歪みを補正するように、画像処
理コントローラ20よ多出力される制御信号P1により
前処理を行い、画像データバス■を介して前処理拶の画
像データを出力するように構成されている。尚、1If
Il像前処理装匝22についてはさらに詳しく観述する
。画像後処理装置23は、画像前処理装置22より出力
され、画像データバス■を介して入力する前処理後の画
像データを人力し、画像処理コントローラ20よ多出力
される制御信号Q1によシ、前記前処理後の画像データ
につき、散乱係数SCをめる処理、散乱xm歪み補正処
理、サフトラクト処理、線質硬化歪み補正処理等の処理
を行い、非線型歪みが補正された造影組織厚画像を作成
し、その造影組織厚画伶から血管厚、面管り面積+ r
u容積等のディメンジョン及び機能を絹測する処理等を
行って記憶し、画像デークツ(ス■を介して表示用の画
像データを画像表示装置11に出力し、また、前処理用
画体データを画像データノくス■を介して前記セレクタ
21に出力するように構成されている。
このように、画像処理装置9は1IilI像罰処理装置
22により画像データに含まれる装置固有歪みを補正し
、補正して徊た前処理後の画像データを画像後処理装置
23により入力し、散乱線歪み補正。
22により画像データに含まれる装置固有歪みを補正し
、補正して徊た前処理後の画像データを画像後処理装置
23により入力し、散乱線歪み補正。
、W質砂化歪み補正、ディメンジョン計測および16血
管機能組測処理等の後処理をし、表示用の画像データを
出力するようになっている。
管機能組測処理等の後処理をし、表示用の画像データを
出力するようになっている。
次に、第5図を参照し々から、画像前処理装置22につ
いて詳述する。
いて詳述する。
画像前処理装置22は、セレクタ30と・エアーバス画
像データメモリ31と、和演算巻32と、装置固有パラ
メータメモザ33と、差演算器34ントローラ20より
出力される制御(E号PS+に従って、画像データバス
■を介して伝送される辿1イ孤データのうち、被検体2
を置かないでX線曝射して得られるシェープインク歪み
@を補正する補正用画像データ即ちエアーノ(ス画像デ
ータを選択してこれをエアーバス画像データメモリ31
に出力い前記エアーパス画体データ以外の画イZデータ
を差演算器34に出力する切携スイッチでおる。
像データメモリ31と、和演算巻32と、装置固有パラ
メータメモザ33と、差演算器34ントローラ20より
出力される制御(E号PS+に従って、画像データバス
■を介して伝送される辿1イ孤データのうち、被検体2
を置かないでX線曝射して得られるシェープインク歪み
@を補正する補正用画像データ即ちエアーノ(ス画像デ
ータを選択してこれをエアーバス画像データメモリ31
に出力い前記エアーパス画体データ以外の画イZデータ
を差演算器34に出力する切携スイッチでおる。
エアーバス画像データメモリ31U、エアーノ(ス画併
データを格納する記憶装置であり、装置固有パラメータ
メモリ33はX線照射条件データと光学系5における光
減衰度データとを格納するWe憶装置であり、画像処理
コントローラ20よシの宙1j御信号PD2に従って省
き換え可能であるーオ0演算恭32は、画像処理コント
ローラ20より出力される制御信号PC2に従ってエア
ーノ(ス画倫データメモリ31に格納されているエアー
ノくス画1像データを入力し、装置固有ノくラメータメ
モリ33に格納されているX線曝射条件データと光減衰
度テ−を差−614算器34に出力する演算器である。
データを格納する記憶装置であり、装置固有パラメータ
メモリ33はX線照射条件データと光学系5における光
減衰度データとを格納するWe憶装置であり、画像処理
コントローラ20よシの宙1j御信号PD2に従って省
き換え可能であるーオ0演算恭32は、画像処理コント
ローラ20より出力される制御信号PC2に従ってエア
ーノ(ス画倫データメモリ31に格納されているエアー
ノくス画1像データを入力し、装置固有ノくラメータメ
モリ33に格納されているX線曝射条件データと光減衰
度テ−を差−614算器34に出力する演算器である。
追油a。
福34は、画像処理コントローラ20よシ出力される制
御信号PC6に従って、和M3ii泰32から出力され
る補正用画像データから、セレクタ30よ)出力される
画像データを減算して、ショーデインク歪み等を補正し
た画像データを後述の画像後処理装置23へ画像データ
バス■を介して出力する。
御信号PC6に従って、和M3ii泰32から出力され
る補正用画像データから、セレクタ30よ)出力される
画像データを減算して、ショーデインク歪み等を補正し
た画像データを後述の画像後処理装置23へ画像データ
バス■を介して出力する。
次に、前記画像後処理装置23について第6図を参照し
て詳述する。画像後処理装置23は、後述するような補
正演算ユニット群と処理演算ユニット群とから構成され
る複数個の画像演算ユニット50−1.・・・50−J
と、複数個の画像記憶装置ω−1,・・・、60−にと
、セレクタ70とを有する。前記補正演算ユニット群は
少なくとも散乱係数演算ユニット、@乱X線歪み補正演
算ユニット、サブトラクト演算ユニット、線質硬化歪み
補正演算ユニットとから桶成されている。処理演算ユニ
ット群は、心拍位相フィツト演算ユニット、輪隔抽出演
算ユニット、容積?lji算ユニツユニット積演算ユニ
ット、階調処理演算ユニット、画体平均演算ユニット、
フィルタ演算ユニット、造影剤濃度曲線演算ユニット等
とから構成される。そして、h倍俵処理装置23は、画
像データバス■を介して伝送されてくる画像データを前
記複数個の画侮演算ユニツ)50−1.・・・、50−
Jに入力し、画像処理コントローラ20によシ出力され
る制御信号Qp+。
て詳述する。画像後処理装置23は、後述するような補
正演算ユニット群と処理演算ユニット群とから構成され
る複数個の画像演算ユニット50−1.・・・50−J
と、複数個の画像記憶装置ω−1,・・・、60−にと
、セレクタ70とを有する。前記補正演算ユニット群は
少なくとも散乱係数演算ユニット、@乱X線歪み補正演
算ユニット、サブトラクト演算ユニット、線質硬化歪み
補正演算ユニットとから桶成されている。処理演算ユニ
ット群は、心拍位相フィツト演算ユニット、輪隔抽出演
算ユニット、容積?lji算ユニツユニット積演算ユニ
ット、階調処理演算ユニット、画体平均演算ユニット、
フィルタ演算ユニット、造影剤濃度曲線演算ユニット等
とから構成される。そして、h倍俵処理装置23は、画
像データバス■を介して伝送されてくる画像データを前
記複数個の画侮演算ユニツ)50−1.・・・、50−
Jに入力し、画像処理コントローラ20によシ出力され
る制御信号Qp+。
・・・、 QP、rによシ指定されて駆動して所定の処
理を行い、1illI像処理コントローラ20よ、!l
l出力された制御係号Q11.・・・、Qfにより指定
された画像記憶装置60−1.・・・、60−Kに画像
データバス■土の画像データを格納し、画像処理コント
ローラ20より出力される制御信号Q01.・・・、Q
Oxで指定される画像t’憶装置60−1.・・・、6
0−Kから画像データバス■あるいはりに画像データを
出力し、画像データバス■又は■上の画像データはさら
に別の画像処理をするために再び前記画像演算ユニット
50−1 、・・・、50−Jに入力され、画像処理コ
ントローラ20より出力される制御信号QCtによシ、
画像表示のための画像データバス■又はセレクタ21へ
伝送するための画像データバス■のいずれかに画像デー
タを振り分けるように#4軟されている、 画像記憶装置60−1.・・・、60−Kには、前記画
像前処理装置22にょ9装置向有歪みが補正された造影
前被写体II!ll傳Lobjと、造影前級写体十A平
機ファントム画ff1Lobj+Aと、造影中級写体画
像Lco等の画像データが、画像演算ユニット50−1
を肺j作させないで通過して順次記憶される。
理を行い、1illI像処理コントローラ20よ、!l
l出力された制御係号Q11.・・・、Qfにより指定
された画像記憶装置60−1.・・・、60−Kに画像
データバス■土の画像データを格納し、画像処理コント
ローラ20より出力される制御信号Q01.・・・、Q
Oxで指定される画像t’憶装置60−1.・・・、6
0−Kから画像データバス■あるいはりに画像データを
出力し、画像データバス■又は■上の画像データはさら
に別の画像処理をするために再び前記画像演算ユニット
50−1 、・・・、50−Jに入力され、画像処理コ
ントローラ20より出力される制御信号QCtによシ、
画像表示のための画像データバス■又はセレクタ21へ
伝送するための画像データバス■のいずれかに画像デー
タを振り分けるように#4軟されている、 画像記憶装置60−1.・・・、60−Kには、前記画
像前処理装置22にょ9装置向有歪みが補正された造影
前被写体II!ll傳Lobjと、造影前級写体十A平
機ファントム画ff1Lobj+Aと、造影中級写体画
像Lco等の画像データが、画像演算ユニット50−1
を肺j作させないで通過して順次記憶される。
画像演算ユニツ) 50−1は、画像記憶6o−1・・
・、60−にの定められたフロックにif、 *されて
いるLobj画僑及画像obj+A画像を画像データバ
ス■及び■よシ読み出し、上記の式(8)に従って散乱
係数SCを各画素毎にめる、そして、この散乱係数(S
C)をデータバス■を介して画像記憶装置60−1.・
・・、60−にの定められたブロックに格りする。
・、60−にの定められたフロックにif、 *されて
いるLobj画僑及画像obj+A画像を画像データバ
ス■及び■よシ読み出し、上記の式(8)に従って散乱
係数SCを各画素毎にめる、そして、この散乱係数(S
C)をデータバス■を介して画像記憶装置60−1.・
・・、60−にの定められたブロックに格りする。
散乱歪み補正演算ユニッ)50−2は、画像訃“憶装機
60−1 、・・・、60−にの足められたブロックに
画像とを入力し、前記式(4)の演算を各画素毎に実行
して散乱X#歪み補正済の造影nil ′:#Ji方体
画怪(Mobj)を画傅記恒装&60−1、−、60−
にの定められたブロックへ出力する。次にIil Th
にして、散乱係数(SC)とLcor[!lI倍とを入
力して前記式(9)の仙算を各画素毎に実行して散乱X
耐φみ神正済みの造影中被写体画t4 (Me o )
t−作成して出力する。
60−1 、・・・、60−にの足められたブロックに
画像とを入力し、前記式(4)の演算を各画素毎に実行
して散乱X#歪み補正済の造影nil ′:#Ji方体
画怪(Mobj)を画傅記恒装&60−1、−、60−
にの定められたブロックへ出力する。次にIil Th
にして、散乱係数(SC)とLcor[!lI倍とを入
力して前記式(9)の仙算を各画素毎に実行して散乱X
耐φみ神正済みの造影中被写体画t4 (Me o )
t−作成して出力する。
サブトラクト演算ユニット50−3は、士配のMobj
YhmとM2O画へとを入力して、Ms t = M
e 。
YhmとM2O画へとを入力して、Ms t = M
e 。
Mobjを実行して各画集毎に背景を除去して造影組織
画像(Ms I)を作成して出力する。尚、前記造影組
織画像(Mar)の作成は、前記しco画像とLobj
画像とから前記式(6)を実行して予めサブトラクト画
(8(LS I 請求め、このサブトラクト画像(Ls
I )に対して前記式(7)を実行して逓影中級与体
画偏(MsX)k求めるようにしてもよい。単に割p手
順が相違するのみである。
画像(Ms I)を作成して出力する。尚、前記造影組
織画像(Mar)の作成は、前記しco画像とLobj
画像とから前記式(6)を実行して予めサブトラクト画
(8(LS I 請求め、このサブトラクト画像(Ls
I )に対して前記式(7)を実行して逓影中級与体
画偏(MsX)k求めるようにしてもよい。単に割p手
順が相違するのみである。
lh質硬化歪み補正′tiIJ算ユニツ)50−4は、
前記MS、画倍とMc、画像とを入力し、前記式<8.
1を実行影組緘厚画像ZISIを各画素毎に作成して出
力する。尚、前記各画(&Mobj +Mcm、Mst
、ZIstは、画像記憶装置板60−1.・・・、60
−にの定められたフロックにThc’憶され、必蛍に応
じて読み出されて向傷表示に供されることにLト 次に、以上のように4’A成されたXtjI診断装置の
作用について詣t[3)Iする。
前記MS、画倍とMc、画像とを入力し、前記式<8.
1を実行影組緘厚画像ZISIを各画素毎に作成して出
力する。尚、前記各画(&Mobj +Mcm、Mst
、ZIstは、画像記憶装置板60−1.・・・、60
−にの定められたフロックにThc’憶され、必蛍に応
じて読み出されて向傷表示に供されることにLト 次に、以上のように4’A成されたXtjI診断装置の
作用について詣t[3)Iする。
先ず、第1にエアーパス画偽データ及び装置固有のパラ
メータの入力手順について説明する。操作パネル1.!
、を操作して装置固有歪み補正データ・セットスイッチ
を押下すると、システムコントローラ12はX線発生器
1に管電圧、管電流等のX線曝射粂件を示すデータを、
光学系5には光強度の減衰度を示すテークを、画倶処理
会館には処珈シーケンス制御伯号A1をそれぞれ出力す
る。そして、先ず被検体2とA平板ファントム3と’J
[かない状態で操作パネル13土のX線発生器lより所
定のX線が曝射される。曝射されたX線によるX紳透過
倍は、1.I4によシ光学#に変換される。
メータの入力手順について説明する。操作パネル1.!
、を操作して装置固有歪み補正データ・セットスイッチ
を押下すると、システムコントローラ12はX線発生器
1に管電圧、管電流等のX線曝射粂件を示すデータを、
光学系5には光強度の減衰度を示すテークを、画倶処理
会館には処珈シーケンス制御伯号A1をそれぞれ出力す
る。そして、先ず被検体2とA平板ファントム3と’J
[かない状態で操作パネル13土のX線発生器lより所
定のX線が曝射される。曝射されたX線によるX紳透過
倍は、1.I4によシ光学#に変換される。
この光学傳は、光学系5で指定された強度に減衰され、
2次元検出器たとえば撮倍繁6に入力する。
2次元検出器たとえば撮倍繁6に入力する。
撮傷管6よ多出力されるアナログ信号としてのエアーバ
ス向傷データは、対数変換型増幅器7で対数変換され、
A/D俊換器8でテイジタル化されて画像処理装機9に
入力する。向傷処理装機9においては、前記エアーパス
画体データはセレクタ21を介して向傷前処理装檻22
に人力する。向傷前処理装置22においては、前記エア
ーパス画像データは、セレクタ 30を介してエアーパ
ス1傅データメモリ31に記憶される。一方、装置固有
パラメータメモリ33には、画像処理コントローラ20
から出力されたX線曝躬条件データと光減衰データとが
書き込まれる。以上の動作により、画像前処理製餡22
内の装置固有歪み補正用データの入力が完了する。
ス向傷データは、対数変換型増幅器7で対数変換され、
A/D俊換器8でテイジタル化されて画像処理装機9に
入力する。向傷処理装機9においては、前記エアーパス
画体データはセレクタ21を介して向傷前処理装檻22
に人力する。向傷前処理装置22においては、前記エア
ーパス画像データは、セレクタ 30を介してエアーパ
ス1傅データメモリ31に記憶される。一方、装置固有
パラメータメモリ33には、画像処理コントローラ20
から出力されたX線曝躬条件データと光減衰データとが
書き込まれる。以上の動作により、画像前処理製餡22
内の装置固有歪み補正用データの入力が完了する。
第2に、被写体2が患者である場合において造影剤を注
入して患者の造影組織画像を表示する処理手順について
説明する。先ず、システムコントローラ12からシステ
ム制御信号がX線発生器1、造影剤注入装fill 2
、 A平板ファントム3゜光学系5及び画像処理装動
9に送られ、これらの各装置のセットが完了する。この
後、次のよう力手順でX線曝射を開始する。先ず、投影
前の@与体2+A平板ファントム3を透過したX線を検
出し、次に前記曝射開始後T1時間が経過してからA平
板ファントム3を除き造影前級η体2のみを透過したX
耐を検出し、最後に曝射開始後T2時間が経過してから
被写体2に造影剤が注入され、造影中級写体2を透過し
たX線を検出する。この際、心電引測装餉15から逐次
に心電データが向傷処理装憤9に入力すると共に、被写
体2晴を透過した上記31」のX糾透過侶か1.I4か
らA/D亥挾巻8を介して画像処理装部に11貝次人力
する。上記3種類の級検体向傷データ(Iobj+A、
Iobj、IC8)は、辿1僑前処理装屓22において
シューブインク歪み等の装置固有の非線型歪みが補止さ
れ、この装置固有歪み補正波の画像(Lobj十A、L
obj 、Lco)は画像稜処理装置23に入力する。
入して患者の造影組織画像を表示する処理手順について
説明する。先ず、システムコントローラ12からシステ
ム制御信号がX線発生器1、造影剤注入装fill 2
、 A平板ファントム3゜光学系5及び画像処理装動
9に送られ、これらの各装置のセットが完了する。この
後、次のよう力手順でX線曝射を開始する。先ず、投影
前の@与体2+A平板ファントム3を透過したX線を検
出し、次に前記曝射開始後T1時間が経過してからA平
板ファントム3を除き造影前級η体2のみを透過したX
耐を検出し、最後に曝射開始後T2時間が経過してから
被写体2に造影剤が注入され、造影中級写体2を透過し
たX線を検出する。この際、心電引測装餉15から逐次
に心電データが向傷処理装憤9に入力すると共に、被写
体2晴を透過した上記31」のX糾透過侶か1.I4か
らA/D亥挾巻8を介して画像処理装部に11貝次人力
する。上記3種類の級検体向傷データ(Iobj+A、
Iobj、IC8)は、辿1僑前処理装屓22において
シューブインク歪み等の装置固有の非線型歪みが補止さ
れ、この装置固有歪み補正波の画像(Lobj十A、L
obj 、Lco)は画像稜処理装置23に入力する。
画像稜処理装置23は、被写体向Lm (Lobj+A
、Lobj 、Lco)t*惰演算ユニツ)50−1’
e動作させないで羊に通過させた後、複数個の画像記憶
装瞼60−1.・・・。
、Lobj 、Lco)t*惰演算ユニツ)50−1’
e動作させないで羊に通過させた後、複数個の画像記憶
装瞼60−1.・・・。
60−にの定められたブロックに格納される。薔写体向
傷データのうち、LobjiIII傳とり。0画像とは
111次サブトラクト演算ユニット50−3に入力して
サブトラフ)(ILsrがめられ、画体データバス■、
セレクタ70及びD/Af捩ム1ロム10て向傷表示装
置11に出力され、仮の造影組織画像として表示される
。医師等はこの表示された仮の造影組織画像を見て、検
査が適切であったかどうかを判断する2 次に、画像記憶i*60−1.・・・、60−にの所定
のブロックに格納された装置固有歪み補正済み画4k
(Lobj+A及びLobj)を散乱係数演算ユニット
5O−IK入力し、散乱係数(SC)が各画素毎にめら
れて、この散乱係M(SO)が向傷記憶装置60−1.
・・・、60−にの所定のブロックに格納される。その
後、上前散乱係数(SC)とLobj画像が散乱X線歪
み補正演泗ユニッ)50−2に入力し、散乱X線歪みが
補正された造影前画像(Mobj)を作成し、画像に’
rl装抛60−1、−.60−にのP9r足のブロック
に格納される。同様にして、前Hr散乱係数(SC)と
Lco画倶画侶ら散乱X線含みが補正されfc、ぶ影中
i+++: 4k (Mc o )’に作成して格納す
る。その俵、MObj画傳と向傷0画侶とをfi!質硬
化企み補正’&!−1ユニット50−4に入力し、造影
組絨庫と画素製膜とが線型関係を示す造彬糺織厚画惰Z
I(8)を作越し、画体記憶製餡go−x 、・・・、
60−にの所定のフロックに格納する。そして、この造
影組織厚画惰ZIsIを読み出し、向傷データバス■、
セレクタ70及びD/A変換器10を介して向傷表示装
置べ11に出力9表示される。さらに、この造影紹織厚
l1tll傳ZIsr’i用いてディメンジョン組測。
傷データのうち、LobjiIII傳とり。0画像とは
111次サブトラクト演算ユニット50−3に入力して
サブトラフ)(ILsrがめられ、画体データバス■、
セレクタ70及びD/Af捩ム1ロム10て向傷表示装
置11に出力され、仮の造影組織画像として表示される
。医師等はこの表示された仮の造影組織画像を見て、検
査が適切であったかどうかを判断する2 次に、画像記憶i*60−1.・・・、60−にの所定
のブロックに格納された装置固有歪み補正済み画4k
(Lobj+A及びLobj)を散乱係数演算ユニット
5O−IK入力し、散乱係数(SC)が各画素毎にめら
れて、この散乱係M(SO)が向傷記憶装置60−1.
・・・、60−にの所定のブロックに格納される。その
後、上前散乱係数(SC)とLobj画像が散乱X線歪
み補正演泗ユニッ)50−2に入力し、散乱X線歪みが
補正された造影前画像(Mobj)を作成し、画像に’
rl装抛60−1、−.60−にのP9r足のブロック
に格納される。同様にして、前Hr散乱係数(SC)と
Lco画倶画侶ら散乱X線含みが補正されfc、ぶ影中
i+++: 4k (Mc o )’に作成して格納す
る。その俵、MObj画傳と向傷0画侶とをfi!質硬
化企み補正’&!−1ユニット50−4に入力し、造影
組絨庫と画素製膜とが線型関係を示す造彬糺織厚画惰Z
I(8)を作越し、画体記憶製餡go−x 、・・・、
60−にの所定のフロックに格納する。そして、この造
影組織厚画惰ZIsIを読み出し、向傷データバス■、
セレクタ70及びD/A変換器10を介して向傷表示装
置べ11に出力9表示される。さらに、この造影紹織厚
l1tll傳ZIsr’i用いてディメンジョン組測。
機能開側を行ないたい場合には、対応する向傷演%ユ=
ツ)50−1.・・・、50−Jの一つで実施すること
ができる、7 尚、本発明は上記実施例に限定されるものに限らず、本
発明の禦旨の範囲内で種々の変形実施が可能であること
は言うまでも々い。例えば、前記実施例ではA平版ファ
ントム3を@与体2とI・I4との間に卸商したが、X
#照射域内であれば)1発生省1と被写体2との間に配
置してもよい。
ツ)50−1.・・・、50−Jの一つで実施すること
ができる、7 尚、本発明は上記実施例に限定されるものに限らず、本
発明の禦旨の範囲内で種々の変形実施が可能であること
は言うまでも々い。例えば、前記実施例ではA平版ファ
ントム3を@与体2とI・I4との間に卸商したが、X
#照射域内であれば)1発生省1と被写体2との間に配
置してもよい。
また、対数変換型増幅器7は、画体前処理装置22の中
に組み込まれた対数変換テーブルとディジタル対数変換
器とで組成するようにしてもよい。さらに、エアーパス
画像の収集は、11PIのみのX線曝射によるものに限
らず、n回曝射して平均するようにしてもよい。
に組み込まれた対数変換テーブルとディジタル対数変換
器とで組成するようにしてもよい。さらに、エアーパス
画像の収集は、11PIのみのX線曝射によるものに限
らず、n回曝射して平均するようにしてもよい。
以上詳述したように、本発明によれば被写体画侑又は造
影中の被写体画侶に装置固有の非線型歪み及び散渥X糾
による非線型歪みの補正を行なって診断士有効々1侶を
得ることができるX#診断装置を提供することができる
。
影中の被写体画侶に装置固有の非線型歪み及び散渥X糾
による非線型歪みの補正を行なって診断士有効々1侶を
得ることができるX#診断装置を提供することができる
。
第1図(a) 、 (b) 、 (c)はエアーバス向
傷、被写体向傷、被再体十A平板画像の収集を示す概略
説明図、第2図(a)乃至第2図(ロ)−は本発明を造
影剤注入装置とサブトラクト処理部とを具備したxi1
j診断装置に適用した場合の動作原理欽明図、第3図は
本発明の一実施例装置のブロック図、第4図は向傷処理
装置の7゛ロツク、第5図は画侶前処理装置のブロック
図、第6図はi[!II傷後処理装圃の1172図であ
る・ 1・・・X&1発/4E器、 2・・・被写体、 3・
・・A平版ファントム、 6・・・2次元X線検出器、
7・・・対数増幅型増幅器、 8・・・A/D変余輻
、 9・・・向傷処理装置、 14・・・造影剤注入装
置、 22・・・装置b!!I有歪み補正′OA初、剖
、 50−1・・・散乱X給補正係数1IJIi算部、
50−2・・・散乱X線補正演算剖、 50−3・・
・サブトラクト処理W、50−4・・・心1袈硬化歪み
補正y4算剖。 (a) (b) (C) Iobj Iobj Iobj+A 弔2図 (d) (e) Position 弔2図 (f) (Q) (h) (i) (3) (k) ■ ■
傷、被写体向傷、被再体十A平板画像の収集を示す概略
説明図、第2図(a)乃至第2図(ロ)−は本発明を造
影剤注入装置とサブトラクト処理部とを具備したxi1
j診断装置に適用した場合の動作原理欽明図、第3図は
本発明の一実施例装置のブロック図、第4図は向傷処理
装置の7゛ロツク、第5図は画侶前処理装置のブロック
図、第6図はi[!II傷後処理装圃の1172図であ
る・ 1・・・X&1発/4E器、 2・・・被写体、 3・
・・A平版ファントム、 6・・・2次元X線検出器、
7・・・対数増幅型増幅器、 8・・・A/D変余輻
、 9・・・向傷処理装置、 14・・・造影剤注入装
置、 22・・・装置b!!I有歪み補正′OA初、剖
、 50−1・・・散乱X給補正係数1IJIi算部、
50−2・・・散乱X線補正演算剖、 50−3・・
・サブトラクト処理W、50−4・・・心1袈硬化歪み
補正y4算剖。 (a) (b) (C) Iobj Iobj Iobj+A 弔2図 (d) (e) Position 弔2図 (f) (Q) (h) (i) (3) (k) ■ ■
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (υ χ線発生器、2次元X線検出器、対数変換型増幅
器、A/D変換器及び画像記憶装置から成る画像収集装
置と、D/A変換器及びモニタから成る画像表示装置と
を備えたX線診断装置において、被写体を置かないでX
今曝射して祷られたエアーバス画像(■0)と、被写体
を欝いてX線曝射した場合の被写体画像(Iobj )
と、既知厚でかつ既知X線透過判性を有するV/J質A
から成る平板ファントム及び被写体を置いてX線曝射し
た場合の被写体十平板A画i# (Iobj+A)とを
前記画像収集装置で収集して前記画像記憶装置に記憶し
、この画像記憶装置から読み出した前記工。画像とIo
bj画像及びIobj+A画像とから装置固有の非線型
歪みを補正した画像(Lobj及びLobj+A)をそ
れぞれ徊る装■固有歪み補正演算部と−biJ記Lob
j動得る散乱X線補正係数演算剖と、前記散乱係数(S
C)とLobj iij体とから散乱Xiによる非絢型
歪みを補正した被与体の画像(Mobj)を鏝−出して
祷る散乱Xi補正℃葬剖とを設けたことを判徴とするX
線診断装髄− (2)装置固南歪み補正演算部は、各画素毎にL=Io
−Iを実行するものでめる喘許請求の範囲第1項に記載
のX線診断装置。 (8)散乱X麹箱正係数演算部は、ZAをA平板ファン
トムの犀さとし、α、β、γを物質Aと被与体とに類似
した物質のファントムを用いてめられた線質硬化歪みと
して、 を実行して散乱係数(SC)をめるものである喘許請求
の岬3囲第1項又は第2項にRe載のX線診断装@。 (4) 散乱X線補正池り−剖は、Mo b 、j =
Lo b j/SCを実行して被写体の画像(Mobj
)を氷めるもので++n−ト シj、=(ツ」^lrt
口1 A唯、 + 4Q 了k 1で A+、、1 =
、、’ −+ 1 」、L、lに記載のX糾診断装置。 (5)画像収集装置は造影剤注入会館とサブトラクト処
理部とを具備し、前記装置固有歪み補正演算部は造影中
級写体画像(Ico)と前記Io両画像から装置固有の
非線型歪みを補正したii!II像(Lc o )をめ
るものであり、前記サブトラクト処理部は前記Lco画
像から前記Lobj画像を各画素毎に差し引いてサブト
ラクト画像Lsr =Lco−Lobjを) めるものであり、前記散乱)l補正演算部は、前記散乱
係数(SC)とLsI画像とから散乱X線による非線型
歪みを袖正したサントラクト像(MS r )をめるも
のである喘許請求の範囲第1項に記載のX線診断装置。 (6)散乱xmm正正演算部、Ms x = Ls I
/SCf:実行してMsI画像をめるものである喘許詩
求の範囲第5項に記載のX線診断装置。 Lco/SC・γ・s、tは造影剤と被写体とに類似し
た物質から構成されたファントムを用いてめられる線質
硬化歪みを示すパラメータ)を実行して造影組織厚と画
素濃度とが線型関係となる造影組織厚画像(ZIsx)
をめるものである喘許請求の範囲第5項又は第6項にi
〔載のX#診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59094796A JPH0654984B2 (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | X線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59094796A JPH0654984B2 (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | X線診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60236594A true JPS60236594A (ja) | 1985-11-25 |
| JPH0654984B2 JPH0654984B2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=14120030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59094796A Expired - Lifetime JPH0654984B2 (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | X線診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0654984B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016158671A (ja) * | 2015-02-26 | 2016-09-05 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置、放射線画像撮影システム、画像処理方法、及び画像処理プログラム。 |
| JP2016202459A (ja) * | 2015-04-20 | 2016-12-08 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 画像処理装置及びx線診断装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS54109477U (ja) * | 1978-01-19 | 1979-08-01 |
-
1984
- 1984-05-10 JP JP59094796A patent/JPH0654984B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54109477U (ja) * | 1978-01-19 | 1979-08-01 |
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| US10154825B2 (en) | 2015-02-26 | 2018-12-18 | Fujifilm Corporation | Image processing device, radiographic imaging system, image processing method, and non-transitory computer readable medium |
| JP2016202459A (ja) * | 2015-04-20 | 2016-12-08 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 画像処理装置及びx線診断装置 |
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| JP2022071105A (ja) * | 2016-11-15 | 2022-05-13 | リフレクション メディカル, インコーポレイテッド | 放射線療法患者プラットフォーム |
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| US12440703B2 (en) | 2016-11-15 | 2025-10-14 | Reflexion Medical, Inc. | Radiation therapy patient platform |
| US12233286B2 (en) | 2018-02-13 | 2025-02-25 | Reflexion Medical, Inc. | Beam station treatment planning and radiation delivery methods |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0654984B2 (ja) | 1994-07-20 |
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