JPS60242578A - 複合型磁気バブルメモリ素子 - Google Patents

複合型磁気バブルメモリ素子

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Publication number
JPS60242578A
JPS60242578A JP9645284A JP9645284A JPS60242578A JP S60242578 A JPS60242578 A JP S60242578A JP 9645284 A JP9645284 A JP 9645284A JP 9645284 A JP9645284 A JP 9645284A JP S60242578 A JPS60242578 A JP S60242578A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transfer path
ion implantation
magnetic field
range
magnetic
Prior art date
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Pending
Application number
JP9645284A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoki Kodama
直樹 児玉
Makoto Suzuki
良 鈴木
Teruaki Takeuchi
輝明 竹内
Masatoshi Takeshita
正敏 竹下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP9645284A priority Critical patent/JPS60242578A/ja
Publication of JPS60242578A publication Critical patent/JPS60242578A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/14Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、イオン打込みによって形成された転送路と、
軟磁性体(たとえばNiとFeの合金で6るパーマロイ
)によって形成された転送路を1チツプ内に共存させた
複合型磁気バブルメモリ素子に関する。
〔発明の背景〕
磁気バブルメモリ素子において、高密度、高集化および
完全不揮発性を保証したメモリを作成するために、イオ
ン打込みにより形成した転送路(以下、イオン打込み転
送路と略す)と、軟磁性体を用いた転送路(以下、パー
マロイ転送路と略す)を複合化した素子が提案されてい
る(!!ff開昭57−40791号公報)。これは高
密度化に容易イオン打込み転送路を用いて情報の蓄積部
分を形成し、パーマロイ転送路を用いて情報の書き込み
、読み出し等の機能部を形成したメモリ素子である。
この素子では、イオン打込み転送路とパーマロイ転送路
との接続部が必要である。第1図は、本発明者等が用い
た従来の接続部付近を示したものである。第1図の右側
の部分はイオン打込み転送路3からパーマロイ転送路へ
の接続部であシ、に側の部分はパーマロイ転送路からイ
オン打込み転送路3への接続部であシ、磁気バブルは転
送方向を示す矢印5の方向に転送する。面内に印加する
回転磁界6の方向が、第1図の7の範囲にある場合、接
続部に用いた軟磁性体素片1の端部に最も近いイオン打
込み転送路の凹部4に磁気バブルが存在することになる
。このときイオン打込み転送路の凹部4に近い方の軟磁
性体素片1の端部には、磁気バブルを反発する磁極が発
生している。そのためイオン打込み転送路の凹部4にあ
る磁気バブルが存在できるバイアス磁界の上限値が減少
してしまい、接続部から十分能れたイオン打込み転送路
において磁気バブルが存在できるバイアス磁界の範囲よ
りせまくなってしまう問題が生じた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、接続部に用いている軟磁性体素片に最
も近いところにあるイオン打込み転送路の凹部において
、磁気バブルが存在できるパイアン磁界の範囲を、前記
軟磁性体から十分能れたところにあるイオン打込み転送
路における磁気バブルが存在できるバイアス磁界の範囲
と同じかあるいは広くなるようにすることである。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するために、接続部に用いている軟磁性
体素片とそれに最も近いところにあるイオン打込み転送
路の凹部の底との距離をパラメータとして、凹部にある
磁気バブルが存在できるバイアス磁界の範囲をめ、最適
な位置関係を調べた。ここでパラメータは、第1図に示
すように軟磁性体素片の端とカスプ底を結んだ直線の膜
面内に射影した長さtである。
第2図に実験結果を示す。縦軸はバイアス磁界の大きさ
であシ、横軸は前記パラメータt2磁気バブルの直径d
で割った値である。実験には、1μm径の磁気バブルを
用い、tは0μmから5μmまで変化させた。また比較
のために接続部から十分能れたところにあるイオン打込
み転送路において磁気バブルが存在できるバイアス磁界
の範囲の上限値と下限値を示しである。また図には、回
転磁界の大きさが6006と4006の場合が示しであ
る。これより回転磁界の大きさが600eの場合には、
t/dが2,7以上であれば、前記の目的を達成できる
ことがわかった。また回転磁界の大きさが500eの場
合には、t/dが2以上であれば前記の目的を達成でき
ることがわかった。
回転磁界の大きさによって1/dの最低値が変化するの
は、回転磁界が大きくなると、軟磁性体素片にできる反
発磁極が強くなり、イオン打込み転送路の凹部にある磁
気バブルを消滅し易くしてしまうためである。
第3図は、t/dが0.1,2,3,4.5の場合の回
転磁界依存性を示したものである。縦軸はバイアス磁界
の大きさであシ、横軸は回転磁界の大きさである。磁気
バブルが存在できるバイアス磁界の範囲の下限値はt/
dによらないが、上限値はt/dと回転磁界の大きさに
よっていることがわかった。軟磁性体素片から十分能れ
たところにあるイオン打込み転送路において磁気バブル
が存在できるバイアス磁界の範囲は、回転磁界の大きさ
が250e以上で一定であム第3図の右端に示したもの
である。実験結果より、/、/d≧3であれば、回転磁
界の大きさによらず問題の凹部における磁気バブルの存
在できるバイアス磁界範囲の減少が少なく、イオン打込
み転送路において磁気バブルが存在できるバイアス磁界
範囲と同じかあるいはそれよりも広くできることがわか
った。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第4図により説明する。接続
部に用いている軟磁性体素片の先端とそれに最も近いイ
オン打込み転送路の凹部の底4との距離の膜面内へ射影
した距離tk4μmとした場合を示している。この接続
部において凹部の底4付近にある磁気バブルの存在でき
るバイアス磁界の範囲を測定したところ、接続部から十
分能れたところのイオン打込み転送路における磁気バブ
ルの存在できるバイアス磁界の範囲に比べて、上限値は
606大きく、下限値は30e小さくなり、イオン打込
み転送路よシも広いバイアス磁界の範囲が得られた。
第5図も実施例の一つであり、第4図と同じくt−1(
4μmとした場合である。第4図に比べて、イオン打込
み領域の境界の位置を軟磁性体素片の先端近くに設けた
ものである。この場合も第4図と同じ効果があることが
わかった。
第6図、第7図も各々実施例の一つであり、イオン打込
み転送路から74−マロイ転送路への接続部を示したも
のである。第6図はt=4μmの場合、第7図はt=8
μmの場合を示しである。いずれも、イオン打込み転送
路の凹部の底4付近にある磁気バブルが存在できる)く
イアス磁界の範囲は、接続部から十分術れたところのイ
オン打込み転送路における磁気バブルが存在できるバイ
アス磁界の範囲よ)広く、上限値は606大きく、下限
値は30e小さいことがわかった。
同様に種々の場合で実験した結果、t/dが3以上であ
れば、接続部に最も近いイオン打込み転送路の凹部にあ
る磁気バブルの存在できるバイアス磁界範囲が、イオン
打込み転送路における磁気バブルの存在できるバイアス
磁界範囲よりせまくならないことがわかった。
〔発明の効果〕
本発明によれば、接続部の軟磁性体素片に最も近いイオ
ン打込み転送路の凹部におる磁気バブルが、前記軟磁性
体素片に生じる反発磁極のために磁気バブルが存在でき
るバイアス磁界の範囲を減少させることなく、接続部か
ら十分術れたところにあるイオン打込み転送路にある磁
気バブルが存在できるバイアス磁界の範囲と同等か、あ
るいは広くすることができた。
本発明を直径1μm未満、015μm以上の磁気バブル
の場合に適用して実験したところ、1μm径の場合と同
様の効果があることがわかった。
【図面の簡単な説明】
第1図はイオン打込み転送路にパーマロイ転送路との接
続部付近を示す平面図、第2図はd/lの値に対して磁
気バブルが存在できるバイアス磁界の範囲を示す図、第
3図は回転磁界の大きさに対して磁気バブルが存在でき
るバイアス磁界の範囲を示す図、第4図から第7図はそ
れぞれ本発明の実施例を示す図である。 1・・・軟磁性体素片、2・−・イオン打込み転送路形
成のためのイオン打込み領域、3・・・イオン打込み転
送路、4・・・イオン打込み転送路の凹部の底、5・・
・磁気バブルの転送方向、6・・・回転磁界、7・・・
回転磁界の方向。 第 1 図 第 3 口 看4 図 柘 5 図 第 6 図 第 7 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. イオン打込みによって形成された第1の転送路と軟磁性
    体によって形成された第2の転送路とを1チツプ内に共
    存させた複合型磁気バブルメモリ素子において、前記第
    1の転送路から第2の転送路への接続部および第2の転
    送路から第1の転送路への接続部で、第1の転送路に含
    まれる転送路の凹部の底と、その底に最も近いところに
    存在する第2の転送路に含まれる軟磁性体素片の先端の
    うち該凹部底と最も近い先端との距離を磁気バブルを保
    持する膜面内に射影した長さtが、磁気バブルの直径d
    に対して、t/d>3の関係にあるように前記凹部の底
    と前記軟磁性体素片を配置したことを特徴とする複合型
    磁気バブルメモリ素子。
JP9645284A 1984-05-16 1984-05-16 複合型磁気バブルメモリ素子 Pending JPS60242578A (ja)

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JPS60242578A true JPS60242578A (ja) 1985-12-02

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ID=14165406

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JP9645284A Pending JPS60242578A (ja) 1984-05-16 1984-05-16 複合型磁気バブルメモリ素子

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