JPS60244123A - Cmos master slice semiconductor device - Google Patents
Cmos master slice semiconductor deviceInfo
- Publication number
- JPS60244123A JPS60244123A JP59099945A JP9994584A JPS60244123A JP S60244123 A JPS60244123 A JP S60244123A JP 59099945 A JP59099945 A JP 59099945A JP 9994584 A JP9994584 A JP 9994584A JP S60244123 A JPS60244123 A JP S60244123A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cmos
- semiconductor device
- channel transistor
- transistor
- threshold voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/90—Masterslice integrated circuits
- H10D84/903—Masterslice integrated circuits comprising field effect technology
- H10D84/907—CMOS gate arrays
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の技術分野
本発明は、CMOSマスクスライス半導体装置に関する
。特に、例えばTTLの動作レベルと0MO5の動作レ
ベル等、二つの異なる入力レベルに対応しうる入力バッ
フ7回路を構成しうるCMOSマスクスライス半導体装
置に関する。・(2)技術の背景と従来技術の問題点
従来、CMOSマスタスライス半導体装置は、設計の当
初に、入力をTTLの動作レベル(例えば+、jv )
とするか、0MO3の動作レベル(例えば2.5V )
とするかを決定し、そのいづれかに対応することを前提
として設計がなされている。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to a CMOS mask slice semiconductor device. In particular, the present invention relates to a CMOS mask slice semiconductor device that can configure an input buffer 7 circuit that can handle two different input levels, such as a TTL operating level and an 0MO5 operating level.・(2) Background of the technology and problems with the conventional technology Conventionally, at the beginning of the design of a CMOS master slice semiconductor device, the input is set to a TTL operating level (for example, +, jv).
or 0MO3 operating level (e.g. 2.5V)
The design is based on the premise that it will be possible to respond to either of these.
すなわち、従来技術においては、TTLコンパチブルに
も、また、CMOSコンパチブルにもなしうるCMOS
マスタスライス半導体装置は存在しない、しかし、需要
の多様化にともない、異なる入力レベルに対応して入力
バッファ回路を構成しうるCMOSマスタスライス半導
体装置に対する要請が発生し顕著になってきた。That is, in the prior art, CMOS which can be made both TTL compatible and CMOS compatible
There is no master slice semiconductor device, but as demand diversifies, there is a growing demand for a CMOS master slice semiconductor device that can configure an input buffer circuit in response to different input levels.
(3)発明の目的
本発明の目的は、これらの要請にこたえることにあり、
二つの異なる入力レベルに対応しうる入力バッフ7回路
を構成しうるCMOSマスタスライス半導体装置を提供
することにある。(3) Purpose of the invention The purpose of the present invention is to meet these demands.
An object of the present invention is to provide a CMOS master slice semiconductor device that can configure an input buffer 7 circuit that can handle two different input levels.
(4)発明の構成
本発明の構成は、論理スレッショルド電圧がV、 とv
in2とである二つの異なる入力レベル+nl
に対応しうるCMOSマスクスライス半導体装置におい
て、
但し、
βP1は第1のPチャンネルトランジスタのβ値であり
、
βNlは第1のNチャンネルトランジスタのβ値であり
、
vthPlは第1のPチャンネルトランジスタのスレッ
シ冒ルド電圧であり、
” thNIは第1のNチャンネルトランジスタのスレ
ッシ画ルド電圧であり、
vDDは前記第1のPチャンネルトランジスタの電源電
圧である。(4) Configuration of the invention The configuration of the invention is such that the logic threshold voltages are V, and v
In a CMOS mask slice semiconductor device that can handle two different input levels +nl and in2, where βP1 is the β value of the first P-channel transistor, and βNl is the β value of the first N-channel transistor. , vthPl is the threshold voltage of the first P-channel transistor, thNI is the threshold voltage of the first N-channel transistor, and vDD is the power supply voltage of the first P-channel transistor.
を満足するitの0MO3)ランジスタと。It's 0MO3) transistor that satisfies.
但し、
βP2は第2のPチャンネルトランジスタのβ値であり
、
βN2は第2のNチャンネルトランジスタのβ値であり
。However, βP2 is the β value of the second P-channel transistor, and βN2 is the β value of the second N-channel transistor.
vthP2は第1のPチャンネルトランジスタのスレッ
ショルド電、圧でアリ。vthP2 is the threshold voltage and voltage of the first P-channel transistor.
vthN2は第1のNチャンネルトランジスタのスレッ
シ1ルド電圧である。vthN2 is the threshold voltage of the first N-channel transistor.
を満足する第2の0MO3)ランジスタとを有し、該二
つの0MO3)ランジスタのいずれかをもって入力バッ
フ7回路を構成することを特徴とするCMOSマスタス
ライス半導体装置にある。A second 0MO3) transistor that satisfies the following, and an input buffer 7 circuit is configured with either of the two 0MO3) transistors.
たり、この構成に欠くことのできない4個のトランジス
タのうち、2@を全く同一にすることができる場合があ
るので、その場合は、必要とするトランジスタが4(I
lではなく3個で十分となり、集積度の向上は勿論、製
造工程の簡略化等多くの利益を、実現することができる
。Or, out of the four transistors essential to this configuration, 2@ can be made exactly the same, so in that case, the required transistors are 4 (I
It is sufficient to use three instead of one, and it is possible to realize many benefits such as not only an improvement in the degree of integration but also a simplification of the manufacturing process.
0MO5)ランジスタの入力八ツ7ァ回路は。0MO5) The input 87a circuit of the transistor is.
一般に、第1図に示す如くである0図において、lはP
チャンネルトランジスタであり2はNチャンネルトラン
ジスタであり、それらのゲートは共通に接続されて入力
V が印加され、また、Pn
チャンネルトランジスタlのトレインとNチャンネルト
ランジスタ2のトレインとは共通に接続されて次段イン
バータとの接続端子3を構成している。vDDはPチャ
ンネルトランジスタlのソースに接続され、vssはN
チャンネルトランジスタ2のソースに接続されている。Generally, in the 0 diagram as shown in Figure 1, l is P
The channel transistor 2 is an N-channel transistor, and their gates are connected in common to which an input V is applied, and the train of the Pn channel transistor l and the train of the N-channel transistor 2 are commonly connected to the next It constitutes the connection terminal 3 with the stage inverter. vDD is connected to the source of P-channel transistor l, vss is N
Connected to the source of channel transistor 2.
ところで、上記の回路において、入力電圧が論理スレッ
ショルド電圧に等しいときは、Pチャンネルトラン゛ジ
スタlとNチャンネルトランジスタ2とは、ともに、f
1!和領域にある。そして、0MO5)ランジスタが飽
和領域にある場合、そのチャンネルを流れる電流■。が
次式で1表わされることは周知である。By the way, in the above circuit, when the input voltage is equal to the logic threshold voltage, both the P-channel transistor 1 and the N-channel transistor 2 are f
1! It is in the Japanese area. and 0MO5) If the transistor is in the saturation region, the current ■ flowing through its channel. It is well known that is expressed by the following equation.
但し、
voはソース慟トレイン間電圧であり、■−はトランジ
スタのスレッショルド電圧h
であり、
βはトランジスタのβ値である・
また、トランジスタのβ値が次式で表わされることも周
知である。However, vo is the source-to-train voltage, - is the threshold voltage h of the transistor, and β is the β value of the transistor. It is also well known that the β value of the transistor is expressed by the following equation.
但し、
特上i日aBO−244123(3)
Wはトランジスタのチャンネル幅であり、Lはトランジ
スタのチャンネル長であり、ε はゲート絶縁膜の誘電
率であり、
x
t はゲート絶縁膜の厚さであり、
x
終。はキャリヤの移動度である。However, W is the channel width of the transistor, L is the channel length of the transistor, ε is the dielectric constant of the gate insulating film, and x t is the thickness of the gate insulating film. And x end. is the carrier mobility.
上記の回路において、Pチャンネルトランジスタに印加
されるソース・トレイン間電圧vDPは、VDρ″″′
vDD−v In
であるから、そのチャンネルを流れる電流1口Pは。In the above circuit, the source-train voltage vDP applied to the P-channel transistor is VDρ″″′
Since vDD-v In , the current P flowing through that channel is.
・・・・・・・・・ (3) 但し、 βPはPチャンネルトランジスタ1のβ値である。・・・・・・・・・(3) however, βP is the β value of P-channel transistor 1.
である、また、Nチャンネルトランジスタに印加される
ソース・ドレイン間電圧vONはvlnであるから、そ
のチャンネルを流れる電流IDNは、・・・・・・・・
・ (4)
但し。Also, since the source-drain voltage vON applied to the N-channel transistor is vln, the current IDN flowing through the channel is...
・(4) However.
β、tiNチャンネルトランジスタ2のβflIである
。β, tiN channel transistor 2 βflI.
である。It is.
ところで、CMOSイン八−夕の論理スレッシ言ルド電
圧は、Pチャンネルトランジスタlのチャンネル電流■
oPとNチャンネルトランジスタ2のチャンネル電流l
。Nとを等しくする入力電圧であるから、(3)式と(
4)式とから、次式の条件が得られる。By the way, the logic threshold voltage of the CMOS input is determined by the channel current of the P-channel transistor l.
oP and channel current l of N-channel transistor 2
. Since this is the input voltage that makes N equal to N, equation (3) and (
4) From the equation, the condition of the following equation can be obtained.
そして、これを変形して、次式が得られる:そこで、入
力回路の論理スレッシ璽ルド電圧がvInlである場合
は1次式を満足しなければならない。Then, by transforming this, the following equation is obtained: Therefore, when the logic threshold voltage of the input circuit is vInl, the linear equation must be satisfied.
・・・・・・・・・ (6) 一方、入力回路の論理スレッショルド電圧が■。・・・・・・・・・(6) On the other hand, the logic threshold voltage of the input circuit is ■.
In2 である場合は、次式を満足しなければならない。In2 If so, the following formula must be satisfied.
・・・・・・・・・(7)1
よって、上記(6)式を満足する第1のCMOSトラン
ジスタと、上記(7)式を満足する第2の0MO5)ラ
ンジスタとの双方を有するCMOSマスタスライス半導
体装置は、論理スレッショルド電圧がvlrllである
入力レベルにも、また、論理スレッシ言ルF電圧がv1
n2である入力レベルにも、配線の選択的形成をもって
極めて容易に対応することができる。・・・・・・・・・(7)1 Therefore, a CMOS having both the first CMOS transistor that satisfies the above formula (6) and the second 0MO5) transistor that satisfies the above formula (7) The master slice semiconductor device also has an input level at which the logic threshold voltage is vlrll, and also has a logic threshold voltage at the input level v1.
It is also possible to cope with the input level n2 very easily by selectively forming the wiring.
(5)発明の実施例
以下、図面を参照しつへ、本発明の実施例に係るCMO
Sマスタスライス半導体装置についてさらに説明する。(5) Embodiments of the invention Hereinafter, with reference to the drawings, a CMO according to an embodiment of the invention will be described.
The S master slice semiconductor device will be further explained.
第2図参照
入力レベルがCMO5の動作レベルであるとすると、そ
の論理スレッシ望ルト電圧は2.5vであルカラ、vo
oを5v、■ths トIvthpl トを 0.8■
とすると1式(6)は。Assuming that the input level shown in FIG.
o to 5v, ■ths to Ivthpl to 0.8■
Then, Equation 1 (6) is.
となる、また、入力レベルかTTLの動作レベルである
とすると、その論理スレッショルド電圧は1.4V−t
’あルカラ、voDヲ5v、vthNト1vth、1と
を 0.8Vとすると、式(7)は、となる。, and assuming that the input level is the operating level of TTL, its logic threshold voltage is 1.4V-t
If voDwo5v, vthN and 1vth, 1 are set to 0.8V, equation (7) becomes as follows.
そこで、βP/β、がlである第1のCMOSトランジ
スタT 、T2と、β、 / /3 、 l)< 0.
048である第2のCMOSトランジスタT 、T4と
を、入力パッファ回路部に有するCMOSマスクスライ
スを製造する。図において、4はN+領領域あり、5は
Pウェルをもって形成されるP+領域であり、6.7.
8.9.10はフィールド絶縁膜である。11は第1の
CMO3?ランジスタのPチャンネルトランジスタT、
のP+領域であり15はそのゲートである。 12は第
1のCMOSトランジスタのNチャンネルトランジスタ
T2のN+領領域あり18はそのゲートである。 +3
は第2のCMOSトランジスタのPチャンネルトランジ
スタT3のP“領域であり17はそのゲートである。
14は第2の0MO3)ランンスタのNチャンネルトラ
ンジスタT のN1領域であり18はそのゲートである
。Therefore, the first CMOS transistors T2, T2, in which βP/β, is l, and β, / /3, l) < 0.
A CMOS mask slice having second CMOS transistors T 1 and T 4 of 0.048 in the input buffer circuit section is manufactured. In the figure, 4 is an N+ region, 5 is a P+ region formed with a P well, and 6.7.
8.9.10 is a field insulating film. Is 11 the first CMO3? transistor p-channel transistor T,
15 is its gate. 12 is the N+ region of the N-channel transistor T2 of the first CMOS transistor, and 18 is its gate. +3
is the P'' region of the P-channel transistor T3 of the second CMOS transistor, and 17 is its gate.
14 is the N1 region of the N-channel transistor T of the second 0MO3) run star, and 18 is its gate.
第3図、第4図参照
上記のCMOSマスクスライス半導体装置を使用してC
MOSコンパチブルとする場合は、第3図のブロック図
に示す各ノートに対し、第1のCMOSトランジスタT
、T2を使用して、第4図に示すような配線を設けれ
ばよい。Refer to FIGS. 3 and 4. Using the above CMOS mask slice semiconductor device,
In the case of MOS compatibility, the first CMOS transistor T is connected to each note shown in the block diagram of FIG.
, T2 to provide wiring as shown in FIG.
第5図、第6図参照
上記のCMOSマスタスライス半導体装置を使用してT
TLコンパチブルとする場合は、第5図のブロック図に
示す各ノートに対し、第2のCMOSトランジスタT、
T、を使用して、第6図に示すような配線を設ければよ
い。Refer to FIGS. 5 and 6. Using the above CMOS master slice semiconductor device,
In the case of TL compatibility, a second CMOS transistor T,
Using T, wiring as shown in FIG. 6 may be provided.
第7図参照
1式(6)、(7)を満足する2組のCMOSトランジ
スタを設計する場合、そのPチャンネルトランジスタT
、T3またはNチャンネルトラ■
ンシスタT 、T4のいづれかを同一の構造とすること
ができる場合がある。その場合は、同一であるトランジ
スタを1組節約することができる。Refer to Figure 7.1 When designing two sets of CMOS transistors that satisfy equations (6) and (7), the P-channel transistor T
, T3 or N-channel transistors T, T4 may have the same structure. In that case, one set of identical transistors can be saved.
第7図はNチャンネルトランジスタを共通にしてこの共
通のNチャンネルトランジスタをT2とし、Pチャンネ
ルトランジスタT、とNチャンネルトランジスタT2と
をもって第1のCMOSトランジスタを構成し、Pチャ
ンネルトランジスタT とNチャンネルトランジスタT
2とをもって第2のCMOSトランジスタを構成する場
合を示す0図より明らかなようにT、が省略されている
。In FIG. 7, the common N-channel transistor is designated as T2, the P-channel transistor T and the N-channel transistor T2 constitute a first CMOS transistor, and the P-channel transistor T and the N-channel transistor T
As is clear from FIG. 0, which shows the case where the second CMOS transistor is configured with T and T, T is omitted.
第8図、第9゛図参照
上記のCMOSマスクスライス半導体装置を使用してC
MOSコンパチブルとする場合は、第8図のブーロック
図に示す各ノートに対し、第1のCMOSトランジスタ
T 、T2を使用して、第9図に示すような配線を設け
ればよい。Refer to FIGS. 8 and 9. Using the above CMOS mask slice semiconductor device,
In the case of MOS compatibility, wiring as shown in FIG. 9 may be provided using the first CMOS transistors T2 and T2 for each note shown in the block diagram of FIG.
第10図、第11図参照
上記のCMOSマスタスライス半導体装置を使用してT
TLコンパチブルとする場合は゛、第1O図のブロック
図に示す各ノートに対し、第2のCMOSトランジスタ
T 、T を使用して、第11図3 2゜
に示すような配線を設ければ°′よい。Refer to FIGS. 10 and 11. Using the above CMOS master slice semiconductor device,
To make it TL compatible, use the second CMOS transistors T and T for each node shown in the block diagram of Fig. 1O, and provide wiring as shown in Fig. 11, 32°. good.
(6)発明の詳細
な説明せるとおり、本発明によれば二つの異がる入力し
ヘルに対応しうる入力バッフ7回路を構成しうるCMO
Sマスクスライス半導体装置を提供することができる。(6) As described in detail, according to the present invention, a CMO that can configure seven input buffer circuits that can handle two different input signals.
An S mask slice semiconductor device can be provided.
W41図はCMOSトランジスタ入力回路のブロック図
である。第2図は本発明の実施例に係るCMOSマスタ
スライス半導体装置の平面図であり、第3図、第4図は
これを使用して、CMOSコンパチブルとする場合のブ
ロック図と平面図であり、第5図、第6図はこれ、を使
用してTTLコンパチブルとする場合のブロック図と平
面図である。第7@は本発明の他の実施例に係るCMO
Sマスタスライス半導体装置の平面図であり、第8図、
第9図はこれを使用して、CMOSコンパチブルとする
場合のブロック図と平面図であり、第10図、第11図
はこれを使用してTTLコンバチ “プルとする場合の
ブロック図と平面図である。
v 1・入力電圧、 V ・・O電源電圧、In DO
V ・・・接地電圧、10番・PチャンネルトSFigure W41 is a block diagram of the CMOS transistor input circuit. FIG. 2 is a plan view of a CMOS master slice semiconductor device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 3 and 4 are a block diagram and a plan view of a case where this is used to make it CMOS compatible. FIGS. 5 and 6 are a block diagram and a plan view of the case where this is used to achieve TTL compatibility. No. 7 @ is a CMO according to another embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a plan view of the S master slice semiconductor device;
Fig. 9 is a block diagram and a plan view when this is used to make it CMOS compatible, and Figs. 10 and 11 are a block diagram and a plan view when this is used to make it TTL convertible. v1・Input voltage, V・・O power supply voltage, In DO V・・Ground voltage, No. 10・P channel S
Claims (2)
である二つの異なる入力レベルに対応しうるCMOSマ
スクスライス半導体装置において、但し、 βP1は第1のPチャンネルトランジスタのβ値であり
、 βNlは第1のNチャンネルトランジスタのβ値であり
、 vthPlは第1のPチャンネルトランジスタのスレッ
ショルド電圧であり、 vthNlは第1のNチャンネルトランジスタのスレッ
ショルド電圧であり、 vDDは前記第1のPチャンネルトランジスタの電源電
圧である。 を満足する第1のCMO3)ランジスタと、但し、 βP2は第2のPチャンネルトランジスタめβ値であり
、 βN2は第2のNチャンネルトランジスタのβ値であり
、 Vthρ2は第1のPチャンネルトランジスタのスレッ
ショルド電圧でアリ。 ■thN2はFlのNチャンネルトランジスタのスレラ
ン1ルト電圧である。 を満足する第2のCMO3)ランジスタとを有し、該二
つのCMOSトランジスタのいずれかをもって入力47
27回路を構成することを特徴とするCMOSマスタス
ライス半導体装置。(1) In a CMOS mask slice semiconductor device that can accommodate two different input levels with logic threshold voltages Vinl and Vin2, where βP1 is the β value of the first P-channel transistor, and βNl is the β value of the first P-channel transistor. is the β value of the N-channel transistor, vthPl is the threshold voltage of the first P-channel transistor, vthNl is the threshold voltage of the first N-channel transistor, and vDD is the power supply voltage of the first P-channel transistor. be. A first CMO3) transistor satisfying It's OK with the threshold voltage. (2) thN2 is the threshold voltage of the N-channel transistor of Fl. a second CMOS transistor that satisfies
A CMOS master slice semiconductor device comprising 27 circuits.
ンネルトランジスタまたはNチャンネルトランジスタが
同一である、特許請求の範囲第1項記載のCMOSマス
タスライス半導体装置。(2) The CMOS master slice semiconductor device according to claim 1, wherein the first and second CMO transistors (3) have the same P-channel transistor or N-channel transistor.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59099945A JPS60244123A (en) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | Cmos master slice semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59099945A JPS60244123A (en) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | Cmos master slice semiconductor device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60244123A true JPS60244123A (en) | 1985-12-04 |
Family
ID=14260841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59099945A Pending JPS60244123A (en) | 1984-05-18 | 1984-05-18 | Cmos master slice semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60244123A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5716864A (en) * | 1994-07-22 | 1998-02-10 | Nkk Corporation | Method of manufacturing a non-volatile semiconductor memory device with peripheral transistor |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57138220A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-26 | Hitachi Ltd | Data input equipment for logical circuit |
| JPS5892141A (en) * | 1981-11-26 | 1983-06-01 | Nec Corp | Integrated circuit device |
-
1984
- 1984-05-18 JP JP59099945A patent/JPS60244123A/en active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57138220A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-26 | Hitachi Ltd | Data input equipment for logical circuit |
| JPS5892141A (en) * | 1981-11-26 | 1983-06-01 | Nec Corp | Integrated circuit device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5716864A (en) * | 1994-07-22 | 1998-02-10 | Nkk Corporation | Method of manufacturing a non-volatile semiconductor memory device with peripheral transistor |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0231062A1 (en) | Level conversion circuit | |
| DE10200859A1 (en) | System and method for controlling delay times in floating body cmfet inverters | |
| US20190346873A1 (en) | Bias current circuit operating at high and low voltages | |
| US4717847A (en) | TTL compatible CMOS input buffer | |
| US5095230A (en) | Data output circuit of semiconductor device | |
| EP1385075B1 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| US5731713A (en) | TTL to CMOS level translator with voltage and threshold compensation | |
| US4656374A (en) | CMOS low-power TTL-compatible input buffer | |
| KR970067344A (en) | Level Translation Circuits and Semiconductor Integrated Circuits | |
| KR100263785B1 (en) | Cmos circuit | |
| JPH0637624A (en) | Level conversion circuit | |
| JP3540401B2 (en) | Level shift circuit | |
| JPS60244123A (en) | Cmos master slice semiconductor device | |
| JP2749185B2 (en) | Composite logic circuit | |
| US6535017B1 (en) | CMOS ECL input buffer | |
| JPS5925423A (en) | Semiconductor device | |
| JP2000330657A (en) | Semiconductor device | |
| JPH0216063B2 (en) | ||
| JPS60236322A (en) | Mos transistor circuit | |
| JPH04150316A (en) | Field effect transistor circuit | |
| TWI895168B (en) | Level shifter | |
| JPS63302622A (en) | interface circuit | |
| JP2555046Y2 (en) | Output buffer circuit | |
| JPS58129830A (en) | Converting circuit | |
| US20240259022A1 (en) | Logic gate circuit, latch, and flip-flop |