JPS60256054A - 超音波探傷システム - Google Patents
超音波探傷システムInfo
- Publication number
- JPS60256054A JPS60256054A JP59112554A JP11255484A JPS60256054A JP S60256054 A JPS60256054 A JP S60256054A JP 59112554 A JP59112554 A JP 59112554A JP 11255484 A JP11255484 A JP 11255484A JP S60256054 A JPS60256054 A JP S60256054A
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- JP
- Japan
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- flaw detection
- probe
- flaw
- ultrasonic flaw
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- Pending
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/265—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の技術分野）
本発明は超音波探傷システムに関し、殊に、手動走査装
置、超音波探傷器及びデータ収録装置と、これら各構成
要素より別個独立に設けたデータ処理装置とからなる超
音波探傷システムに関゛４る（−ンのである。
置、超音波探傷器及びデータ収録装置と、これら各構成
要素より別個独立に設けたデータ処理装置とからなる超
音波探傷システムに関゛４る（−ンのである。
（従来技術とその問題点）
従来より、探触子を自動的に走査して、被検材の溶接部
に内在する融合不良、割れ、空孔、介イ（物等の欠陥の
位置をめ、探傷結果の判定を自ＩＪ＋化した、所謂自動
超音波探傷装回は既知ｒある。
に内在する融合不良、割れ、空孔、介イ（物等の欠陥の
位置をめ、探傷結果の判定を自ＩＪ＋化した、所謂自動
超音波探傷装回は既知ｒある。
しかし、この自動超音波探傷システムは、コンピュータ
を利用した自動シークンス制御を採用し、自動走査装置
より得られた膨大な探傷データを高速処理するので、探
傷作業処理の効率は極めて良い反面、同一箇所を繰返し
て検査確認することが不可能であるから、探傷結果の信
頼性は、手探像よりも劣る。また、手探像に比して、電
源部が人形で、設備費が高価となるほか、重量的に重く
、探傷現場への移動は不可能に等しい、という問題点が
あった。一方、手探像は、検査員の目視による、欠陥指
示、欠陥とノイズとの識別、表面状！！；の確認等、十
分な確認が可能であり、かつ、同一・箇所を繰返して検
査確認することが可能であるから、信頼性の高い探傷結
果が慢られるという利点がある。
を利用した自動シークンス制御を採用し、自動走査装置
より得られた膨大な探傷データを高速処理するので、探
傷作業処理の効率は極めて良い反面、同一箇所を繰返し
て検査確認することが不可能であるから、探傷結果の信
頼性は、手探像よりも劣る。また、手探像に比して、電
源部が人形で、設備費が高価となるほか、重量的に重く
、探傷現場への移動は不可能に等しい、という問題点が
あった。一方、手探像は、検査員の目視による、欠陥指
示、欠陥とノイズとの識別、表面状！！；の確認等、十
分な確認が可能であり、かつ、同一・箇所を繰返して検
査確認することが可能であるから、信頼性の高い探傷結
果が慢られるという利点がある。
（発明の目的）
本発明は、上述のような事情に鑑みなされたもので、探
傷方法として手探傷を採用し、しかも、手動走査装置、
超音波探傷器及びデータ収録装置を探傷現場に持込み可
能にし、斯かる現場で探傷した生の探傷データを、前記
各装置から分離独立せしめたデータ処理装置にかけるこ
とにより、探傷データの高速処理と信頼性の高い探傷結
果を得ることのできる、言わば、従来の自動超音波探傷
装置が有する利点と手探傷が有する利点を取入れた、超
音波探傷システムを提供することを目的とするものであ
る。
傷方法として手探傷を採用し、しかも、手動走査装置、
超音波探傷器及びデータ収録装置を探傷現場に持込み可
能にし、斯かる現場で探傷した生の探傷データを、前記
各装置から分離独立せしめたデータ処理装置にかけるこ
とにより、探傷データの高速処理と信頼性の高い探傷結
果を得ることのできる、言わば、従来の自動超音波探傷
装置が有する利点と手探傷が有する利点を取入れた、超
音波探傷システムを提供することを目的とするものであ
る。
（発明の構成と効果）
上記の目的を達成するために、本発明の超音波探傷シス
テムは、探触子を備えた手動走査装置と、この手動走査
装置の探触子へ超音波を伝送し反射エコー信号を受信し
探傷データを出力する超音波探傷器と、この超音波探傷
器より探傷データを受込み、これらを外部記憶媒体に収
録するデータ収録装置と、このデータ収録装置の外部記
憶媒体に収録したデータを処理づるための、前記各構成
要素より別個独立に分離離間して所定箇所に設けたデー
タ処理Ｓ装置と、から構成されている。
テムは、探触子を備えた手動走査装置と、この手動走査
装置の探触子へ超音波を伝送し反射エコー信号を受信し
探傷データを出力する超音波探傷器と、この超音波探傷
器より探傷データを受込み、これらを外部記憶媒体に収
録するデータ収録装置と、このデータ収録装置の外部記
憶媒体に収録したデータを処理づるための、前記各構成
要素より別個独立に分離離間して所定箇所に設けたデー
タ処理Ｓ装置と、から構成されている。
本発明の超音波探傷システムは１．上記構成のように、
探触子を備えた手動走査装置、超音波探傷器、データ収
録′ｌ装置よりデータ処理装置を分離したので、これら
が一体化された大重量の従来のものでは不可能に等しか
った探傷現場への移動が、容易となり、被検材の移動と
いう不便さを解消することができる。また、従来のもの
はデータ収録部がデータ処理装置に一体に組込まれてい
たが、本発明では、これらを分離したので、一台のデー
タ処理装置に対して複数台のデータ収録装置よりの収録
データの処理が可能となった。従って、トータルシステ
ムとしてみた場合、従来のものよりは経済的である。
探触子を備えた手動走査装置、超音波探傷器、データ収
録′ｌ装置よりデータ処理装置を分離したので、これら
が一体化された大重量の従来のものでは不可能に等しか
った探傷現場への移動が、容易となり、被検材の移動と
いう不便さを解消することができる。また、従来のもの
はデータ収録部がデータ処理装置に一体に組込まれてい
たが、本発明では、これらを分離したので、一台のデー
タ処理装置に対して複数台のデータ収録装置よりの収録
データの処理が可能となった。従って、トータルシステ
ムとしてみた場合、従来のものよりは経済的である。
（発明の実施例）
以下、実施例により本発明を更に詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す超音波探傷システム全
体の図解図である。この超音波探傷システムは、探触子
１１を備え／ｊ手動走査装置１０と、この探触子１１へ
伝送線５０を介して超音波を伝送し、反射エコー信号を
受信する超音波探傷器２０と、この超音波探傷器２０に
りの探傷データを伝送線５１を介して取込むと共に前記
手動走査装置１０の探触子位岡データを伝送線５２を介
して取込み、これら探傷データと探触子位置データを外
部記憶媒体に収録するデータ収録装置３０と、このデー
タ収録装置３０の外部記憶媒体の収録データを処理し、
ＪＩＳｍ格に基づく等綴付けをするデータ処理装置４０
と、を備えている。このデータ処理装Ｗ！Ｉ４０は前記
各装置１０．２０．３０とは別個独立に分１１１１１１
間されて、例えばデータ処理室等所定箇所に適宜に設置
されている。尚、６０は被検材、６１は溶接部である。
体の図解図である。この超音波探傷システムは、探触子
１１を備え／ｊ手動走査装置１０と、この探触子１１へ
伝送線５０を介して超音波を伝送し、反射エコー信号を
受信する超音波探傷器２０と、この超音波探傷器２０に
りの探傷データを伝送線５１を介して取込むと共に前記
手動走査装置１０の探触子位岡データを伝送線５２を介
して取込み、これら探傷データと探触子位置データを外
部記憶媒体に収録するデータ収録装置３０と、このデー
タ収録装置３０の外部記憶媒体の収録データを処理し、
ＪＩＳｍ格に基づく等綴付けをするデータ処理装置４０
と、を備えている。このデータ処理装Ｗ！Ｉ４０は前記
各装置１０．２０．３０とは別個独立に分１１１１１１
間されて、例えばデータ処理室等所定箇所に適宜に設置
されている。尚、６０は被検材、６１は溶接部である。
第２図は本発明の一実施例を示す超音波探傷システムの
１０ツク図である。同図において、手動走査装置１０は
、探触子１１を備え、この探触子１１を挿着してい、る
軸（θ軸）１２の首振り角度と、このθ軸１２の取付り
られたＹ軸１３の移動帛と、このＹ軸１３の摺動を司る
Ｘ軸１４の移動像とをデータ収録装置３０に出力する（
第１図参照）。超音波探傷器２０は、探触子１１を介し
て戻ってくる反射エコー信号に基づき傷の解析を行い、
これをＣＨ２表示し、ビーム路程とエコー高さからなる
探傷データをデータ収録装置３０に出力する。このデー
タ収録装ｗ３０は、ＣＰＵ３１を備え、このＣＰｔＪ３
１に連繋しで、前記θ軸の首振り角度、Ｙ軸移動量、Ｘ
＊移動１１（以下、これらを総称して探触子位置データ
という。）と、探傷データとを取込むための入力インタ
ーフェース３２、それに内部記憶装置（メモリ）３３、
それに前記探触子位置データと探傷データとを例えばカ
セットテープあるいはフＯツビディスク等の外部記憶媒
体３４に収録するための、トランスボートエレクトロニ
クス部等を有する、例えばカセツ１−デーゾインクフ」
−−ス３５を備えている。データ処理装置Ｗ ４．０は
、ＣＲＴを有刃゛るマイクロコンビニｌ−タ４１ど、所
要のデータをプリントアラ１へするプリンタ４２と、欠
陥開先断面（横及び縦）位置図や欠陥平面位置図等を出
力するＸ−Ｙプロッタ４３と、を備えている。
１０ツク図である。同図において、手動走査装置１０は
、探触子１１を備え、この探触子１１を挿着してい、る
軸（θ軸）１２の首振り角度と、このθ軸１２の取付り
られたＹ軸１３の移動帛と、このＹ軸１３の摺動を司る
Ｘ軸１４の移動像とをデータ収録装置３０に出力する（
第１図参照）。超音波探傷器２０は、探触子１１を介し
て戻ってくる反射エコー信号に基づき傷の解析を行い、
これをＣＨ２表示し、ビーム路程とエコー高さからなる
探傷データをデータ収録装置３０に出力する。このデー
タ収録装ｗ３０は、ＣＰＵ３１を備え、このＣＰｔＪ３
１に連繋しで、前記θ軸の首振り角度、Ｙ軸移動量、Ｘ
＊移動１１（以下、これらを総称して探触子位置データ
という。）と、探傷データとを取込むための入力インタ
ーフェース３２、それに内部記憶装置（メモリ）３３、
それに前記探触子位置データと探傷データとを例えばカ
セットテープあるいはフＯツビディスク等の外部記憶媒
体３４に収録するための、トランスボートエレクトロニ
クス部等を有する、例えばカセツ１−デーゾインクフ」
−−ス３５を備えている。データ処理装置Ｗ ４．０は
、ＣＲＴを有刃゛るマイクロコンビニｌ−タ４１ど、所
要のデータをプリントアラ１へするプリンタ４２と、欠
陥開先断面（横及び縦）位置図や欠陥平面位置図等を出
力するＸ−Ｙプロッタ４３と、を備えている。
次に、上記実施例における超音波探傷システムの動作を
、第３図に示すフローチャートで説明する。
、第３図に示すフローチャートで説明する。
先ず、電源をＯＮＬだ後、第１図に示すように、被検材
６０の溶接線６２上に適宜の間隔をとって基準点くΔ点
、８点）を印す（ＳＴ１）。次いで、被検材６０の探傷
面に、例えば油、水、グリセリン等の接触媒質を塗布し
て、探触子１１と探傷面との開のすきまをなくするよう
にする（ＳＴ２）。
６０の溶接線６２上に適宜の間隔をとって基準点くΔ点
、８点）を印す（ＳＴ１）。次いで、被検材６０の探傷
面に、例えば油、水、グリセリン等の接触媒質を塗布し
て、探触子１１と探傷面との開のすきまをなくするよう
にする（ＳＴ２）。
そして、手動走査装置１ｏに探触子１１をセットしく５
Ｔ３）、・この探触子１１のセットされた手動走査装置
１０を被検材６０上にセットする（Ｓ７４）。次いで、
被検査材６０に探触子１１が滑かに接触するか否かをチ
ェックする（ＳＴ５）。
Ｔ３）、・この探触子１１のセットされた手動走査装置
１０を被検材６０上にセットする（Ｓ７４）。次いで、
被検査材６０に探触子１１が滑かに接触するか否かをチ
ェックする（ＳＴ５）。
滑かに接触しな１ノればＳＴ２に戻り、再度前記の処理
を行う。滑かに接触する場合はＳＴ６に進む。
を行う。滑かに接触する場合はＳＴ６に進む。
このＳＴ６では、探触子１１の入射点を基準点（Ａ点）
に合わせ、首振り角度をθ軸１２の０度目盛にセットす
る。
に合わせ、首振り角度をθ軸１２の０度目盛にセットす
る。
次いで、データ収録装置３０にお（′Ｊる手動走査装置
１０のスケール基準点をセット（ＳＴ７）ｔ。
１０のスケール基準点をセット（ＳＴ７）ｔ。
た後、探触子１１の入射点を基準点（８点）に合わせ（
ＳＴ８）、この８点の座標をデータ収録装置３０に取込
む（ＳＴ９）。しかる後、探触子１１をジグザグに走査
する手探傷を開始する（ＳＴ１０）。すると、超音波探
傷器２０から探触子１１を介して被検材６０内部へ超音
波パルスが発射される（ＳＴＩ １ ）。そうして、被
検Ｏ’ ６０の溶接部６１部の欠陥（傷）に当った超音
波エコー信号が探触子１１を介して電気信号に変換され
て超音波探傷器２０に戻ってくる（ＳＴ１２＞。この超
音波探傷器２０では、戻ってぎた所謂反射工］−信号を
基にして傷の解析を行い、これをＣＲＴに表示するとと
もに、探傷データ（ビーム路程、エコー高さ）をデータ
収録装置３ｏへ出力する（ＳＴ１３）。このデータ収録
装置３０のＣＰＵ３１は、前記探傷データが有効傷であ
るか否かの判断を行う（ＳＴ１４）。有効傷でなければ
５Ｔ１０の処理に戻り、前記の各動作が繰返される。有
効傷であれば、その時の手動走査装置１ｏがらの探触、
吊位置データ（Ｘ軸移動量、Ｙ軸移動量、θ軸の首振り
角度）を読込む（ＳＴ１５）。そして前記ＣＰＵ３１は
、更にこの探触子位置データが前回のデータであるか否
かの判断を行う（Ｓ Ｔ １６）。
ＳＴ８）、この８点の座標をデータ収録装置３０に取込
む（ＳＴ９）。しかる後、探触子１１をジグザグに走査
する手探傷を開始する（ＳＴ１０）。すると、超音波探
傷器２０から探触子１１を介して被検材６０内部へ超音
波パルスが発射される（ＳＴＩ １ ）。そうして、被
検Ｏ’ ６０の溶接部６１部の欠陥（傷）に当った超音
波エコー信号が探触子１１を介して電気信号に変換され
て超音波探傷器２０に戻ってくる（ＳＴ１２＞。この超
音波探傷器２０では、戻ってぎた所謂反射工］−信号を
基にして傷の解析を行い、これをＣＲＴに表示するとと
もに、探傷データ（ビーム路程、エコー高さ）をデータ
収録装置３ｏへ出力する（ＳＴ１３）。このデータ収録
装置３０のＣＰＵ３１は、前記探傷データが有効傷であ
るか否かの判断を行う（ＳＴ１４）。有効傷でなければ
５Ｔ１０の処理に戻り、前記の各動作が繰返される。有
効傷であれば、その時の手動走査装置１ｏがらの探触、
吊位置データ（Ｘ軸移動量、Ｙ軸移動量、θ軸の首振り
角度）を読込む（ＳＴ１５）。そして前記ＣＰＵ３１は
、更にこの探触子位置データが前回のデータであるか否
かの判断を行う（Ｓ Ｔ １６）。
前回のものであれば、５Ｔ１０の処理に戻る。前回のも
のでな１ノれば、データ収録Ｉ装置３ｏの内部記憶装置
３３に、この探触子位置データとその時の探傷データを
取込む（ＳＴ１７）。そして、上記のような処理・操作
が被検材６ｏの溶接部６１全域について終了しＣいるか
否か判断しく５Ｔ１８）、終了していなければ、５Ｔ１
０の処理に戻り溶接部６１全域に亙って手探傷の処理・
操作を行う。終了していれば、前記内部記憶装置３３に
格納されている探傷データと探触子位置データを、力は
ットテーブあるいはフロッピディスクなどの外部配憶媒
体３４に収録する（ＳＴ１９）。
のでな１ノれば、データ収録Ｉ装置３ｏの内部記憶装置
３３に、この探触子位置データとその時の探傷データを
取込む（ＳＴ１７）。そして、上記のような処理・操作
が被検材６ｏの溶接部６１全域について終了しＣいるか
否か判断しく５Ｔ１８）、終了していなければ、５Ｔ１
０の処理に戻り溶接部６１全域に亙って手探傷の処理・
操作を行う。終了していれば、前記内部記憶装置３３に
格納されている探傷データと探触子位置データを、力は
ットテーブあるいはフロッピディスクなどの外部配憶媒
体３４に収録する（ＳＴ１９）。
上述のようにして、探傷現場にＪ３いて、探傷データど
探触子位置データ、所謂生データを外部記憶媒体３４に
収録する。そして、この生データの収録された外部記憶
媒体３４を探傷現場より持ち帰り、この外部記憶媒体３
４をデータ処理装置４０にかけて、ＪＩＳ規格に基づく
欠陥の等綴付けを行うと共に、欠陥開先断面（横及び１
ｉ１）位置図や欠陥平面位置図その他のデータ資料等を
作成する。
探触子位置データ、所謂生データを外部記憶媒体３４に
収録する。そして、この生データの収録された外部記憶
媒体３４を探傷現場より持ち帰り、この外部記憶媒体３
４をデータ処理装置４０にかけて、ＪＩＳ規格に基づく
欠陥の等綴付けを行うと共に、欠陥開先断面（横及び１
ｉ１）位置図や欠陥平面位置図その他のデータ資料等を
作成する。
図面は本発明に係る超音波探傷システムの一実施例を示
すもので、第１図は超音波探傷システム全体の図解図、
第２図は同システムのブロック図、第３図は同システム
の動作を説明するためのフローチャートである。 １０・・・手動走査装置、１１・・・探触子、１２・・
・θ軸、１３・・・Ｙ軸、１４・・・Ｘ軸、２０・・・
超音波探傷器、３０・・・データ収録装置、４０・・・
データ処庁装百、５０，５１．５２・・・伝送線、６０
・・・被検材、６１・・・溶接部、６２・・・溶接線。 特許出願人 立石電機株式会社
すもので、第１図は超音波探傷システム全体の図解図、
第２図は同システムのブロック図、第３図は同システム
の動作を説明するためのフローチャートである。 １０・・・手動走査装置、１１・・・探触子、１２・・
・θ軸、１３・・・Ｙ軸、１４・・・Ｘ軸、２０・・・
超音波探傷器、３０・・・データ収録装置、４０・・・
データ処庁装百、５０，５１．５２・・・伝送線、６０
・・・被検材、６１・・・溶接部、６２・・・溶接線。 特許出願人 立石電機株式会社
Claims (1)
- 探触子を備えた手動走査装置と、この手動走査装置の探
触子へ超音波を伝送し反射エコー信号を受信し探傷デー
タを出力する超音波探傷器と、この超音波探傷器より探
傷データを受信し前記手動走査装置より探触子の位置デ
ータを取込み、これらを外部記憶媒体に収録するデータ
収録装−と、このデータ収録装置の外部記憶媒体に収録
したデータを処理するための、前記各構成要素より別個
独立に分離り離間して所定箇所に設けたデータ処理装置
と、からなることを特徴とする超音波探傷システム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59112554A JPS60256054A (ja) | 1984-06-01 | 1984-06-01 | 超音波探傷システム |
| US07/021,576 US4742713A (en) | 1984-06-01 | 1987-03-02 | Ultrasonic flaw detecting system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59112554A JPS60256054A (ja) | 1984-06-01 | 1984-06-01 | 超音波探傷システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60256054A true JPS60256054A (ja) | 1985-12-17 |
Family
ID=14589565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59112554A Pending JPS60256054A (ja) | 1984-06-01 | 1984-06-01 | 超音波探傷システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60256054A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103018339A (zh) * | 2011-09-22 | 2013-04-03 | 北京理工大学 | 一种高速高精度的超声显微扫查装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5990045A (ja) * | 1982-11-15 | 1984-05-24 | Power Reactor & Nuclear Fuel Dev Corp | 手動式超音波探傷装置 |
-
1984
- 1984-06-01 JP JP59112554A patent/JPS60256054A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5990045A (ja) * | 1982-11-15 | 1984-05-24 | Power Reactor & Nuclear Fuel Dev Corp | 手動式超音波探傷装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103018339A (zh) * | 2011-09-22 | 2013-04-03 | 北京理工大学 | 一种高速高精度的超声显微扫查装置 |
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