JPS60256829A - キ−ボ−ド検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ）産業上の利用分野 本発明はキーボード検査装置に係り、特にキートップの
配列検査およびキートップの打鍵により出力される電気
信号検査のための装置である。

電算機の端末装置およびパーソナルコンピュータの普及
にともないキーボードの使用も増加している。このキー
ボードの検査は人別して、キートップが所定の位置に正
しく挿入されているかを検査するキートップ配列検査と
キートップを打鍵したときにそのキートップに対応して
出力される電気信号が正しいかを検査する電気信号検査
（打鍵検査ともいう）に分けられる。そして多機種に対
応できる汎用性のある自動検査装置の開発が要望されて
いる。

（ｂｌ従来の技術 従来のキーボード検査ではキー１〜ツブの配列検査と電
気信号検査を同時に行う装置がなく、再検査を２工程に
分けそれぞれ自動化されていた。

第３図は従来の検査装置の構成を説明するだめの図であ
る。被検査キーボード１の設計データをもとに例えば、
Ｘが６〜１５．Ｙが６〜１５の位置にはＡの文字が、Ｘ
が２１〜３０．Ｙが６〜１５の位置にばＢの文字が、Ｘ
が３６〜４５．Ｙが６〜１５の位置にはＣの文字が、Ｘ
が６〜１５．Ｙが２１〜３０の位置にはＤの文字がとい
うように、それぞれの位置に対応したパターン位置情報
と電気信号位置情報が予め作成され、パターン位置情報
はキートップ配列検査装置２のパターン位置情報変換回
路２９に、電気信号位置情報は電気信号検査装置３の電
気信号位置情報変換回路３０にぞれぞれ登録されている
。

キートップ配列検査では、被検査キーボード１のキーＩ
−ツブ面１１を撮像装置２１により撮像し、二値化回路
２２で二値化してフレームメモリ２３に格納し、辞書メ
モリー２４に格納されている辞書データとともにパター
ン認識回路２５に送り、キード１．プのパターン認識を
行って、どの位置にはどのようなパターンがあるかとい
うパターン位置情報を得る。このパターン位置情報と予
め設計情報をもとに作成されパターン位置情報変換回路
２９に登録されているパターン位置情報を比較照合して
一致しているか否かを検査する。

一方、電気信号検査（打鍵検査）では被検査キーボード
１のキートップ面１１を打鍵装置３１により・１打鍵し
て、どの位置からはどのような電気信号が出力されたか
という電気信号位置情報と予め設計情報をもとに作成さ
れ電気信号位置情報変換回路３０に登録されている電気
信号位置情報を比較照合して一致しているか否かを検査
する。この２項目の検査をそれぞれ別個の装置で実施し
、両方ともすべて一致しておれば検査合格とされる。

ｔｃ＋発明が解決しようとする問題点 ところが、従来のキーボード検査装置の問題は、第１に
２種類の検査装置を使用するために工程が煩雑になる、
第２に配列検査装置でキートップのパターンと位置を、
電気信号検査装置で位置と電気信号の対応を検査するた
め、予め検査されるべき各種のキーボードについて位置
情報を作成し、それらをそれぞれの検査装置に登録させ
てお（ところにある。

本発明は、キーボード検査を２工程に分けず、１つの装
置で行って検査時間の短縮と検査装置の価格引き下げを
計ると同時に、多種類のキーボードについてパターン位
置情報や電気信号位置情報の作成と登録を必要としない
検査装置を提案するものである。

ｆｄ１問題点を解決するだめの手段 その問題点は、被検査キーボードのキートップのパター
ン面を１最像装置により撮像し、二値化回路で二値化し
てフレームメモリに格納し、辞書メモリに格納されてい
る辞書データとともにパターン認識回路に送り、キート
ップのパターン認識を行い、このパターン情報を電気信
号メモリで変換して得られる電気信号とキートップを打
鍵装置で打鍵して得られる電気信号とを比較照合するこ
とにより解決される。

（ｅ）作用 即ち、本発明ではキーボードのキートップ面のパターン
を認識し、それを対応した電気信号に、変換し、その電
気信号と打鍵によって出力される電気信号を直接照合し
て検査するで、予め被検査キーボードのキートップのパ
ターン位置情報や電気信号位置情報を作成する必要がな
い （ｆｌ実施例 以下、図面を参照して実施例によって詳細に説明する。

第１図は本発明にかかる一実施例のキーボード検査装置
４の構成を説明するための図である。被検査キーボード
１のキートップ面１１は撮像装置２１により撮像され、
二値化回路２２で二値化されてフレームメモリ２３に格
納される。この格納されたデータは辞書メモリー２４に
格納されている辞書データとともにパターン認識回路２
５に送り込まれ、そこでキートップのパターン認識が行
われ、撮像されたキートップがどのようなパターンかと
いうパターン情報が得られる。

このパターン情報は電気信号メモリ２６に送られ、その
パターンに対応する電気信号に変換された後、電気信号
検査回路２７にお（られる。

一方被検査キーボード１のキートップ面１１は打鍵装置
３１で打鍵され、打鍵により出力された電気信号は電気
信号入力回路３２から電気信号検査回路２７に送られ、
そこで前記電気信号メモリ２６から送り込まれた認識パ
ターンに対応する電気信号と比較照合され、一致してい
るか否かが検査され、その結果が検査結果表示装置５に
表示される。また、これらの回路は制御回路６により制
御される。

第２図は本発明のキーボード検査装置の斜視図でキーボ
ード１は移動ステージ２８に乗せられ、撮像袋Ｎ２１と
打鍵装置３１によりキートップ面１１が撮像および打鍵
される。この図において、第１図の構成図中キーボード
１．撮像装置２１．打鍵装置３１、検査結果表示装置５
以外は検査回路７に含まれている。

（ｇ）発明の効果 以上の実施例から明らかなように、本発明によればキー
トップ配列検査と打鍵による出力電気信号検査が１台の
装置で可能になるのみならず、キートップのパターンと
出力電気信号を直接比較照合するため、従来のように設
計情報に基づくパターン位置情報や電気信号位置情報の
事前作成と登録が不要となり、多機種に汎用性のある検
査装置が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は本発明にかかるキーボード検査装
置の構成図と斜視図、 第３図は従来のキーボード検査装置の構成図である。 図において、 １はキーボード、 ２はキートップ配列検査装置、 ３は電気信号検査装置、４ばキーボード検査装置、５は
検査結果表示装置、 ６は制御回路、７ば検査回路、 工１はキートップ面、２１ば撮像装置、２２は二値化回
路、２３はフレームメモリ、２４は辞書メモリ、２５は
パターン認識回路、２６は電気信号メモリ、２７は電気
信号検査回路、２８は移動ステージ、 ２９はパターン位置情報変換回路、 ３０は電気信号位置情報変換回路、 ３１打鍵装置、３２は電気信号入力回路、をそれぞれ示
す。 第１図 第２１１ 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. キーボードのキートップ面を撮像して得られる画像信号
   が二値化回路、フレームメモリを介して、パターン認識
   回路に入れられてパターンが認識された後、該認識パタ
   ーンを電気信号メモリで変換して得られる出力電気信号
   と前記撮像されたキートップ面を打鍵することにより得
   られる出力電気信号とを比較照合することにより、キー
   トップの配列および出力電気信号の検査を同時に行うこ
   とを特徴とするパターン認識回路を備えたキーボード検
   査装置。