JPH02146611A - キーボード回路基板の試験装置及びその試験方法 - Google Patents
キーボード回路基板の試験装置及びその試験方法Info
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- JPH02146611A JPH02146611A JP63301669A JP30166988A JPH02146611A JP H02146611 A JPH02146611 A JP H02146611A JP 63301669 A JP63301669 A JP 63301669A JP 30166988 A JP30166988 A JP 30166988A JP H02146611 A JPH02146611 A JP H02146611A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
キーボード回路基板の試験装置、特にメカニカルスイッ
チ型キーボードやメンブレンシート型キーボード等のソ
フト基板の機能や動作試験をする装置に関し、 日亥メカニカルスイッチやメンブレンシートをソフト基
板に実装することなく、該ソフト基板にそれを実装した
ときと同等の状態を作成し、それから得られる情報に基
づいて、ソフト基板の機能試験等やその他の試験をする
ことを目的とし、第１の装置を第１の制御信号を入力し
て、被試験キーボード回路基板に、第２の制御信号を出
力する擬似マトリクス手段と、前記被試験キーボド回路
基板から出力される出力信号に基づいて、該被試験キー
ボード回路基板の判定をする判定手段と、前記判定手段
の判定結果を表示する表示手段と、前記擬似マトリクス
手段に第１の制御信号の出力をする制御手段とを具備す
ることを含み構成し、 第２の装置を、キーボード回路基板の試験装置に、前記
被試験キーボード回路基板の電源試験をする電源試験手
段を設＋Ｊていることを含み構成し、第３の装置を、キ
ーボード回路基板の試験装置に、前記被試験キーボード
回路基板の発光素子の試験をする発光素子試験手段を設
けていることを含み構成し、 第４の装置をキーボード回路基板の試験装置に電源試験
手段及び発光素子試験子段が併設されていることを含の
構成する。
チ型キーボードやメンブレンシート型キーボード等のソ
フト基板の機能や動作試験をする装置に関し、 日亥メカニカルスイッチやメンブレンシートをソフト基
板に実装することなく、該ソフト基板にそれを実装した
ときと同等の状態を作成し、それから得られる情報に基
づいて、ソフト基板の機能試験等やその他の試験をする
ことを目的とし、第１の装置を第１の制御信号を入力し
て、被試験キーボード回路基板に、第２の制御信号を出
力する擬似マトリクス手段と、前記被試験キーボド回路
基板から出力される出力信号に基づいて、該被試験キー
ボード回路基板の判定をする判定手段と、前記判定手段
の判定結果を表示する表示手段と、前記擬似マトリクス
手段に第１の制御信号の出力をする制御手段とを具備す
ることを含み構成し、 第２の装置を、キーボード回路基板の試験装置に、前記
被試験キーボード回路基板の電源試験をする電源試験手
段を設＋Ｊていることを含み構成し、第３の装置を、キ
ーボード回路基板の試験装置に、前記被試験キーボード
回路基板の発光素子の試験をする発光素子試験手段を設
けていることを含み構成し、 第４の装置をキーボード回路基板の試験装置に電源試験
手段及び発光素子試験子段が併設されていることを含の
構成する。
本発明は、キーボード回路基板の試験装置及びその試験
方法に関するものであり、更に詳しく言えばメカニカル
レスインチ型キーボードやメンブレンシート型キーボー
ドのソフト基板の機能や動作試験をする装置及びその方
法に関するものである。
方法に関するものであり、更に詳しく言えばメカニカル
レスインチ型キーボードやメンブレンシート型キーボー
ドのソフト基板の機能や動作試験をする装置及びその方
法に関するものである。
近年、コンピュータ、その他ターミナルなどの機械（マ
シン）と、使用する人間（マン）との接点において、文
字や記号からなるデータを２進数に変換するユーザ特別
仕様のキーボードが多く使用されている。ここで、メカ
ニカルスイッチ型キーボードのプリント配線基板は、ソ
フト基板（電気回路）と、ハード基板（スイッチ回路）
から成り、メンブレンシート型キーボードのプリント配
線基板は、メンブレンシートとソフト基板（電気回路）
から成る。
シン）と、使用する人間（マン）との接点において、文
字や記号からなるデータを２進数に変換するユーザ特別
仕様のキーボードが多く使用されている。ここで、メカ
ニカルスイッチ型キーボードのプリント配線基板は、ソ
フト基板（電気回路）と、ハード基板（スイッチ回路）
から成り、メンブレンシート型キーボードのプリント配
線基板は、メンブレンシートとソフト基板（電気回路）
から成る。
また、各ソフト基板の機能試験は、キーボード完成の状
態、すなわちソフト基板にメンブレンシート又はハード
基板を接続して、実際にキースインチの０Ｎ−ＯＦＦ処
理をし、その出力データを解析することにより行われる
。
態、すなわちソフト基板にメンブレンシート又はハード
基板を接続して、実際にキースインチの０Ｎ−ＯＦＦ処
理をし、その出力データを解析することにより行われる
。
しかし、ソフト基板は殆どがユーザの特別仕様のカスタ
マ設計品であり、ソフト基板単体のみを試験する場合、
メカニカルスイッチ型キーボードでは、スイッチ回路を
実装したり、メンブレンシート型キーボードではメンブ
レンシートを実装しなくてはならない。従ってソフト基
板単体での機能試験等は、大規模なロジック試験機を用
いないとできないという問題がある。
マ設計品であり、ソフト基板単体のみを試験する場合、
メカニカルスイッチ型キーボードでは、スイッチ回路を
実装したり、メンブレンシート型キーボードではメンブ
レンシートを実装しなくてはならない。従ってソフト基
板単体での機能試験等は、大規模なロジック試験機を用
いないとできないという問題がある。
そこで、これ等を実装しなくてもソフト基板単体の試験
をすることができる簡単な試験装置及びその試験方法の
要求がある。
をすることができる簡単な試験装置及びその試験方法の
要求がある。
第６．７図は、従来例に係る説明図である。
第６図は、従来例に係るキーボード回路基板を説明する
図である。
図である。
図において、１はキーホード、２はキーボードスイッチ
である。キーボードスイッチ２は、メカニカルスイッチ
機構やメンブレンシート機構のものがある。１ａはキー
ボードのソフト基板であり、エンコーダ３、シフト回路
４及びインターフェース回路５から成る。エンコーダ３
は試技者（プログラマ−）がキーボートスインチ２を操
作したことにより、ＯＮしたスイッチの検出をするスイ
ッチ検出回路３ａと、コード発生回路３ｂから成る。
である。キーボードスイッチ２は、メカニカルスイッチ
機構やメンブレンシート機構のものがある。１ａはキー
ボードのソフト基板であり、エンコーダ３、シフト回路
４及びインターフェース回路５から成る。エンコーダ３
は試技者（プログラマ−）がキーボートスインチ２を操
作したことにより、ＯＮしたスイッチの検出をするスイ
ッチ検出回路３ａと、コード発生回路３ｂから成る。
キーボード１のキーアレイと、キーボードのソフト基板
１ａとは、従来同一プリント基板上に形成されていた。
１ａとは、従来同一プリント基板上に形成されていた。
しかし、キーボード１のキーアレイは、最近、キーボー
ドのソフト基板１ａと分離して形成されている。これは
、キーアレイに工業規格化された標準品を用いても、キ
ーボードのソフト基板１ａついては、ユーザの使用態様
・使用要求等に応じて、内部回路構成がそれぞれ巽なっ
ているためである。
ドのソフト基板１ａと分離して形成されている。これは
、キーアレイに工業規格化された標準品を用いても、キ
ーボードのソフト基板１ａついては、ユーザの使用態様
・使用要求等に応じて、内部回路構成がそれぞれ巽なっ
ているためである。
第７図は、従来例に係るキーボード試験装置の構成図で
ある。
ある。
図において、１は機能試験や動作試験がなされる被試験
キーボードである。６はシリアル／パラレル変換回路、
７は比較回路、８は表示回路、９はメモリ回路、１０は
制御回路である。
キーボードである。６はシリアル／パラレル変換回路、
７は比較回路、８は表示回路、９はメモリ回路、１０は
制御回路である。
被試験キーボード１の試験方法は、キーアレイが実装さ
れたキーボード１のキーボード回路基板２を実際にＯＮ
Ｌ、被試験キーボード１から出力されるキースキャンコ
ードＫＳＣＩをシＩＪ フル／パラレル変換し、変換さ
れたキースキャンコードＫＳＣ２がメモリ回路９から読
み出したキースキャンコードの基準値ＲＤと比較される
。このとき、コードが一致しているときは被試験キーボ
ード１は、「良」、不一致のときはそれは「不良」と判
定され、その判定結果データＤＤは、表示回路８に表示
される。
れたキーボード１のキーボード回路基板２を実際にＯＮ
Ｌ、被試験キーボード１から出力されるキースキャンコ
ードＫＳＣＩをシＩＪ フル／パラレル変換し、変換さ
れたキースキャンコードＫＳＣ２がメモリ回路９から読
み出したキースキャンコードの基準値ＲＤと比較される
。このとき、コードが一致しているときは被試験キーボ
ード１は、「良」、不一致のときはそれは「不良」と判
定され、その判定結果データＤＤは、表示回路８に表示
される。
従って、最近の被試験キーボード１は、ユーザの使用態
様、使用要求等によりキーアレイには、工業規格化され
たものを用い、ソフト基板にはそれぞれ異なるカスタム
設計品（特別注文の集積回路）を用いて製造される。こ
れにより、被試験キーボードｌのキーアレイと、ソフト
基板とは、同一プリント配線基板上にには形成されない
。
様、使用要求等によりキーアレイには、工業規格化され
たものを用い、ソフト基板にはそれぞれ異なるカスタム
設計品（特別注文の集積回路）を用いて製造される。こ
れにより、被試験キーボードｌのキーアレイと、ソフト
基板とは、同一プリント配線基板上にには形成されない
。
このため、被試験キーボード１のソフト基板を試験をす
る場合、次のような問題を生ずる。
る場合、次のような問題を生ずる。
■ソフト基板の機能試験等を行う場合、メカニカルスイ
ッチやメンブレンシート等のキーアレイを実装して、キ
ーボード完成状態にしなくてはならない。これにより、
ソフト基板毎に、キーアレイを接続してニド−ボードス
イッチ２の操作をすることを要し、試験の簡素化を図れ
ない。
ッチやメンブレンシート等のキーアレイを実装して、キ
ーボード完成状態にしなくてはならない。これにより、
ソフト基板毎に、キーアレイを接続してニド−ボードス
イッチ２の操作をすることを要し、試験の簡素化を図れ
ない。
■ソフト基板単体の機能試験を行うとすると、ロジック
試験機が必要となる。ロジック試験機による試験は、測
定プローグ治具（テストフィクスチャ）や試験プログラ
ムの作成を必要とし、試験のコストアップの原因になる
。
試験機が必要となる。ロジック試験機による試験は、測
定プローグ治具（テストフィクスチャ）や試験プログラ
ムの作成を必要とし、試験のコストアップの原因になる
。
本発明は、かかる従来例の問題点に鑑み創作されたもの
であり、メカニカルスイッチやメンブレンシートをソフ
ト基板に実装することなく、該ソフト基板にそれを実装
したときと同等の状態を作成し、ソフト基板の機能試験
やその他の試験をすることを可能とするキーボード回路
基板の試験装置及びその試験方法の提供を目的とする。
であり、メカニカルスイッチやメンブレンシートをソフ
ト基板に実装することなく、該ソフト基板にそれを実装
したときと同等の状態を作成し、ソフト基板の機能試験
やその他の試験をすることを可能とするキーボード回路
基板の試験装置及びその試験方法の提供を目的とする。
〔課題を解決するための手段］
第１．２図は、本発明のキーボード回路基板の試験装置
及びその方法に係る原理図を示している。
及びその方法に係る原理図を示している。
その第１の装置は、第１の制御信号ＭＣ３を入力して、
被試験キーボード回路基板１１に、第２の制御信号ＸＳ
Ｓを出力する擬像マトリクス手段１２と、前記被試験キ
ーボード回路基板１１から出力される出力信号ＫＳＣに
基づいて、該被試験キーボード回路基板１１の判定をす
る判定手段１３と、前記判定手段１３の判定結果を表示
する表示手段１４と、前記擬（以マトリクス手段１２に
第１の制御信号ＭＣ３の出力をする制御手段１５とを具
備することを特徴とし、 第２の装置は、キーボード回路基板の試験装置に、前記
被試験キーボード回路基板１１の電源試験をする電源試
験手段１６を設けていることを特徴とし、 第３の装置はキーボード回路基板の試験装置に、前記被
試験キーボード回路基板１１の発光素子の試験をする発
光素子試験手段１７を設けていることを特徴とし、 第４の装置はキーボード回路基板の試験装置に電源試験
手段１６及び発光素子試験手段１７が併設されているこ
とを特徴とし、 その方法は少なくとも、被試験キーボード回路基板に応
じた擬イ以マトリクス情報を生成し、前記擬似マトリク
ス情報を被試験キーボード回路基板に人力し、前記被試
験キーボード回路基板から出力される出力データの判定
処理をすることを特徴とし、上記目的を達成する。
被試験キーボード回路基板１１に、第２の制御信号ＸＳ
Ｓを出力する擬像マトリクス手段１２と、前記被試験キ
ーボード回路基板１１から出力される出力信号ＫＳＣに
基づいて、該被試験キーボード回路基板１１の判定をす
る判定手段１３と、前記判定手段１３の判定結果を表示
する表示手段１４と、前記擬（以マトリクス手段１２に
第１の制御信号ＭＣ３の出力をする制御手段１５とを具
備することを特徴とし、 第２の装置は、キーボード回路基板の試験装置に、前記
被試験キーボード回路基板１１の電源試験をする電源試
験手段１６を設けていることを特徴とし、 第３の装置はキーボード回路基板の試験装置に、前記被
試験キーボード回路基板１１の発光素子の試験をする発
光素子試験手段１７を設けていることを特徴とし、 第４の装置はキーボード回路基板の試験装置に電源試験
手段１６及び発光素子試験手段１７が併設されているこ
とを特徴とし、 その方法は少なくとも、被試験キーボード回路基板に応
じた擬イ以マトリクス情報を生成し、前記擬似マトリク
ス情報を被試験キーボード回路基板に人力し、前記被試
験キーボード回路基板から出力される出力データの判定
処理をすることを特徴とし、上記目的を達成する。
〔作用］
本発明の第１の装置によれば、被試験キーボード回路基
板１１に第２の制御信号ＸＳＳを出力する擬似マトリク
ス手段１２が具備されている。
板１１に第２の制御信号ＸＳＳを出力する擬似マトリク
ス手段１２が具備されている。
このため、例えば擬似マトリクス手段１２に設置された
マトリクス状のスイッチング素子に第１の制御信号ＭＣ
３が入力されると、メカニカルスイッチやメンブレンシ
ート等のキーアレイをソフト基板実装した場合に得られ
るキースキャンコドと同様の出力信号ＫＳＣを被試験キ
ーボード回路基板１１から出力することができる。
マトリクス状のスイッチング素子に第１の制御信号ＭＣ
３が入力されると、メカニカルスイッチやメンブレンシ
ート等のキーアレイをソフト基板実装した場合に得られ
るキースキャンコドと同様の出力信号ＫＳＣを被試験キ
ーボード回路基板１１から出力することができる。
このため、キーアレイ等をソフト基板に実装しなくとも
、出力信号ＫＳＣを判定することによって被試験キーボ
ード回路基板１１の機能試験をすることが可能となる。
、出力信号ＫＳＣを判定することによって被試験キーボ
ード回路基板１１の機能試験をすることが可能となる。
一ε琵２の装置によれば、第１の装置に電源試験手段１
Ｇを設けている。
Ｇを設けている。
このため、例えば電源を０Ｎ−ＯＦＦして、オペアンプ
等で電源電圧を測定することにより、ソフト基板の機能
試験に加えて、ソフト基板上の配線パターン、回路の短
絡及び抵抗オープン等の電気系統で発生する不良箇所を
検知することができる。
等で電源電圧を測定することにより、ソフト基板の機能
試験に加えて、ソフト基板上の配線パターン、回路の短
絡及び抵抗オープン等の電気系統で発生する不良箇所を
検知することができる。
第３の′装置によれば、第１の装置に、発光素子試験手
段１７を設けている。
段１７を設けている。
このため、例えば被試験キーボード回路基板１１内のＬ
Ｅ Ｄ （Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄ
ｅ）の端子電圧をオペアンプ等で測定することにより、
ソフト基板の機能試験に加えて、該Ｌ Ｅ Ｄを動作さ
せるドライバー回路の試験をすることができる。
Ｅ Ｄ （Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄ
ｅ）の端子電圧をオペアンプ等で測定することにより、
ソフト基板の機能試験に加えて、該Ｌ Ｅ Ｄを動作さ
せるドライバー回路の試験をすることができる。
第４の装置によれば、第１の装置に電源試験手段１６及
び発光素子試験手段１７が併設されている。
び発光素子試験手段１７が併設されている。
このため、従来の■Ｃテスタやロジック試験機等に比べ
て、多試験機能を具備する試験装置の簡酪化を図ること
、かつ該装置のコンパクトに製造することが可能となる
。
て、多試験機能を具備する試験装置の簡酪化を図ること
、かつ該装置のコンパクトに製造することが可能となる
。
また、本発明の試験方法によれば、被試験ニド−ボード
回路基板の試験は、擬似マトリクス情報により電気的に
行われる。
回路基板の試験は、擬似マトリクス情報により電気的に
行われる。
このため、従来のように試技者（プログラマ−）がソフ
ト基板に実装されたキーアレイを実際に操作し、試験を
する方法に比べて、試験精度の向上を図ることができる
。また、ロジックプログラムを生成して、ソフト基板の
試験をするロジック試験機による方法に比べて試験時間
の短縮及び試験の簡素化を図ることが可能となる。
ト基板に実装されたキーアレイを実際に操作し、試験を
する方法に比べて、試験精度の向上を図ることができる
。また、ロジックプログラムを生成して、ソフト基板の
試験をするロジック試験機による方法に比べて試験時間
の短縮及び試験の簡素化を図ることが可能となる。
次に図を参照しながら本発明の実施例について説明をす
る。
る。
第３〜５図は、本発明の実施例に係るキーボード回路基
板の試験装置及びその試験方法を説明する図であり、第
３図は、本発明の実施例のキーボード回路基板の試験装
置の構成図を示している。
板の試験装置及びその試験方法を説明する図であり、第
３図は、本発明の実施例のキーボード回路基板の試験装
置の構成図を示している。
なお、本実施例では、電源試験手段１６と、発光素子試
験手段１７とを併設する試験装置について説明をする。
験手段１７とを併設する試験装置について説明をする。
図において、２１はキーボードのソフト基板であり、プ
リント配線基板上に集積回路装置等を搭載したキーボー
ド回路基板である。キーボードのソフト基板２１は、ユ
ーザの使用態様等によりカスタム設計製造された単体基
板であり、メカニカルスイッチやメンブレンシート等の
キーアレイが実装されていない。
リント配線基板上に集積回路装置等を搭載したキーボー
ド回路基板である。キーボードのソフト基板２１は、ユ
ーザの使用態様等によりカスタム設計製造された単体基
板であり、メカニカルスイッチやメンブレンシート等の
キーアレイが実装されていない。
２２は、擬似マトリクス手段２２の一実施例となる擬似
マトリクスポード回路であり、Ｘ−Ｙ７トリクス信号Ｍ
Ｃ３を人力して、キーボードのソフト基板２１にＸコー
ド、Ｘコード等を入出力する機能を有している。また、
擬似マトリクスポード回路２２の内部構成は、リレー（
継電器）やＭＯＳＦＥＴ （電界効果トランジスタ）等
、例えば８×１６個の素子をマトリクス状に配置したス
イッチングアレイである。
マトリクスポード回路であり、Ｘ−Ｙ７トリクス信号Ｍ
Ｃ３を人力して、キーボードのソフト基板２１にＸコー
ド、Ｘコード等を入出力する機能を有している。また、
擬似マトリクスポード回路２２の内部構成は、リレー（
継電器）やＭＯＳＦＥＴ （電界効果トランジスタ）等
、例えば８×１６個の素子をマトリクス状に配置したス
イッチングアレイである。
スインチングアレイは、制御回路２５のＸ−Ｙマトリク
ス信号ＭＣ３により、キーアレイ等をソフト基板に実装
したと同じ状態の情報を出力することができる。
ス信号ＭＣ３により、キーアレイ等をソフト基板に実装
したと同じ状態の情報を出力することができる。
２３は、判定回路であり、シリアル／パラレル変換回路
３１、比較回路３２及びメモリ回路３３から構成されて
いる。
３１、比較回路３２及びメモリ回路３３から構成されて
いる。
シリアル／パラレル変換回路３１はキーボードソフト基
板２１から出力されるシリアルのキースキャンコードＫ
ＳＣＩをシリアル／パラレル変換して、パラレルのキー
スキャンコードＫＳＣ２を出力する機能を有している。
板２１から出力されるシリアルのキースキャンコードＫ
ＳＣＩをシリアル／パラレル変換して、パラレルのキー
スキャンコードＫＳＣ２を出力する機能を有している。
比較回路３１はメモリ回路３３から読み出された基準値
（キースキャンコードＫＳＣ２の期待値）と、シリアル
／パラレル変換回路３１から出力されたキースキャンコ
ードＫＳＣ２とを比較し、判定結果データＤＤを出力す
る機能を有している。
（キースキャンコードＫＳＣ２の期待値）と、シリアル
／パラレル変換回路３１から出力されたキースキャンコ
ードＫＳＣ２とを比較し、判定結果データＤＤを出力す
る機能を有している。
メモリ回路３３は、制御回路２５からの読み出し制御信
号ＲＣを入力して、格納された基準値を出力する機能を
有している。
号ＲＣを入力して、格納された基準値を出力する機能を
有している。
２４は表示回路であり、判定結果データＤＤを試験者等
に知らせる機能を有している。表示回路２４は、数字表
示器や発光ダイオード等により構成される。
に知らせる機能を有している。表示回路２４は、数字表
示器や発光ダイオード等により構成される。
２５は制御回路であり、擬似マトリクスボード回路２２
にＸ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３を出力して、その内部の
スイッチング素子の０Ｎ−ＯＦＦを制御する機能を有し
ている。また、制御回路２５は、メモリ回路３３に読み
出し制御信号ＲＣ出力して、その入出力の制御をしたり
、電源試験回路２６やＬＥＤ試験回路２７にストロボパ
ルスＰ１、Ｐ２を出力する機能を有している。
にＸ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３を出力して、その内部の
スイッチング素子の０Ｎ−ＯＦＦを制御する機能を有し
ている。また、制御回路２５は、メモリ回路３３に読み
出し制御信号ＲＣ出力して、その入出力の制御をしたり
、電源試験回路２６やＬＥＤ試験回路２７にストロボパ
ルスＰ１、Ｐ２を出力する機能を有している。
これ等により、キーボードのソフト基板の機能試験を行
う試験装置を構成する。なお、その試験方法については
第５図の試験フローチャートを参照しながら説明をする
。
う試験装置を構成する。なお、その試験方法については
第５図の試験フローチャートを参照しながら説明をする
。
このようにして、キーボードのソフト基板２１にＸコー
ド、Ｙコードを入出力する擬似マトリクスポード回路２
２が具備されている。
ド、Ｙコードを入出力する擬似マトリクスポード回路２
２が具備されている。
このため、例えば擬似マトリクスポード回路２２に設置
されたマトリクス状のスイッチング素子にＸ−Ｙマトリ
クス信号ＭＣ３が入力されると、メカニカルスイッチや
メンブレンシート等のキーアレイをソフト基板実装した
場合に得られるキスキャンコードと同様のキースキャン
コードＫＳＣ１をキーボードのソフｔ４板２１から出力
することができる。
されたマトリクス状のスイッチング素子にＸ−Ｙマトリ
クス信号ＭＣ３が入力されると、メカニカルスイッチや
メンブレンシート等のキーアレイをソフト基板実装した
場合に得られるキスキャンコードと同様のキースキャン
コードＫＳＣ１をキーボードのソフｔ４板２１から出力
することができる。
このため、キーアレイ等をソフト基板に実装しなくとも
、キースキャンコードＫＳＣ２を例えば期待値と比較判
断することによってキーボードのソフト基板２１の機能
試験をすることが可能となる。
、キースキャンコードＫＳＣ２を例えば期待値と比較判
断することによってキーボードのソフト基板２１の機能
試験をすることが可能となる。
また、本発明の実施例の試験装置は、キーボードのソフ
ト基板の機能試験に加えて、電源試験やＬＥＤ試験をす
る手段を設けている。
ト基板の機能試験に加えて、電源試験やＬＥＤ試験をす
る手段を設けている。
第３図において、２６は電源試験手段１６の一実施例と
なる電源試験回路である。電源試験回路２６は、比較回
路６１と、ダイオードＤ１、Ｄ２及びＡＮＤ回路６２か
ら構成されている。比較回路６１は、キーボードのソフ
ト基板２１からの電源の０Ｎ−ＯＦＦ信号ＥＳと、基準
電圧ＶＳＩとの比較をする機能を有し、オペアンプ等か
ら成る。
なる電源試験回路である。電源試験回路２６は、比較回
路６１と、ダイオードＤ１、Ｄ２及びＡＮＤ回路６２か
ら構成されている。比較回路６１は、キーボードのソフ
ト基板２１からの電源の０Ｎ−ＯＦＦ信号ＥＳと、基準
電圧ＶＳＩとの比較をする機能を有し、オペアンプ等か
ら成る。
ダイオードＤ１、Ｄ２は、比較回路６１から出力される
検出電圧ｅ、をクランプする回路である。
検出電圧ｅ、をクランプする回路である。
ＡＮＤ回路６２はストロボパルスＰ１と、検出電圧Ｃ２
とを人力して、二人力Ａ Ｎ Ｄ 論理をし、その結果
データを出力する機能を有している。
とを人力して、二人力Ａ Ｎ Ｄ 論理をし、その結果
データを出力する機能を有している。
このため、例えば電源を０Ｎ−ＯＦＦして、オペアンプ
等で電源電圧を測定することによりソフト基板の機能試
験に加えて、ソフト基板上の配線パターン、回路の短絡
及び抵抗オープン等の電気系統で発生する不良箇所を検
知することができる。
等で電源電圧を測定することによりソフト基板の機能試
験に加えて、ソフト基板上の配線パターン、回路の短絡
及び抵抗オープン等の電気系統で発生する不良箇所を検
知することができる。
２７は発光素子試験手段１７の一実施例となるＬ ＥＤ
試験回路である。１． Ｅ Ｄ試験回路２７は、比較回
路７１と、ダイオードＤ３、Ｄ４及びＡＮＤ回路７２か
ら構成されている。
試験回路である。１． Ｅ Ｄ試験回路２７は、比較回
路７１と、ダイオードＤ３、Ｄ４及びＡＮＤ回路７２か
ら構成されている。
比較回路７１は、キーボードのソフ）Ｍ板２１からのＬ
ＥＤを０Ｎ−ＯＦＦする信号ＬＳと基準電圧ＶＳ２との
比較する機能を有し、比較回路７１と同様のオペアンプ
等から成る。なお、ダイオドＤ３、Ｄ４ はダイオード
Ｄ１、Ｄ２と同じ機能を有している。ＡＮＤ回路７２は
、ストロボパルスＰ２と、検出電圧ｅ２とを入力して二
人力ＡＮＤ論理をし、その結果データを出力する機能を
有している。
ＥＤを０Ｎ−ＯＦＦする信号ＬＳと基準電圧ＶＳ２との
比較する機能を有し、比較回路７１と同様のオペアンプ
等から成る。なお、ダイオドＤ３、Ｄ４ はダイオード
Ｄ１、Ｄ２と同じ機能を有している。ＡＮＤ回路７２は
、ストロボパルスＰ２と、検出電圧ｅ２とを入力して二
人力ＡＮＤ論理をし、その結果データを出力する機能を
有している。
これにより、例えばＬＥＤ２０４の端子電圧をオペアン
プ等で測定することにより、ソフト基板の機能試験に加
えて、第４図に示すような該ｒ−ＥＤ２０４を動作させ
るドライバー回路２０２．２０３の試験をすることがで
きる。
プ等で測定することにより、ソフト基板の機能試験に加
えて、第４図に示すような該ｒ−ＥＤ２０４を動作させ
るドライバー回路２０２．２０３の試験をすることがで
きる。
このようにして、キーボードのソフト基板２１の機能試
験をする試験装置に電源試験回路２６やＬＥＤ試験回路
２７が設けられている。
験をする試験装置に電源試験回路２６やＬＥＤ試験回路
２７が設けられている。
このため、従来のＩＣテスタやロジック試験機に比べて
、多試験モードを具備する試験装置の簡略化を図ること
、該装置をコンパクトに製造することが可能となる。
、多試験モードを具備する試験装置の簡略化を図ること
、該装置をコンパクトに製造することが可能となる。
第４図は、本発明の実施例のキーボードのソフト基板の
試験方法に係る説明図である。
試験方法に係る説明図である。
図において、−点鎖線で囲んだ部分がキーボードのソフ
ト基板２Ｉである。キーボードのソフト基板２１は、Ｃ
ＰＵ２０１、ドライバー回路２０２．２０３、Ｌ Ｅ
Ｄ ２０４、レジバー回路２０５、水晶発振器２０６、
セレクタ２０７、キーマトリクス接続端子２０８及び外
部出力端子２０９から構成されている。
ト基板２Ｉである。キーボードのソフト基板２１は、Ｃ
ＰＵ２０１、ドライバー回路２０２．２０３、Ｌ Ｅ
Ｄ ２０４、レジバー回路２０５、水晶発振器２０６、
セレクタ２０７、キーマトリクス接続端子２０８及び外
部出力端子２０９から構成されている。
擬似マトリクスボード回路２２から出力されるＸコード
は、本来メカニカルスイッチやメンブレンシートのキー
アレイ等が接続されるキーマトリクス接続端子２０８を
介して、セレクタ２０７に入力される。セレクタ２０７
の出力データは、ＣＰＵ２０１によって判断され、その
判断結果は、ドライバー回路２０２や外部端子２０９を
介してシリアル／パラレル変換回路３１にキースキャン
コードＫＳＣ１として出力される。このとき、擬似マト
リクスポード回路２２にＸコードが返信される。
は、本来メカニカルスイッチやメンブレンシートのキー
アレイ等が接続されるキーマトリクス接続端子２０８を
介して、セレクタ２０７に入力される。セレクタ２０７
の出力データは、ＣＰＵ２０１によって判断され、その
判断結果は、ドライバー回路２０２や外部端子２０９を
介してシリアル／パラレル変換回路３１にキースキャン
コードＫＳＣ１として出力される。このとき、擬似マト
リクスポード回路２２にＸコードが返信される。
Ｌ Ｓは、ＬＥＤを０Ｎ−ＯＦＦする信号であり、Ｌ
Ｐ、 Ｄ （Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄ
ｅ） ２０４の端子から引き出される。ＢＳは電源０Ｎ
−ＯＦＦ信号であり、電源ＶＣＣの端子から引き出され
る。
Ｐ、 Ｄ （Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄ
ｅ） ２０４の端子から引き出される。ＢＳは電源０Ｎ
−ＯＦＦ信号であり、電源ＶＣＣの端子から引き出され
る。
第５図は、本発明の実施例のキーボードのソフト基板の
試験方法に係るフローチャートである。
試験方法に係るフローチャートである。
図において、まずステップＰ１で、スイッチ素子をＸｌ
、Ｘ２ ・・・・・、Ｙｌ、Ｙ２ ・・・のマトリク
ス状に配置して、擬似マトリクスポード回路２２を形成
する。ここで、擬似マトリクスポード回路２２は、キー
ボードのソフト基板２１のキーマトリクス接続端子２０
８に接続される。
、Ｘ２ ・・・・・、Ｙｌ、Ｙ２ ・・・のマトリク
ス状に配置して、擬似マトリクスポード回路２２を形成
する。ここで、擬似マトリクスポード回路２２は、キー
ボードのソフト基板２１のキーマトリクス接続端子２０
８に接続される。
次に、ステップＰ２で擬似マトリクスポード回路２２に
Ｘ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３を入力して、ｘ、Ｘコード
を生成する。ここで、Ｘ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３は制
御回路２５より供給される。
Ｘ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３を入力して、ｘ、Ｘコード
を生成する。ここで、Ｘ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３は制
御回路２５より供給される。
次いで、ステップＰ３で、Ｘコードをキーボードのソフ
ト基板２工のセレクタ２０７に入力し、ＸコードをＣＰ
Ｕ２０１から擬似マトリクスポード回路２２に返信する
。このとき、Ｘ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３により擬似マ
トリクスポード回路２２のある一つのスイッチング素子
がＯＮする。
ト基板２工のセレクタ２０７に入力し、ＸコードをＣＰ
Ｕ２０１から擬似マトリクスポード回路２２に返信する
。このとき、Ｘ−Ｙマトリクス信号ＭＣ３により擬似マ
トリクスポード回路２２のある一つのスイッチング素子
がＯＮする。
この接点ＯＮにより、擬似マトリクスボード回路２２内
のＸとＹとのマトリクスが接続される。
のＸとＹとのマトリクスが接続される。
ここでＣＰＵ２０］はＸＹママトリクス上どの接点がＯ
Ｎされたかを検出する。この検出結果は、ドライバー回
路２０２を介して、キースキャンコードＫＳＣＩとなっ
て、シリアル／パラレル変換回路３１に出力されろ。
Ｎされたかを検出する。この検出結果は、ドライバー回
路２０２を介して、キースキャンコードＫＳＣＩとなっ
て、シリアル／パラレル変換回路３１に出力されろ。
次に、ステップＰ４で、キーボードのソフト基板２１か
ら出力されるキースキャンコードＫＳＣ１のシリアル／
パラレル変換をする。
ら出力されるキースキャンコードＫＳＣ１のシリアル／
パラレル変換をする。
次いで、ステップＰ５で、シリアル／パラレル変換され
たキースキャンコードＫＳＣ２と、メモリ回路３３から
読み出した基準値ＲＤとを比較判断をする。
たキースキャンコードＫＳＣ２と、メモリ回路３３から
読み出した基準値ＲＤとを比較判断をする。
さらに、ステップＰ６で、判定結果データＤＤを表示回
路２４に入力して、キーボードのソフト基板２１の良否
を表示する。
路２４に入力して、キーボードのソフト基板２１の良否
を表示する。
このようにして、キーボードのソフト基板２１の試験は
、擬似マトリクスポード回路２２より入出力されるＸ、
Ｘコードにより電気的に行われている。
、擬似マトリクスポード回路２２より入出力されるＸ、
Ｘコードにより電気的に行われている。
このため、従来のように試技者（プログラマ−）がソフ
ト基板に実装されたキーアレイを実際に操作し、試験を
する方法に比べて、試験精度の向上を図ることができる
。また、ロジックプログラムを生成して、ソフト基板の
試験をするロジンク試験機による方法に比べて試験時間
の短縮及び試験の簡素化を図ることが可能となる。
ト基板に実装されたキーアレイを実際に操作し、試験を
する方法に比べて、試験精度の向上を図ることができる
。また、ロジックプログラムを生成して、ソフト基板の
試験をするロジンク試験機による方法に比べて試験時間
の短縮及び試験の簡素化を図ることが可能となる。
以上説明したように本発明によれば、メカニカルスイン
チやメンブレンシート等のキーアレイをソフト基板実装
しなくとも、擬似７トリクスボド回路により該ソフト基
板の機能試験をずろことができる。
チやメンブレンシート等のキーアレイをソフト基板実装
しなくとも、擬似７トリクスボド回路により該ソフト基
板の機能試験をずろことができる。
また、本発明によれば、ソフト基板の機能試験に加えて
、電源試験やＬ Ｅ Ｄの発光試験等もできる。
、電源試験やＬ Ｅ Ｄの発光試験等もできる。
このため、ユーザの使用要求等によりカスタム設計され
る少量多品種のキーボードの試験をする試験装置を製造
することが可能となる。
る少量多品種のキーボードの試験をする試験装置を製造
することが可能となる。
これにより、キーアレイ等をソフト基板に実装する前段
階において、不良ソフト基板を摘出することが可能とな
る。
階において、不良ソフト基板を摘出することが可能とな
る。
第１図は、本発明のキーボード回路基板の試験装置に係
る原理図、 第２図は、本発明のキーボード回路基板の試験方法に係
る原理図、 第３図は、本発明の実施例のキーボード回路基板の試験
装置の構成図、 第４図は、本発明の実施例のキーボードのソフト基板の
試験方法に係る説明図、 第５図は、本発明の実施例のキーボードのソフト基板の
試験方法に係るフローチャート、第６図は、従来例に係
るキーボード回路基板を説明する図、 第７図は、従来例に係るキーボード試験装置の構成図で
ある。 （符号の説明） ｌａ、１１．２１・・・被試験キーボード回路基板（キ
ーボードのソフト基板）、 １２．２２・・・ｔＭ ４Ｄマトリクス手段（擬似マト
リクスポード回路）、 １３２３・・・判定手段（判定回路）、８１４．２４・
・・表示手段（表示回路）、１０．１５．２５・・・制
御手段（制御回路）、１６．２６・・・電源試験手段（
電源試験回路）、１７．２７・・・発光素子試験手段 （ＬＥＤ試験回路）、 ６３１・・・シリアル／パラレル変換回路、７．３２．
６１．７１・・・比較回路、９．３３・・・メモリ回路
、 ６２．７２・・・ＡＮＤ回路、 ２０１・・・ＣＰＵ、 ２０２ ２０３・・・ドライバー回路、２０４・・・Ｌ
ＥＤ。 ２０５・・・レジバー回路、 ２０６・・・水晶発振器、 ２０７・・・セレクタ、 ２０８・・・キーマトリクス接続端子、５．２０９・・
・外部出力端子 （インターフェース回路）、 １・・・被試験キーボード、 ２・・・キーボードスイッチ、 ３・・・エンコーダ、 ４・・・シフト回路、 ３ａ・・・スイッチ検出回路、 ３ｂ・・・コード発生回路、 ＲＤ・・・基準値、 ＭＣ３・・・第１の制御信号 （ｘ−ｙマトリクス信号）、 ＸＳＳ・・・第２の制御信号（Ｘ、Ｙコード）、ＫＳＣ
，ＫＳＣＩ、ＫＳＣ２・・・出力信号（キースキャンコ
ード）、 ＤＤ・・・判定結果データ、 ＥＳ・・・電源０Ｎ−ＯＦＦ信号、 ＬＳ・弓、ＥＤを０Ｎ−ＯＦＦする信号、ｅ＋、ｅｚ・
・・検出電圧、 Ｄ、〜Ｄ２・・・ダイオード、 ＰＩ Ｆ２・・・ストロボパルス、 Ｇ
る原理図、 第２図は、本発明のキーボード回路基板の試験方法に係
る原理図、 第３図は、本発明の実施例のキーボード回路基板の試験
装置の構成図、 第４図は、本発明の実施例のキーボードのソフト基板の
試験方法に係る説明図、 第５図は、本発明の実施例のキーボードのソフト基板の
試験方法に係るフローチャート、第６図は、従来例に係
るキーボード回路基板を説明する図、 第７図は、従来例に係るキーボード試験装置の構成図で
ある。 （符号の説明） ｌａ、１１．２１・・・被試験キーボード回路基板（キ
ーボードのソフト基板）、 １２．２２・・・ｔＭ ４Ｄマトリクス手段（擬似マト
リクスポード回路）、 １３２３・・・判定手段（判定回路）、８１４．２４・
・・表示手段（表示回路）、１０．１５．２５・・・制
御手段（制御回路）、１６．２６・・・電源試験手段（
電源試験回路）、１７．２７・・・発光素子試験手段 （ＬＥＤ試験回路）、 ６３１・・・シリアル／パラレル変換回路、７．３２．
６１．７１・・・比較回路、９．３３・・・メモリ回路
、 ６２．７２・・・ＡＮＤ回路、 ２０１・・・ＣＰＵ、 ２０２ ２０３・・・ドライバー回路、２０４・・・Ｌ
ＥＤ。 ２０５・・・レジバー回路、 ２０６・・・水晶発振器、 ２０７・・・セレクタ、 ２０８・・・キーマトリクス接続端子、５．２０９・・
・外部出力端子 （インターフェース回路）、 １・・・被試験キーボード、 ２・・・キーボードスイッチ、 ３・・・エンコーダ、 ４・・・シフト回路、 ３ａ・・・スイッチ検出回路、 ３ｂ・・・コード発生回路、 ＲＤ・・・基準値、 ＭＣ３・・・第１の制御信号 （ｘ−ｙマトリクス信号）、 ＸＳＳ・・・第２の制御信号（Ｘ、Ｙコード）、ＫＳＣ
，ＫＳＣＩ、ＫＳＣ２・・・出力信号（キースキャンコ
ード）、 ＤＤ・・・判定結果データ、 ＥＳ・・・電源０Ｎ−ＯＦＦ信号、 ＬＳ・弓、ＥＤを０Ｎ−ＯＦＦする信号、ｅ＋、ｅｚ・
・・検出電圧、 Ｄ、〜Ｄ２・・・ダイオード、 ＰＩ Ｆ２・・・ストロボパルス、 Ｇ
Claims (5)
- （１）第１の制御信号（ＭＣＳ）を入力して、被試験キ
ーボード回路基板（１１）に、第２の制御信号（ＸＳＳ
）を出力する擬似マトリクス手段（１２）と、 前記被試験キーボード回路基板（１１）から出力される
出力信号（ＫＳＣ）に基づいて、該被試験キーボード回
路基板（１１）の判定をする判定手段（１３）と、 前記判定手段（１３）の判定結果を表示する表示手段（
１４）と、 前記擬似マトリクス手段（１２）に第１の制御信号（Ｍ
ＣＳ）の出力をする制御手段（１５）とを具備すること
を特徴とするキーボード回路基板の試験装置。 - （２）請求項１記載のキーボード回路基板の試験装置に
、前記被試験キーボード回路基板（１１）の電源試験を
する電源試験手段（１６）を設けていることを特徴とす
るキーボード回路基板の試験装置。 - （３）請求項１記載のキーボード回路基板の試験装置に
、前記被試験キーボード回路基板（１１）の発光素子の
試験をする発光素子試験手段（１７）を設けていること
を特徴とするキーボード回路基板の試験装置。 - （４）請求項１記載のキーボード回路基板の試験装置に
電源試験手段（１６）及び発光素子試験手段（１７）が
併設されていることを特徴とするキーボード回路基板の
試験装置。 - （５）少なくとも、被試験キーボード回路基板に応じた
擬似マトリクス情報を生成し、 前記擬似マトリクス情報を被試験キーボード回路基板に
入力し、 前記被試験キーボード回路基板から出力される出力デー
タの判定処理をすることを特徴とする被試験キーボード
回路基板の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63301669A JPH02146611A (ja) | 1988-11-29 | 1988-11-29 | キーボード回路基板の試験装置及びその試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63301669A JPH02146611A (ja) | 1988-11-29 | 1988-11-29 | キーボード回路基板の試験装置及びその試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02146611A true JPH02146611A (ja) | 1990-06-05 |
Family
ID=17899703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63301669A Pending JPH02146611A (ja) | 1988-11-29 | 1988-11-29 | キーボード回路基板の試験装置及びその試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02146611A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100390555C (zh) * | 2004-10-13 | 2008-05-28 | 盛群半导体股份有限公司 | 按键讯号自动产生装置 |
| TWI647438B (zh) * | 2017-07-14 | 2019-01-11 | 致伸科技股份有限公司 | 鍵盤電路板檢測系統 |
| CN110673022A (zh) * | 2019-11-07 | 2020-01-10 | 东莞美泰电子有限公司 | 薄膜键盘pcba测试装置及方法 |
| CN111521559A (zh) * | 2020-06-05 | 2020-08-11 | 允昌科技（重庆）有限公司 | 键盘检测治具 |
-
1988
- 1988-11-29 JP JP63301669A patent/JPH02146611A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100390555C (zh) * | 2004-10-13 | 2008-05-28 | 盛群半导体股份有限公司 | 按键讯号自动产生装置 |
| TWI647438B (zh) * | 2017-07-14 | 2019-01-11 | 致伸科技股份有限公司 | 鍵盤電路板檢測系統 |
| CN110673022A (zh) * | 2019-11-07 | 2020-01-10 | 东莞美泰电子有限公司 | 薄膜键盘pcba测试装置及方法 |
| CN111521559A (zh) * | 2020-06-05 | 2020-08-11 | 允昌科技（重庆）有限公司 | 键盘检测治具 |
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