JPS60257356A - 探傷欠陥の等級分類方法 - Google Patents

探傷欠陥の等級分類方法

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JPS60257356A
JPS60257356A JP59113950A JP11395084A JPS60257356A JP S60257356 A JPS60257356 A JP S60257356A JP 59113950 A JP59113950 A JP 59113950A JP 11395084 A JP11395084 A JP 11395084A JP S60257356 A JPS60257356 A JP S60257356A
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axis
flaw
defect
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JP59113950A
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Isamu Ishida
勇 石田
Kaneyoshi Katsumata
勝又 兼良
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Omron Corp
Original Assignee
Tateisi Electronics Co
Omron Tateisi Electronics Co
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/44Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
    • G01N29/4445Classification of defects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/11Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は、探傷現場から手動超音波探傷装置によって、
例えば、カセット・テープ等に収録してきた探傷情報を
、データ処理装置で演算処理することにより、その被探
傷材の内部欠陥のJIS規格による等級分類を自動化し
Iこ、探傷欠陥の等級分類方法に関する。
(従来技術とその問題点) 従来、被探傷材の探傷面に接触させた探触子を、自動走
査することにより、被探傷材内部に存在する、例えば、
融合不良、割れ、空孔、介在物等の欠陥の位置を自動検
出し、同時に、その欠陥データを自動収録して、これを
分析、処理し、探傷結果の判定を自動化した、所謂自動
超音波探傷装置が既知である。この種の自動超音波探傷
装置は、省力化できること、探傷に個人差が入らないこ
と等の利点がある反面、装置全体が大がかりになつiT
 、高価であるばかりか、装置の探傷現場への持込み・
搬送ができない。更には、探触子への押圧力1゛ 力や一定であるから、探触面の凹凸に探触子が十分に馴
染まず、また探触子の遅速コントロールができないこと
から、0念に探傷ずべき箇所も、その必要のない箇所と
同一速度ぐ走査する等の理由によって、必要な欠陥デー
タの記録漏れが生じ、正確かつ迅速な探傷データの収録
ができず、信頼性の高い探傷結果を得ることができない
、等の諸問題があった。
゛ 上記の自動超音波探傷装置に対しで、探触子を手動
走査する所謂手動超音波探傷装置がある。この秤の手動
超名波探傷li!i@は、自動超音波探傷装置に比して
、装置全体がコ゛ンパクトであって、装置の探傷現場へ
の持込゛み・搬送が容易であるほか、安価である。また
、探触子は、手動によって走査りるので「速コン]〜ロ
ールができ、探触子への押圧力を任意にコントロールす
ることがCきる。従つて、欠陥エコー又はゴース1ヘエ
コー雪が検出された箇所は、0念に探傷でき、かつ、探
傷面の凹凸に探触子を十分に馴染ませることができるか
ら、必要な欠陥データは漏れなく記録できて、正確かつ
迅速な探傷データを得ることがCきる。このようなこと
から、従来より、この種の手動超音波探傷装置が、一般
に広く愛用されている。
しかし、」−記の手動超音波探傷装置によって探傷デー
タを得るには、極めて高度の熟練を要すること′、JI
S規格により1級又は2級の有資格老によらなければな
らないことが義務イ1()られていることからも明らか
である。しかも、得られたデータから、欠陥の等級を分
類することが究極の目的であるが、その分類作業に必要
なデータ処理、つまり距離振幅特性曲線をめ、史には、
エコー高さの領域や欠陥指示長さをめる等の手段は、総
べて人手によるfft nに基づいていた。これがため
、計算ミス、読取ミスや記録ミス等を惹起し、迅速かつ
正確なデータ処理ができなかった。
(発明の目的) そこで、本発明は、前2手動超音波探傷装置が有する特
有の利点、つまり探触子の遅速コントロールや探触子へ
加える押圧力の=1ントロール等によって、必要かつ十
分な探傷データが得られること、を有効に利用しようと
するものである。即ち、本発明は、探傷現場に持込まれ
た手動超音波探傷袋間によって得られる探傷データを、
従来のようにいちいち読取り筆記するのではなしに、自
動的に漏れ無く、カレツ1〜・テープ等の記憶媒体に、
記録乃至は収録し、これを、別に設置したデータ処理装
置にかけるこりにより、迅速かつ正確な探傷欠陥の等級
分類を自動的に行い得るようにした、欠陥の等級分類方
法を提供することを目的とする。
(発明の構成と効果) 」−2目的を達成するために、本発明は、探触子と超音
波探傷器、あるいは、探触子を備えた手動走査装置と超
音波探傷器を介して、基準試験片より基準データを、ま
た、被探傷材より探傷データ[4、あゆ□□。1.1.
5つ□エイ□、。
された基準データど探傷データどを、別に設置したデー
タ処理装置に入力すると共に、このデータ処理装置に、
被探傷材の板厚データ、その他欠陥の等級分類に必要な
データを入力した後、このf−タ処理装置において、前
記基準データを演算処理して基準データの距離振幅特性
曲線をめ、この特性曲線と前記探傷データとからエコー
高さの領域を算出する一方、前記探傷データを溶接線を
基準とした点データに座標変換し、座標変換された相隣
り合う、点データと点データとの間隔が一定距離内にあ
る場合だけ、これらの点データを線データどして合成処
理し、得られた相隣り合う、線データと線データとの間
隔が一定条件下にある場合は、同−欠陥群と見做して線
データの合成処理を行い、また一定条件下にない場合は
、夫々独立した欠陥と見做して線データの処理を行うこ
とにより、欠陥指示長さのデータを算出し、この欠陥指
示長さと前記工]−高さの領域と前記板厚の各データよ
り、J■S規格に基づく欠陥の等級分類を行う構成とし
た。
本発明に係る探傷欠陥の等級分類方法は、上述した構成
から成るものであるから、自動探傷に比し、より円念に
探傷データを収集できる手動探傷によって得られIこ探
傷データを基に、探傷欠陥の等級分類ができ、信頼度の
極めC高い分類結果を得ることができる。斯かる手動探
傷データに基づく欠陥の等級分類は、従来の手段によれ
ば、総べて人手による計算処理によって行っていたため
に、計算ミス、読取りミス或は記録ミス等と相俟って処
理スピードが遅く、得られる分類欠陥の信憂性も薄い。
これに反し、本発明によれば、総べて自動的に行い得る
ので、熟練を要ゼず、かつ、計算ミス、読取ミスや記録
ミス等を完全に防げるほか、迅速かつ正確な処理による
信頼性の高い分類結果を実現できる。
(発明の実施例) jスト、図面を参照して、本発明に基づく具体的実施例
について、詳細に説明する。
第゛1図は、本発明に係る探傷欠陥の等級分類方法を実
施するための、一実施例を示す手動超音波探傷システム
の全体構成図で、図中、1oは被探傷材、11は溶接部
、12は溶接部11の長手方向中心線に沿つ−C設りた
溶接線である。この溶接線12土には、この溶接線に対
する手動走査装置20の傾きをめる(侵)ホする。)た
めの、A点と13点とが、適宜の間隔を置い(目盛られ
ている。
手動走査装@20は、被探傷材10の探傷面13近傍に
、椀えばマグ7ツト等を介しで着脱自在に設置する×軸
21と、このX軸21に案内されて左右方向に摺動自在
に設りられたY軸22と、このY軸22に対し首振り自
在に取イ」りられたθ軸23ど、このθ軸23の下端に
tHiJした探触子24と、から構成されている。30
は超音波探傷器、40はデータ収録装置、50はデータ
処理装置である。
前記手動走査装置20、超音波探傷器3o及びデータ収
録装置40は、夫々探傷現場に持込まれ、第1図示のよ
うにセットされる。即ち、手動走査装置20の探触子2
4と超音波探傷器30とを伝送線60を介して接続し、
この超音波探傷器30とデータ収録装置40とを伝送線
61を介して接続し、このj二−タ収録袋間40ど手動
走査装置20とを伝送線62を介しく接続づる。そしC
1手手動走査装γイ20探触子24から、伝送線60、
Xf!音波深傷探傷0及び伝送線61を介しC得られる
、ビー11路程と−1丁l−高さの各データと、手動走
査装置20から、伝送線62を介して得られる、X1l
i+21、Y刊122及びθ軸23の各データとが、う
゛−タ収録装置40の、例えばカレットテープ、あるい
はフ「1ツビj゛イスク等の外部記憶媒体(以下、単に
記憶媒体という。)41に、収録される。
この記憶媒体41は、j゛−夕収録装置40から取り出
されC1深傷現場から離れた別の場所に設置されている
データ処理装置50に、かりられ、この装置50の演算
処理によって、後述のように、探傷欠陥の等級分類か自
動的になされる。尚、前記のビーム路程、エコー高さ、
X軸、Y軸及σθ軸の各データ(IX下、傷データとい
う。)を収録開始する前に、つまり、探傷作業に入る前
に、基準データを、前記記憶媒体41に収録する必要が
ある。
第2図及び第3図は、この基準データを収録りるための
一例を示す説朗図で、図中、70は基準試験片で、これ
は、例えば、+4 ’R1形状、寸法等が権威ある機関
で検定された標ty+試験片、あるいは、被探傷材10
の材質と同−又は類似の被検定試験片など、後述する基
準データを採取するために、使用されるものである。7
1は基準試験片70の一端部に設【ノられた標準穴C1
この穴は、形状、1法がJIS規格により規格化されて
いる3゜基準データは、基準エコー高ざ[と基準ビーム
路程Wの各データから成り、次のようにし−C収録り゛
る。即ち、第2図示のように、データ収録装置40に接
続した超音波探傷器30に、探触子24を接続し、この
探触子24を、基準試験片70の標準穴71を基準にし
て、第3図に示すように、0.5スキツプ毎に、基準試
験片70の裏面と表面に交互に当接しながら、各スキッ
プ点の基準エコー高さEと基準ビーム路程Wを、データ
収録装置40の記憶媒体41に読込んで行く。第3図の
例では、2.5スキップ点まで測定した場合を示し、0
,5スキツゾ貞の基準エコー高さをEOll l1l(
ビーl)路程をW(、,1スキップ点の基準1コー高さ
を[、基準ビーム路程をWl、以下同様に、1.5スキ
ップ点の基準データをC2,W2どし、2スギツブ魚の
基準データを23 、W3とし、2,5スキップ点の基
準データをC4、W4とした。
尚、第2図では、超音波探傷器30に、探触子24のみ
を接続した例について示したが、探触子24を備えた手
動走査装置20を接続し、その探触子を使用することも
できる。
上述したようにしC,基準データを収録した後、次いで
、第1図に示したA点とB点の各データを、記憶媒体4
1に収録する。この場合、第4図に示ずように、先ず、
溶接線12上のへ点に、手動走査装置20の0軸23に
装着した探触子24のビーム発射点を一致させ、θ軸2
3の目盛をO洩に合わせ、その時のΔ点データ(X軸2
1のデータX△、Y軸22のデータYA及びθ軸23の
f−タ0△lp rう成る。)を読込む。次に、Y軸2
2をB点側に摺動しながら移動させで、探触子24のビ
ーム発射点を、B点に一致させ、θ軸23の目盛を0度
に合わUる。そして、その時の8点データ(X軸21の
データXBとY軸22のデータYBとから成る。)を読
込む。
このようにして、A点データと8点データを記@!lI
体41に読込んだ後、手動走査装置20の探触子24を
、被探傷材10の探傷面13上を、手動走査することに
より、探傷作業を開始づる。これが開始により、複数個
の傷データN1〜0゜(X軸21のデータX 、Y軸2
2のデータ1 ヘーロ y 、θ軸23のデータθ1〜。、ビーム路1〜n 程W 、エコー高さe1〜。、から成る。〉1〜n が、記憶媒体41に収録される。つまり、この記憶媒体
41には、先に収録した基準データ(Fo〜4.Wo〜
4)の41に、探傷データとしての、A点データ(XA
、YA、θA)、8点データ(XB、YB)、傷データ
N1〜。(X1〜、Y 、01〜。2w1〜n・81〜
n)n 1〜0 が、夫々探傷現場において、収録されている。
次に、前記記憶媒体/11に収録した基準データと探傷
データを、別に設置したデータ処理装置50Gご入力す
る。尚、記憶媒体41として、カレットデーブを使用し
ている場合には、例えば、フロンピディスク等に各デー
タを移し替えることにより、以後の処理スピードを上げ
ることがCきる。
また、前記データ処理装置50には、等級分類に必要な
諸条件を入力する。すなわち、被探傷材10の板厚T[
1Il111]、被探傷材10の材質によって決定され
る音速V[m/sl(以上は、エコー高さ領域をめるに
必要なデータである。)の他、上記の各データに加えて
、欠陥指示長さをめるに必要な、探触子24の屈折角0
1度」、更には、探傷日刊、ブロックNo、それに、被
探傷材10、探傷場所等の名称その他の探傷記録に必要
な諸データを入力する。
前記データ処理装置50は、第5図に示すように、上記
の各データを入力するだめの、入力イン1” タフエー
ス51.キーボード52ど、これらに接続Jる中央処理
装置(CPU)53、このCP C53に接続りるメモ
リ54、演算結果等を表示する表示器55.演算結果の
各種データや表等をプリン1ヘアウドするプリンタ56
の他、図示はしないが、欠陥間先断図(横、縦)位置図
や欠陥平面位置図等を出力するX−Yプロッタ等を備え
て成る。このデータ処理装置50において、JIS規格
に基づくエコー高さの領域と、欠陥指示長さを算出し、
これら各データと前記被探傷材10の板厚Tデータによ
り、JIS規格に基づく欠陥の等級分類を自動的に行う
ものである。
先ず、に)−高さの領域を9出する場合について、以下
説明する。先に入力した基準データの中の、基準ビーム
路程データW。〜4を、CPU53で、次式に基づいて
、基準ビーム路程距離データWLo〜4に変換処理する
W L = W X V / 2 ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(1)ここに、WL:
基準ビーム路程距11t[IrlIn]W:基準ビーム
路程ItJ[μS] V:音速[m/、Sl この〈1)式に基づいて算出された、基準ビーム路程距
1111データWl−、WLl・・・・・・W +−4
と、θ 基!41−データの中の、基準Lニー1−高さE、El
・・・・・・E4どによって、第6図に示すような、距
離振幅特性曲線をめ、この特性曲線と、前記・傷データ
の中の、ビーム路程W とエコー高さ1 へ・n e1〜。と、を比較演算し、エコー高さの変化量6を[
dblを算出する。この専用方法の一例としC1第6図
に示す特性曲線の横軸に、傷データNoの探傷ビーム路
程値薗W D□をとり、縦軸に、その時の探傷J]−高
さe。をとった場合について、説明り−る。先ず、探傷
ビーム路程値11−w’。
1〜n (ttvn )は、次式によって算出される。
Wr)1〜. 1〜。×V/2 ・・・・・・・・・・
・・・・・(2)= W ここに、 wl −n =[記憶媒体41に収録されCいる1 ビーム路稈の値1μs1 V:音速 [m/S] この(2)式に基づいて障出された、ビーム路程11+
 w 、、 n3の探傷ビーム路稈距111 W D 
n 1. tan ’Jより、PL t%t、−t−+
−高さl−1) l−m v ] ヲ、次式ニ、J: 
請求T。
る。
r:o−rl ED= −X (Wl) −Wl−o)−1−E。
WLo−WLl ・・・・・・(3) 次いで、この(3)式に基づい′Cn出された、基準J
−]−高さIE Dと、ビーム路程値W 時の、収録し
てきた傷データの中の、エコー高さe。(読込み値>[
mV]とを、次式に基づいC1比較演算し、−1−コー
高さの変化fi & [d [3]を算出する。
一方、JIS規格のより定められた、感度調整基準線と
しての、F4線(原則としで、欠陥エコーの評価に用い
られるビーム路程の範囲ひ、その高さが40%以下にな
らないように定められている)このH線より6[dB]
低いM線、このM I にす12 +: d B l低
いL線から成るエコー高さ区分線と、これらの区分線に
よつC区切られたエコー高さの領域区分(次表参照)ど
が、前記データ処理装@50のメモリ54に格納されC
いる。
1ニコー高さの9べ蓬−」1ヤζ−j≧ショー前記(4
)式に基づいて算出された、−に]−高さの変化吊仁が
、上記表に示すエニ]−高ざの、どの’M域に属するか
を、(肩)1ノ53が判断し、−L]−高ざの変化量6
の属り−る領域を決定づる。斯様に1ノ(、前記置!1
性曲線ど前記探傷データ(傷データ)とf’s Iら、
エコー高さの領域が自動的に線用される。
次に、欠陥指示長さを紳出覆る場合について、以下説明
する。先に入力した傷データN1〜0の中の、手動走査
装@20のX軸とY@の座標データX1〜n ” 1〜
n”以下、N1 (XN1゜YNl)で代表する。)を
、溶接WA12を基準としだ点データN (XKNl、
YKN、)に、座標変換りる。即ち、第7図に示寸よう
に、手動走査袋間20のX軸21−1−の点XN1ど、
このX軸21に直交づるY軸22上の点YN1どを、溶
接線12である×に軸上の点XKN1と、このXK軸、
に直交するYK@の点YKN1どに、座標変換の処理を
行い、点データN <XにN、YKN、’11 を算出づる。−万、第8図に示1ように、被探傷材10
の板厚T[sコと、探触子2/lの屈折角C[度1と、
傷データ中のビーム路程IUw[μS1とから、CPU
53の演算処理により、探傷面Sから欠陥(点データ)
Fまでの深さd[slを算出づる。そして、前記の相隣
り合う欠陥(点データ)と欠陥(点データ)との間隔が
、一定距離内、例えば2 mm以内、にあるか否かを、
CPLJ53が判断し、X (11方向、Y@力方向d
方向共に、一定圧1m(2ai)以内にある場合たり、
これらの欠陥(点データ)を同一欠陥と見做して繋げ、
線データとして合成処理する。更に、得られた相隣り合
う線データと線データどの間隔が、次に述べる一定条件
下にあるか否かを、CP U 53が判断し、一定条件
下にある場合は、これらの線データを同一欠陥JAYと
一、ジ倣し−(、線f−夕の合成処理を行い、91、た
、一定条イ′1下にない場合は、これら画線データを、
人々独)Iした欠陥〈線データ)と見做して処理を行・
)1.即ち、第9図に示すように、欠陥(線f−タ)1
〕1の長゛さをLl 1属]、欠陥(線データ)D の
長さを12 [snl 、両者の隔を2[mm ]どす
ると、L、I−2共くlの場合は、それぞれそ独立した
線データとして処理し、1−1又は1−2≧βの場合は
、同−欠陥群として合成処理を行う。IJi様にして演
算処理された各線データに基づいて、CPU53が、欠
陥指示長さ[a]のデータを算出する。
」−述のように演算処理されて算出された、前記エコー
高ざの領域と、前記欠陥指示長さと、前記板厚の各ュー
タに基づき、CP U 53が、JIS規格に基づく欠
陥の等級分類を行う。この分類結果は、表示器55ある
いはプリンタ56を介して、出力される。
尚、JISI格に基づく欠陥の等級分類テーブルの一例
を下表に示しておく。斯様なテーブルは、メモリ51に
格納され(いる。
等級分類テーブルの一例 続き
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る探傷欠陥の等級分類方法を実施
するための、一実施例を承り手動超音波探傷システムの
全体構成図、第2図及び第3図は、基準データの収録手
段を説明するための、−例を示ず図解図、第4図は、溶
接線上のA点データと8点データの収録手段を説明する
ための図解図、第5図は、データ処理装置の概略的構成
を示す1.1 1ツク図・第6図(ま・距離振幅特性+
tb線図・第7図は、手動走査装置の座標データを、溶
接線を基準としに点データに座標変換する場合の説明図
、第8図は、探傷面から欠陥までの深さを算出する場合
の説明図、第9図は、線データと線データとの合成処理
を説明するための図解図である。 10・・・被探傷材、11・・・溶接部、12・・・溶
接線、13五探傷面、20・・・手動走査装置、2IX
軸、22・・・Y軸、23・・・θ軸、271・・・接
触子、30・・・超音波探傷器、40・・・データ収録
装置、41・・・記憶媒体、50・・・データ処理装置
、60,6L62・・・伝送線、70・・・基準試験ハ
、71・・・標準穴、1・・・被探傷材の板厚、D、D
2・・・欠陥(線デーり)、F・・・欠陥(点データ)
、S・・・探傷面。 特許出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 岩倉哲二(弛1名) l4 第3図 第4図 ビーム路程距離(mm)

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)探触子と超音波探傷器、あるいは、探触子を備え
    た手動走査装置と超音波探傷器を介しC1基準試験ハJ
    :り基準データを、また、被探傷材J、り探傷データを
    、夫々、記憶媒体に収録し、この記憶媒体に収録された
    基準データと探傷データとを、別に設置したデータ処理
    袋間に入力すると共に、このデータ処理装置に、被探傷
    材の根厚プ゛−タ、その他欠陥の等級分類に必要なデー
    タを入力し/j 4G、このi・−夕処理装置におい【
    、前記基準j0゛−夕を演算処理して基準データの距w
    13&幅特性曲線をめ、この特性曲線と前記探傷データ
    どから工]−高さの領域を算出づるーh1前記探傷デー
    タを溶接線を基準とした点データに座標変換し、座標変
    換された相隣り合う、点データと点データどの間隔か一
    定距頗内にある場合だけ、これらの点データを線データ
    として合成処理し、1qられた相隣り合う、線データと
    1Illf−夕との間隔が一定条件下にある場合は、同
    一欠陥群と見做して線データの合成処理を行い、また一
    定条件下にない場合は、夫々独立した欠陥と見做して線
    データの処理を行うことにより、欠陥指示長さのデータ
    を尊出し、この欠陥指示長さと前記]−コー高さの領域
    と前記板厚の各データより、J I S規格に基づく欠
    陥の等級分類を行う、ことを特徴とする探傷欠陥の等級
    分類方法。
  2. (2)基準データが、1以上のスキップ点にL12りる
    、エコー高さどビーム路程の各データから成る、特許請
    求の範囲第1項記載の探傷欠陥の等級分類方法。
  3. (3)探傷データが、溶接線に対りる手動走査i置の傾
    きをめるために溶接線上に任意の間隔を置いて目盛った
    、Δ点とB点どの各データ、及び手動探傷によって得ら
    れる複数の傷データから成る、特許請求の範囲第1項又
    は第2項記載の探傷欠陥の等級分類方法。
  4. (4)Δ点データが、手動走査装置のX軸、Y軸及びθ
    軸の各データであり、13点データが、手動Aユ査装「
    1のX@及びY軸の各データであり、傷データが、手動
    走査装四のX軸、Y軸、θ軸、ビーム路程及びJ−コー
    高さの各データである、特許請求の範囲第3項記載の探
    傷欠陥の等級分類り法。
  5. (5)データ処理装置に入力する、その他欠陥の等級分
    類に必要なデータが、被探傷材の材質によって決定され
    る音速、探触子の屈折角、探傷口付、ブロックNo及び
    被探傷材や探傷場所の名称その他の探傷記録に必要な諸
    条件から成る各データである、特許請求の範囲第1項乃
    至第3項の何れか記載の探傷欠陥の等級分類方法。
  6. (6)相隣り合う点データと点データとの間の距離が2
    mm以内であるときを、一定距離内にある場合としたも
    のである、特許請求の範囲第1項乃至第3項及び第5項
    の何れか記載の探傷欠陥の等級分類方法。
  7. (7)相隣り合う線データL1ど線データL2との間の
    距v!111ilが、Ll又はI−2> Zの関係を満
    足するとぎを、一定条件下にある場合とし、Ll。 L2共く2の関係を満足するときを、一定条件下にない
    場合としたものである、特許請求の範囲第1瑣乃至第3
    項、第5項及び第6項の何れか記載の探傷欠陥の等級分
    類方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106198765A (zh) * 2015-04-29 2016-12-07 中国科学院声学研究所 一种用于金属裂纹监测的声学信号识别方法

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CN106198765A (zh) * 2015-04-29 2016-12-07 中国科学院声学研究所 一种用于金属裂纹监测的声学信号识别方法

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