JPS60258741A - 半導体レ−ザ光ピツクアツプ装置 - Google Patents
半導体レ−ザ光ピツクアツプ装置Info
- Publication number
- JPS60258741A JPS60258741A JP59114476A JP11447684A JPS60258741A JP S60258741 A JPS60258741 A JP S60258741A JP 59114476 A JP59114476 A JP 59114476A JP 11447684 A JP11447684 A JP 11447684A JP S60258741 A JPS60258741 A JP S60258741A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- optical
- disk
- light
- laser
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0925—Electromechanical actuators for lens positioning
- G11B7/0927—Electromechanical actuators for lens positioning for focusing only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光ディスク等の情報読み出しに用いる半導体
レーザを光源とする光ピツクアップ装置に関するもので
ある。
レーザを光源とする光ピツクアップ装置に関するもので
ある。
（従来例の構成とその問題点）
半導体レーザ光を光ディスクのピットに集光してその反
射光の有無を検出し、光ディスクに記録された情報を読
み出す時にはレーザ光を常にディスク上に収束させてお
かねはならない。ディスクは回転による面振れがあるの
で、フォーカスレンズをサーボ機構により光軸方向に動
かし常にディスク上に焦点が合うように自動制御を行な
っている。 第１図はディジタルオーディオディスクに
用いられている光ピツクアップの構成図である。
射光の有無を検出し、光ディスクに記録された情報を読
み出す時にはレーザ光を常にディスク上に収束させてお
かねはならない。ディスクは回転による面振れがあるの
で、フォーカスレンズをサーボ機構により光軸方向に動
かし常にディスク上に焦点が合うように自動制御を行な
っている。 第１図はディジタルオーディオディスクに
用いられている光ピツクアップの構成図である。
同図において、■は半導体レーザ、２はビームスプリッ
タ、３はコリメートレンズ、４はフォーカスレンズ、５
はディスク、６はディテクタレンズ、７は光検出素子、
８はフォーカスレンズ駆動用アクチュエータである。フ
ォーカスサーボの方法は様々であるが光検出素子７より
フォーカスエラー信号を取り出し、フォーカスレンズ４
を駆動するアクチュエータ８にフィードバックすること
によりフォーカスを制御している。さて第１図に示す光
ピツクアップではディスク５で反射した情報信号を含ん
だレーザ光はビームスプリッタ２で反射され、光検出素
子７に導かれるが、一部ビームスプリッタ２を透過し半
導体レーザ１に戻る。半導体レーザ１には横モードが安
定化され、しきい電流の小さい屈折率導波型が用いられ
るが、レーザ光の干渉性が良いために戻り光が存在する
とその位相により発振状態が不安定となり、レーザ光の
強度ゆらぎ（雑音）が発生する。また第１図に示すよう
な光学系ではフォーカスサーボが動作している時は、フ
ォーカスレンズ４がディスク５の振れに追随して動いて
いるため、半導体レーザ１とディスク５間の距離は一定
になっていない。この距離が変化するとディスク５から
の反射光が再び半導体レーザ１内に戻る時の位相が一定
していないので、常に雑音が発生してしまう。このとき
の雑音レベルは戻り光量と半導体レーザの構造に依存す
るが、レーザ光の干渉性が良い半導体レーザ程大きく、
ディスクから読み出した情報信号光のＳ／Ｎを著しく損
う恐れがある。
タ、３はコリメートレンズ、４はフォーカスレンズ、５
はディスク、６はディテクタレンズ、７は光検出素子、
８はフォーカスレンズ駆動用アクチュエータである。フ
ォーカスサーボの方法は様々であるが光検出素子７より
フォーカスエラー信号を取り出し、フォーカスレンズ４
を駆動するアクチュエータ８にフィードバックすること
によりフォーカスを制御している。さて第１図に示す光
ピツクアップではディスク５で反射した情報信号を含ん
だレーザ光はビームスプリッタ２で反射され、光検出素
子７に導かれるが、一部ビームスプリッタ２を透過し半
導体レーザ１に戻る。半導体レーザ１には横モードが安
定化され、しきい電流の小さい屈折率導波型が用いられ
るが、レーザ光の干渉性が良いために戻り光が存在する
とその位相により発振状態が不安定となり、レーザ光の
強度ゆらぎ（雑音）が発生する。また第１図に示すよう
な光学系ではフォーカスサーボが動作している時は、フ
ォーカスレンズ４がディスク５の振れに追随して動いて
いるため、半導体レーザ１とディスク５間の距離は一定
になっていない。この距離が変化するとディスク５から
の反射光が再び半導体レーザ１内に戻る時の位相が一定
していないので、常に雑音が発生してしまう。このとき
の雑音レベルは戻り光量と半導体レーザの構造に依存す
るが、レーザ光の干渉性が良い半導体レーザ程大きく、
ディスクから読み出した情報信号光のＳ／Ｎを著しく損
う恐れがある。
（発明の目的）
本発明はレーザ光の戻り光による雑音を低い値に抑え、
ディスクからの情報信号光のＳ／Ｎの劣化を防ぐことの
できる半導体レーザ光ピックアップ装置を提供すること
を目的とする。
ディスクからの情報信号光のＳ／Ｎの劣化を防ぐことの
できる半導体レーザ光ピックアップ装置を提供すること
を目的とする。
（発明の構成）
この目的を達成するために、本発明の光ピツクアップ装
置は、フォーカスサーボが動作している時に半導体レー
ザディスクとの間の距離が変わらないように半導体レー
ザ、ビームスプリッタ、レンズ、受光素子等の光学部品
を一体として駆動させ、ディスクの変位に追随させる構
成を採っている。この構成によれば、半導体レーザ内に
戻るレーザ光の位相は一定に保て、半導体レーザとディ
スク間の距離を最適値に設定することによりレーザ光の
雑音を大幅に減少させることが可能となる。
置は、フォーカスサーボが動作している時に半導体レー
ザディスクとの間の距離が変わらないように半導体レー
ザ、ビームスプリッタ、レンズ、受光素子等の光学部品
を一体として駆動させ、ディスクの変位に追随させる構
成を採っている。この構成によれば、半導体レーザ内に
戻るレーザ光の位相は一定に保て、半導体レーザとディ
スク間の距離を最適値に設定することによりレーザ光の
雑音を大幅に減少させることが可能となる。
（実施例の説明）
以下本発明の実施例について詳しく説明する。
半導体レーザ内に戻り光が入っている状況は、レーザ自
身の共振器（共振器長２００〜３００μｍ）とレーザ端
面と外部反射鏡で形成された外部共振器（共振器長数＋
ＩＩＩＴｌ）との複合共振器とみることができる。この
場合外部共振器長が半導体レーザの実効共振器長（共振
器長Ｘ屈折ｉ＄（〜３．６ ） ）の整数倍になるとレ
ーザ共振器の縦モード間隔が外部共振器のモード間隔の
整数倍と一致し、わずかな外乱（外部共振器長の微少変
動等）でレーザ光は著しくゆらぎ、雑音が発生する。第
２図は外部共振器長に対する半導体レーザ光の相対雑音
強度（ＲＴ Ｎ （ｄ Ｂ／ｌ１ｚ））の測定例である
。実効共振器長（此の場合約０ 、９ ｎｎ）を周期と
して雑音レベルは約１．０ ｄ Ｂの変動を繰り返して
いる。従って半導体レーザからディスクまでの距離（外
部共振器長に相当）を常に一定に保ち、実効共振器長の
整数倍にならないようにすることにより雑音レベルを約
１．０ｄＢ下げることが出来る。
身の共振器（共振器長２００〜３００μｍ）とレーザ端
面と外部反射鏡で形成された外部共振器（共振器長数＋
ＩＩＩＴｌ）との複合共振器とみることができる。この
場合外部共振器長が半導体レーザの実効共振器長（共振
器長Ｘ屈折ｉ＄（〜３．６ ） ）の整数倍になるとレ
ーザ共振器の縦モード間隔が外部共振器のモード間隔の
整数倍と一致し、わずかな外乱（外部共振器長の微少変
動等）でレーザ光は著しくゆらぎ、雑音が発生する。第
２図は外部共振器長に対する半導体レーザ光の相対雑音
強度（ＲＴ Ｎ （ｄ Ｂ／ｌ１ｚ））の測定例である
。実効共振器長（此の場合約０ 、９ ｎｎ）を周期と
して雑音レベルは約１．０ ｄ Ｂの変動を繰り返して
いる。従って半導体レーザからディスクまでの距離（外
部共振器長に相当）を常に一定に保ち、実効共振器長の
整数倍にならないようにすることにより雑音レベルを約
１．０ｄＢ下げることが出来る。
これを実現するために、本発明の実施例では第３図に示
すように半導体レーザ」、ビームスプリッタ２、コリツ
ー１〜レンズ３、フォーカスレンズ４、及びティチクタ
フからなる光ピツクアップを構成する光学系を一体とし
てアクチュエータ９で光軸方向に駆動する構造となって
いる。このようにすればディスク５の振れに追随するよ
うにフォーカスサーボを働かせた時に、半導体レーザ１
とディスク５間の距離は一定となる。一度雑音レベルが
最小となる位置に光学系を調整しておけば以後はその状
態が保てることになる。
すように半導体レーザ」、ビームスプリッタ２、コリツ
ー１〜レンズ３、フォーカスレンズ４、及びティチクタ
フからなる光ピツクアップを構成する光学系を一体とし
てアクチュエータ９で光軸方向に駆動する構造となって
いる。このようにすればディスク５の振れに追随するよ
うにフォーカスサーボを働かせた時に、半導体レーザ１
とディスク５間の距離は一定となる。一度雑音レベルが
最小となる位置に光学系を調整しておけば以後はその状
態が保てることになる。
（発明の効果）
以」二説明したように１本発明の光ピツクアップ装置で
はディスクの情報を読み出す時に半導体レーザとディス
ク間の距離を常に一定に保つことができ、その距離を半
導体レーザの実効共振器長の整数倍にならないようにす
ることにより、レーザ光の雑音レベルを下げることがで
き、その実用的効果は大なるものがある。
はディスクの情報を読み出す時に半導体レーザとディス
ク間の距離を常に一定に保つことができ、その距離を半
導体レーザの実効共振器長の整数倍にならないようにす
ることにより、レーザ光の雑音レベルを下げることがで
き、その実用的効果は大なるものがある。
第］−図は従来の光ピツクアップの光学系を示す図、第
２図は半導体レーザの相対雑音強度の外部共振器長依存
性を示す図、また第３図は本発明の光ピツクアップの光
学系を示す図である。 １・・・半導体レーザ、 ２・・・ビームスプリッタ（ハーフミラ−）、３・・・
コリメートレンズ、 ４・・・フォーカスレンズ、５・・・ディスク、６・・
・ディテクタレンズ、７・・・光検出素子、８・・・フ
ォーカスレンズ駆動用アクチュエータ、９・・・光学系
を一体として駆動するアクチュエータ。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第１図 ぺ 第２図 クト’ｆｆ、Ｘ＊ ｆｒ９ （ｍｍ ）゛ン８に 第３
２図は半導体レーザの相対雑音強度の外部共振器長依存
性を示す図、また第３図は本発明の光ピツクアップの光
学系を示す図である。 １・・・半導体レーザ、 ２・・・ビームスプリッタ（ハーフミラ−）、３・・・
コリメートレンズ、 ４・・・フォーカスレンズ、５・・・ディスク、６・・
・ディテクタレンズ、７・・・光検出素子、８・・・フ
ォーカスレンズ駆動用アクチュエータ、９・・・光学系
を一体として駆動するアクチュエータ。 特許出願人 松下電器産業株式会社 第１図 ぺ 第２図 クト’ｆｆ、Ｘ＊ ｆｒ９ （ｍｍ ）゛ン８に 第３
Claims (1)
- 半導体レーザ、ビームスプリッタ、フォーカスレンズ、
及び光検出素子等の光学部品が一体として光軸方向に移
動できる機構を有しフォーカスサーボを機能させた時に
半導体レーザからディスクまでの距離が常に一定に保た
れるようにしたことを特徴とする半導体レーザ光ピック
アップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59114476A JPS60258741A (ja) | 1984-06-06 | 1984-06-06 | 半導体レ−ザ光ピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59114476A JPS60258741A (ja) | 1984-06-06 | 1984-06-06 | 半導体レ−ザ光ピツクアツプ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60258741A true JPS60258741A (ja) | 1985-12-20 |
Family
ID=14638689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59114476A Pending JPS60258741A (ja) | 1984-06-06 | 1984-06-06 | 半導体レ−ザ光ピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60258741A (ja) |
-
1984
- 1984-06-06 JP JP59114476A patent/JPS60258741A/ja active Pending
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