JPS60258828A - 撮像管の製法 - Google Patents
撮像管の製法Info
- Publication number
- JPS60258828A JPS60258828A JP11430784A JP11430784A JPS60258828A JP S60258828 A JPS60258828 A JP S60258828A JP 11430784 A JP11430784 A JP 11430784A JP 11430784 A JP11430784 A JP 11430784A JP S60258828 A JPS60258828 A JP S60258828A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- laser beam
- cutting
- circumferential direction
- portions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
- H01J9/14—Manufacture of electrodes or electrode systems of non-emitting electrodes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ガラスパルプ内面に導電体を被着した後、レ
ーザービームで所定ノ5ターンにカッティングして電極
を形成する撮像管の製法に関する。
ーザービームで所定ノ5ターンにカッティングして電極
を形成する撮像管の製法に関する。
背景技術とその問題点
第1図は静電集束・静電偏向型(S−S型)の撮像管の
構成を示している。同図において、に、ql及びG2は
夫々電子銃を構成するカソード、第1グリツド電極及び
第2グリツド電極、そして、LAはビーム制限開孔であ
る。また、Qa 、 G4及びG5は、夫々第3、第4
及び第5グリツド電極である。
構成を示している。同図において、に、ql及びG2は
夫々電子銃を構成するカソード、第1グリツド電極及び
第2グリツド電極、そして、LAはビーム制限開孔であ
る。また、Qa 、 G4及びG5は、夫々第3、第4
及び第5グリツド電極である。
これらの電極03〜G5は1例えばガラスノくルブ(図
示せず)の内面にニッケル、クロム等の金属が蒸着ある
いはメッキされた後、所定パターンにカッティングされ
て形成される。電極03〜G5により集束用の電極系が
構成されると共に、電極G4は偏向電極を兼ねている。
示せず)の内面にニッケル、クロム等の金属が蒸着ある
いはメッキされた後、所定パターンにカッティングされ
て形成される。電極03〜G5により集束用の電極系が
構成されると共に、電極G4は偏向電極を兼ねている。
また、G6はメツシシー状電極%TAはターゲットであ
る。
る。
この撮像管の電極G3〜q5は、例えば第2図にその展
開図を示すようなパターンとされている。
開図を示すようなパターンとされている。
図面の簡単化のため、この第2図においては金属の被着
されていない部分を黒線で示している。例えば、電極G
4は一様な偏向′電界を得るために、絶縁されて入り組
んでいる4つの電極部H十、■+。
されていない部分を黒線で示している。例えば、電極G
4は一様な偏向′電界を得るために、絶縁されて入り組
んでいる4つの電極部H十、■+。
H−及び■−が円周方向に交互に配された、いわゆるア
ローパターンとされている。また、T)l+ + T’
J++TH−及びTV−は夫々電極部8+、 V+、庄
及びV−からのリードであり、電極q3の領域に、′遊
離q3〜(Jsが形成されると同時に同様に形成される
。電極部H+、)i−は水平偏向用の颯憧都であり、一
方電極部V+、 V−は垂直偏向用の屯憾部である。図
示せずも、電極部H十及びH−には、夫々所定嵐圧を中
心に対称的に変化する水平周期ののこぎり波電圧が印加
され、一方電極部V十及び■−には、夫夫所定電圧を中
心に対称的に変化する垂直周期ののこぎり波電圧が印加
され、水平及び垂直偏向走査が行なわれる。
ローパターンとされている。また、T)l+ + T’
J++TH−及びTV−は夫々電極部8+、 V+、庄
及びV−からのリードであり、電極q3の領域に、′遊
離q3〜(Jsが形成されると同時に同様に形成される
。電極部H+、)i−は水平偏向用の颯憧都であり、一
方電極部V+、 V−は垂直偏向用の屯憾部である。図
示せずも、電極部H十及びH−には、夫々所定嵐圧を中
心に対称的に変化する水平周期ののこぎり波電圧が印加
され、一方電極部V十及び■−には、夫夫所定電圧を中
心に対称的に変化する垂直周期ののこぎり波電圧が印加
され、水平及び垂直偏向走査が行なわれる。
ところで、上述例のようにガラスバルブ内面に被着され
た例えばニッケル・クロム等の金属を所定パターンにカ
ッティングして電極03〜G5を形成するのに、従来は
円形のレーザービームな用いて行なっている。この場合
、電極G4の%電極部H+ 〜V−の円周方向の面積分
布の正しい分布(コサイン分布)からのずれを小さくし
て偏向リニアリティーの悪化を防止するため、レーザー
ビームの径は比較的小さく選ばれている。第3図は、こ
の円形のレーザービームの1度の走査によるカッティン
グの様子を示しており、「eJ印はレーサービームな示
している。
た例えばニッケル・クロム等の金属を所定パターンにカ
ッティングして電極03〜G5を形成するのに、従来は
円形のレーザービームな用いて行なっている。この場合
、電極G4の%電極部H+ 〜V−の円周方向の面積分
布の正しい分布(コサイン分布)からのずれを小さくし
て偏向リニアリティーの悪化を防止するため、レーザー
ビームの径は比較的小さく選ばれている。第3図は、こ
の円形のレーザービームの1度の走査によるカッティン
グの様子を示しており、「eJ印はレーサービームな示
している。
電
1]1 上述例のような撮像管においては、電極q4の
各電極部H十〜V−間には巨畝十vしかかからないが、
電極q3及びリードTH十〜TV−間には1UNVがか
かる。そのため、電極q3及びリードTH十〜TV−間
のギャップの幅を広げ所定の耐圧を確保する必要がある
。従って、電極q3及びリードTH+〜TV−間、例え
ば第3図においてa −b −c −d −e−・・・
の部分ではレーザービームを2度以上走査させてカッテ
ィングし、ギャップの幅が広げられる。
各電極部H十〜V−間には巨畝十vしかかからないが、
電極q3及びリードTH十〜TV−間には1UNVがか
かる。そのため、電極q3及びリードTH十〜TV−間
のギャップの幅を広げ所定の耐圧を確保する必要がある
。従って、電極q3及びリードTH+〜TV−間、例え
ば第3図においてa −b −c −d −e−・・・
の部分ではレーザービームを2度以上走査させてカッテ
ィングし、ギャップの幅が広げられる。
このように従来の方法によれば、レーザービームによる
カッティングに要する時間が長(、生産性の向上の障害
となっている。
カッティングに要する時間が長(、生産性の向上の障害
となっている。
尚、レーザービームの径を太き(、例えば2倍としてカ
ッティングに要する時間を短か(することが考えられる
。第4図は、この径を太き(したレーザービームの1度
の走査によるカッティングの様子を示しており、「ノ」
印はレーザービームな示している。この場合、電極G3
及びリードTH+〜TV−間のギャップの幅は、レーザ
ービームの1度の走査によるカッティングで充分な広さ
となり、レーザービームの2度以上の走査は不要となり
、カッティングに要する時間を短かくすることができる
。しかしこの場合、電極G4の各電極部旦十〜V−間の
円周方向の間隔が一定でなくなり(第4図矢印参照)、
各電極部H十〜V−の円周方向の面積分布の正しい分布
からのずれが大となり、偏向リニアリティーが悪化する
不都合がある。
ッティングに要する時間を短か(することが考えられる
。第4図は、この径を太き(したレーザービームの1度
の走査によるカッティングの様子を示しており、「ノ」
印はレーザービームな示している。この場合、電極G3
及びリードTH+〜TV−間のギャップの幅は、レーザ
ービームの1度の走査によるカッティングで充分な広さ
となり、レーザービームの2度以上の走査は不要となり
、カッティングに要する時間を短かくすることができる
。しかしこの場合、電極G4の各電極部旦十〜V−間の
円周方向の間隔が一定でなくなり(第4図矢印参照)、
各電極部H十〜V−の円周方向の面積分布の正しい分布
からのずれが大となり、偏向リニアリティーが悪化する
不都合がある。
発明の目的
本発明方法は斯る点に鑑み、例えば第1図例に示すよ5
な8・S型の撮像管を製造するに当って、偏向リニアリ
ティを悪化させることな(、レーザービームによるカッ
ティングに要する時間を短かくでき、生産性が向上する
ようにしたものである。
な8・S型の撮像管を製造するに当って、偏向リニアリ
ティを悪化させることな(、レーザービームによるカッ
ティングに要する時間を短かくでき、生産性が向上する
ようにしたものである。
発明の概要
本発明方法は上記目的を達成するため、ガラスバルブ内
面に導電体を被着した後、円周方向に長軸を有するだ円
形のレーザービームで所定パターンにカッティングして
′に極を形成するものである。
面に導電体を被着した後、円周方向に長軸を有するだ円
形のレーザービームで所定パターンにカッティングして
′に極を形成するものである。
実施例
以下、本発明製法の一例¥説明する。
本例においては、ガラスバルブ内面に例えばニッケル、
クロム等の金緬馨蒸着あるいはメッキした後、円周方向
に長軸を有するだ円形のレーザービームで所定パターン
にカッティングして電極を形成する。
クロム等の金緬馨蒸着あるいはメッキした後、円周方向
に長軸を有するだ円形のレーザービームで所定パターン
にカッティングして電極を形成する。
第5図は、このだ円形のレーザービームの1度の走査に
よるカッティングの様子を示Uており、「0」印はレー
ザービームを示している。尚、この第5図において、第
3図及び第4図と対応する部分には同一符号を付し、重
複説明は省略する。
よるカッティングの様子を示Uており、「0」印はレー
ザービームを示している。尚、この第5図において、第
3図及び第4図と対応する部分には同一符号を付し、重
複説明は省略する。
この場合、円周方向に長軸を有するだ円形のレーザービ
ームでカッティングするので、、tlnG4の各電極部
H十〜V−間の円周方向の間隔が略一定に形成される(
第5図矢印参照)。
ームでカッティングするので、、tlnG4の各電極部
H十〜V−間の円周方向の間隔が略一定に形成される(
第5図矢印参照)。
また、円周方向に長軸を有するだ円形のレーザービーム
でカッティングするので、電極03及びリードi’i十
〜TV−間のうち管軸方向の部分、例えば第5図におい
て、a−b 、 c−d 、 e−f 、−=・の部分
のギャップの幅は広く形成されるが1円周方向の部分、
例えば第5図において、b−c、d’ + ’ g +
・・・・の部分のギャップの幅は狭(形成される。従っ
て、この円周方向の部分(管軸方向の部分に比べて短か
い)ではレーザービームを2度以上走査させてカッティ
ングし、ギャップの幅が広げられる。
でカッティングするので、電極03及びリードi’i十
〜TV−間のうち管軸方向の部分、例えば第5図におい
て、a−b 、 c−d 、 e−f 、−=・の部分
のギャップの幅は広く形成されるが1円周方向の部分、
例えば第5図において、b−c、d’ + ’ g +
・・・・の部分のギャップの幅は狭(形成される。従っ
て、この円周方向の部分(管軸方向の部分に比べて短か
い)ではレーザービームを2度以上走査させてカッティ
ングし、ギャップの幅が広げられる。
本例によれば、電極q3及びリードTH+〜TV−間の
ギャップの幅は、円周方向の部分を除き、レーザービー
ムの1度の走査によるカッティングで充分な広さに形成
されるので、従来方法(第3図参照)Kよるものに比ベ
カッティング[9する時間を短かくすることができ、生
産性が向上する。
ギャップの幅は、円周方向の部分を除き、レーザービー
ムの1度の走査によるカッティングで充分な広さに形成
されるので、従来方法(第3図参照)Kよるものに比ベ
カッティング[9する時間を短かくすることができ、生
産性が向上する。
しかも、本例によれば、電極G4の各電極部H十〜■−
間の円周方向の間隔が略一定に形成されるので、各電極
部H十〜■−の円周方向の面積分布の正しい分布からの
ずれが小さく、従来方法によるものと同様の偏向リニア
リティな得ることができる。
間の円周方向の間隔が略一定に形成されるので、各電極
部H十〜■−の円周方向の面積分布の正しい分布からの
ずれが小さく、従来方法によるものと同様の偏向リニア
リティな得ることができる。
尚、上述は電極q4がアローパターンの偏向電極とされ
ると共に、電極q3の領域に電極q4の各を極部H+〜
■−のリードTH十〜TV−が形成される1、 S −
S型の撮像管に着目したものであるが、同様・1 の構造を有する他の撮像管を製造する上でも有効である
。
ると共に、電極q3の領域に電極q4の各を極部H+〜
■−のリードTH十〜TV−が形成される1、 S −
S型の撮像管に着目したものであるが、同様・1 の構造を有する他の撮像管を製造する上でも有効である
。
発明の効果
以上述べたよ5に本発明製法によれば、円周方向に長軸
を有するだ円形のレーザービームで所定パターンにカッ
ティングするものであるから、例えば第1図例に示すよ
うなS−8型の撮障管の製造にあたっては、偏向リニア
リティを悪化させることなくカッティングに要する時間
を短かくでき、生産性を向上させることができる。
を有するだ円形のレーザービームで所定パターンにカッ
ティングするものであるから、例えば第1図例に示すよ
うなS−8型の撮障管の製造にあたっては、偏向リニア
リティを悪化させることなくカッティングに要する時間
を短かくでき、生産性を向上させることができる。
第1図は静電集束・静電偏向型の撮像管の構成図、第2
図はその11L極パターンを示す展開図、第3図及び第
4図は夫々従来方法の説明のための図、第5図は本発明
製法の説明のための図である。 Qa 、 04及びq5は夫々第3、第4及び第5グリ
ツド電極、H十〜■−は夫々嵯愼部、TH十〜TV−は
夫々リードである。 口=二二二二ト←
図はその11L極パターンを示す展開図、第3図及び第
4図は夫々従来方法の説明のための図、第5図は本発明
製法の説明のための図である。 Qa 、 04及びq5は夫々第3、第4及び第5グリ
ツド電極、H十〜■−は夫々嵯愼部、TH十〜TV−は
夫々リードである。 口=二二二二ト←
Claims (1)
- ガラスバルブ内面に導電体を被着した後、円周方向に長
軸を有するだ円形のレーザービームで所定パターンにカ
ッティングして電極を形成する撮像管の製法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11430784A JPS60258828A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | 撮像管の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11430784A JPS60258828A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | 撮像管の製法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60258828A true JPS60258828A (ja) | 1985-12-20 |
Family
ID=14634593
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11430784A Pending JPS60258828A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | 撮像管の製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60258828A (ja) |
-
1984
- 1984-06-04 JP JP11430784A patent/JPS60258828A/ja active Pending
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