JPS6026302A - 偏光ビ−ムスプリツタ - Google Patents
偏光ビ−ムスプリツタInfo
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- JPS6026302A JPS6026302A JP13269183A JP13269183A JPS6026302A JP S6026302 A JPS6026302 A JP S6026302A JP 13269183 A JP13269183 A JP 13269183A JP 13269183 A JP13269183 A JP 13269183A JP S6026302 A JPS6026302 A JP S6026302A
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- Japan
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- light
- face
- reflected
- incident
- polarizing film
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/534—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke by measuring transmission alone, i.e. determining opacity
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
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- G01J2001/1668—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors the measuring signal itself varying in time, e.g. periodic, for example blood pulsation
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/066—Modifiable path; multiple paths in one sample
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/069—Supply of sources
- G01N2201/0696—Pulsed
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は内部に組込まれた偏光膜においてＰ偏光成分と
Ｓ偏光成分に分離された光が同一の面の同一部位より外
部に放射するようにした偏光ビームスプリッタに関する
ものである。
Ｓ偏光成分に分離された光が同一の面の同一部位より外
部に放射するようにした偏光ビームスプリッタに関する
ものである。
（従来技術）
従来ノ偏光ビームスプリッタ（以下ＰＢＳと呼ぶ）は第
１図に示すような正立方体の形状をもつガラス等の材質
で作られ、この正立方体の断面を対角線に沿って二分割
した面に偏光膜１が取９つけられている。第１図に示す
ように本ＰＢＳの而２に垂直に例えば円偏光の偏光特性
をもつ光３を入射させると、偏光膜１においてＰ偏光成
分は透過して而４に垂直に放射され、Ｓ偏光成分は反射
して面５に垂直に放射される。それぞれを透過光および
反射光と呼ぶととにすると、透過光６は入射光３と同軸
上に、反射光７は入射光３の光軸と直角方向に分離し、
かつそれぞれの光量が相等しい。
１図に示すような正立方体の形状をもつガラス等の材質
で作られ、この正立方体の断面を対角線に沿って二分割
した面に偏光膜１が取９つけられている。第１図に示す
ように本ＰＢＳの而２に垂直に例えば円偏光の偏光特性
をもつ光３を入射させると、偏光膜１においてＰ偏光成
分は透過して而４に垂直に放射され、Ｓ偏光成分は反射
して面５に垂直に放射される。それぞれを透過光および
反射光と呼ぶととにすると、透過光６は入射光３と同軸
上に、反射光７は入射光３の光軸と直角方向に分離し、
かつそれぞれの光量が相等しい。
しかし、透過光６が放射する面４の光路上の点８および
反射光２が放射する面５の光路」二の点９に、例えば付
着物等があると光の減衰が生ずるか、点８における減衰
量と点９における減衰量とは一般に等量でないから、透
過光６と反射光７とは等量にならなくなり、また付着物
等の量が経時的に変化するとき、あるいは付着物等の物
性変化のために光減衰針が変化するときは、透過光量と
反射光量の比が、経時的に変化してしまうという欠点が
あった０ （発明の目的） 本発明の目的は、このような欠点を除去するため、透過
光と反射光がＰＢＳの同一面上の同一点より放射し、か
つ透過光の光路が入射光の光路と平行に、反射光の光路
が入射光の光路と直角になるようにしたもので以下に詳
細に説明する。
反射光２が放射する面５の光路」二の点９に、例えば付
着物等があると光の減衰が生ずるか、点８における減衰
量と点９における減衰量とは一般に等量でないから、透
過光６と反射光７とは等量にならなくなり、また付着物
等の量が経時的に変化するとき、あるいは付着物等の物
性変化のために光減衰針が変化するときは、透過光量と
反射光量の比が、経時的に変化してしまうという欠点が
あった０ （発明の目的） 本発明の目的は、このような欠点を除去するため、透過
光と反射光がＰＢＳの同一面上の同一点より放射し、か
つ透過光の光路が入射光の光路と平行に、反射光の光路
が入射光の光路と直角になるようにしたもので以下に詳
細に説明する。
（発明の構成）
本発明の構成は、偏光膜と反射膜とを有し、一定の波長
幅に制限された入射光の偏光膜における入射角がブルー
スタ角に近くなるようにし、偏光膜を透過した光と偏光
膜で反射した光が放射面の同一部位よシ放射し、放射後
の透過光が入射光と平行に、かつ放射後の反射光が入射
光と直角になるように構成したことを特徴とする偏光ビ
ームスプ・リッタである。
幅に制限された入射光の偏光膜における入射角がブルー
スタ角に近くなるようにし、偏光膜を透過した光と偏光
膜で反射した光が放射面の同一部位よシ放射し、放射後
の透過光が入射光と平行に、かつ放射後の反射光が入射
光と直角になるように構成したことを特徴とする偏光ビ
ームスプ・リッタである。
（実施例）
第２図は本発明の第１の実施例であるＰＢＳの断面を示
したものである＠すなわち面１θと面１１および面１２
と面１３がそれぞれ平行ガ平行四辺形の形状をもち、か
つ奥行は本平行四辺形の高さと同程度の長さをもつもの
である。素材はガラス等を使用し、反射面１２および偏
光膜１４から成っている。
したものである＠すなわち面１θと面１１および面１２
と面１３がそれぞれ平行ガ平行四辺形の形状をもち、か
つ奥行は本平行四辺形の高さと同程度の長さをもつもの
である。素材はガラス等を使用し、反射面１２および偏
光膜１４から成っている。
例えば円偏光の偏光特性をもつ光１５を、而１０を面１
３に対して垂直に立てた仮想面に垂直な方向に面１０に
入射すると、偏光膜１４上の点２１において、光１５は
Ｐ偏光成分とＳ偏光成分に分離され、Ｐ偏光成分は偏光
膜１４を透過して、面１１上の点１９よシ放射して透過
光１６となる。
３に対して垂直に立てた仮想面に垂直な方向に面１０に
入射すると、偏光膜１４上の点２１において、光１５は
Ｐ偏光成分とＳ偏光成分に分離され、Ｐ偏光成分は偏光
膜１４を透過して、面１１上の点１９よシ放射して透過
光１６となる。
透過光１６の光路は入射光１５の光路と平行となる。他
方Ｓ偏光成分は偏光膜１４上の点２１で反射し、光路１
７を通って反射面１２で反射し、光路１８を経て偏光膜
１４上の点２２を透過して面１ノの点１９よシ放射して
反射光２０となる。反射光２０の光路は入射光１５の光
路と直角となる。
方Ｓ偏光成分は偏光膜１４上の点２１で反射し、光路１
７を通って反射面１２で反射し、光路１８を経て偏光膜
１４上の点２２を透過して面１ノの点１９よシ放射して
反射光２０となる。反射光２０の光路は入射光１５の光
路と直角となる。
この場合、面１０側の環境の媒体および面１１の側の環
境の媒体は空気等の気体または真空に限られる。
境の媒体は空気等の気体または真空に限られる。
第３図は本発明にかかわる入射角をパラメータにしたＰ
ＢＳの波長対透過率特性を示したものである。縦軸は透
過率、横軸は波長である。透過率ゼロは全反射を意味し
ている。λ０は入射光の波長、実線はＰ偏光成分の透過
特性、点線はＳ偏光成分の透過特性を示している。Ｐ偏
光成分の透過率が１００％（す々わち全光量が偏光膜を
透過する）、から０％（すなわち全光量が偏光膜で反射
する）に遷移する波長（以下Ｐ偏光成分の遷移点と呼ぶ
）はＳ偏光成分の透過率が１００係から０％に遷移する
波長（以下Ｓ偏光成分の遷移点と呼ぶ）より右側（長波
長側）にあり、かつ入射角が小さいほどＰ偏光成分の遷
移点およびＳ偏光成分の遷移点とも右側（長波長側）に
移動する。Ｐ偏光成分の遷移点とＳ偏光成分の遷移点と
の波長幅はガラス等と偏光膜とで決まるブルースタ角で
最大となり、角度がそれより大きくなる（奪および小さ
くなる程波長幅は小さくなる。
ＢＳの波長対透過率特性を示したものである。縦軸は透
過率、横軸は波長である。透過率ゼロは全反射を意味し
ている。λ０は入射光の波長、実線はＰ偏光成分の透過
特性、点線はＳ偏光成分の透過特性を示している。Ｐ偏
光成分の透過率が１００％（す々わち全光量が偏光膜を
透過する）、から０％（すなわち全光量が偏光膜で反射
する）に遷移する波長（以下Ｐ偏光成分の遷移点と呼ぶ
）はＳ偏光成分の透過率が１００係から０％に遷移する
波長（以下Ｓ偏光成分の遷移点と呼ぶ）より右側（長波
長側）にあり、かつ入射角が小さいほどＰ偏光成分の遷
移点およびＳ偏光成分の遷移点とも右側（長波長側）に
移動する。Ｐ偏光成分の遷移点とＳ偏光成分の遷移点と
の波長幅はガラス等と偏光膜とで決まるブルースタ角で
最大となり、角度がそれより大きくなる（奪および小さ
くなる程波長幅は小さくなる。
第２図に示すＰＢＳは円偏光の偏光特性をもつ光が偏光
膜Ｉ４に入射する点２）においてはＰ偏光成分の遷移点
とＳ偏光成分の遷移点との波長幅が十分広くなる入射角
になっており、かっＰ偏光成分の遷移点とＳ偏光成分の
遷移点のほぼ中間の波長に入射光の波長λ０を選定して
いる。従９てＰ偏光成分は透過し、Ｓ偏光成分は反射す
る。他方、偏光膜１４にＳ偏光成分のみが入射する点２
２においては、偏光膜に対する入射角が小さくなるため
Ｓ偏光成分の遷巖点が入射光の波長λ０よシ右側（長波
長側）に存在し従って上記の波長λ０でＳ偏光成分は透
過する。
膜Ｉ４に入射する点２）においてはＰ偏光成分の遷移点
とＳ偏光成分の遷移点との波長幅が十分広くなる入射角
になっており、かっＰ偏光成分の遷移点とＳ偏光成分の
遷移点のほぼ中間の波長に入射光の波長λ０を選定して
いる。従９てＰ偏光成分は透過し、Ｓ偏光成分は反射す
る。他方、偏光膜１４にＳ偏光成分のみが入射する点２
２においては、偏光膜に対する入射角が小さくなるため
Ｓ偏光成分の遷巖点が入射光の波長λ０よシ右側（長波
長側）に存在し従って上記の波長λ０でＳ偏光成分は透
過する。
典型的な一実施例における諸元は次の通シである。第２
図において、偏光ビームスプリッタの母体となるガラス
の屈折率は１，６８４、面１３と偏光膜１４および面１
２と偏光膜１４のなす角はそれぞれ２４°４８′、面Ｉ
Ｏと偏光膜１４および面１１と偏光膜１４とのなす角は
それぞれ２２’１２’である０ 第４図は本発明の第２の実施例であって、第１の実施例
と異なるところは、面２６側の環境の媒体は空気等の気
体または真空であシ、他方面２７側の環境の媒体は水等
の液体である場合に適用される。第４図は本ＰＢＳの断
面を示す。面２６と面２７とは平行ではなく、上面２８
となす角が、面２２は面２６より鋭角になっている０ま
た面２８と面２９は平行で、その長さは面２８が面２９
より長い。かつ奥行は断面の高さと同程度の長さである
。素材は第１の実施例と同様ガラス等を使用し、偏光膜
３０と反射面２８がある。
図において、偏光ビームスプリッタの母体となるガラス
の屈折率は１，６８４、面１３と偏光膜１４および面１
２と偏光膜１４のなす角はそれぞれ２４°４８′、面Ｉ
Ｏと偏光膜１４および面１１と偏光膜１４とのなす角は
それぞれ２２’１２’である０ 第４図は本発明の第２の実施例であって、第１の実施例
と異なるところは、面２６側の環境の媒体は空気等の気
体または真空であシ、他方面２７側の環境の媒体は水等
の液体である場合に適用される。第４図は本ＰＢＳの断
面を示す。面２６と面２７とは平行ではなく、上面２８
となす角が、面２２は面２６より鋭角になっている０ま
た面２８と面２９は平行で、その長さは面２８が面２９
より長い。かつ奥行は断面の高さと同程度の長さである
。素材は第１の実施例と同様ガラス等を使用し、偏光膜
３０と反射面２８がある。
例えば円偏光の偏光特性をもつ光２３を、面２６を面２
９に対して垂直に立てた仮想面に垂直な方向に面２６よ
シ入射させると、偏光膜３ｏにおいて光２３はＰ偏光成
分とＳ偏光成分に分離され、Ｐ偏光成分は偏光膜３０を
透過して面２７上の点３３よシ放射し透過光２４となる
。透過光２４の光路は入射光２３の光路と平行である。
９に対して垂直に立てた仮想面に垂直な方向に面２６よ
シ入射させると、偏光膜３ｏにおいて光２３はＰ偏光成
分とＳ偏光成分に分離され、Ｐ偏光成分は偏光膜３０を
透過して面２７上の点３３よシ放射し透過光２４となる
。透過光２４の光路は入射光２３の光路と平行である。
他方Ｓ偏光成分は偏光膜３０で反射し、光路３１を通っ
て反射面２８で反射し光路３２を経て、偏光膜３０を透
過し面２７上の点３３よシ放射して反射光２５となる。
て反射面２８で反射し光路３２を経て、偏光膜３０を透
過し面２７上の点３３よシ放射して反射光２５となる。
反射光２５の光路は入射光２３の光路と直角になってい
る。
る。
典型的な一実施例における諸元は次の通シである。第４
図において、偏光ビームスプリッタの母体となるガラス
の屈折率は１．６８４、而２６と偏光膜３０のなす角が
２９°４４′、面２８と偏光膜３゜のなす角が３３°５
７′、面２７と偏光膜３０のなす角力１１°０３′、面
２９と偏光膜３０のなす角が３３°５７′である。
図において、偏光ビームスプリッタの母体となるガラス
の屈折率は１．６８４、而２６と偏光膜３０のなす角が
２９°４４′、面２８と偏光膜３゜のなす角が３３°５
７′、面２７と偏光膜３０のなす角力１１°０３′、面
２９と偏光膜３０のなす角が３３°５７′である。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば透過光（ｉ６，２
４）と反射光（２０，’２５）がＰＢＳの面（１１，２
７）上の同一点ＣＩ９．３３）より放射しているから、
面（７１，２７）上に付着物等が存在し、また付着物等
の量が経時的に変化することがあっても、あるいは付着
物等の光学的減衰特性を経時的に変化させるよう々物性
変化等が生じたとしても透過光（１６、２４）と反射光
（２０，２５）の比を常に一定に保ちうるという利点が
ある。また、透過光（Ｉ６，２４）の光路を入射光（１
５，２３）の光路と平行に、反射光（２０，２５）の光
路を入射光（１５，’２３）の光路と直角になるように
構成されており、第１図に示す従来のＰＢＳと同等に取
扱うことが可能であるＯ 反射面（１２，２８）は反射膜を取９つけることにより
形成するが、偏光膜同様プリズム内に組込む等の方法に
よシ特性の安定性を確保することが可能であり、また入
射面（１０，２６）の付着物等は透過光（１６，２４）
および反射光（２０゜２５）に共通に作用するから、結
局ＰＢＳの表面状態の光学的変化に影響されることなく
常に透過光（，１６，２４）と反射光（２０，２５）の
比を一定に維持するＰＢＳが得られる。
４）と反射光（２０，’２５）がＰＢＳの面（１１，２
７）上の同一点ＣＩ９．３３）より放射しているから、
面（７１，２７）上に付着物等が存在し、また付着物等
の量が経時的に変化することがあっても、あるいは付着
物等の光学的減衰特性を経時的に変化させるよう々物性
変化等が生じたとしても透過光（１６、２４）と反射光
（２０，２５）の比を常に一定に保ちうるという利点が
ある。また、透過光（Ｉ６，２４）の光路を入射光（１
５，２３）の光路と平行に、反射光（２０，２５）の光
路を入射光（１５，’２３）の光路と直角になるように
構成されており、第１図に示す従来のＰＢＳと同等に取
扱うことが可能であるＯ 反射面（１２，２８）は反射膜を取９つけることにより
形成するが、偏光膜同様プリズム内に組込む等の方法に
よシ特性の安定性を確保することが可能であり、また入
射面（１０，２６）の付着物等は透過光（１６，２４）
および反射光（２０゜２５）に共通に作用するから、結
局ＰＢＳの表面状態の光学的変化に影響されることなく
常に透過光（，１６，２４）と反射光（２０，２５）の
比を一定に維持するＰＢＳが得られる。
第１図は従来の偏光ビームスプリッタの断面図、第２図
は本発明の実施例である偏光ビームスプリッタの断面図
、第３図は本発明にかかわる入射角をノヤラメータにし
た偏光ビームスシリツタの波長対透過率特性図である。 第４図は本発明の他の実施例である偏光ビームスシリツ
タの断面図。 １０．１１，１３，２６，２７．２９・・・面、１２．
２８・・・反射面、２０．２５・・・反射光、１４゜３
０・・・偏光膜、１５．２３・・・入射光、１６．２４
・・・透過光、１７．１Ｂ、３１．３２・・・光路、１
９・・・面１ノ上の点、２１．２２・・・偏光膜１４上
の点、３３・・・面２７上の点。 特許出願人 沖電気工業株式会社 第１図 １ 第２図 ２ 第３図 尺ｒｒ負二 手続補正書（自発） １、事件の表示 昭和５８年 特 許 願第１３２６９１号２、発明の名
称 偏光ビームスプリッタ ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 任 所（〒１０５） 東京都港区虎ノ門１丁目７番１２
号沖電気工業株式会社内 氏名（６８９２） 弁理士 鈴木敏明 電話 ５０１−３１１１（大代表） ５、補正の対象 明細書中「発明の詳細な説明」の欄６
、補正の内容 別紙のとおり ６、補正の内容 （１）明細書第２頁第１３行目に「減衰 が生ずるか、
」とあるのを「減衰 が生ずるが、」と補正する。 （２） 同書第４頁第４行目に「光１５を、」とあるの
を「光１５が、」と補正する。
は本発明の実施例である偏光ビームスプリッタの断面図
、第３図は本発明にかかわる入射角をノヤラメータにし
た偏光ビームスシリツタの波長対透過率特性図である。 第４図は本発明の他の実施例である偏光ビームスシリツ
タの断面図。 １０．１１，１３，２６，２７．２９・・・面、１２．
２８・・・反射面、２０．２５・・・反射光、１４゜３
０・・・偏光膜、１５．２３・・・入射光、１６．２４
・・・透過光、１７．１Ｂ、３１．３２・・・光路、１
９・・・面１ノ上の点、２１．２２・・・偏光膜１４上
の点、３３・・・面２７上の点。 特許出願人 沖電気工業株式会社 第１図 １ 第２図 ２ 第３図 尺ｒｒ負二 手続補正書（自発） １、事件の表示 昭和５８年 特 許 願第１３２６９１号２、発明の名
称 偏光ビームスプリッタ ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 任 所（〒１０５） 東京都港区虎ノ門１丁目７番１２
号沖電気工業株式会社内 氏名（６８９２） 弁理士 鈴木敏明 電話 ５０１−３１１１（大代表） ５、補正の対象 明細書中「発明の詳細な説明」の欄６
、補正の内容 別紙のとおり ６、補正の内容 （１）明細書第２頁第１３行目に「減衰 が生ずるか、
」とあるのを「減衰 が生ずるが、」と補正する。 （２） 同書第４頁第４行目に「光１５を、」とあるの
を「光１５が、」と補正する。
Claims (1)
- 偏光膜と反射膜とを有し、一定の波長幅に制限された入
射光の偏光膜における入射角がプル−スタ角に近くなる
ようにし、偏光膜を透過した光と偏光膜で反射した光が
放射面の同一部位より放射し、放射後の透過光が入射光
と平行に、かつ放射後の反射光が入射光と直角になるよ
うに構成したことを特徴とする偏光ビームスプリッタ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13269183A JPS6026302A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 偏光ビ−ムスプリツタ |
| DE8484304868T DE3477514D1 (en) | 1983-07-22 | 1984-07-17 | Apparatus for measuring optical transmission factor |
| EP84304868A EP0132370B1 (en) | 1983-07-22 | 1984-07-17 | Apparatus for measuring optical transmission factor |
| US06/946,520 US4726684A (en) | 1983-07-22 | 1986-12-24 | Measurement apparatus for optical transmission factor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13269183A JPS6026302A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 偏光ビ−ムスプリツタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6026302A true JPS6026302A (ja) | 1985-02-09 |
| JPS6340288B2 JPS6340288B2 (ja) | 1988-08-10 |
Family
ID=15087277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13269183A Granted JPS6026302A (ja) | 1983-07-22 | 1983-07-22 | 偏光ビ−ムスプリツタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6026302A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102153858B1 (ko) | 2020-04-29 | 2020-09-08 | 김회복 | 무동력식 판재 리프팅 장치 |
-
1983
- 1983-07-22 JP JP13269183A patent/JPS6026302A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6340288B2 (ja) | 1988-08-10 |
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