JPS60263065A - 冷凍サイクルの制御方式 - Google Patents
冷凍サイクルの制御方式Info
- Publication number
- JPS60263065A JPS60263065A JP11708884A JP11708884A JPS60263065A JP S60263065 A JPS60263065 A JP S60263065A JP 11708884 A JP11708884 A JP 11708884A JP 11708884 A JP11708884 A JP 11708884A JP S60263065 A JPS60263065 A JP S60263065A
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- Japan
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- degree
- superheat
- valve opening
- correction value
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- Pending
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- Devices That Are Associated With Refrigeration Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
この発明は空気調和機などの冷凍サイクルの制一方式、
特にそれの電子式リニア膨張弁の開度を。
特にそれの電子式リニア膨張弁の開度を。
過熱度が所定範囲内となるよう制御する制御方式に関す
る。
る。
[従来技術]
最近、インバータを利用して圧縮機の能力を自由に可変
できる容量制御形の空気調和機が開発されたが、これを
効率のよい過熱度で運転制御するために、従来は実開昭
48−98745号公報に示されているように複数の毛
細管を用いて、圧縮機の能力に応じて毛細管を切換える
方式などがあった。
できる容量制御形の空気調和機が開発されたが、これを
効率のよい過熱度で運転制御するために、従来は実開昭
48−98745号公報に示されているように複数の毛
細管を用いて、圧縮機の能力に応じて毛細管を切換える
方式などがあった。
しかしリニアに圧縮機能力を可変できるインバータ等を
用いた容量制御に於て、毛細管切換えによる減圧レベル
制御ではリニアに減圧レベルを可変できないために常に
適切な過熱度で効率のよい空気調和機の運転ができない
という欠点があった。
用いた容量制御に於て、毛細管切換えによる減圧レベル
制御ではリニアに減圧レベルを可変できないために常に
適切な過熱度で効率のよい空気調和機の運転ができない
という欠点があった。
[発明の概要]
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、冷凍サイク
ルの過熱度を制御できる電子式リニア膨張弁(以下LE
Vという)を用い、過熱度が予め設定された適正過熱度
領域を中心とした複数の領域の何れにあるかを判定し、
その過熱度がその何れの領域にあるかによって異なった
所定の補正値を現弁開度に加え又は減するよう上記L
E Vの弁開度を制御することによって、過熱度が常に
適正領域に入り効率の良い運転を可能とする冷凍サイク
ルの制御方式を提供することを目的としている。
ルの過熱度を制御できる電子式リニア膨張弁(以下LE
Vという)を用い、過熱度が予め設定された適正過熱度
領域を中心とした複数の領域の何れにあるかを判定し、
その過熱度がその何れの領域にあるかによって異なった
所定の補正値を現弁開度に加え又は減するよう上記L
E Vの弁開度を制御することによって、過熱度が常に
適正領域に入り効率の良い運転を可能とする冷凍サイク
ルの制御方式を提供することを目的としている。
[発明の実施例]
以下この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例を示す概略構成図で、図に
おいて(1)は圧縮機、(2)は凝縮器、(3)は蒸発
器、(4)はLEV、(5)はアキュムレータ、(6)
は、L E V (4)の両側又は何れか一方から毛細
管からなるバイパス回路(7)をへて流れてきた冷媒液
がその出口付近で蒸発する温度を検出する飽和i度セン
サ、(8)は蒸発器(3)からアキュムレータ(5)へ
の冷媒温度を検出する吸入温度センサ、(9)は、これ
ら両センサ(6)(8)からの検出温度差からマイクロ
コンピュータ(以下マイコンという)などで過熱度を算
出する手段、 (ic)は、この手段(9)によって算
出された過熱度が、予めマイコンなどに設定された適正
過熱度領域(適正領域)を中心とした、これと最も離れ
最も高い過熱度領域(A領域)、この領域と適正領域と
の間の過熱度領域(B領域)、適正領域より低い過熱度
領域(C領域)及び最も低い過熱度領域(D領域)、の
5領域中何れの領域にあるかをマイコン等で判定する過
熱度判定手段、 (11)はこの手段(10)による判
定結果に応し、即ち上記手段(9)により算出された過
熱度がA領域にある時は補正値aをLE V (4)の
現弁開度(Sj−1)に加え、B領域にある時はaより
小さい補正値すを5j−1に加え、適正領域にある時は
5j−1をそのまま、C領域にある時は補正値Cを5j
−1から減じ、D領域にある時はCより大きい補正値d
を5j−1から減じて得た値を新たな弁開度Sjとして
、マイコン等で決定する手段、(12)はこの手段(1
1)によって決定された弁開度SjにLEV(4)の弁
開度をLEV駆動回路等で制御する手段、(13)は、
これら手段(9) (10) (11) (12)から
なるLEV制御装置である。第2図は、第1図のしEV
制御装置f(13)の−例を示す電気回路図で、図にお
いて(14)は、上記過熱度算出手段(9)、過熱度判
定手段(10)、過熱度決定手段(11)を実行し、上
記過熱度領域、適正、A、B、、C,Dを設定するため
のマイコンで、メモリ(15)、入力回路(16)。
おいて(1)は圧縮機、(2)は凝縮器、(3)は蒸発
器、(4)はLEV、(5)はアキュムレータ、(6)
は、L E V (4)の両側又は何れか一方から毛細
管からなるバイパス回路(7)をへて流れてきた冷媒液
がその出口付近で蒸発する温度を検出する飽和i度セン
サ、(8)は蒸発器(3)からアキュムレータ(5)へ
の冷媒温度を検出する吸入温度センサ、(9)は、これ
ら両センサ(6)(8)からの検出温度差からマイクロ
コンピュータ(以下マイコンという)などで過熱度を算
出する手段、 (ic)は、この手段(9)によって算
出された過熱度が、予めマイコンなどに設定された適正
過熱度領域(適正領域)を中心とした、これと最も離れ
最も高い過熱度領域(A領域)、この領域と適正領域と
の間の過熱度領域(B領域)、適正領域より低い過熱度
領域(C領域)及び最も低い過熱度領域(D領域)、の
5領域中何れの領域にあるかをマイコン等で判定する過
熱度判定手段、 (11)はこの手段(10)による判
定結果に応し、即ち上記手段(9)により算出された過
熱度がA領域にある時は補正値aをLE V (4)の
現弁開度(Sj−1)に加え、B領域にある時はaより
小さい補正値すを5j−1に加え、適正領域にある時は
5j−1をそのまま、C領域にある時は補正値Cを5j
−1から減じ、D領域にある時はCより大きい補正値d
を5j−1から減じて得た値を新たな弁開度Sjとして
、マイコン等で決定する手段、(12)はこの手段(1
1)によって決定された弁開度SjにLEV(4)の弁
開度をLEV駆動回路等で制御する手段、(13)は、
これら手段(9) (10) (11) (12)から
なるLEV制御装置である。第2図は、第1図のしEV
制御装置f(13)の−例を示す電気回路図で、図にお
いて(14)は、上記過熱度算出手段(9)、過熱度判
定手段(10)、過熱度決定手段(11)を実行し、上
記過熱度領域、適正、A、B、、C,Dを設定するため
のマイコンで、メモリ(15)、入力回路(16)。
中央処理装置(以下CPUという)(17)、及び出力
回路(18)からなっている。(19)は、上記飽和温
度センサ(6)、吸入温度センサ(8)からの検出温度
信号をデジタル信号に変換してマイコン(14)に入力
するアナログデジタル変換器(以下A/D変換器という
)、(20)はマイコン(14)の出力バッファ、(2
1)はホトカプラ、(22)はLEV駆動回路で、ホト
カプラ(21)の受信部、このホトカプラ(21)の受
信信号を増幅する増幅回路(23)、及びこの増幅回路
(23)の出力でスイッチングされるパワートランジス
タ(24)からなっている。なお(25) (26)は
電流制限用抵抗である。
回路(18)からなっている。(19)は、上記飽和温
度センサ(6)、吸入温度センサ(8)からの検出温度
信号をデジタル信号に変換してマイコン(14)に入力
するアナログデジタル変換器(以下A/D変換器という
)、(20)はマイコン(14)の出力バッファ、(2
1)はホトカプラ、(22)はLEV駆動回路で、ホト
カプラ(21)の受信部、このホトカプラ(21)の受
信信号を増幅する増幅回路(23)、及びこの増幅回路
(23)の出力でスイッチングされるパワートランジス
タ(24)からなっている。なお(25) (26)は
電流制限用抵抗である。
第3図は、第1図の弁開度制御手段(12)、即ち第2
図のLEV駆動回路(22)から1. E V (4)
ニ加えられるパルス電圧波形を示し、そのパルス電圧
のデユーティ比(To/TI)を加減してL E V
(4)の弁開度を制御する。第4図は、このデユーティ
比とL E V (4)の弁開度との関係を示す図であ
る。
図のLEV駆動回路(22)から1. E V (4)
ニ加えられるパルス電圧波形を示し、そのパルス電圧
のデユーティ比(To/TI)を加減してL E V
(4)の弁開度を制御する。第4図は、このデユーティ
比とL E V (4)の弁開度との関係を示す図であ
る。
このように、第3図のパワトランジスタ(24)のスイ
ッチング位相をマイコン(14)の制御によって直線的
に制御することによってL E V (4)の弁開度の
直線的制御が行なわれる。
ッチング位相をマイコン(14)の制御によって直線的
に制御することによってL E V (4)の弁開度の
直線的制御が行なわれる。
次にその動作を、第5図に示すフローチャート及び第6
図に示すタイミングチャートによって説明する。第5図
はマイコン(14)のメモリ(15)に記憶され、CP
U (17)で実行されるプログラムのフローチャー
トで、先ずプログラムのスタートにあたり、ステップ(
27)において、L E V (4)の制御時間間隔t
を設定するタイマーセットを行なう。
図に示すタイミングチャートによって説明する。第5図
はマイコン(14)のメモリ(15)に記憶され、CP
U (17)で実行されるプログラムのフローチャー
トで、先ずプログラムのスタートにあたり、ステップ(
27)において、L E V (4)の制御時間間隔t
を設定するタイマーセットを行なう。
ステップ(28)でこのタイマーのタイムカウントを行
ない、所定の設定時間tが経過すると次のステップ(2
9)でタイムアツプを検出し、次のステップ(30)で
、温度センサ(6) (8)からA/D変換器(19)
から入力する温度信号を読取り、それから過熱度を算出
する過熱度測定が行なわれる。次に、この測定された過
熱度が、A、B、適正、C,Dの何れの領域にあるかが
、ステップ(31)(32) (33) (34)(3
5)で判定され、その結果にもとずき、ステップ(36
) (37) (38) (39) (40)で現在出
力中の弁開度S j −1に、補正値a、bが加算され
、戒は補正値c、dが減算されて新たな弁開度Sjが決
定され、又、適正領域にあれば5j−1がそのままSj
として決定され、次のステップ(41)に進む。ステッ
プ(41)で、Sjによってきまるデユーティ比のパル
ス(第3図)を出力して、LEV駆動回路(22)によ
ってL E V (4)の弁開度の制御が行なわれ、プ
ログラムの初期に戻る。上記補正値は、a > b 、
d >Cの関係にあり、適正領域に近い程、補正値を
小さい値に設定する。
ない、所定の設定時間tが経過すると次のステップ(2
9)でタイムアツプを検出し、次のステップ(30)で
、温度センサ(6) (8)からA/D変換器(19)
から入力する温度信号を読取り、それから過熱度を算出
する過熱度測定が行なわれる。次に、この測定された過
熱度が、A、B、適正、C,Dの何れの領域にあるかが
、ステップ(31)(32) (33) (34)(3
5)で判定され、その結果にもとずき、ステップ(36
) (37) (38) (39) (40)で現在出
力中の弁開度S j −1に、補正値a、bが加算され
、戒は補正値c、dが減算されて新たな弁開度Sjが決
定され、又、適正領域にあれば5j−1がそのままSj
として決定され、次のステップ(41)に進む。ステッ
プ(41)で、Sjによってきまるデユーティ比のパル
ス(第3図)を出力して、LEV駆動回路(22)によ
ってL E V (4)の弁開度の制御が行なわれ、プ
ログラムの初期に戻る。上記補正値は、a > b 、
d >Cの関係にあり、適正領域に近い程、補正値を
小さい値に設定する。
今1例えば第6図において、時点し0においてA領域に
過熱度があったとすれば、補正値aが加えられL E
V (4)の弁開度が開く。LE V (4)の弁開度
が大になると過熱度は減少し、を時間後のLlにおいて
測定された過熱度がD領域にきたとすると、LEV(4
)の弁開度が開きすぎということで補正値dが減算され
てL E V (4)の弁開度が閉じる。
過熱度があったとすれば、補正値aが加えられL E
V (4)の弁開度が開く。LE V (4)の弁開度
が大になると過熱度は減少し、を時間後のLlにおいて
測定された過熱度がD領域にきたとすると、LEV(4
)の弁開度が開きすぎということで補正値dが減算され
てL E V (4)の弁開度が閉じる。
この時の補正値a、dの大小関係はa > dとし1う
ことになる。さらにL2において過熱度がB領域にあっ
たとすれば、今度は補正値すが加算され、LEV(4)
の弁開度が制御される。その補正値は当然a > bと
する。L3において今度はC領域に過熱度があったとす
れば補正値Cが減算され、LEV(4)の弁開度が制御
される。当然d > cとする。
ことになる。さらにL2において過熱度がB領域にあっ
たとすれば、今度は補正値すが加算され、LEV(4)
の弁開度が制御される。その補正値は当然a > bと
する。L3において今度はC領域に過熱度があったとす
れば補正値Cが減算され、LEV(4)の弁開度が制御
される。当然d > cとする。
このようにして最終的に過熱度が適正領域に入るようL
EV[4)の弁開度が制御される。
EV[4)の弁開度が制御される。
次に、第7図に示すフローチャート及び第8図に示すタ
イミングチャートによって、この発明の他の実施例を説
明する。この実施例では過熱度が適正領域から最も離れ
た領域(A領域)に入るとセットされ、適正領域に戻る
とリセットされ、セット時に、適正領域及びこれと最も
離れたA領域以外の領域(B、C,D領域)の補正値b
r 、 Cr 、 d rを。
イミングチャートによって、この発明の他の実施例を説
明する。この実施例では過熱度が適正領域から最も離れ
た領域(A領域)に入るとセットされ、適正領域に戻る
とリセットされ、セット時に、適正領域及びこれと最も
離れたA領域以外の領域(B、C,D領域)の補正値b
r 、 Cr 、 d rを。
リセット時の補正値す、c、dより大なる値に切換える
補正値切換手段を設けた点が異なるのみで、他は第1図
ないし第6図に示した実施例と同一である。即ち第7図
のフローチャートにおいて、ステップ(27)〜(35
)は第5図と同様であるが、ステップ(31)で過熱度
がA領域にあると判定されるとステップ(42)で上記
補正値切換手段に相当するフラグをセットし、ステップ
(33)で過熱度が適正領域にあると判定されるとステ
ップ(43)でフラグをリセットする。過熱度が他の領
域B、C,Dにあると、ステップ(32) (34つ(
35)で判定されると、次のステップ(44) (45
) (46)で、フラグがセットかりセットかが判定さ
れ、セットされていればステップ(47) (48)(
49)で、リセット時の補正値す、c、dより大きい補
正値b’、c’、d’が加算又は減算される。つまり、
第8図に示すように、時点1,0〜t、3までは弁開度
を大きく動かし、それに応じ過熱度の変動が大きくなり
、速かに適正領域に入るよう制御されるが、一旦適正領
域に入るとフラグがリセットされ、その後(し4以降)
は補正値が各領域B、C。
補正値切換手段を設けた点が異なるのみで、他は第1図
ないし第6図に示した実施例と同一である。即ち第7図
のフローチャートにおいて、ステップ(27)〜(35
)は第5図と同様であるが、ステップ(31)で過熱度
がA領域にあると判定されるとステップ(42)で上記
補正値切換手段に相当するフラグをセットし、ステップ
(33)で過熱度が適正領域にあると判定されるとステ
ップ(43)でフラグをリセットする。過熱度が他の領
域B、C,Dにあると、ステップ(32) (34つ(
35)で判定されると、次のステップ(44) (45
) (46)で、フラグがセットかりセットかが判定さ
れ、セットされていればステップ(47) (48)(
49)で、リセット時の補正値す、c、dより大きい補
正値b’、c’、d’が加算又は減算される。つまり、
第8図に示すように、時点1,0〜t、3までは弁開度
を大きく動かし、それに応じ過熱度の変動が大きくなり
、速かに適正領域に入るよう制御されるが、一旦適正領
域に入るとフラグがリセットされ、その後(し4以降)
は補正値が各領域B、C。
Dで小さくなるため、過熱度の変動が小さくなり、より
滑らかな制御が可能となる。
滑らかな制御が可能となる。
なお以上の実施例では過熱度の判定領域の数を5とした
が必ずしもこれに限らないことは勿論である。
が必ずしもこれに限らないことは勿論である。
[発明の効果コ
この発明は以上のように、冷凍サイクルにおけるLEV
の開度制御を、過熱度が、適正領域を中心にした複数の
領域の何れにあるかを判定し、その判定結果に応じて異
なった補正値を現弁開度に加え又は減じて弁開度を決定
し、LEVを制御するようにしたので、速かかつ滑らか
に適正な弁開度に達し、圧縮機の容量制御時や室内外の
空気条件の変化時でも常に最適な過熱度での高効率運転
が可能となる等の効果を有している。
の開度制御を、過熱度が、適正領域を中心にした複数の
領域の何れにあるかを判定し、その判定結果に応じて異
なった補正値を現弁開度に加え又は減じて弁開度を決定
し、LEVを制御するようにしたので、速かかつ滑らか
に適正な弁開度に達し、圧縮機の容量制御時や室内外の
空気条件の変化時でも常に最適な過熱度での高効率運転
が可能となる等の効果を有している。
第1図はこの発明の一実施例を示す概略構成図、第2図
はそれのLEV制御装置の一例を示す電気回路図、第3
図、及び第4図はLEVの弁開度制御動作を説明するた
めのLEVへの印加パルス波形図、及びこのパルス波形
のデユーティ比と弁開度との関係を示す図、第5図はこ
の発明の一実施例の動作を示すフローチャート、第6図
はそれの過熱度と弁開度の変化の一例を示すタイミング
チャート、第7図は、この発明の他の実施例あ動作を示
すフローチャート、第8図はそれの過熱度と弁開度の変
化例を示すタイミングチャートである。 図において、(1)は圧縮機、(2)は凝縮器、(3)
は蒸発器、(4)は電子式リニア膨張弁(L E V)
、(5)はアキュムレータ、(6)は飽和温度センサ、
(8)は吸入温度センサ、(9)は過熱度算出手段、(
lO)は過熱度判定手段、(11)は弁開度決定手段、
(]2)は弁開度制御手段、(13)はLEV制御装置
である。 図中同一符号は同−或いは相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 (ほか2名)第111 第2図 113図 第4図 Dufy tヒ 第5図 1g6図 時開 117図
はそれのLEV制御装置の一例を示す電気回路図、第3
図、及び第4図はLEVの弁開度制御動作を説明するた
めのLEVへの印加パルス波形図、及びこのパルス波形
のデユーティ比と弁開度との関係を示す図、第5図はこ
の発明の一実施例の動作を示すフローチャート、第6図
はそれの過熱度と弁開度の変化の一例を示すタイミング
チャート、第7図は、この発明の他の実施例あ動作を示
すフローチャート、第8図はそれの過熱度と弁開度の変
化例を示すタイミングチャートである。 図において、(1)は圧縮機、(2)は凝縮器、(3)
は蒸発器、(4)は電子式リニア膨張弁(L E V)
、(5)はアキュムレータ、(6)は飽和温度センサ、
(8)は吸入温度センサ、(9)は過熱度算出手段、(
lO)は過熱度判定手段、(11)は弁開度決定手段、
(]2)は弁開度制御手段、(13)はLEV制御装置
である。 図中同一符号は同−或いは相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 (ほか2名)第111 第2図 113図 第4図 Dufy tヒ 第5図 1g6図 時開 117図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)圧縮機、凝縮器、電子式リニア膨張弁、蒸発器、
アキュムレータから構成される冷媒回路、この回路の冷
媒の飽和温度検出手段、吸入温度検出手段、これら両手
段からの検出温度信号から過熱度を算出する手段、この
手段により算出された過熱度が、予め設定された適正過
熱度領域を中心とした複数の領域の何れにあるかを判定
する手段、過熱度が上記領域の何れにあるかによって異
なった所定の補正値を現弁開度に加え、又は減じた値に
弁開度を決定する手段、及びこの手段によって決定され
た弁開度に上記電子式リニア膨張弁の弁開度を制御する
手段を備え、これら手段による検出、算出1判定、決定
及び制御を所定時間毎に行ない上記過熱度を所定範囲内
となるよう制御することを特徴とする冷凍サイクルの制
御方式。 (2)上記弁開度決定手段は、上記算出され
た過熱度が上記適正過熱度領域にある時は現弁開度に、
この領域より大なる過熱度領域にある時は、適正過熱度
領域に近い領域にある程小さな補正値を現弁開度に加え
た値に、上記適正過熱度領域より小さな過熱度領域にあ
る時は、最適過熱度領域に近い領域にある程小さな補正
値を現弁開度から減じた値に弁開度を決定する手段であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の冷凍サ
イクルの制御方式。 (3)上記算出された過熱度が、」−記適正過熱度領域
から最も離れた領域に入るとセットされ、適正過熱度領
域に戻るとリセットされ、セット時に、上記適正過熱度
領域及びこれより最も離れた領域以外の各領域の補正値
を、リセット時の補正値より大なる値に切換える補正値
切換え手段を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第
1又は第2項記載の冷凍サイクルの制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11708884A JPS60263065A (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 冷凍サイクルの制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11708884A JPS60263065A (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 冷凍サイクルの制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60263065A true JPS60263065A (ja) | 1985-12-26 |
Family
ID=14703092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11708884A Pending JPS60263065A (ja) | 1984-06-07 | 1984-06-07 | 冷凍サイクルの制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60263065A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63156978A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-06-30 | 三菱電機株式会社 | 冷凍空調装置 |
| JPS6433470A (en) * | 1987-04-25 | 1989-02-03 | Danfoss As | Overheat temperature regulator |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58117967A (ja) * | 1981-12-31 | 1983-07-13 | 松下電器産業株式会社 | 冷凍サイクル制御装置 |
-
1984
- 1984-06-07 JP JP11708884A patent/JPS60263065A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58117967A (ja) * | 1981-12-31 | 1983-07-13 | 松下電器産業株式会社 | 冷凍サイクル制御装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63156978A (ja) * | 1986-12-19 | 1988-06-30 | 三菱電機株式会社 | 冷凍空調装置 |
| JPS6433470A (en) * | 1987-04-25 | 1989-02-03 | Danfoss As | Overheat temperature regulator |
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