JPS6027576B2 - 帯電滴インクジェットプリンタの印刷誤差を小さくする装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は帯電滴インクジェットプリンタに於いて正確な
印刷を得るためインク滴の飛行経路を修正する装置に係
る。

特に本発明はインク滴相互間の帯電電荷による斥力効果
、インク滴に誘導される電荷の誘導効果及びインク満に
与える空気動力学的抗力の効果を補償する事に係る。イ
ンクジェットプリン外こ於てインク滴の飛行経路を変え
る３要素は滴相互間の軍荷斥力、競相互間の電荷誘導及
び空気動力学的抗力である。

インク滴はそれがインク流から分離するとき帯電される
。一般に、導電性のインクをアースし、或る所定の電位
に接続された帯電リングでインク流の分離点を取巻いて
この帯電を行なう。インク流及び帯電リング間の電圧は
インク流に電荷を生じ、流れから満となって分離すると
きその滴に捉えられる。この滴に捉えられた電荷の大き
さは、その帯電した滴を偏向するための電界をその飛行
経路におく事により滴の飛行経路を制御するように使用
される。このように帯電リングに印加された電位の変化
が満の電荷及び満の飛行経路を変える事ができる。この
飛行経路に於ける電荷誘導誤差は滴分離点付近にある予
じめ帯電された満により引起され、現在分離しようとし
ている滴に電荷を譲起する。

満に与えられる筈の電荷は帯電リングにより主に制御さ
れるが、滴分離点付近の既に帯電された満によりその滴
に誤った電荷がおかれ得る。滴を帯電するときの誤りは
印刷媒体に向かう満の飛行経路にも誤差を引起す。霞荷
斥力による誤差効果は同じ電荷を有する滴が印刷媒体に
向かって飛行する際互いに斥ぞけ合う事によって生じる
。

滴相互間の斥力が飛行経路を変化させ、これによって滴
が印刷媒体を打つ位置が狂い印刷誤差を生じる。滴に与
える空気動力学効果が印刷媒体への滴の飛行時間を変え
る事になる。満の流れに対し印刷媒体が早く動けば動く
程、所与の滴の飛行時間の変化による印刷位置の誤差が
大きくなる。ある満が受ける抗力の大きさはその印刷滴
即ちその基準とする基準滴の飛行する満のパターンによ
って変わる。上記の３種類の効果により正確さを要する
インクジェット印刷で誤差を生じる事になる。

どの効果がもっとも大きく働ら〈かは滴分離点から印刷
媒体までの距離及びインク瓶及び印刷媒体間の相対速度
による。もしも印刷媒体の速度がインク満速度に比べ遅
いならば、印刷時にもっとも影響の大きい誤差は電荷誘
導及び亀荷斥力によるものである。インク滴の飛行時間
が増加するにつれ、そしてまた瓶に対する印刷媒体の相
対速度が増大するにつれ、空気動力学的抗力が印刷時の
誤差にもっとも大きな影響を及ぼす要因となる。非帯電
滴を印刷滴としてまた帯電滴をガター滴として使用する
２進インクジェットシステムでは特に上記の事が云える
。非帯電滴が印刷滴であるから、譲導電荷及び亀荷斥力
による誤り効果は滴に及ぼす空気動力学的抗力による誤
差に比べ小さい。更に、誘導電荷又は帯電斥力の誤差効
果は基準滴の直ぐ近くの大よそ３個又は４個の滴に限定
される。

例えば帯電誘導効果が基準瓶（分離しようとする満）か
らの距離に従づて非直線的に小さくなる事が知られてい
る。基準瓶から離れた４番目の滴が通常は考慮すべき最
後の滴となる（一例は米国特許第４０３２９２４号）。
同様に、滴相互間の帯電斥力効果は滴間の距離の２乗に
反比例する関数として減少する。このように印刷誤差に
及ぼす亀荷斥力効果は基準滴の直ぐ近くの満についてだ
け考慮すれば良い。他方空気動力学的な誤差の効果は、
それが影響の大きい場合は長期間にわたってその影響の
ある事が判った。

或る場合には、基準滴の前の３の固を超える滴がその基
準満に空気動力学的抗力に影響を及ぼす事があり得る。
誘導される電荷を補償する装置の例が米国特許第３筋１
５１１号及び同第３７８凶２２号‘こ教示される。

前者は基準滴について直前の満からの誘導電荷を補償す
る事を教示する。また後者には既に帯電された任意の数
の滴に基づいて帯電効果を補償する事を教示する。米国
特許第３９２８３５４号及び同第３９４６３９ｙ号は電
荷及び空気動力学的抗力による誤差を補償する事を教示
している。

後者は特定の印刷データパターンを検知するためのイン
クジヱット流のデータパターンをモニターする事を教示
する。そしてこれらの印刷データパターンは帯電リング
される補償電荷信号を選択するよう論理的に分析される
。次に前者の米国特許は空気動力学的効果及び電荷誘導
効果についての補償信号を発生するため７ビットの印刷
データパターンをモニターする事を教示する。これは基
準満の前の４個の満、基準滴の後２個の満及びその基準
滴自体をモニターする。これら７個の滴についての２進
パターンに基づき、各々の可能なアドレスに対する所定
の補償値を含む読取専用メモリをアドレスする。しかし
上記パターンはいずれも比較的長期間にわたる空気動力
学的抗力の効果を補償する事について何ら教示していな
い。

このような効果を補償しようとする場合の問題点の１つ
は修正しようとするパターンの数である。もしも基準滴
から３坪高位層分も離れた滴が効果を及ぼすならば、修
正を必要とする可能性をもつパターンの数は２のにもな
る。夫々についてまた全ての可能性について滴補償値を
別個に記憶するというの実際的でない。従って本発明の
第１の目的は長期間にわたる空気動力学的抗力を含む全
ての誤差のもととなる効果を補償するようインク滴の飛
行経略を修正する事にある。本発明を要約すると、基準
満の直ぐ近くの満については全てその各滴毎に補償し、
また基準滴から遠く離れた満についてはその滴複数個か
ら成るグループについての効果を千既橋して補償する技
法により上記の目的が達成される。

基準満の前の方の２，３の満期間の滴及び基準満の後に
続く１個の満期間については各滴毎に電荷斥力、電荷誘
導及び空気動力学的抗力の直接の効果を補償する。遠く
にある複数個の滴についてはこれらの誤差効果の大きさ
に従ってグループ分けする。長期間にわたる空気動力学
的抗力の効果は基準滴からの距離に従って非直線的に減
少する。基準滴から遠いほど補償修正量を決定する為の
グループのそれを構成する滴の数を多くする。従って、
本発明は補償装置の実際的な限界を保ち乍らインクジェ
ットプリンタに於る全ての飛行経路誤差を修正すること
ができる。例えば、２３２の補償修正を行う必要がある
ものについては正確なインクジェット印刷を維持し乍ら
公１の補償修正を行なう程度に減少できる。上記の問題
の基本的な解決策は上述のように基準滴の直ぐ近くの満
については全くその各滴毎に基準満を補償し、また基準
満から遠くの満についてはその複数個の満から成るグル
ープの効果を概括して補償する事である。

この問題に対する解決策の１実施例を本明細書の第１図
、第２図及び第３図に示す。しかし更に印刷データパタ
ーの組合わせによる印刷誤差分布を考慮して印刷データ
パターン間のトレードオフ（交換）を行なえばこの限ら
れた同じ容量のメモリを使用しても印刷の質を改良する
事ができる。従ってこの改良発明の目的は満の飛行経路
を修正するのに利用できる補償値の量についてシステム
に所定お限界がある中で外観上最高度の印刷の質を得ら
れるようにインク滴の飛行経路を修正する事にある。

この改良発明によれば、インク滴の飛行経路を修正する
のに使用される補償効果を決めるため印刷データパター
ンをモニターし、複数の印刷データフロック化技法即ち
印刷データグループ分け技法のうちから１つを動的に選
択する事によって上記の目的が達成される。

或る技法即ち或るモードでは、基準満の近くの個々の満
のみに基づいて修正される。このモード‘ま基準滴の近
くの満のうち高い割合の数の満が印刷紙へ基準満と同じ
経路に沿って飛行するとき使用される。他の選択し得る
モードでは、基準滴の近くの滴の効果が個別的に修正さ
れ、遠くの複数個の滴の効果が１つの大きなブロックと
して修正される。更に別の選択可能なモードでは、遠く
の複数個の滴が大きな１つのグループとして惨正される
代りに、もっと小さな幾つかの副ブロックに区分けされ
その副ブロック中の満の効果が疹正される。遠くの満が
副ブロックとしてグループ分けされる場合は、基準滴に
対し遠くの滴と近くの滴との間のりンク即ち橋渡しとし
て鰯ら〈印刷データのパターンに基づき修正される。修
正効果の為にデータを動的に選択する際の大きな利点は
殆んど若しくは全く誤差を生じないパターンの為の修正
値を記憶するのに使用される記憶スペースが、大きな誤
差を生じるパターンの為の修正値を記憶するよう再割当
てできる事である。

換言すると、基準的の近くの複数個の滴のうちの多くの
ものが同じ飛行路を飛行する場合には遠くの滴の効果が
基準滴に働かないような煩向がある。従って修正値とし
て考慮し記憶する必要のある大きな誤差を生じる印刷パ
タ−ンの組合わせはもっと少なくなる。こうして節約さ
れる記憶位置は、遠くの滴が基準満の飛行経略にもっと
強い効果を及ぼす様なパターンの為に修正値を記憶する
のに使用できる。その結果、印刷データに基づいて修正
モードを動的に選択すると修正値の記憶量が同じである
割には、外観上高品質の印刷が得られる。第１図の実施
例では、インクジェットヘッド１０でドラム１２上に装
置された媒体を印刷している。

ドラム１２が回転する際、ドラム１２の表面に装着され
た全体のページを印刷するようにインクジェットヘッド
１０がドラム１２の軸に平行にインデックス移動される
。インクジェットヘッド１０のインクは加圧され、イン
ク流１６となってノズル１４から射出する。更に、イン
クジェットヘッド１０の変換器がインクジェットヘッド
１０中のインク空洞部に振動を与える。この振動則ちイ
ンク中の圧力変動によりインク流１６が複数個の満に分
離する。インクジェットヘッド１０の変換器は摘発生駆
動器１７によって駆動される。

この摘発生駆動器１７に与えられるクロック信号が滴の
周波数及び滴間隔（滴相互の距離）を制御する。このシ
ステムを同期させるため、このクロツク信号はシフトレ
ジスタ３０やドラムモータ駆動回路１９にも与えられる
。シフトレジスタ３川まクロック信号の立上りによって
シフトされる。ドラム１２及びモータ２１の速度は、タ
コメータ２３から、位相をロックしたル−フ。回路２５
を経てドラムモータ駆動回路１９へフィードバックさせ
る事によってそのクロックに対し変動のないよう保持さ
れる。インク流１６が満に分離する位置で帯電リング１
８がそのインク流１６を取巻いている。ノズル１４及び
インク１６は導電性である。ノズル１４がアースされ、
帯電リング１８に電位が与えられていると、インク流１
６からインク満に分離されるまさにそのとき電荷がその
インク満に捉えられる。インク満は前方に飛行して行く
とき、偏向電極２川こより与えられる電界を通過する。

インク滴′は電荷を担持していれば偏向電極２０相互間
の蟹界により偏向される。高い電荷を挺持する滴はガタ
ー２２に偏向され、低い電荷又は電荷を担持しないイン
ク滴はそのガター２２を通り過ぎて「ドラム１２に損持
される印刷媒体に点を印刷する。ガター２２で捉えられ
たインクはインクジェットヘッド１０へインクを供給す
るようにインクシステムで再循環されても良い。第１図
の実施例では、データのとき印刷滴に電荷が与えられな
い。

もしも誤差効果がなければその印刷滴は帯電されないま
まなのだが、誤差効果がある為にその印刷滴の補償電荷
が与えられる。この補償電荷は、ドラム１２上の印刷媒
体までの正しい飛行経路を得るのに必要な修正に従って
印刷滴毎に変わる。帯電リング１８に印加される帯電電
圧はガター（非印刷）電圧か又は補償電圧かである。

スイッチ２４はガター電圧発生器２６からガター印刷電
圧をまたデジタルァナグ（Ｄ／Ａ）変換器（ＤＡＣ）２
８から補償電圧を受ける。

シフトレジスタ３０の基準滴Ｒ位置の０ビットにより基
準滴ＤＲがガターへ入れられるべき事を表わす。従って
、シフトレジスタ３０の基準滴ステージからの２進値の
川こより、スイッチ２４がガター電圧発生器２６を帯電
電極増幅器３４へ接続する。他方、もしも基準満が印刷
されるべきものであれば、シフトレジスタ３０中のＲス
テージが２進値の１をそこに記憶させている。２進値の
１がスイッチ２４へ与えられると、そのスイッチ２４に
よりＤ／Ａ変換器２８から帯電電極増幅器３４へ補償信
号が与えられる。

Ｄ／Ａ変換器２８は読取専用メモリ（ＲＯＭ）３２から
デジタル補償信号を受ける。

ＲＯＭ３２からデジタル値を表わすワードの大きさはそ
のＲＯＭ３２の容量によるが、典型例としては５１２個
の可能なしベルを持つ補償信号を表わす９ビットのワー
ドが使用される。９ビットワードがＤ／Ａ変換器２８に
よってアナログ信号に変換され、スイッチ２４に与えら
れる。

スイッチ２４からの信号は帯電電極増幅器３４によって
増幅され、帯電リング１８に与えられる。補償信号を発
生するため、ＲＯＭ３は公１個のメモリアドレスを含み
、各アドレスに滴の特定のデータパターンの為の補償電
圧を含む。

第１図の美施例では、基準満の後の１滴と基準滴の前の
３０商とがモニターされる。従ってシフトレジスタ３０
はその基準満と上記モニターされる追加の３１滴との為
の印刷データを一時的に記憶する３２個のステージを有
する。尚、緒■。はそのような後続滴である。滴Ｄ，乃
至Ｄ３ｏは基準滴ＤＲの直ぐ前にある滴である。第１図
が図式的な表示であり、寸法も正確でないので、基準滴
ＤＲから印刷媒体１２までの図示の距離も３の周期間分
になっていないが、実際の動作ではその距離は３疎商期
間分（距離で表わした満期間は瓶の速度に摘発生周波数
の期間を乗じたものに等しい）を超えるであろう。先行
滴■，乃至Ｄ７と後続滴ＤｏとはＲＯＭ３２の為のアド
レスレジスタ３３へクロツク＋△ｔ時間に個別的に与え
られる。

この時間、クロツク＋△ｔ時間はシフトレジスタ３０が
シフトした後であってそのクロックサィクル中茎準摘Ｄ
Ｒが分離してしまう前の短い時間に生じる。これらの前
後の滴は各々その基準滴ＤＲに近い位置を飛行している
ので、それらの印刷データパターンが変化する毎に基準
滴の飛行時間にかなりの誤差効果を各々が生じる。個別
的な修正を行なおうとする先行滴の数はＲＯＭ３２の大
きさと、最遠方の満の次に遠方にある満が基準滴に与え
る効果との設計上の兼ね合いの問題である。先行滴をグ
ループ分けし始めるのをいつにするかを決めるための基
準（ガイドライン）の１つを下記に示す。

個別的に修正される滴のうちの最後の滴が基準瓶にＺボ
ルトの補償信号を必要とするような誤差効果を有するな
ら、全部一緒でＺボルトの修正を与える役割を担うよう
な上記滴の次のｎ個の瓶が１つの補償ビットを決めるも
のとなるようグループ化され得る。これはブロック補償
信号をつくるための滴のグループ分けを選択する数ある
方法のうちの１つである。他の代替方法については後で
説明しよう。第１図の実施例では、残りの先行滴は下記
の通りグループ化される。

ブロックＡ則ちグループＡは先行滴虹，６乃至Ｄ３ｏを
含む。ブックＢは滴Ｄ，．乃至Ｄ，５を、フロックＣは
滴Ｄ８，Ｄ９及びＤ，ｏを含む。これらのブロツは夫々
ＲＯＭ３２中のアドレスレジスタ３３で使用されるアド
レスの１ビットのコードを発生する役割を担う。第１図
で、或るフロツク中の印刷データに基づき１アドレスビ
ツト又は０アドレスビットとしてそのブロックを指定す
る基準は各ブロックの論理装置の出力のところに表示す
る。ブロックＣ論理装置３６の場合、もしも滴Ｄ８乃至
Ｄ，。のどれかが印刷滴であれば、フロックＣ論理装置
３６は１というコード出力を生じる。換言すると、ｎを
ブロックＣ中の２進数の１の個数であるとすればｎ＞０
のとき１出力を生じる。ブロックＣ論理装置３６はシフ
トレジスタ３０の任意のステージＤ８，び又はＤ，ｏが
２進数の１を含む場合に２進数の１という出力を発生す
るように単なるＯＲ回路を使用しても良い。ブロックＢ
論理装置３８がシフトレジスタ３０のＤ，．乃至Ｄ，５
をモニターし、２進数の１の総数が１個よりも大きいか
調べる。もしも滴Ｄ，．乃至Ｄ，５のうちの２個以上が
印刷滴であれば、ブロックＢ論理装置３８は２進数の１
出力を生じる。同様に、ブロックＡ論理装置４０もシフ
トレジスタ３０のステージＤ，６乃至Ｄ３ｏをモニター
し、２進数１の総数が４個よりも大きいか調べる。従っ
て、もしも滴Ｄ．６乃至Ｄ３ｏのうちの５個以上が印刷
滴であれば、ブロックＡ論理装置４０が２進数の１出力
を生じる事になる。フロツクＢ論理装置３８に充てられ
る論理装置の１例を第２図に示す。

ＯＲゲート４４と組合わされたＡＮＤゲート４２が滴Ｄ
，．乃至Ｄ，４のいずれかの印刷状態と組合わされた滴
Ｄ．５の印刷状態を調べる。ＯＲゲート４８と組合わさ
れたＡＮＤゲート４６が滴Ｄ，．乃至Ｄ，３のいずれか
の印刷状態と組合わされた滴Ｄ，４の印刷状態を調べる
。同様にＯＲゲート５０と組合わされたＡＮＤゲート５
０が滴Ｄ，．又Ｄ，２の印刷状態と組合わされた滴Ｄ，
３の印刷状態を調べる。最後に、ＡＮＤゲート５４が緒
■，．及び滴Ｄ，２をともに印刷されるものか否か調べ
る。これらの全ての可能性がＯＲゲート５６のところへ
論理的に集められ、ブロックＢ論理装置３８からの出力
としてｎ＞１を表わす信号を発生する。このほかにも滴
Ｄ，．乃至Ｄ，５のうちの２個以上のものが印刷滴であ
るか調べるどんな論理設計の構成も使用できる。或るグ
ループの出力に１つのビットコードを指定する前に必要
なグループ即ちブロックに於る１の個数を調べるには種
々の技法が使用できる。

ブロックＣ論理装置３６の場合のｎ〉０、フロックＢ論
理装置３８の場合のｎ＞１、及びブロックＡ論理装置４
０の場合のｎ〉４といった基準は全て実験的に決定され
た。このときの手順は種々の特定のパターンについて正
しい位置に印刷滴をもたらすのに必要な補償電圧をモニ
ターする事を含んでいた。各ブロックで選択したパター
ンは、０からそのブロック中の最大数までの連続する印
刷滴であって且つそのブロックの中心付近にそれらの連
続する印刷滴を集めたものであった。観察しているとき
の滴のブロックのほかの滴は基準満を除けば全てガター
滴であった。各ブロックの各パターン毎に修正電圧をと
ってみた。そのうちの最大修正電圧と最小修正電圧とを
平均した。平均値よりも低い修正電圧しか必要としない
パターンをそのグループでは１ビットと名付けた。その
平均値よりも高い修正電圧を必要とするパターンをその
グループでは０ビットと名付けた。例えば、ブロックＡ
論理装置４０で（印刷）滴の個数が４個か又はそれより
も少ない場合、その修正電圧はそのフロックについての
平均修正電圧よりも大きかった。また満の数が５個又は
それよりも大きい場合は、修正電圧がそのブロックにつ
いての平均修正電圧よりも小さかった。尚、この複数個
の滴を含むブロックの出力値を１にするか０にするかは
、該ブロック中の滴が全てガターに向かう非印刷滴であ
る場合に必要な補償値の大きさの少なくとも半分の値を
基準にしても良い。

或るブロックの補償値をいつ変えるかを指定する為のこ
の基準は、このインクジェットプリンタの印刷の質を実
質的に改良する。

印刷誤差の分布を分析して行くと高品質の印刷を生じる
本発明の他の実施例が引き出される。第３図は最も遠隔
の満を１つにグループ分けする簡単な実施例を示す。補
償値を記憶する４Ｋ〆モリの制限がある中で、印刷誤差
及び印刷のサンプルの質が悪い方の中でも比較的ましな
場合である。４Ｋメモリという制限がある事はこのメモ
リをアクセスするのに使用され得るアドレスビットの数
が１２ビットまでという事を意味する。

従ってこの事はモニターできる滴の数が１２個か又は、
グループ即ちブロックとして幾つかの滴がモニターされ
る場合個々にモニターできる滴の数が１２個よりも少な
い個数となる事を意味する。第３図では基準満の後の後
続滴と基準満の前のそれに近い方の１の画の先行滴とは
個別的にモニターされる。先行滴のうちの７個の満（滴
Ｄ，．乃至Ｄ．７）が１つのグループとしてモニターさ
れる。第３図の実施例の動作は第１図のものの動作とほ
ぼ同じである。

インク流中の満の印刷データはバッファの轍らきを為す
シフトレジスタ６０中に入れられる。後続滴Ｄｏ及び先
行瓶Ｄ，乃至，ｏはＲＯＭ６４のアドレスレジスタ６２
に直接与えられる。滴Ｄ，．乃至Ｄ，７はｎ２３論理装
置６７によって解析される。滴Ｄ，．乃至Ｄ，７のうち
の３個以上が印刷滴である、即ちシフトレジスタ位置Ｄ
，．乃至Ｄ，７のうちの少なくとも３個に２進数の１が
記憶されていればｎＺ３論理装置６７は２進数の１を生
じる。第１図に示すように、シフトレジスタ３０又は６
０は各滴クロックサィクルの始めにシフトされる。

その後間もなくクロック＋△ｔ時間にシフトレジスタ６
０からの値及びｎ２３論理装置６７の出力がアドレスレ
ジスタ６２にロードされる。従ってアドレスレジスタ６
２には分離時刻の前に新しいパターンアドレスがロード
される。アドレスレジスタ６２中のアドレスにより引出
せる補償値は〜ビット値であり、これはＤ／Ａ変換器（
ＤＡＣ）６６に通される。

そこでこの９ビットはＤ／Ａ変換器６６により５１２個
のアナログ値のうちの１つに変換される。これらのアナ
ログ補償値は帯電電極増幅器（第１図の３４等）によっ
て帯電電極１８に与えられる。基準滴ビットが２進数の
０（ガター滴）であれば、Ｄ／Ａ変換器６６によってガ
ター電圧が発生される。

この基準滴ビットから２進数の０が得られるとＲＯＭ６
４からの値に拘らずその最大出力電圧を発生するようＤ
／Ａ変換器６６に信号を出す。この滴は最大電圧（ＭＡ
Ｘ）で以つて帯電され、第１図に示すガタ−に偏向され
る。もしも基準滴が印刷滴即ち２進数の１であればＤ／
Ａ変換器６６がＲＯＭ６４から受けた補償値に基づく帯
電電極電圧を発生する。個別的にモニターされる先行滴
の総数、サンプル例Ｎ丁の関数として、及び印刷密度の
関数として、印刷誤差の分布を解析すると、更に印刷の
質を改良する本発明の代替実施例である改良発明に到達
する。

第４図は種々のサンプルの大きさＮＴの場合の誤差値を
生じる印刷の組合わせの数に対する印刷誤り値のグラフ
である。夫々の曲線則ち関数は別個のＮＴを表わす。下
記で説明するように、この解析の結果から、先行滴につ
いて印刷データのパターンに基づきブロック分けを動的
に調節する事によって更に印刷の質が改良され得る事が
判る。第４図の曲線は大よそであり精度の高いものでは
ない。

１１個の先行滴が個別的にモニターされるときの印刷の
誤差の分布をＮＴ＝１１の曲線が票示する。８個の先行
滴がモニターされるときの印刷誤差分布をＮＴ＝８の曲
線が表示する。

一般に、個別的にモニターされる満の数が少なくなれば
なるほどその分布曲線は平らに広くなり、組合せの中心
点則ち最高の数はグラフの印刷誤差軸上で更に外側の点
となる。印刷の質という観点からは、印刷貢上で最も問
題のある誤差は分布曲線の右側である。

誤差分布曲線の左側部分の印刷誤差は、右側の部分の誤
差が頁上で目立つのに対し、目立たない。より多くの滴
が個別的にモニターされ得るように非常に大きなメモリ
が利用できるならば、この印刷誤差分布がグラフの左の
方へ即ち印刷誤差の０の点の方へ動いて最釘のような形
の中に押し込められる事を上記の曲線は示している。勿
論、このようなシステムは大きな容量のメモリを必要と
するので実際的でない。前述のように、基準滴の直前の
割合少数の滴が個別的にモニターされ、多数の滴がグル
ープとしてモニターされても良い。第４図で、１１滴の
満をモニターする代りに８滴を個別的にモニターする事
を選択すると、印刷誤差分布曲線が全体的に右方に移動
する。

しかしＮＴ＝８の場合の印刷誤差分布は印刷密度則ち８
ビットのサンプル例の印刷滴の数に基づいて幾つかの領
域に分ける事ができる。この曲線の右側部分の斜線領域
は印刷滴の数が３に等しいか又はそれよりも少ない（ｎ
Ｓ３）場合即ち印刷密度が低い場合の全ての組合せを表
わす。ＮＴ＝８の左側の斜線部分は、８個の瀬のうちの
５個以上の満が印刷滴（ｎ２５）の場合則ち印刷密度が
高い場合の全ての印刷滴の組合せを表わす。この分布の
うちのｎ２５の部分は、もしも基準滴の近くの満のちの
多くの滴が印刷滴であれば基準満が印刷媒体に向って飛
行する際それらの滴が基準滴に対する空気動力学的遮蔽
を与えるのではないかという予測を確証するものである
。逆に云えば、８個の満のうちの３個乃至それ以下の滴
が印刷滴であれば、基準滴が印刷媒体に向かって飛行す
るときその基準滴に対し、ほんの僅かしか遮蔽しなくな
り、印刷誤差も増大する。ｎ２５の場合のパターンに対
するメモリ中の記憶位置を借りてきてｎ＜３の場合のパ
ターンに貸し与えるならば、最悪の場合の印刷誤差をも
っと低くできるだろう。

換言すると、８個の滴のうちの３個乃至それ以下の滴が
印刷滴であるときは基準滴から８滴よりも遠くにある滴
が大きな効果をもつ。従って最初の（基準滴に近い方の
）８個のうちの５個以上の滴が印刷滴である全ての場合
については、その８個の満についてのパターン変化のみ
をモニターしてＲＯＭの電荷修正値をアドレスする事に
なる。ビット９，１０及び１１を用いない事により節約
したメモリは、最初の８個のうち３個以下の滴が印刷滴
である場合の修正値をもっと多く記憶するのに使用でき
る。再度第４図を参照すると、ＮＴ＝８（３：５）で表
わした破線の曲線は上記のメモリ交換技法の場合の印刷
誤差分布を示す。

実際、ＮＴ＝８の波形はＮＴ＝８（３：５）の波形を形
づくるよう圧縮される。その結果、Ｎ丁＝１１の波形の
印刷誤差の多い方の部分と比較すると改良される。しか
し印刷誤差の少ない方の部分と比較すると改悪される。
しかし印刷誤差の大きい方の部分の方が目立つので、全
体的な印刷の質を改良するという点では魅力のある選択
である。実際にも、このようなメモリスペース交換技法
は、補償値を記憶するためのメモリの用法を最適にする
為、夫々異なる最適の印刷誤差パターンをモニターする
事を必要とする３つの部分にＮＴ＝８の波形を分ける。

メモリをアドレスする最初のモードは最初の８個の先行
滴のうちの５個以上が印刷滴の場合である。第２のモー
ドは最初の８個の満のうちの４個が印刷滴の場合である
。そして、最後の第３のモードはその８個のうちの３個
以下が印刷滴の場合である。換言すると、最初の８個の
滴のうち印刷満が幾つあるかによって、印刷データ中の
モニターすべきパターン及びメモリをアドレスするため
の印刷データのブロック化則ちグループ分けを動的に変
化できる。印刷データの動的なグループ分けを行なう実
施例を第５図に示す。

本装置ではＮ・＝８の曲線を第４図に示した３つの部分
に分ける。この為に、基準滴の直前の８個の滴について
それらの印刷データをモード選択論理装置７２でモニタ
ーさせる。印刷データレジス夕７川ま基準滴Ｒ、１個の
後続滴Ｄｏ及び１７個の先行滴Ｄ，乃至Ｄ，７の為の印
刷データを含む。モードで制御されるモード制御ゲート
７３は補償値記憶装置７５で使用されるアドレスを形成
するようモード選択論理装置７２からのモード信号に応
答する。

第５図の実施例では、補償値記憶装置７５が１２個のビ
ットでアドレスされる。この１２個のビットは印刷デー
タレジスタ７０中の印刷データビットからモード制御ゲ
ート７３によって形成される。モード制御ゲート７３は
印刷データレジスタ７０からデータビットＤｏ及びＤ，
７を受取る。

モードーでは、Ｄ，乃至Ｄ８中で２進数が１のものの数
がモード選択論理装置７２から信号を受けたとき５に等
しいか又は大きい場合であるが、Ｄｏ及びＤ，乃至Ｄ８
を補償値記憶装置７５の為のアドレスとしてそのモード
制御ゲート７３を使用する。アドレス中の最後の３個の
ビットが０にセットされる。結局、モード１ではモニタ
ーされるデータパターンＤｏ乃至Ｄ，７のうち、帯電し
ようとしている滴に対し近くの位置にあるデータパター
ンの部分Ｄｏ乃至Ｄ８をグループのコードと組合わせな
いアドレスが得られる。の３個のビットを０にセットす
るとメモリベースが節約され、そのスペースを後でモー
ド３の間使用できる。モード２では、Ｄ．乃至町８のう
ち２進数の１のものの数が４に等しく、モード制御ゲー
ト７３が印刷データビットをＤ，．乃至Ｄ，７にグルー
プ分けする。

これらのデータビットは全くグループ則ち全フロックに
対する１個のデータビットＢの中に形成される。従って
、モード２ではモード制御ゲート７３がグループ分けさ
れなかったデータパターンＤｏ，Ｄ，乃至Ｄ，ｏを、グ
ループ分けされたＤ，．乃至Ｄ，７のグループに対する
コードＢと組合わせて補償値記憶装置７５の為のアドレ
スを形成する。モード３では、Ｄ，乃至Ｐ８のうち２進
数の１のものの数が３に等しいかそれよりも小さい場合
であるが、モード制御ゲート７３がモードー中に節約さ
れたメモリ位置を使用させる。更に、モード３は補償値
記憶装置７５をアドレスする２つの段階郎ち２つのレベ
ルで動作する。第１のアドレス段階中、モード制御ゲー
ト７３は補償値記憶装置７５をアドレスするためグルー
プ分けされなかったデータビットＤｏ及びＤ，乃至Ｄ，
．を使用するだけである。アドレスされる補償値がＶｃ
Ｅ記憶装置７７の中にロードされる。そこでこのモード
制御ゲート７３は印刷データ中に２つの状態則ちＤ９，
Ｄ，。及びＤ，．が全ては２進数の１でなく、Ｄ，２発
至Ｄ，７が全ては２進数の０でない状態が存在するなら
ば第２のアドレス段階に進む。これらの状態のいずれか
が存在するならば、モード３のアドレス動作が第１段階
で停止する。これは実際上、もっと遠い滴位置でのデー
パターンの変動を調べる事が、これらの状態の下では必
要ない事を意味する。Ｄ９，Ｄ，。

及びＤ，．が全ては２進数の１でない場合とＤ，２乃至
Ｄ．７のうちに２進数の１が１つでもある場合に第２段
階即ちモード３に於ける第２レベルのアドレス動作に進
む。第２段階のアドレスはデータビットＤ，乃至Ｄ８を
反転させる事によってまた遠くの位置にあるデータパタ
ーン部分即ちデータビットＤ，２乃至Ｄ，７を３つのデ
ータグループにグループ分けし、フロックビツトのコー
ドＢ，，＆及び技に結びつけする事によって発生される
。後続ビットのデータビットＤｏもアドレス中の第１ビ
ット位置で使用される。Ｂ，Ｂ２及びＢ３のビットが１
個又はそれ以上の２進数の１を有するという事実及びＤ
，乃至虹８のデータビットが反転されたという事実は第
２のレベル則ち第２段階のアドレスが、１対１という対
応でモードーの間に節約されたアドレスに同一となる事
を意味する。モード制御ゲート７３によって発生される
アドレスによってアドレスされる補償値を用いる為、Ｖ
ｃＥ記憶装置７７及び△ＶｃＥ記憶装置７９、橋渡し論
理装置８１並びに加算器８３が使用される。

モード３の第２段階を除く全ての場合に於いて、最新の
補償値がＶｃＥ記憶装置７７に記憶される。そこからＶ
ｃＥが加算器８３を通して帯電電極に印加される。モ−
ド３の第２段階に於いて加算器８３は△ＶｃＥ増分をＶ
ｃＥ電圧に加える。これはモ−ド３の第２段階の間補償
値記憶装置７５からの補償値△Ｖｃ８記憶装置７９の中
にロードする事によつて行なわれる。モード３の第２段
階のアドレスが補償値記憶装置７５のうちの３個の増分
補償値をアクセスする毎にそのうちの１つがＶｃＥ記憶
装置７７の中の補償値に加算されても良い。

３個の△ＶｃＥ電圧のうちのどの１つがＶｃ８電圧に加
えられるべきかは橋渡し論理装置８１によって制御され
る。

橋渡し論理装置８１は、データビットＤ９，Ｄ，ｏ及び
Ｄ・・のうちの２進パターンがデータビットＤ，乃至Ｄ
８及びＤ，２乃至Ｄ，７間の橋渡し効果を奏するという
事実を反映してそのように名付けられている。換言する
と、基準満に対する滴Ｄ，２乃至Ｄ，７のパターンが奏
する効果の強さは滴Ｄ９，Ｄ，。及びＤ，．の橋渡し効
果に依存する。橋渡し論理装置８ １は、Ｄ９，Ｄ，。
及びＤ，．中の２進数が１であるものの数が０であるか
１個であるか或いは２個であるかによって、△ＶｃＥ記
憶装置７９から３個の△Ｖｃ８増分のうち、帯電電極電
圧ＶｃＥに加えるべき１つの増分を選択する。このよう
に、第５図の装置は印刷データパターンに従って種々の
印刷データビットのグループ分けを動的に選択した。

更に、小さな誤差しか生じない印刷データの組合せがそ
れらのメモリ記憶スペースを大きな誤差を生じる事にな
る印刷データパターンに再配置させている。このように
して、モードー及びモード３間で記憶スペースの交換す
る事によって全体として最悪の印刷誤差を小さくする事
ができる。第６図は、本発明の第５図に示した実施例の
詳細を表わす。

第６図のシフトレジスタ７０とモード選択論理装置７２
とは第５図の印刷データレジスタ７０とモード選択論理
装置７２とに対応する。モード選択論理装置７２は滴Ｄ
，乃至Ｄ８をモニターし、これらの３通りの状態即ちｎ
が５以上か、４に等しいか又は３以下であるか（但しｎ
は滴Ｄ，乃至Ｄ８の印刷データのうち２進数が１である
ものの数）を調べる。

ｎ２５であるモード１は、読取専用メモリ（ＲＯＭ）７
４中のアドレスを変えるのに、最初の８個の滴Ｄ，乃至
Ｄ８のうちの印刷パターンの変化だけを利用する。ｎ＝
４であるモード２は、後続瓶と、基準瓶の直前の１の固
の滴とを個々の藤として、また滴Ｄ，．乃至Ｄ，？を１
グループとして処理する則ちモード２は第３図に示す装
置と全く同様に動作する。ｎミ３の場合のモード３は、
モード１で節約されたアドレスを利用し、緒■９乃至Ｄ
，７のパターンに基づいて滴び乃至Ｄ，７のデータのブ
ロック化郎ちデータのグループ分けを変える。モード１
及び他の全てのモードに於いて、後続的Ｄｏの為の印刷
データがアドレスレジスタ７６中の０番目の位置に直接
通される。

また、滴Ｄ，乃至Ｄ８からの印刷データが反転スイッチ
７８を介してアドレスレジスタ７６に通される。この反
転スイッチ７８は下記で述べるようにモード３の間だけ
滴Ｄ，乃至Ｄ８の為印刷データを反転する働らきがある
。通常はこの反転スイッチ７８はシフトレジスタ７０か
らアドレスレジスタ７６へ滴Ｄ，乃至Ｄ８の為の印刷デ
ータを直接通す。更に、モードーでは、状態ｎ２５を表
わす信号線がゲート８０をオンにするのに使用される。
ゲート８川まＯＲ回路８２，８４及び８６に２進数の０
を通し、これらが次にアドレスレジスタ７６の９番目、
１抗蚤目及び１１番目の桁位置に２進数の０を通す。斯
して、モード１ではこの３つの高い桁のアドレスレジス
タ位置が０に強制され、モードーで節約されたこのスペ
ースが下記で述べるようにその後モード３で使用される
。モード２では、シフトレジスタ７０中の印刷データが
、第３図で印刷データがモニターされたのと同じ態様で
モニターされる。

モード２信号則ちｎ＝４の状態信号はゲート８８をオン
にするのに使用される。ゲート８８はＤ９からの印刷デ
ータビットをＯＲ回路８２に、Ｄ，。からのＯＲ回路８
４へ、更にｎ２３論理装置９０からのＯＲ回路８６へ通
す。この最後のアドレスビットはｎ２３論理装置９０に
よるデータ位置Ｄ，．乃至Ｄ，７のグループの分析から
発生される。アドレスレジスタの９番目、１坊蚤目及び
１１番目のビットの為のアドレス位置かＯＲゲート８２
，８４及び８６により読取専用メモリ７４のアドレスレ
ジスタ７６に通る。アドレスレジスタ７６の最初のアド
レス位置はシフトレジスタ７０中の後続滴位置Ｄｏから
生じる。アドレスレジスタ７６中の次の８個の位置はシ
フトレジスタ７０中の滴データ位置Ｄ，乃至Ｄ８から生
じる。換言すると、モード２では、謙取専用メモリ７４
をアドレスするのに後続満と、基準満の直前のｌｑ固の
満が個々にモニターされるとともに滴Ｄ，．乃至Ｄ，７
を１個のデータビットを生じるようグループ化される。
この動作は第３図について前述したのと同じである。モ
ード３では、読取専用メモリ７４が２段階即ち２つのレ
ベルでアドレスされる。

滴ＤＱ乃至Ｄ，７のための第２段階のアドレス動作に於
けるデータのブロック化即ちグループ分けはＤ９乃至Ｄ
，７中の印刷データのパターンに依存する。Ｄ９，Ｄ，
。乃ぴＤ，．が全て２進数の１を含むならば、モード３
で第１段階のアドレス動作だけが使用される。またもし
も滴Ｄ，２乃至Ｄ，７げ全て２進数の０であってもモー
ド３で第１段階のアドレス動作だけが使用される。これ
らの条件のいずれもが満足されない場合は、２段階のア
ドレス動作がモード３で使用される。モード３の第１段
階では、アドレスレジスタ７６へステージＤ９乃至Ｄ，
．からの印刷データを通すようゲート９２がオンにされ
る。

同時にステージＤｏ及びＤ，乃至Ｄ８の為の２進数のビ
ットもアドレスレジスタ７６に通される。斯して、謙取
専用メモリ７４をアドレスする第１段階即ち第１レベル
ではＤｏ及びＤ，乃至Ｄ，．に対する個別のデータビッ
トが使用される。クロックの第１段階の時間＋△ち（Ｃ
ＬＫＰｈ，十△ｔ，）のときＡＮＤゲート９４がオンに
され、レジスタ９６の為にセット信号を与える。そこで
レジスタ９６がゲート９２で通されたＤ９，Ｄ，。及び
Ｄ，．に対する２進ビットを記憶する。レジスタ９６を
シフトレジスタ７０からのＤ９，Ｄ，。及びＤ，．の中
味で以つてセットする前にその論理装置中の遷移がなく
なるようＣＬＫｐｈｌ十△ら信号を使用する。シフトレ
ジスタ７０はクロック第１段階（ＣＬＫＰｈｌ）の立上
り信号によってシフトされる。△ｔ，期間はクロック第
１段階信号の期間の初期に生じる。クロック第１段階と
△らを加えた時間（ＣＬＫＰｈｌ十△ｔ２）の経過後に
、第１段階中読敬専用メモリ７４でアドレスされた補償
値がＶｃ８レジスタ９８にロードされる。

クロック第１段階中の△ｔ，期間パルスの経過後間もな
くクロック第１段階中に△ら期間が生じる。アドレスレ
ジスタ７６がＯＲ回略１００を介してＣＬＫＰｈｌ十△
ちによってセットされる事に留意されたい。

その結果、第１段階中の△ｔ，のときにアドレスレジス
タ７６がセットされ、読取車用〆モリ７４から読出され
た補償値が第１段階中の△らのときにＶｃＥレジスタ９
８にロードされる。要約すると、モード３の第１段階で
は、時刻△Ｌのとき、Ｄｏ乃至Ｄ，．の為の印刷データ
がアドレスレジスタ７６にロードされる。

第１段階の△ｔ２時刻に、読取専用メモリ７４のこの第
１レベルのアドレスをしたとき得られる補償値がＶｃ８
レジタ９８に記憶される。またレジスタ９６は○９，Ｄ
，ｏ及びＤ，．の中味を記憶するよう、△ら時刻にセッ
ト時刻にセットされる。これらの２進値はモード３の第
２段階中下記で説明する通り使用される。ＡＮＤゲート
１０２への入力はモード選択論理装置７２からのモード
３信号、クロック第２段階信号（ＣＬＫＰｈ ２）及び
ＮＯＲゲート１０４の出力である。ＮＯＲゲート１０４
が○９，Ｄ，ｏ及びＤ，．が全ては２進数の１でない場
合か又はＤ，２乃至Ｄ，７が全ては２進数の０ではない
場合にのみ出力を生じる。Ｄ，２乃至Ｄ，７は幾つかの
対にされＯＲ回路１ １０，１１２及び１１４によって
２つずつのグループ分けで３個のブロックを形成する。

ＯＲゲート１ １０は○．２又はＤ，３が２進数の１を
含む場合に出力を生じる。ＯＲゲート１１２はＤ，４又
はＤ．５が２進数の１を含む場合に出力を生じる。ＯＲ
ゲート１１４は○，６又はＤ，７が２進数の１を含む場
合に出力を生じる。ＮＯＲゲート１０８は上記対ブロッ
クの出力をモニターし、ＯＲゲート１ １０，１２及び
１ １４の全てが０出力を生じる場合にのみそれ自体の
出力を生じる。

ＡＮＤゲート１ ０ ６はＤ９，Ｄ，ｏ及びＤ，．をモ
ニターし、Ｄ９乃至Ｄ，．が全て２進数の１である場合
にのみ出力を生じる。そこでＮＯＲゲート１０４はＡＮ
Ｄゲート１０６及びＮＯＲゲート１０８からの出力を集
め、ＡＮＤゲート１０６及びＮＯＲゲート１０８の両方
からの０出力が生じた場合のみ出力を生じる。斯してＮ
ＯＲゲート１０４からの１出力はＤ９乃至Ｄ，．が全て
は１でなく且つＤ，２乃至○，７の全ては０でない事を
意味する。これはモード３の第２段階の状態であり、も
しもそれがＣＬＫＰｈ ２時刻にモード３であればＡＮ
Ｄゲート１０２が出力を生じる。このモード３の第２段
階信号はゲート１１６をオンにして反転スイッチ７８を
切換え且つＡＮＤゲート１１８及びＩ２０をオンするよ
う使用される。反転スイッチ７８をオンにする事はシフ
トレジスタ７０中の○，乃至Ｄ８からの反転されたデー
タビットパターンがアドレスレジスタ７６中のビット位
置１乃至８に与えられる。

ＡＮＤゲート１ １８をオンにする事はＣＬＫ Ｐｈ
２時間十△ｔ，（ＣＬＫＰｈ ２十△Ｌ）時刻にアドレ
スレジスタ７６がアドレスレジスタへの入力線上の値に
セットされる事を意味する。△ｔ，はＣＬＫ Ｐｈ ２
の期間中の或る時間に生じるタイミングパルスである。
ＡＮＤゲート１２０をオンにする事はＣＬＫＰｈ ２十
△ら時刻（ＣＬＫＰｈ２十△ちの直ぐ後）に△Ｖｃ８レ
ジスタ１ ２２が、ＣＬＫ Ｐｈ ２十△ち時刻にアド
レスされた補償値で以つてロードされる事を意味する。
ゲート１１６をオンにする事はＤ，２乃至Ｄ，７からの
対のグループ出力がゲート１１６乃至ＯＲゲート８２，
８４及び８６によってアドレスレジスタ７６へ通される
事を意味する。これらのビットは第２段階即ち第２レベ
ルのアドレス中にアドレスレジスタ７６中のビット９，
１０及び１１へのアドレス入力となる。要約すると、謙
取専用メモリ７４の為の第２レベルのアドレスは、後続
ビットＤｏ，Ｄ，乃至○８の反転データパターン及びＤ
，２乃至Ｄ，７からの対のグループの信号である。

ＣＬＫＰｈ ２十△ら時刻に、ＡＮＤゲート１２０は、
それがＡＮＤゲート１０２によってオンにされているの
で出力を生じる。ＡＮＤゲート１２０からのこの出力は
、第２レベルをアドレスする間アクセスされたアドレス
に記憶された９ビットの補償値をロードするつよう△Ｖ
ｃＥレジスタ１２２をセットする。このように、モード
３ではクロック第２段階２終りのときＶｃＥレジスタ９
８が補償値を含み、△ＶｃＥレジスタ１２２もまたこの
帯電瓶を補償する為の値を含む。△ＶｃＥレジスタ中の
値は３つの部分に分享割される。

読取専用メモリ７４は９ビットの出力を有するのでこれ
らの９ビットは３ビットずつの３つのグループに分割さ
れ△Ｖｃ８レジスタ１２２中に記憶されても良い。レジ
スタ１２２中の３ビットの値のうちの１つがＶｃＥレジ
スタ９８中の９ビット値にデジタル加算器１２４によっ
て加算される。△ＶｃＥレジスタ１２２中の３ビットの
うちのどの１つが加算されるかはしジスタ９６の中味に
よる。レジスタ９６は△Ｖｃ８論理装置１２６によって
分析される。

印刷データビットＤ９，Ｄ，。及びＤ，．中の１のもの
の数が０，１又は２のいずれであるかによって、ゲート
１２８はしジスタ１２２中の３ビット値のうちの１つを
デジタル加算器１２４にゲートする。この選択されたＡ
ＶｃＥ補償値はＶｃＥ補償値に加算されデジタルアナロ
グ変換器（Ｄ／Ａ変換器）１３川こ通される。このＤ／
Ａ変換器１３０の出力が第１図で説明したのと同じ機能
を行なうスイッチ２４に進められる。モード３を要約す
ると、ビットＤ．乃至○８のうちの２進数の１のものの
数が３以下であり、且つビットＤ９，Ｄ，。

及びＤ，．が全て１であるか又はビットＤ，２乃至Ｄ，
７が全て０であれば、そのパターンは十分隔離され、謙
取専用メモリ７４が後続ビット及びビットＤ，乃至○，
．によってアドレスされる。しかし、もしもビット○９
乃至Ｄ，．が全ては１でなく且つビットＤ，２乃至Ｄ，
７が全ては０でなければ、種々のパターンの補償が行な
われる。○，乃至Ｄ８からＤ，２乃至Ｄ，７への補償の
橋渡し効果の強さは○９，Ｄ，。及びＤ．，のうちの１
つであるものの数により異なる。従って謙取専用メモリ
７４の２レベルのアドレス動作によってＶｃＥ補償値に
△ＶｃＥ補償値が加算される。第１レベルに於けるＶｃ
Ｅの値がＤ，乃至○，．からのデータパターンに依存し
、一方でＡＶｃＥ増分に対する第２レベルの値が、対と
なるようにグループ化されたＤ，２乃至Ｄ，７中のデー
タパターン及びＤ９，Ｄ，。及びＤ，．中の２進数の１
のものの数によって表わされる橋渡し効果の強さに依存
する。アドレス動作の第１レベルに於いて、謙取専用メ
モリ７４から読出される９ビットワードがＶｃＥの為の
値を画成する。

アドレス動作の第２レベルに於いては読取専用メモリ７
４から読出された９ビットワードが３個の３ビットワー
ド‘こ分けられる。尚各△ＶｃＥ増分毎に１個の３ビッ
トワードがあてられる。斯して、第２レベルの９ビット
ワードが分けられ、その結果、３通りあり得る橋渡し効
果の夫々に対し３ビット増分の補償ワードが与えられる
（Ｄ９，Ｄ，。及びＤ，．は０，１又は２個の２進数の
１を含む）。△ＶｃＥレジスター ２２がＣＬＫ Ｐｈ
ｌ＋△セ時刻にリセットされる事に留意されたい。

従って、△Ｖｃ８レジスタ１２２は各ＣＬＫＰｈｌ時刻
の終り頃０にリセットされる。従って、△Ｖｃ８レジス
タ１２２はＡＮＤゲート１０２により表示されるように
モード３の第２段階の状態にある場合にのみその中に種
々の値を有する。他の全ての状態の下では、Ｄ／Ａ変換
器１３０に与えられる補償値はＶｃＥレジスタ９８中の
デジタル値によってのみ表わされる。上記の態様で、第
６図の構成が第４図に示すような波形ＮＴ＝８（３：５
）を具体化する。

上記で説明したように、この印刷誤差分布は最悪の状態
を改良させ、これによって印刷された文書を見る人の目
に与える印象を改善する。上記の実施例は夫々コンピュ
ータを使用する事によって具体化されても良い。

帯電電極増幅器に与える補償値を取出す為のコンピュー
タ制御システムを第７図に示す。第７図に示すシステム
のタイミングを表わす波形を第８図に示す。第７図では
、そのシステムのタイミングがタイミング発振器１３２
によって与えられる。

タイミング発振器１３２はコンピュータ１３４のサイク
ルを制御するのに使用されるサイクルクロック信号（第
７図の波形Ａ）を発生する。このサイクルクロック信号
は周波数分割回路（÷Ｍ）１３６によって滴クロック信
号（第８図の波形Ｂ）を発生するように分割される。周
波数分割回路１３６の為の分割フアクタＭは所望の滴周
波数を与えるよう選択され且つ或る滴サイクル中、コン
ピュータが次の滴サイクル中に使用されるべき補償値を
見出すに足るだけの時間を与える。同期論理装置１３８
はインク流からインク満になるような瓶分離を生じる時
刻にそのシステムを同期させる為の同期パルス（第８図
の波形Ｃ）を発生するよう同期論理装置１３８はコンピ
ュータ１３４によって制御される。

第８図の波形Ｄは同期パルス相互間の各サイクル中生じ
る帯電電極電圧の例である。コンピュータ１３４の制御
下の同期論理装置１３８は帯電電極電圧が安定なしベル
になる余裕をもたせられるだけの時間分だけ滴分離時刻
の前に同期パルスを発生する。一般に、この同期パルス
は滴サイクルの最初の四分の一の期間中に発生され、残
りのほぼ四分の三の期間中に滴分離点が生じる。この同
期パルスはデータ源１４０及びシフトしジスタ１４２の
為のクロツクパルスとして使用される。

データ源１４０からの逐次デー外まシフトレジスタ１４
２の中へ同期パルスの立上り（ＬＥ）によってシフトさ
れる。

同期パルスの立上り（ＬＥ）によってシフトされる。同
期パルスの立下り（ＴＥ）は、ゲート１４４が印刷デー
タビットＤｏ及びＤ，乃至Ｄ，？を分析の為コンピュー
ター３４に与えるのを可能にする。斯して、同期パルス
の立上りがデータをシフトレジスタ１４２へシフトする
のに使用され、また立下りがそのデータをコンピュータ
へ並列にゲートするのに使用される。コンピューター３
４は、読取専用メモリ （ＲＯＭ）１４６から補償値を取出す為印刷データパタ
ーンを分析し、その次の同期パルスの立上りでその補償
値をＶｃＥレジスタに転送する。

コンピューター３４はプロセッサ及びメモリを含む。こ
のコンピュータ１３４は読取専用メモリ１４６をアドレ
スするのに使用され得るパターンに印刷データをグルー
プ分け（ブロック化）するようプログラム制御される。
ゲート論理装置１５０は読取専用メモリ１４６をアドレ
スするためコンピュータ１３４により発生されたアドレ
スを通すためコンピュータ１３４によって制御される。
ゲート論理装置１５０１ままたアドレス時に読取専用メ
モリ１４６に記憶された補償値をアクセスするようそし
てその補償値についてそのプログラムによって指令され
る通りに動作するように制御される。そこでその最終的
な補償値がコンピュータ制御下でＶｃＥレジスタ１４８
にゲートされる。Ｖｃ８レジスタ１４８は、同期パルス
の立上りによって帯電電極電圧に対応するデジタル値に
セットされる。計算時間が同期パルス相互間の時間より
も短くなるよう予じめられているので、帯電電極電圧は
同期パルス相互間の１サイクル期間中に計算され同期パ
ルスの次のサイクルに使用される。マイクロコンピュー
タ１３４はガター電圧用のデジタル値を記憶するのに使
用される事もできる。

斯して、基準ビットＲが印刷用でない０ビットである場
合に、コンピューター３４はガター電圧のデジタル値を
ゲート論理装置１５０を介してＶｃＥレジスター４８に
ゲートする。次の同期パルスの立上りで、ガター電圧の
値がＶｃＥレジスター４８の中にロードされる。そこで
Ｄ／Ａ変換器（ＤＡＣ）１５１がそのガター電圧値を帯
電電極増幅器に与える。もしも基準滴Ｒが印刷瓶であれ
ば、その補償値がレジスタ１４川こロードこれ、Ｄ／Ａ
変換器１５１によってアナログ信号に変換され、帯電電
極増幅器に与えられる。第７図の装置の利点は、補償値
を得る為謙取専用メモリー４６をアドレスするための多
数の印刷データをグループ分けする技法則ち印刷データ
ブロック技法を実施するのにコンピュータ１３４でプロ
グラムされ得る事である。

第５図及び第６図についてこれまで説明してきた実施例
を実施するためのコンピュータ１３４のプログラム制御
の一例を第９図及び第１０図のプログラム流れ図によっ
て説明する。これらの流れ図に従ってプログラムされる
とき、コンピュータ１３４は、第４図及び第５図に関し
て以前に説明した３通りのモードに従って印刷データの
グループ分け（ブロック化）を動的に変える。（約１０
りｓｅｃの）１滴サイクルの期間内にアドレスするのを
完了できる程に早ければ任意の数のコンピュータシステ
ムが長い間使用され得るであろう。ここで第９図を参照
すると、基準滴Ｒが印刷滴かガター滴かを調べるため基
準滴Ｒを調べる事からそのプログラムは開始する。

基準満が２進数の０であれば、判断ブロック１５２がブ
ロック１５４へ制御を移す。動作ブロック１５４は計数
値５１１に等しいデジタル値ＶｃＥを与えるようコンピ
ュータを制御する。計数値５１１はガタ−電圧の９ビッ
トのデジタル値に対応する。従って、Ｖｃ８レジスタ１
４８（第７図）が同期パルスによって次にロードこれら
るとき、５１１という計数値がＶｃＥレジス夕１４８に
通される事になる。基準満が２進数の１であれば、プロ
グラム制御は判断ブロック１５６へ進む。判断ブロック
１５６はモードｌ判断ブロックである。もしも印刷デー
タビットＤ，乃至Ｐ８のうちの２進数１の数が５以上で
あれば、プログラム制御は動作ブロック１５８によって
実施されるモード１のブランチへ進む。もしもＤ，乃至
Ｐ８のうちの２進数の１の数が５よりも少なければ、プ
ログラム制御はモード２とモ−ド３とを判断するため判
断ブロック１６０へ進む。モード１では、動作ブロック
１ ５８がＤｏ乃至Ｄ８の為の２進数値に謙取専用メモ
リの為の４Ｋアドレスをセットし、３個の最も高位のア
ドレスビット位置を０にさせる。

そこでプログラム制御は動作ブロック１６２に進み、そ
こでその諸取専用メモリから帯電電極電圧をアクセスす
る為モード１アドレスを使用する。次の同期パルスのと
きこの帯電電極値は第７図のレジスタ１４８の中にロー
ドされる事になろう。判断ブロック１６０がＤ，乃至Ｄ
８中の２進数の１の数が４に等しい事を表示する場合に
は、モード２動作が生じる。

そこでこのプログラム制御は判断ブロック１６４へ進む
。判断ブロック１６４は印刷データビットＤ，．乃至Ｄ
，７のうちのグループを分析する事を表示している。Ｄ
，．乃至Ｄ，７中の２進数が１であるものの数が３以上
であればそのプログラムは動作ブロック１６６に進む。
もしもその数が３よりも少なければ、プログラムは動作
ブロック１６８へ進む。勤作ブ。ック１６６では、デー
タビットＤｏ乃至Ｄ，ｏの為の値にアドレスビットがセ
ットされ、データビットＤ，．乃至Ｄ，７を１グループ
として表わす２進数の１に第１１番目のビット位置がセ
ットされる。動作ブロック１６８はＤ。乃至Ｄ．ｏの為
のデータビットにそのアドレスをセットし、１１番目の
ビットはデータビットＤ，．乃至Ｄ，７のグループを表
わす２進数の０にセットされる。ブロック１６６又は１
６８のいずれかからのモード２アドレスは帯電電極電圧
を得る為読取専用メモリをアクセスする動作ブロック１
６２で使用される。このモード２の帯電電極電圧は次の
同期パルス中に、ＶｃＥレジスタ１４８（第７図）の中
にロードされる。モード３動作は第９図の判断ブロック
１６川こよる「いいえ（ＮＯ）」という判断によって表
示されらる。

この判断ブロック１５６及び１６０がともに「いいえ一
という結果を生じるならば、Ｄ，乃至Ｄ８のうち２進数
の１の数がモード３状態である３以下でなければならな
い。第９図のモード３動作１７０を第１０図に詳細に図
式化する。第１０図では、データビット対Ｄ，２をＤ，
３と、Ｄ，４とＤ，５と、Ｄ，６をＤ，７とともにブロ
ック化即ちグループ分けする事からモード３動作が開始
する。もしもＤ，２及び○，３の一方または両方が２進
数の１を含むならば判断ブロック１７０はブロックビッ
トＢを１セットする。もしもＤ，２及びＤ，３の両方が
２進数の０を含むならば、判断ブロック１７０はブロッ
クビットＢ，を０にセットする。判断ブロック１７２及
び１７４は夫々データビットＤ，４をＤ，５と、Ｄ，６
をＤ，７とともに同じ機能を行なう。フロックビット＆
はもしもＤ，４またはＤ，５が２進数の１を含むならば
１にセットされ、さもなければブロックＢ２は０になる
。同様に、もしもＤ，６またはＤ，７が２進数の１を含
むならばブロックビットＢ３は１セットされ、さもなけ
ればブロックビット＆は０にセットされる。次のプログ
ラムの流れは判断ブロック１７６へ進み、Ｂ乃至Ｂ３中
の２進数の１のものの数が０か判断する。

もしも０ならばプログラムの流れは動作ブロック１７８
へ進む。もしも０でなければ、プログラムの流れは判断
ブロック１８０へ進み、データビットＤ９乃至Ｄ，．中
の２進数の１の数が３か判断する。もしも３ならば、プ
ログラムの流れが動作ブロック１７８へ進む。もしも３
でなけれ‘よ、プログラムの流れはモード３の２段階動
作へ進む。モード３の第１段階では、動作ブロック１７
８がデータビットＤｏ乃至Ｄ，．の為のデータビットパ
ターンにアドレスビットをセットする。

コンピュータ１３４は動作ブロック１８２を介してゲー
ト論理装置を制御する。動作ブロック１８２は動作フロ
ツク１７８でセットされたアドレスビットで以つてコン
ピュータに読取専用メモリをアドレスさせる。読取専用
メモリから得られた帯電電極電圧はそこで次の同期パル
スの間レジスタ１４８にゲートされる。モード３の２段
階動作では、プログラムの流れは判断ブロック１８０か
ら動作ブロック１８４へ進む。

２段階動作の第１段階で、動作ブロック１８４はアドレ
スビットをデータビットＤｏ乃至Ｄ，．の値にセットす
る。

このアドレスは読取専用メモリをアクセスし、第１段階
の為帯電電極電圧Ｖ１ｃ８を得るため動作ブロック１８
６で使用される。プログラム制御は動作ブロック１８８
へ進み２段階動作の第２段階を始める。

動作ブロック１８８で、コンピュータはＤ，乃至Ｄ８の
データビットを反転し、動作ブロック１９０へ進める。
動作ブロック１９０で、コンピュータはアドレスビット
をビットＤｏに、Ｄ，乃至Ｄ８を反転データビットに、
またそのアドレスの位置９，１０及び１１にフロツクピ
ツトＢ，，Ｂ２及びＢ３をセットする。そこでこの第２
段階のアドレスが諸取専用メモリをアクセスするよう動
作ブロック１９２の間使用される。動作ブロック１９２
では、読取専用メモリから譲取られた９ビットの補償値
が各々ビットの３つのセクション△１，△２及び△３に
区分される。

これら３ビットの値は各々、第１段階中に判断されたＶ
ｉｃＥ帯電電極電圧に加算されても良い。この加算動作
はデータビット位置Ｄ９，Ｄ，。及びＤ，．中の２進数
の１の数によって決まる。このプ。グラム制御は勤作ブ
。ック１９０から判断ブ。ック１９４へ進む。Ｄ９，Ｄ
，。

及びＤ，．中の２進数の１の数が０であれば、判断ブロ
ック１９４は動作ブロック１９６へプログラムを進める
。動作ブロック１９６は第１段階中に判断された帯電電
極電圧ＶｉｃＥに△１を加算する。Ｄ９乃至Ｄ，．中の
２進数の１の数が０でなければ、プログラム制御は判断
ブロック１９８へ進み、２進数の１の数が１以上が判断
する。Ｄ９乃至Ｄ，．中の２進数の１の数が１であれば
、帯電電極電圧が動作ブロック２００で形成される。動
作ブロック２００中のコンピュータ１３４は最終電荷電
圧ｙｌｃ８を得るため△２に第１段階帯電電極電圧ＶＩ
ＣＥを加算する。Ｄ９，Ｄ，。及びＤ，．中の２進数の
１の数が０でも１でもなければ、フ。。グラムは動作ブ
ロック２０２へ進む。動作ブロック２０２では、最終帯
電電極電圧ＶｃＥを形成するためコンピュータ１３４が
△３に第１段階帯電電極電圧ＶｉｃＥを加算する。前述
のように、２進数ビットＢ，，塁及び＆により表わされ
るブロック対についての位置Ｄ９，Ｄ，。

及びＤ，．中の２進数が１であるものの数に従って橋渡
し効果が異なる事により、これらの△帯電電極増分は異
なる。動作ブロック１９６，２００又は２０２のうちの
１つにより２段階動作での最終帯電電極電圧が決まると
、その帯電電極電圧は次の同期パルス中レジスタ１４８
（第７図）の中にロードされる。第７図が第６図の実施
例を実施するためプログラム化されるよう説明したが、
前述のどの実施例を実施するのにもコンピュータがプロ
グラム化され得る事は当業者には容易に理解できよう。

更に、シフトレジスタ及び議敗尊用メモリの寸法を変え
且つプログラム化されたコンピュータによって行なわれ
るグループデータビット解析を変える事によって、任意
の数のブロック化又はグループ分けパターンが読取専用
メモリをアドレスするのに使用されても良い。更に、種
々の動的ブロック化又はグループ分けルーチンに３モー
ドよりも多くの又は少ない選択モードを使用する事も出
来よう。

例えば、奇数のデータビットをモード選択に含ませるよ
うデータビットパターンがモニターされれば、本発明は
３つのモードではなく２つのモードを用いるよう実施さ
れ得る。換言すると、基準満の前の最初の７個のデータ
ビットがモニターされてモード選択を行なわせるなら、
４以上及び３以下のモード選択に基づいてメモリ交換が
行なわれ得る。この交換の間には中間状態がないから、
２つのモードしか選択されないだろう。更に、もっと多
くのデータビットがモニターされるなら、或るグループ
のデータビットパターンの、次のグループのデータパタ
ーンに与える橋渡し効果の関数としてより多くのデータ
ビットを動的にグループ分けするようにコンピュータが
プログラム化されても良いであろう。

又、夫々異なる数のデータビットによってグループ分け
されるブロックは各ブロックの出力が基準満に対し、ほ
ぼ同じ大きさの効果を及ぼすように構成ビット数を合わ
せて構成するならば、ＲＯＭでこれら複数のブロックの
出力によるパターンの組合せ全てに対し各々補償値を与
える代りに、フロックの１出力を有するものの数を教え
る事によって１出力が１個の場合の補償値にその数の分
だけ案じたものを、個別的なビットパターンで与えられ
たアドレスによって得られた補償値に加えても良い。

【図面の簡単な説明】

第１図は補償しようとする印刷データの数を少なくする
ため基準滴から遠い滴の為の印刷データほど大きい３つ
のグループにグループ分けされる本発明の一実施例を示
す図である。 第２図は第１図のブロックＢの論理回路に導入され得る
論理回路の一実施例を示す図である。第３図は帯電電極
に印加される補償信号を取出すのに使用される印刷デー
タパターンを少なくするよう遠くの方の印刷データの１
つのブロックだけが組合わされる本発明の簡単な代替実
施例を示す図である。第４図は異なる大きさのデータパ
ターンのサンプルについて印刷誤差がどのように生じる
かを示す図である。第５図は印刷データパターンに基づ
いて印刷データのグループ分けが動的に変わる本発明の
他の改良実施例を示す図である。第６図は第５図の実施
例を詳細に示す図である。第７図は補償効果を得るよう
印刷データパターンのグループ分け即ちブロック化を実
行するためのコンピュータを用いた本発明の他の実施例
を示す図である。第８図は第７図の実施例にあらわれる
幾つかの波形の例をもったタイミング図である。第９図
及び第１０図は第５図の印刷データパターンの動的グル
ープ分け即ちブ。ック化を実行する第７図のコンピュー
タの為のプログラム制御を表示するプログラムながれ図
を示す図である。３０，６０…シフトレジスタ、３２，
６４…ＲＯＭ、３３，６２・・・アドレスレジスタ、３
４…帯電電極増幅器、３６，３８，４０，６７・・・論
理装置、７０…印刷データレジスタ、７２・・・モード
選択論理装置、７３・・・モード制御ゲート、７５…補
償値記憶装置、７７・・・ＶｃＥ記憶装置、７９・・・
△ＶｃＥ記憶装直、８１・・・橋渡し論理装置、８３・
・・加算器。 ○ ］ ＦＩＧ．２ ＦＩＧ．Ｓ ＦＩＧ．４ ＦＩＧ．７ 町 ○ い 〇 ○ 山 ＦＩＧ．８ ＦＩＧ．９ ＦＩＧ．１０

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 滴の飛行が該滴の為の印刷データによつて制御され
   、且つ印刷媒体への該滴の飛行経路の歪により印刷誤差
   が生じるところの帯電滴インクジエツトプリンタの印刷
   誤差を小さくする装置にして、 滴射出手段からのイン
   ク滴流に於ける滴の印刷データパターンをモニターする
   手段と、上記モニターされたデータパターンのうち、帯
   電しようとしている滴に対し上記インク滴流中で遠くの
   位置にあるデータパターンの部分をデータグループにグ
   ループ分けする手段と、 該データグループのデータを
   該グループの印刷データを表わすコードに結びつける手
   段と、 帯電されている滴の飛行経路を制御する為記憶
   装置に記憶された所定の補償値にして、上記グループ分
   け手段によりグループ分けされなかつたモニター済みデ
   ータパターンに一部は基づき且つ該データの印刷データ
   を表わすコードに一部が基づくところの上記補償値を取
   出す手段と、 より成る帯電滴インクジエツトプリンタ
   の印刷誤差を小さくする装置。 ２ 滴の飛行が該滴の為の印刷データによつて制御され
   、印刷媒体への滴の飛行経路の歪みにより印刷誤差が生
   じるところの帯電滴インクジエツトプリンタの印刷誤差
   を小さくする装置にして、 滴射出手段からのインク滴
   流に於ける滴の印刷データパターンをモニターする手段
   と、 上記モニターされたデータ・パターンのうち、帯
   電しようとしている滴に対し上記インク滴流中で遠くの
   位置にあるデータパターンの部分を１以上のデータグル
   ープにグループ分けする手段と、 各データグループの
   データを該グループの印刷データを表わすコードに結び
   つける手段と、 帯電しようとしている滴の近くの１つ
   又は複数の滴についてのモニター済み印刷データ内容に
   基づき複数モードの動作のうちの１つを選択する手段と
   、 上記グループ分け手段によりグループ分けされなか
   つたモニター済みデータパターンを、上記結びつける手
   段からのグループのコードと、上記選択された動作モー
   ドに基づき組合わせるか又は組合わせないかして１つの
   アドレスにする手段と、 帯電されている滴の飛行経路
   を修正する為記憶装置に記憶された補償値を、上記アド
   レスに基づき取出す手段と、 より成る帯電滴インクジ
   エツトプリンタの印刷誤差を小さくする装置。