JPS602776B2 - 電子部品収納パツケージ - Google Patents

電子部品収納パツケージ

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Publication number
JPS602776B2
JPS602776B2 JP51059118A JP5911876A JPS602776B2 JP S602776 B2 JPS602776 B2 JP S602776B2 JP 51059118 A JP51059118 A JP 51059118A JP 5911876 A JP5911876 A JP 5911876A JP S602776 B2 JPS602776 B2 JP S602776B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
package
pins
pin
electronic component
lead
Prior art date
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Expired
Application number
JP51059118A
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English (en)
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JPS52142967A (en
Inventor
啓 細坂
慎吾 村田
亮 正木
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS52142967A publication Critical patent/JPS52142967A/ja
Publication of JPS602776B2 publication Critical patent/JPS602776B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は集積回路(LSI)パッケージに関し、主と
して電子計算機の高速論理用は1を対象とする。
電子計算機においては論理素子の改革に対応して現在ほ
とんどすべてがIC化され、さらには1化へと進んべい
る。
ところでICパッケージについては、DIL(又はDI
P、デュアルインライン)一16ピンのごとく標準化さ
れ、これを実装するプリント配線基板もそのピンの配列
に従って規格化されているが、これに対してLSIパッ
ケージについてはそのような標準化はまだ成されず、回
路の内容によって寸法形状がまちまちであり、プリント
配線基板へ実装する場合にも支障を多く生じ、集積化の
実が上らない。そこでは1パッケージの標準化の試みと
して、‘1}D山ICパッケージのピン数を多くする、
‘214ーサィド・フラット・パッケージ(袴関昭49
一38575)等が従来より提案されているが下記のよ
うな欠点があって採用が困難である。前記‘11につい
ては、‘ィーピン数の増加に従ってパッケージの寸法が
大きくなり実装密度が上らない、‘o}標準的に使用さ
れている16ピンタィブとの混在をさせる場合、例えば
多層配線基板にICとLSIを実装する時に内装で電源
、GND(接地)を供給する必要があるが内層パターン
をそれに応じて標準化できない等の理由で標準化が難し
い、また前記■については、【ィ}プリント配線基板へ
の取夕付けには−般にソルダー・リフロー方式が取られ
ているため、標準のDILと同時に敗付けることができ
ない、【oーDILに合わせてピン間隔を10瓜hiメ
ピツチのままでフラットパッケージ化しても形状はあま
り小さくならない、しかしピッチを縮少す0ればD比パ
ッケージとの現在は難かしくなり、かつ特殊な鋼密基板
を必要とし、製品の原価高を招くのみならず信頼性を低
下するなどの問題を生じる。本願発明者等はパッケージ
におけるリードの導ょ出方向と、パッケージ形状及びリ
ードピンの配置を考慮することにより前記の問題を解決
した。
したがってこと発明の目的は実装密度を低下させること
なく、D山一16ピンICパッケージと混在することが
でき、しかも標準化可能なLSI用パッケージを提供す
ることにある。上記の目的を達成するための本発明の一
つの構成は、集積回路パッケージにおいて、基板底面に
多列のりードピンがすべて該底面と直角方向に楢設され
、リードピンの間隔は標準化されたDIL−16ピンに
パッケージのピン間隔に等しくするとともに、基板の平
面スペースをDIL−16ピンICパッケージの平面ス
ペースの約整数倍とすることを特徴とする。
以下実施例にそって具体的に説明する。
第1図はD山一16ピンICパッケージの2個分に対応
する平面スペースを有するLSIパッケージに本発明を
適用した場合の例を示す。
1は方形の平面形状を有するセラミックパッケージ基板
でその底面にリードピン2が同軸状にかつ面に対してす
べて直角方向に桶設されている。
同図において破線で囲む縦長の形状A,BはDIL−1
6ピンICパッケージのピンの配置を示すもので、本発
明のパッケージのリードピンは上記配置によってこれと
同じピンの間隔で基板の周綾部を1列ないし2列に配列
される。上記りードピンのうち、最上列および最下列の
ピン(図中由で表わす)はGND(接地用)ピンに使用
し、中間列のピン(図中○で表わす)はVEE(電源用
)ピンとして使用し、最下列から1列上の列の■で示さ
れたピンはは1検査用ピンとして使用し、その他のピン
は入力用及び出力用の信号ピンとして使用するものであ
り、これらはそれ3と対応位置にあるDIL−16ピン
のピンの使用形態と矛盾しないものである。
同図dはセラミックパッケージ基板1の上面にLSIテ
ップ取付け用のキャビティ部3を設けたものの例である
3第2図は標準化された内
層パターンをもつプリント配線基板上にD山一16ピン
ICパッケージとこの発明による偽1パッケージとを混
在させて配置させた場合の形態を示す。上記標準化され
たプリント配線基板は第3図に示すように例えば4層の
4配線層を有し、スルーホール孔4が100hiク格子
であげられている。このうち第2層はGND配線用、第
3層はVEE配線用で、GND用あるいはV88用スル
ーホール孔はこれらに接続固定され、他の信号用配線層
S,,S2に対して当該スルーホールはフリーの状態に
ある。このようなプリント配線基板に対して、在来はD
山一16ピンICパッケージを第2図のD.,D2…で
示すように所定間隔で実装するようにしているが、これ
らと混在させてこの発明によるBIパッケージを同図の
L,,L…で示すようにD山一16ピンICパッケージ
2個分のスペースをもって実装する。
この場合、LSIパッケージの上段列2本のGNDピン
はDIL−16ピンICパッケージのGNDピンと共通
のスルーホールに接続され、下段列2本はD比一16ピ
ンICでは使用しないスルーホールに接続されるように
なる。V88用の2本のピンもD比パッケージでは使用
していないスルーホールに接続される。
以上実施例で述べたこの発明によれば、下記の諸効果が
もたらせられる。
{1ー標準化された内層パターンをもつプリント配線基
板上にDIL−16ピンICパッケージと混在させてB
Iパッケージを任意の数、任意の位置に実装できる。t
2}この発明によれば、一つの基板上にリードピンを従
来のピン間隔に合わせて多列にアクシアルに配列するこ
とにより、単位スペースあたりのピン数を増加し、又、
DIL−16ピンICパッケージとLSIパッケージを
混在させてしかも隙間なく配置できるから、実装密度の
向上を期待できる。この発明は前記実施例に限定される
ものでなくこれ以外に下記のように種々の実施態様を有
する。
{1} 第4図は山1パッケージの基板スペースを標準
化されたD山一16ピンICパッケージを同図破線A,
B,Cで囲むように横に3個ならべたスペースをもたせ
たものであり、このようにすることで一つの基板により
多くのリードピンを有するLSIパッケージが得られる
■ 第5図はD山一16ピンICパッケージを横に4個
(同図の破線A,B,C,D)ならべたスペースをもつ
LSIパッケージの例である。
■ 前記‘11,t2}において、リードピンが基板周
辺にそって2列に配列されているが、これを3列とし、
あるいはそれ以外の適当な個所にピンを配置してもよい
■ GNDピンやVEEピンの配置は使用するプリント
配線基板のパターンに応じてその位置を変更できる。
【5’は1パッケージが実装されるプリント配線基板は
平面状のものの他に立体的に構成したものであってもよ
い。
この発明の適用できる分野は集積回路用パッケージ全般
においてである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示し、aは底面図(又は
平命図)、bは正面図、cは側面図であり、同図dは一
部を変更した正面図である。 第2図はこの発明の使用形態を示す平面図、第3図は第
2図で使用されるプリント配線基板の拡大断面構造を示
す概略図である。第4図はこの発明の他の実施例を示し
、aは底面図(又は平面図)、bは正面図、第5図はさ
らに他の実施例を示す底面図(又は平面図)である。1
・・…・パッケージ基板、2・・・・・・リードピン、
3・・・・・・台部、4・・・・・・クリアランス・ホ
ール、5・・.・・・スルーホール、A,B,C,D…
…DIL−16ピンICパッケージのピン配列を示す破
線、D,,○2,D3・・・…DIL‐16ピンICパ
ッケージ、L,L2・・・…LSIパッケージ。 痢十図 絹l囚 桁乙囚 浦3図 精5函

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 基板底面に多列のリードピンがすべて直角方向に植
    設され、リードピンの間隔は所定間隔で二列に配置され
    た外部リードを有する電子部品のリード間隔に等しくす
    るとともに、基板の平面スペースを上記電子部品の平面
    スペースの整数倍とすることを特徴とする電子部品収納
    パツケージ。 2 リードピンのうち、接地用ピンの1部は前記電子部
    品で、接地用として使用されるスルーホールパツド位置
    に一致させた特許請求の範囲の第1項に記載のパツケー
    ジ。 3 リードピンを基板の周縁にそって1列または2列以
    上の多列に配列した特許請求の範囲の第1項に記載のパ
    ツケージ。
JP51059118A 1976-05-24 1976-05-24 電子部品収納パツケージ Expired JPS602776B2 (ja)

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JP51059118A JPS602776B2 (ja) 1976-05-24 1976-05-24 電子部品収納パツケージ

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JP24140185A Division JPS61105860A (ja) 1985-10-30 1985-10-30 Ic又はlsiパツケージの実装方法

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Publication Number Publication Date
JPS52142967A JPS52142967A (en) 1977-11-29
JPS602776B2 true JPS602776B2 (ja) 1985-01-23

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JPS61105860A (ja) * 1985-10-30 1986-05-23 Hitachi Ltd Ic又はlsiパツケージの実装方法

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JPS52142967A (en) 1977-11-29

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