JPS6028093A - 磁気バブルメモリ素子の製造方法 - Google Patents

磁気バブルメモリ素子の製造方法

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Publication number
JPS6028093A
JPS6028093A JP58134303A JP13430383A JPS6028093A JP S6028093 A JPS6028093 A JP S6028093A JP 58134303 A JP58134303 A JP 58134303A JP 13430383 A JP13430383 A JP 13430383A JP S6028093 A JPS6028093 A JP S6028093A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bubble
magnetic
substrate
photomask
marks
Prior art date
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Pending
Application number
JP58134303A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinzo Matsumoto
信三 松本
Minoru Hiroshima
實 廣島
Mitsuru Sekino
充 関野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS6028093A publication Critical patent/JPS6028093A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/14Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は高密度のバブルメモリチップの製造に好適な磁
気バブルメモリ素子の製造方法に関する。
〔発明の背景〕
従来、磁気バブルメモリ素子のチップを製造するのには
、非磁性ガーネット結晶からなる円板形の基板に磁気バ
ブルを保持するバブル磁性膜を結晶生成等により形成し
、この上に高透磁率の磁性材からなる転送パターンをフ
ォトリングラフィ技術で形成している。この場合、基板
とマスクの位置合わせとしては、従来はあまり精度を必
要としないので基板に設けたオリフラDを基準に用いて
いる程度であった。
しかし、近年、磁気バブルが2μm以下になり高密度化
するにつれて転送パターンも非常に小さくなり、この結
果、バブル磁性膜に生ずる磁気バブルの結晶依存性が増
してくるようになってきた。
第1図に示すように、マイナルーブのバブル転送路1上
を、磁気バブルは回転磁界の駆動によって移動してゆく
が、バブル転送路1の中心線2に対して左側の転送路1
aと右側の転送路1bとでは、磁気バブルの移動方向は
逆になる。このため、転送路1aの方向を磁気バブルが
最も移動し易い結晶方位に選ぶと、転送路1bは磁気バ
ブルの移動性が悪くなるという問題がある0 第2図は、バブル磁性膜の結晶方位とバブル転送路の方
向との関係において、動作マージンがどのように変化す
るかを示す説明図である○結晶軸方向を図のように設定
したバブル磁性膜上ニ30゜毎に方向の異なるバブル転
送路を形成したとすると、1つのバブル転送路に対して
左右の転送路における動作マージンが図のようになる。
ここで、各放射線は第1図の中心線2に相当し、その放
射線の左右に付した記号は転送路1a 、 1b の動
作マージンの程度を表わしている。○印は動作マージン
が最も広く、X印は最も狭く、Δ印はその中間である。
このような各方向のバブル転送路のうち、両側がΔ印の
ものが綜合的に動作マージンがよいことになり、バブル
磁性膜の結晶方位に対してバブル転送路の方向を正確に
合わせる必要がある。このため、基板に対してマスクを
精度よく位置合わせする必要があるが、従来は基板のオ
リフラDを使用しているために精度よい位置合わせはで
きなかった。
〔発明の目的〕
本発明は従来のような問題を解決するためになされたも
のであゃ、その目的とするところは、バブル転送路の方
向をバブル磁性膜の所定の結晶方位に精度よく合わせる
ことができるような磁気バブルメモリ素子の製造方法を
提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明はこのような目的を達成するために、基板側に第
1のマークを形成し、バブル転送路のパターンを鳴する
ホトマスクに第2のマークを形成し、両マークを合わせ
て基板とホトマスクの位置合わせするようにしたもので
ある。
〔発明の実施例〕
以下、実施例にエリ本発明の詳細な説明する。
第3図は本発明の一実施例に用いる基板の平面図である
。3は非磁性ガーネット結晶板からなる基板、4は基板
3の表面にエピタキシャル生成により形成されたバブル
磁性膜、5a、5b、5cはバブル磁性膜4に設けられ
た第1のマーク、6は基板3に形成されたオリフラDで
ある。このマーク5a 、5b 、5cはバブル磁性膜
4を液相成長させる過程で目印として形成する方法、又
、ホトマスクを用いてパターン形成する方法等によって
設けられる。又、マークの各位置は図示のほか任意の位
Rに設定できる。
このマーク5a 、5b 、5cはバブル磁性膜4の結
晶方位に対して一定の関係に配置さ扛ているので、マー
クから結晶力位が明らかになる。
第4図は基板3にホトマスクを位置合せした状態の平面
図であり、1はホトマスク、8はホトマスク膜上のコン
テイギユアスディスク形のバブル転送路パターン領域、
9a、9b、9c はホトマスク1に設けられた第2の
マークである。このマーク9a 、 9b 、 9cは
バブル転送路の方向に対して一定の関係に配置されてい
る。マーク9m。
9b 、9cをそれぞれマークSa T 5 b−+ 
5 e K一致させて基板3にホトマスクTを位置合わ
せすることにより、パズル磁性膜4の結晶方向とバブル
転送路の方向とを所望の関係に正確に保持することがで
きる。そしてホトマスクを介してバブル磁性膜4にイオ
ン注入することにより、動作マージンの高いコンテイギ
ユアスディスク形イオン注入デバイスを製造することが
できる。
第5図は他の実施例に用いる基板の平面図である013
は非磁性ガーネット結晶板からなる基板、14はバブル
磁性膜、15a 、15b 、15c 。
15d は基板IQ)周辺に90°間隔で形成された第
1のマークとしての溝、16はオリフラDである。なお
、バブル磁性膜14は溝を形成した基板13上に液相成
長させる。ホトマスクのマークはこの溝に合わせで設け
ることはいうまでもない。
〔発明の効果〕
このように本発明に係る磁気バブルメモリ素子の製造方
法によると、バブル転送路の方向をバブル磁性膜の所定
の結晶方位に精度よく合わせることができるため、動作
マージンが十分にとれ、素子のパズル転送特性を大幅に
向上でき、特に高密度の素子に効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はバブル転送路の概略図、第2図は結晶方位と転
送路方向と動作マージンの関係を示す説明図、第3図は
本発明の一実施例に用いる基板の平面図、第4図はこの
基板にホトマスクを位置合わせした状態の平面図、第5
図は他の実施例の基板の平面図である。 3・・自・基板、4・・・・バブル磁性膜、5a 、5
b 、5c 11e・・第1のマーク、1・assホト
マスク、9a 、9b 、9c eφIIeM2のマー
ク。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板上に磁気バブルを保持するバブル磁性膜を形成
    し、この上にホトマスクを用いて所定のパターンを形成
    する磁気バブルメモリ素子の製造方法において、基板側
    に第1のマークを形成し、ホトマスクに第2のマークを
    形成し、第2のマークを第1のマークに合わせて基板と
    ホトマスクの位置合わせを行なう磁気バプルメそり素子
    の製造方法。 2、第1のマークはバブル磁性膜上に設けた特許請求の
    範囲第1項記載の磁気バブルメモリ素子の製造方法。 3、第1のマークは基板周辺部に溝を形成して設けた特
    許請求の範囲第1項記載の磁気バブルメモリ素子の製造
    方法。
JP58134303A 1983-07-25 1983-07-25 磁気バブルメモリ素子の製造方法 Pending JPS6028093A (ja)

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JPS6028093A true JPS6028093A (ja) 1985-02-13

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