JPS6029227B2 - リ−ドフレ−ム - Google Patents

リ−ドフレ−ム

Info

Publication number
JPS6029227B2
JPS6029227B2 JP52099597A JP9959777A JPS6029227B2 JP S6029227 B2 JPS6029227 B2 JP S6029227B2 JP 52099597 A JP52099597 A JP 52099597A JP 9959777 A JP9959777 A JP 9959777A JP S6029227 B2 JPS6029227 B2 JP S6029227B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
resin
lead frame
gate
cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP52099597A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5433663A (en
Inventor
秀俊 望月
桂三 大槻
猛 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP52099597A priority Critical patent/JPS6029227B2/ja
Publication of JPS5433663A publication Critical patent/JPS5433663A/ja
Publication of JPS6029227B2 publication Critical patent/JPS6029227B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、新規なりードフレームに関する。
現在、電子部品特にトランジスタやIC等の半導体装置
は、モールドレジンによって封止を行なうのが一般的で
ある。この種の半導体装置の製作にあたっては、タブ、
タブリードそれにこれを取り囲む複数本のりード端子を
フレーム(枠)と一体にしたり−ドフレームを用意し、
そのタブ上に半導体べレットを固着し、そのべレットの
外部電極とりードフレームのりード端子とを導電体によ
って電気接続した状態でこれをモールド金型に装填し、
ゲート(金型のモールドレジン流入口)から溶融してい
るモールドレジンをキャビティ内に注入し、それらをモ
ールドレジンによって封止し、しかる後、金型から取り
出してリード端子間の接続部分を切り離すようにしてい
る。
しかしながら、この種のレジンモールドした半導体装置
においては、レジンモールド内にボイドが多発しており
、これが原因となって素子特性の劣化や製品の信頼度を
低下させている。
この種のボィドは、モールド金型におけるキャビテイに
モールドレジンを注入するゲートの近傍に多いことから
、ゲートからキャビティにモールドレジンが注入される
際に、空気を巻き込み、これがボイドを発生させるもの
と考えられる。
そこで、本発明は、以上の観点に基づいて、ポィドの発
生を皆無とするために、新規なりードフレームを提供せ
んとするものである。以下、本発明を添付図面に例示し
たその好適な実施例について詳述する。
本発明にかかるリードフレーム1はモールドレジンを注
入するゲートの近傍に配置されるリード端子2aに、注
入されたモールドレジンが衝突するような突起部3をも
つことを特徴とするものであり、他の部分は従来のもの
と同様な態様である(第1図)。
図示しているものは、フラットパッケージ用のりードフ
レーム1で、4は、ICなどの素子べレツトをダイボン
ディングするためのタブであり、2はダィボンディング
された素子べレットにおける外部電極と導電体によって
電気接続されるリード端子、5はモールド金型における
ゲート部に配置されるモールドレジン受板で、この部分
からモールドレジンが注入されるようになっている。6
は、これらの支持する枠体(フレーム)である。
このような構造のリードフレーム1は、レジンモールド
の際に、注入されたモールドレジンがモールド金型にお
けるゲートより噴出したのち、すぐにその近傍に設けて
いる突起部3に当たることより、モールドレジンの注入
スピードが下がると共に、キヤビティ内においてモール
ドレジンがゲート近傍から埋め込まれる状態となるため
に、レジンモールド中に空気が巻き込まれることがなし
・。
そのため、空気の巻き込みがない状態でレジンモールド
できるため、ボイドのないすぐれたレジンモールド製品
を得ることができる。つぎに、上述したりードフレーム
1を使用したレジンモールド半導体装置をその封止工程
と共に説明する。
リードフレーム1におけるダム4に秦子べレット7をダ
ィボンディングし、ベレット7の外部電極とりード端子
2とを金細線などの導電体8によって相互接続したもの
をモールド機におけるモールド金型9〜10に装填する
(第2図)。
図において9は、モールド下金型で、10はモールド上
金型を示す。そして、モールドレジンからなるタブレッ
トを温度と圧力を用いて溶融し、粘度の低い状態にして
モールド機の図示しないプランジヤにより押圧してラン
ナ9a、ゲート9bを通してモールド金型9〜10のキ
ャビティ11内に溶融状態のモールドレジン12を注入
する。
そうすると、溶融状態のモールドレジン12はキャビテ
ィ11内にゲート9b先端部から噴射してリードフレー
ム1におけるリード端子2aに設けた突起部3に衝突し
ながらキャビティ11内をゲート9b側から埋め込まれ
て行く(第2図〜第6図)。このとき、キャビティ11
内に存在する空気がモールドレジン12によって追い出
される形をもってゲート9と反対側に設けられている空
気抜き孔13を通して排気される。
上述したように、本発明にかかるリードフレームを用い
たレジンモールド半導体装置は、レジン封止時に、ゲー
ト9bからキャビテイ11内に噴射されたモールドレジ
ン12がリードフレーム1における突起部3に衝突した
のちキャビティ11内をゲート9b側からモールドして
いくため、ゲート9bから噴出したモールドレジン12
の注入スピードが下がると共に、キャビティ11内の空
気がモールドレジン12によって取り囲まれて逃げ口を
失なうということがない。
そのため、モールドレジン12に空気が巻き込まれるこ
とがなし、。したがって本発明にかかるリードフレーム
を用いた半導体装置は、ボィドのないレジンモールド製
品となり、気密性のすぐれた封止構造をもつため、高性
能でかつ高信頼度のデバイスである。
本発明は、種々の用途に適うリードフレームに適用でき
、ボィドの発生がないすぐれた気密性をもつレジンモー
ルド製品を提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明にかかるリードフレームを示す平面図
、第2図〜第6図は本発明のリードフレームを用いたレ
ジンモールド半導体装置をその封止工程と共に説明する
ための断面図である。 1……リードフレーム、2,2a……リード端子、3・
・・・・・突起部、9・・・・・・モールド下金型、9
a.・・・・・ランナ、9b……ゲート、10……モー
ルド上金型、11・・・・・・キャビティ、12・・・
・・・モールドレジン、13・…・・空気抜き孔。 繁l図 第2図 賄3図 茶4図 嫌5図 累5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 素子ペレツトを固着すべきタブと、前記タブを支持
    するタブリードと、前記タブ周縁から四方に延在する複
    数のリードと、前記複数のリード間を連結するダムとを
    有するリードフレームにおいて、前記ダムのモールド金
    型のゲートに対応する部分の近傍に配置された前記複数
    のリードの少くとも1つに、注入されたレジンが衝突す
    るような突起部を設けたことを特徴とするリードフレー
    ム。
JP52099597A 1977-08-22 1977-08-22 リ−ドフレ−ム Expired JPS6029227B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52099597A JPS6029227B2 (ja) 1977-08-22 1977-08-22 リ−ドフレ−ム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP52099597A JPS6029227B2 (ja) 1977-08-22 1977-08-22 リ−ドフレ−ム

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59244416A Division JPS60180153A (ja) 1984-11-21 1984-11-21 電子部品

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5433663A JPS5433663A (en) 1979-03-12
JPS6029227B2 true JPS6029227B2 (ja) 1985-07-09

Family

ID=14251497

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52099597A Expired JPS6029227B2 (ja) 1977-08-22 1977-08-22 リ−ドフレ−ム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6029227B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01157610A (ja) * 1987-12-15 1989-06-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 振動発生素子を有する封止部品の製造方法
TW199235B (en) * 1991-05-27 1993-02-01 Hitachi Seisakusyo Kk Method to enclose semiconductor devices in resin and semiconductor apparatuses
JP2586831B2 (ja) * 1994-09-22 1997-03-05 日本電気株式会社 樹脂封止用金型および半導体装置の製造方法
JP3411448B2 (ja) * 1996-07-03 2003-06-03 沖電気工業株式会社 半導体素子の樹脂封止金型及び半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5433663A (en) 1979-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100462105B1 (ko) 수지밀봉형 반도체장치의 제조방법
CN101093808A (zh) 树脂密封型半导体装置及其制造装置和制造方法
CN105826277B (zh) 封装结构及其制造方法
CN218241836U (zh) 半导体封装器件及引线框架
JP2988232B2 (ja) 電子回路装置及びその製造方法
JP3366460B2 (ja) 片面樹脂封止型半導体パッケージ並びに片面樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP2631520B2 (ja) 樹脂封止パッケージの成形方法
JP3124248B2 (ja) 半導体チップパッケージの成形装置
JP2973901B2 (ja) 半導体樹脂封止用金型
JPS60180153A (ja) 電子部品
JP3036339B2 (ja) 半導体装置
JP2555931B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3317346B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2759523B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3609821B1 (ja) 半導体装置封止用金型およびそれを用いた半導体装置封止方法
KR19990012316A (ko) 반도체 패키지의 몰딩 금형 장치
JPH06244340A (ja) 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用されるリードフレーム
JPH0738045A (ja) 半導体集積回路装置
JPS6296847U (ja)
JP2858690B2 (ja) 樹脂封止型電子部品の製造方法
JPH11354558A (ja) 半導体モジュールの製造方法
JP2503053B2 (ja) Icモジュ―ルの製造方法
JPH0429334A (ja) 樹脂成型用金型
KR20000002701A (ko) 몰딩장치
JPS59155160A (ja) 樹脂封止型電子装置