JPS6030151B2 - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPS6030151B2 JPS6030151B2 JP54135590A JP13559079A JPS6030151B2 JP S6030151 B2 JPS6030151 B2 JP S6030151B2 JP 54135590 A JP54135590 A JP 54135590A JP 13559079 A JP13559079 A JP 13559079A JP S6030151 B2 JPS6030151 B2 JP S6030151B2
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/18—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors
- H10F39/186—Complementary metal-oxide-semiconductor [CMOS] image sensors; Photodiode array image sensors having arrangements for blooming suppression
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/767—Horizontal readout lines, multiplexers or registers
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高解像度特性、高SN比、耐ブルーミング特性
を具備する固体撮像装置に関する。
を具備する固体撮像装置に関する。
固体撮像装置に要求される本質的な特性の一つに例えば
高解像度特性があり、この要求を満足させるためには画
素数を十分多くする必要があり、通常は、高集積化が比
較的容易で、しかもイメ−ジング部とシフトレジスタ部
とこれらの結合部等とが一体化構造にできるMOSLS
L技術が用いられる。固体撮像装置は大きく分けるとM
OS型団体撮像装置とCCD型固体撮像装置に大別され
る。
高解像度特性があり、この要求を満足させるためには画
素数を十分多くする必要があり、通常は、高集積化が比
較的容易で、しかもイメ−ジング部とシフトレジスタ部
とこれらの結合部等とが一体化構造にできるMOSLS
L技術が用いられる。固体撮像装置は大きく分けるとM
OS型団体撮像装置とCCD型固体撮像装置に大別され
る。
第1図はMOS型固体撮像装置の原理的回路図を示す。
1は水平走査用のMOS型シフトレジスタ、2は垂直走
査用のMOS型シフトレジスタである。
1は水平走査用のMOS型シフトレジスタ、2は垂直走
査用のMOS型シフトレジスタである。
これらのシフトレジスタ1,2は通常2相のクロックパ
ルスにより駆動され、初段回路に入力されたスタートパ
ルスをクロックのもつ一定のタイミングずつシフトさせ
て得たシフトパルスをそれぞれの走行パルス入力線3−
1,3−2,・・・3一n,4−1,4一2,…4−m
に出力する。このパルス列により水平MOSスイッチ5
、垂直MOSスイッチ6を順次開閉し、垂直MOSスイ
ッチ6のソース部の拡散層を利用したホトダィオード7
からの信号を垂直伝送線8一1,8一2,・・・・・・
8−nを通してビデオ出力線9に取り出す。このビデオ
出力線9に取り出された信号は1フレーム期間中に入射
した光により放電したダイオードの電荷をビデオ電源1
1より充電するときの充電電流であり、負荷抵抗10を
通して読み出される。第2図はCCD型団体撮像装置の
一代表例でありフレームトランスファー型固体撮像装置
の原理的構成図である。
ルスにより駆動され、初段回路に入力されたスタートパ
ルスをクロックのもつ一定のタイミングずつシフトさせ
て得たシフトパルスをそれぞれの走行パルス入力線3−
1,3−2,・・・3一n,4−1,4一2,…4−m
に出力する。このパルス列により水平MOSスイッチ5
、垂直MOSスイッチ6を順次開閉し、垂直MOSスイ
ッチ6のソース部の拡散層を利用したホトダィオード7
からの信号を垂直伝送線8一1,8一2,・・・・・・
8−nを通してビデオ出力線9に取り出す。このビデオ
出力線9に取り出された信号は1フレーム期間中に入射
した光により放電したダイオードの電荷をビデオ電源1
1より充電するときの充電電流であり、負荷抵抗10を
通して読み出される。第2図はCCD型団体撮像装置の
一代表例でありフレームトランスファー型固体撮像装置
の原理的構成図である。
2川ま光信号電荷を蓄積するための光電変換部であり、
通常表面チャンネル型電荷結合素子が利用される。
通常表面チャンネル型電荷結合素子が利用される。
この光電変換部20で光露変換された光信号電荷は華直
帰線期間中に隣接配置された光信号電荷蓄積部21にす
ばやくフレーム転送される。前記光信号電荷蓄積部21
も通常表面チャンネル型電荷結合素子が利用される。光
信号電荷蓄積部21へ転送された光信号電荷は水平帰線
期間中に通常埋込みチャンネル電荷結合素子よりなる水
平シフトレジス夕22に転送され、さらに信号出力部2
3に向って適当な転送クロックを用いて転送され読み取
られる。さて、前記MOS型固体撮像装置においては、
各画素は独立にp−n接合で形成されているため、各画
素間の信号分離が極めて良いという利点を有しているが
、MOS型水平シフトレジスタから発生する水平走査パ
ルスは水平MOSトランジスタのゲート容量ならびにゲ
ート・ドレイン間の乳遊容量等を通してビデオ出力線に
乗るスパイクノイズの原因となる。
帰線期間中に隣接配置された光信号電荷蓄積部21にす
ばやくフレーム転送される。前記光信号電荷蓄積部21
も通常表面チャンネル型電荷結合素子が利用される。光
信号電荷蓄積部21へ転送された光信号電荷は水平帰線
期間中に通常埋込みチャンネル電荷結合素子よりなる水
平シフトレジス夕22に転送され、さらに信号出力部2
3に向って適当な転送クロックを用いて転送され読み取
られる。さて、前記MOS型固体撮像装置においては、
各画素は独立にp−n接合で形成されているため、各画
素間の信号分離が極めて良いという利点を有しているが
、MOS型水平シフトレジスタから発生する水平走査パ
ルスは水平MOSトランジスタのゲート容量ならびにゲ
ート・ドレイン間の乳遊容量等を通してビデオ出力線に
乗るスパイクノイズの原因となる。
さらに、これらのバラツキがいわゆる固定パターンノイ
ズの主因であり、映像信号のSM比を大きく低下させM
OS型固体撮像装置の最大の難点となっている。一方m
行n列の画素を持つCCDフレームトランスファー固体
撮像装置においては、水平走査用シフトレジスタ自体は
埋込みチャンネル電荷結合素子を用いているため固定パ
ターンノイズは極めて小さくSN比が良いという利点を
有しているが、光電変換部からの信号電荷を一担光信号
蓄積部へフレーム転送し、次いでこの光信号蓄積部の信
号電荷を水平シフトレジスタに順次転送するという基本
動作によりm段以上の転送に伴なう転送損失を避ける事
ができず、さらに信号電荷の転送に伴なう劣化の程度が
各画素の水平走査用シフトレジスタからの相対的な距離
に依存して変化し、その結果、画質の低下度合が画面内
の場所によって異なってくる。
ズの主因であり、映像信号のSM比を大きく低下させM
OS型固体撮像装置の最大の難点となっている。一方m
行n列の画素を持つCCDフレームトランスファー固体
撮像装置においては、水平走査用シフトレジスタ自体は
埋込みチャンネル電荷結合素子を用いているため固定パ
ターンノイズは極めて小さくSN比が良いという利点を
有しているが、光電変換部からの信号電荷を一担光信号
蓄積部へフレーム転送し、次いでこの光信号蓄積部の信
号電荷を水平シフトレジスタに順次転送するという基本
動作によりm段以上の転送に伴なう転送損失を避ける事
ができず、さらに信号電荷の転送に伴なう劣化の程度が
各画素の水平走査用シフトレジスタからの相対的な距離
に依存して変化し、その結果、画質の低下度合が画面内
の場所によって異なってくる。
いずれにしても、両方式とも高解像度、高SM比等を得
ようとする目的に照らしてみた場合必ずしも十分なもの
とはいえなかった。本発明は上記の問題点を排除するこ
とができて高い解像度、高SN比、耐ブルーミング特性
を得る事が可能な固体撮像装置を提供するものであって
、以下に図面を参照して本発明を実施例に基いて詳細に
説明する。
ようとする目的に照らしてみた場合必ずしも十分なもの
とはいえなかった。本発明は上記の問題点を排除するこ
とができて高い解像度、高SN比、耐ブルーミング特性
を得る事が可能な固体撮像装置を提供するものであって
、以下に図面を参照して本発明を実施例に基いて詳細に
説明する。
第3図は本発明の一実施例である2次元固体撮像装置を
示す回路構成図である。
示す回路構成図である。
ホトダィオード31とこれに接続する垂直MOSスイッ
チ32からなる単位画素がm行n列の行列状に配置され
ている。但し第3図においては簡単のために4行4列で
書かれている。多数の垂直MOSスイッチ32は各行ご
とにそのゲートを共通接続し垂直走査パルス入力線33
としてMOS型垂直シフトレジスタ34に接続する。垂
直MOSスイッチ32群の各ドレィンは各列ごとに共通
接続されて垂直伝送線35を形成する。この垂直伝送線
35の一端にソース部を介して第1の転送ゲートを有す
る転送用MOSトランジスタ36が接続される。このM
OSトランジスタ36のゲートの各々は相互接続され第
1ゲート入力線37となる。転送用MOSトランジスタ
36のドレイン部には、それぞれの一端を共通にして蓄
積ゲート入力線38を形成するMOSキャパシタで形成
される蓄積用容量素子39の他端が接続され蓄積部Nを
形成する。前記蓄積用容量素子39に隣接して第2の転
送ゲート310が設けられ、それらのゲートを共通接続
して第2ゲート入力線311が形成される。転送ゲート
31川こ隣接して埋込みチャンネル電荷結合型水平シフ
トレジスタ312(以下単に水平シフトレジス夕と称す
る)が配置され、その一端は信号出力部313へ接続す
る。なお以下の説明では全てのMOSスイッチがNチャ
ンネルェンハンスメント型であるとして述べるが、これ
が他のいかなるMOSスイッチの場合でも動作原理は何
等変らない。以下の説明では第1,2図で述べた周知な
基本動作をふまえて本発明の特徴的な動作部分を中心に
述べる。本発明の動作原理について述べる。
チ32からなる単位画素がm行n列の行列状に配置され
ている。但し第3図においては簡単のために4行4列で
書かれている。多数の垂直MOSスイッチ32は各行ご
とにそのゲートを共通接続し垂直走査パルス入力線33
としてMOS型垂直シフトレジスタ34に接続する。垂
直MOSスイッチ32群の各ドレィンは各列ごとに共通
接続されて垂直伝送線35を形成する。この垂直伝送線
35の一端にソース部を介して第1の転送ゲートを有す
る転送用MOSトランジスタ36が接続される。このM
OSトランジスタ36のゲートの各々は相互接続され第
1ゲート入力線37となる。転送用MOSトランジスタ
36のドレイン部には、それぞれの一端を共通にして蓄
積ゲート入力線38を形成するMOSキャパシタで形成
される蓄積用容量素子39の他端が接続され蓄積部Nを
形成する。前記蓄積用容量素子39に隣接して第2の転
送ゲート310が設けられ、それらのゲートを共通接続
して第2ゲート入力線311が形成される。転送ゲート
31川こ隣接して埋込みチャンネル電荷結合型水平シフ
トレジスタ312(以下単に水平シフトレジス夕と称す
る)が配置され、その一端は信号出力部313へ接続す
る。なお以下の説明では全てのMOSスイッチがNチャ
ンネルェンハンスメント型であるとして述べるが、これ
が他のいかなるMOSスイッチの場合でも動作原理は何
等変らない。以下の説明では第1,2図で述べた周知な
基本動作をふまえて本発明の特徴的な動作部分を中心に
述べる。本発明の動作原理について述べる。
ホトダィオード31に蓄積された信号電荷を、1水平婦
線期間中にまず垂直MOSスイッチ32に垂直走査パル
スを加えてオンにして伝送線35に移送する。次に適当
な転送用パルスをパルス入力線37と38に加えて、伝
送線35の信号電荷を一担MOSトランジスタ36のド
レィン部N(蓄積部)に効率よく転送する。続いてパル
ス入力線311に転送用パルスを加えて、蓄積部Nに転
送された信号電荷を水平シフトレジスタ312に転送す
る。しかる後に水平シフトレジス夕312中を適当な転
送クロックで転送し信号出力部313で読み取られる。
第4図aに前述した動作を実際に行わせるためのパルス
タイミングの一実施例を示し、図中VTGはパルス入力
線37、VTcはパルス入力線38,VTBはパルス入
力線311に加えるパルス電圧波形である。
線期間中にまず垂直MOSスイッチ32に垂直走査パル
スを加えてオンにして伝送線35に移送する。次に適当
な転送用パルスをパルス入力線37と38に加えて、伝
送線35の信号電荷を一担MOSトランジスタ36のド
レィン部N(蓄積部)に効率よく転送する。続いてパル
ス入力線311に転送用パルスを加えて、蓄積部Nに転
送された信号電荷を水平シフトレジスタ312に転送す
る。しかる後に水平シフトレジス夕312中を適当な転
送クロックで転送し信号出力部313で読み取られる。
第4図aに前述した動作を実際に行わせるためのパルス
タイミングの一実施例を示し、図中VTGはパルス入力
線37、VTcはパルス入力線38,VTBはパルス入
力線311に加えるパルス電圧波形である。
第4図bは同図aのパルスタイミングの各時刻での各部
位におけるポテンシャルによる動作モードを示す。図中
Lは伝送線35、Nは蓄積部、BCCDは水平シフトレ
ジスタ312を示し、各部位のポテンシャルをVL,V
N,VN′,VBで表わしている。また各パルス入力線
の電極を図の如くTG,TC,TBで表わす。t=○で
のダーク時における各部位のポテンシャルを図の如くV
L,VN,VBとする。まずある時刻(0<t<L)に
垂直シフトレジスタ34から発生した走査パルスが垂直
MOSスイッチ32に加えられると、ホトダィオード3
1の容量CPoに比べて伝送線35の容量CLは充分大
きいので、ホトダイオード31に蓄積された信号荷荷Q
sのほとんど全てが垂直伝送線35上に移る。この垂直
伝送線35上に移された信号電荷Qsを蓄積部Nに移す
ために、パルスVTc,V?cが加えられる。蓄積部N
の容量CNはCo+Cpnであり、ここにCoは蓄積用
容量素子39の容量、CpnはMOSトランジスタ36
のドレィン部の乳遊容量である。まず、時刻t,にゲー
トTGに加えられたパルスVTcによって電位VNにあ
る蓄積部Nから垂直伝送線35に実効的にバイアス電荷
QbごCN(VL−VN)が注入される。次に時刻t2
にパルスVTcが電極TCに加えられ蓄積部Nの電位を
充分大きくVN′とすると、伝送線35上の電荷(Qs
+Qb)が蓄積部Nにバイアス電荷を用いた場合のBB
Dモードで転送される。ここでVN′=VN十Ca台;
‐V虻である。電荷がLからNへ十分転送されるために
はQs+Qbなる電荷量が蓄積部Nに転送されている間
、N部の電位が、VLより大きく保たれている必要があ
る。この転送と同時に垂直伝送線35の電位は再びVし
に設定される。この設定電位はVL=VTG−VTG,
VTGはゲートTGのしきし、値電圧である。続いて時
刻t3でVTGはゼロとなり、伝送線35と蓄積部Nの
間をオフにした後、さらに続いて時刻しでパルスVTc
がゼロの状態に戻ると蓄積部Nの電位は小さくなる。時
刻t5において転送用パルスVT8がゲートTB‘こ加
えられると、蓄積部Nの信号電荷Qsのみが水平シフト
レジスタ312に転送され、同時に蓄積部Nの電位は再
びVNに設定されて、次の転送サイクル(t,〜t6)
に入る準備が整ったことになる。ここでVN=VTB−
VTB,VTBはゲートTBのしきし、値電圧である。
蓄積部Nから水平レジスタへ電荷を転送するために水平
シフトレジスタ312のチャンネル電位をVNより大き
く保っておく必要がある。また実際上はVTG芋VTB
と考えて良い。水平シフトレジスタ312に転送された
信号電荷Qsは1水平走査期間中に信号出力部313に
向って転送され読みとられる。時亥Ut2にL部にバイ
アス電荷QBが注入されるためには当然VL>VNなる
条件を満たさなければならない。上述した様にパルスV
TGがパルスVTcより早く加えられる事により自動的
に注入されるバイアス電荷QbによってL部からN部へ
の信号電荷Qsの実質的転送効率が極めて向上する。以
下かかる転送方法を自己バイアス電荷転送と称する。こ
のバイアス電荷を用いた場合の非転送効率は〔文献:茂
rg肌detal:lEEE J EC−洲0.が10
8(1973)〕に従って次式で与えられる。
位におけるポテンシャルによる動作モードを示す。図中
Lは伝送線35、Nは蓄積部、BCCDは水平シフトレ
ジスタ312を示し、各部位のポテンシャルをVL,V
N,VN′,VBで表わしている。また各パルス入力線
の電極を図の如くTG,TC,TBで表わす。t=○で
のダーク時における各部位のポテンシャルを図の如くV
L,VN,VBとする。まずある時刻(0<t<L)に
垂直シフトレジスタ34から発生した走査パルスが垂直
MOSスイッチ32に加えられると、ホトダィオード3
1の容量CPoに比べて伝送線35の容量CLは充分大
きいので、ホトダイオード31に蓄積された信号荷荷Q
sのほとんど全てが垂直伝送線35上に移る。この垂直
伝送線35上に移された信号電荷Qsを蓄積部Nに移す
ために、パルスVTc,V?cが加えられる。蓄積部N
の容量CNはCo+Cpnであり、ここにCoは蓄積用
容量素子39の容量、CpnはMOSトランジスタ36
のドレィン部の乳遊容量である。まず、時刻t,にゲー
トTGに加えられたパルスVTcによって電位VNにあ
る蓄積部Nから垂直伝送線35に実効的にバイアス電荷
QbごCN(VL−VN)が注入される。次に時刻t2
にパルスVTcが電極TCに加えられ蓄積部Nの電位を
充分大きくVN′とすると、伝送線35上の電荷(Qs
+Qb)が蓄積部Nにバイアス電荷を用いた場合のBB
Dモードで転送される。ここでVN′=VN十Ca台;
‐V虻である。電荷がLからNへ十分転送されるために
はQs+Qbなる電荷量が蓄積部Nに転送されている間
、N部の電位が、VLより大きく保たれている必要があ
る。この転送と同時に垂直伝送線35の電位は再びVし
に設定される。この設定電位はVL=VTG−VTG,
VTGはゲートTGのしきし、値電圧である。続いて時
刻t3でVTGはゼロとなり、伝送線35と蓄積部Nの
間をオフにした後、さらに続いて時刻しでパルスVTc
がゼロの状態に戻ると蓄積部Nの電位は小さくなる。時
刻t5において転送用パルスVT8がゲートTB‘こ加
えられると、蓄積部Nの信号電荷Qsのみが水平シフト
レジスタ312に転送され、同時に蓄積部Nの電位は再
びVNに設定されて、次の転送サイクル(t,〜t6)
に入る準備が整ったことになる。ここでVN=VTB−
VTB,VTBはゲートTBのしきし、値電圧である。
蓄積部Nから水平レジスタへ電荷を転送するために水平
シフトレジスタ312のチャンネル電位をVNより大き
く保っておく必要がある。また実際上はVTG芋VTB
と考えて良い。水平シフトレジスタ312に転送された
信号電荷Qsは1水平走査期間中に信号出力部313に
向って転送され読みとられる。時亥Ut2にL部にバイ
アス電荷QBが注入されるためには当然VL>VNなる
条件を満たさなければならない。上述した様にパルスV
TGがパルスVTcより早く加えられる事により自動的
に注入されるバイアス電荷QbによってL部からN部へ
の信号電荷Qsの実質的転送効率が極めて向上する。以
下かかる転送方法を自己バイアス電荷転送と称する。こ
のバイアス電荷を用いた場合の非転送効率は〔文献:茂
rg肌detal:lEEE J EC−洲0.が10
8(1973)〕に従って次式で与えられる。
ここで、8,t化は転送ゲートTGのトランジスタ定数
と転送時間である。
と転送時間である。
この式より明らかなように、大きなCLの影響を内部バ
イアス電荷Qbにより相殺できるため、非転送効率ごが
充分小さくなり、結果として、高い転送率を得るとがで
きる。ところで、VTGとVTcのパルス入力の位相を
揃えた場合はバイアス電荷は注入されず、L部からN部
への転送効率が悪く画像を得ることはできない。
イアス電荷Qbにより相殺できるため、非転送効率ごが
充分小さくなり、結果として、高い転送率を得るとがで
きる。ところで、VTGとVTcのパルス入力の位相を
揃えた場合はバイアス電荷は注入されず、L部からN部
への転送効率が悪く画像を得ることはできない。
この場合の非転送効率は次式で与えられる。この式より
、非転送効率は大きくなり、結果として転送効率は極め
て悪くなる。さらに8・CLのバラッキにより、転送効
率のバラッキが極めて大きくなり、画像上固定パターン
ノイズを生じてしまうことになる。この注入バイアス電
荷は第4図bのポテンシャル図から明らかなように水平
シフトレジスタ312には転送されない。従って、Qb
が読み出されないため固定パターンノイズは原理的に発
生しない。通常のフレームトランスフアCCDにおいて
転送効率を上げるため外部的にバイアス電荷を注入する
方法があるが、これらのバイアス電荷のバラッキにより
固定パターン雑音が生じる。本発明の如く、内部的な自
己バイアスによる転送方法を用いればこのような固定パ
ターンは生じない。これは、各列の垂直伝送線の容量C
Li、転送ゲートの闘値電圧、トランジスタ定数8i、
電荷蓄積用容量素子の容量CNi(ここでiは第1列を
示す)にバラッキがあっても、各列毎に、第2の転送ゲ
ートTBがCNiの電位VNiをそれぞれ個別に設定し
、第1の転送ゲートTGがCLiの電位VNiをそれぞ
れ個別に設定するため、全てのバラッキは内部バイアス
電荷Qw=CNi(VLi−VNi)の バラッキに実
効的に吸収してしまい、かつそれが水平シフトレジスタ
に読み出されないため、固定パターンノイズは原理上発
生しないことになるわけである。
、非転送効率は大きくなり、結果として転送効率は極め
て悪くなる。さらに8・CLのバラッキにより、転送効
率のバラッキが極めて大きくなり、画像上固定パターン
ノイズを生じてしまうことになる。この注入バイアス電
荷は第4図bのポテンシャル図から明らかなように水平
シフトレジスタ312には転送されない。従って、Qb
が読み出されないため固定パターンノイズは原理的に発
生しない。通常のフレームトランスフアCCDにおいて
転送効率を上げるため外部的にバイアス電荷を注入する
方法があるが、これらのバイアス電荷のバラッキにより
固定パターン雑音が生じる。本発明の如く、内部的な自
己バイアスによる転送方法を用いればこのような固定パ
ターンは生じない。これは、各列の垂直伝送線の容量C
Li、転送ゲートの闘値電圧、トランジスタ定数8i、
電荷蓄積用容量素子の容量CNi(ここでiは第1列を
示す)にバラッキがあっても、各列毎に、第2の転送ゲ
ートTBがCNiの電位VNiをそれぞれ個別に設定し
、第1の転送ゲートTGがCLiの電位VNiをそれぞ
れ個別に設定するため、全てのバラッキは内部バイアス
電荷Qw=CNi(VLi−VNi)の バラッキに実
効的に吸収してしまい、かつそれが水平シフトレジスタ
に読み出されないため、固定パターンノイズは原理上発
生しないことになるわけである。
上記説明の如くこれらの駆動パルスを用いれば容量CL
が十数PFにも達する大きな容量をもった垂直伝送線3
5からの信号電荷を充分小さな容量CNを有する蓄積部
Nに大きな転送効率また、固定パタ−ンノイズを発生せ
ずに転送することができる。
が十数PFにも達する大きな容量をもった垂直伝送線3
5からの信号電荷を充分小さな容量CNを有する蓄積部
Nに大きな転送効率また、固定パタ−ンノイズを発生せ
ずに転送することができる。
本発明の自己バイアス電荷転送を用いると低照度の際に
おいても転送効率の劣化に伴う像のくずれおよび固定パ
ターンノイズは発生せず極めて鮮明な画像をうろことが
できる。
おいても転送効率の劣化に伴う像のくずれおよび固定パ
ターンノイズは発生せず極めて鮮明な画像をうろことが
できる。
蓄積部Nの容量をホトダイオード容量の数倍に設計しか
つC。〜Cpnとしたデバイスによる実験によれば転送
効率は70%以上に達した。なおここでlt,一らlは
数十nsにもとれば充分であり、各パルス幅は約1仏s
程度にとった。上記動作説明では垂直伝送線35に移っ
た信号電荷は第1列のみ単独に水平シフトレジスタ31
2に転送されるとしたが、これは当然その行を同じくす
る全てのホトダィオード‘こ対し同時に遂行される。
つC。〜Cpnとしたデバイスによる実験によれば転送
効率は70%以上に達した。なおここでlt,一らlは
数十nsにもとれば充分であり、各パルス幅は約1仏s
程度にとった。上記動作説明では垂直伝送線35に移っ
た信号電荷は第1列のみ単独に水平シフトレジスタ31
2に転送されるとしたが、これは当然その行を同じくす
る全てのホトダィオード‘こ対し同時に遂行される。
本発明では各ホトダィオードは垂直MOSスイッチ32
のドレインを介して伝送線35により各列毎に共通懐続
されているので、異なる行に属したホトダイオードから
の信号電荷の水平シフトレジスタ312への転送の程度
が、前記水平シフトレジスタ312との相対的距離には
依存しないものとなる。さらに大きな容量をもつ伝送線
からの信号電荷を効率よく一担十分小さな容量素子に移
した後に水平シフトレジスタ312に転送するため、直
接に垂直伝送線35から水平シフトレジスタ312に転
送する場合にはほとんど画像を得る事ができないのに比
べて、転送効率が極めて良くなり垂直解像度が高くなる
。また、本発明では電荷結合型水平シフトレジス夕を用
い、3つのパルス入力線が独立に形成されているため、
その事を利用することにより垂直伝送線から水平シフト
レジスタへの電荷の転送効率を前述したものよりさらに
増大できる。
のドレインを介して伝送線35により各列毎に共通懐続
されているので、異なる行に属したホトダイオードから
の信号電荷の水平シフトレジスタ312への転送の程度
が、前記水平シフトレジスタ312との相対的距離には
依存しないものとなる。さらに大きな容量をもつ伝送線
からの信号電荷を効率よく一担十分小さな容量素子に移
した後に水平シフトレジスタ312に転送するため、直
接に垂直伝送線35から水平シフトレジスタ312に転
送する場合にはほとんど画像を得る事ができないのに比
べて、転送効率が極めて良くなり垂直解像度が高くなる
。また、本発明では電荷結合型水平シフトレジス夕を用
い、3つのパルス入力線が独立に形成されているため、
その事を利用することにより垂直伝送線から水平シフト
レジスタへの電荷の転送効率を前述したものよりさらに
増大できる。
第5図はその一実施例を示すパルスタ/「ミング図であ
る。時亥』ヶ,から?6 までの自己バイアス電荷転送
用パルスは第4図aと同様であり、第5図はこれらのパ
ルスを二度くり返すために時刻7,′からす6′までの
間で丁,からす6までのパルスと同一のパルスを加えて
いる。以下、この駆動パルスによる転送方法をダブル転
送と称する。このダブル転送方法によって垂直伝送線3
5から蓄積部Nへの転送効率はり2=り十(1一り)り
となる。ここでりは第4図aのパルス駆動を用いた場合
の垂直伝送線35から蓄積部Nへの転送効率である。蓄
積部Nの容量は十分小さいので、蓄積部Nから水平レジ
ス夕312への転送効率はほぼ100%と考えて良い。
従って、垂直伝送線35から蓄積部Nへの転送効率は垂
直伝送線35から水平レジスタ312への転送効率と見
なす事ができる。り:70%の場合にダブル転送を用い
ればり2 =91%になり、り=90%の場合にはり2
=99%にも達する。
る。時亥』ヶ,から?6 までの自己バイアス電荷転送
用パルスは第4図aと同様であり、第5図はこれらのパ
ルスを二度くり返すために時刻7,′からす6′までの
間で丁,からす6までのパルスと同一のパルスを加えて
いる。以下、この駆動パルスによる転送方法をダブル転
送と称する。このダブル転送方法によって垂直伝送線3
5から蓄積部Nへの転送効率はり2=り十(1一り)り
となる。ここでりは第4図aのパルス駆動を用いた場合
の垂直伝送線35から蓄積部Nへの転送効率である。蓄
積部Nの容量は十分小さいので、蓄積部Nから水平レジ
ス夕312への転送効率はほぼ100%と考えて良い。
従って、垂直伝送線35から蓄積部Nへの転送効率は垂
直伝送線35から水平レジスタ312への転送効率と見
なす事ができる。り:70%の場合にダブル転送を用い
ればり2 =91%になり、り=90%の場合にはり2
=99%にも達する。
ダブル転送を用いることにより垂直解像度はさらに飛躍
的に向上する。自己バイアス電荷転送用パルスは有効水
平婦線期間中であれば原理的に適当な回数行うことが可
能である。VTBのパルス駆動はその動作原理からパル
ス的ではなく時刻75 から76′までDC的にするこ
とも出来るし、さらに全時刻でDCバイアスとして動作
させる事もできる。但しこの場合はVNは水平レジス夕
の最小チャンネル電位より小さい必要がある。さて上記
動作説明は全て、伝送線35上の信号電荷をいかに高効
率で水平シフトレジスタ312に転送するかという方法
について述べた。しかし各伝送線35は垂直MOSスイ
ッチ32のドレインを多数含んでおり、1水平走査期間
中に発生する階電流やドレイン近傍で集められた光信号
が蓄積され、真の光信号電荷にこれらの光擬似信号が混
入しSN比を低下させることになる。本発明は上記問題
点を排除することができる。
的に向上する。自己バイアス電荷転送用パルスは有効水
平婦線期間中であれば原理的に適当な回数行うことが可
能である。VTBのパルス駆動はその動作原理からパル
ス的ではなく時刻75 から76′までDC的にするこ
とも出来るし、さらに全時刻でDCバイアスとして動作
させる事もできる。但しこの場合はVNは水平レジス夕
の最小チャンネル電位より小さい必要がある。さて上記
動作説明は全て、伝送線35上の信号電荷をいかに高効
率で水平シフトレジスタ312に転送するかという方法
について述べた。しかし各伝送線35は垂直MOSスイ
ッチ32のドレインを多数含んでおり、1水平走査期間
中に発生する階電流やドレイン近傍で集められた光信号
が蓄積され、真の光信号電荷にこれらの光擬似信号が混
入しSN比を低下させることになる。本発明は上記問題
点を排除することができる。
以下に、真の信号電荷を蓄積部Nに転送する前に、伝送
線35上の光擬似信号をクリアして、真の信号電荷のみ
を水平シフトレジスタ312に高い転送効率で転送させ
る本発明の固体撮像装置とその動作パルスタイミングに
ついて述べる。第6図は前述した光擬似信号をクリアす
るための構造を有する固体撮像装置の回路構成図である
。第3図の回路構成図において、1垂直伝送線当たり水
平シフトレジスタの単位ビット数が2倍にしてあり、a
,,a,′,a2,a2′・・・・・・なる単位ビッド
構造を有するものである。他の部分構成図は第3図と同
様であるから同一記号を用いている。第7図は本装置を
駆動させるための一実施例を示すパルスタイミング図で
ある。ここでVoは垂直MOSシフトレジスタ34から
垂直MOSスイッチ32に加わる走査パルスである。時
刻P,からP6までの一連のパルスによって垂直伝送線
上の光擬似信号を自己バイアス電荷転送によって水平シ
フトレジスタの単位ビットa,に転送し、次いで時間(
P6〜76 )に適当な水平シフトレジスタの転送クロ
ックを用いてa,にある光擬似信号を隣接ビットa,′
に転送し、a,ビットを空にする。続いて時刻7,から
76′までのダブル転送により、時刻P5で加えられた
パルスVGを用いてホトダイオードから伝送線上に移っ
た真の信号電荷のみを水平シフトレジスタのビットa,
に高効率で転送する。その後1水平走査期間中に適当な
転送クロックを用いて上述した光擬似信号と真の信号電
荷を信号出力部313に向かって水平シフトレジス夕3
12中を転送し読みとる。光擬似信号電荷は適当な方法
を用いて消去し、真の信号電荷のみを読みとれば極めて
質の高い映像信号を得る。光擬似信号を消去する方法と
して例えば出力部313近傍に光擬似信号を分枝して転
送費E案するため水平シフトレジスタの適当な1個以上
のビットに隣接して抜き取り転送ゲートとドレィンを設
け、前記ビッド‘こ光擬似信号が転送された時に、前記
抜き取り転送ゲートにパルスを加えて光擬似信号をドレ
ィンに抜き取れば良い。あるいは、水平シフトレジスタ
の任意数の有効な単位要素に隣接して、転送ゲートを設
けて、水平帰線期間中において、水平シフトレジスタに
転送された光擬似信号電荷を前記転送ゲートを通して水
平シフトレジスタ外へ排出しても良い。
線35上の光擬似信号をクリアして、真の信号電荷のみ
を水平シフトレジスタ312に高い転送効率で転送させ
る本発明の固体撮像装置とその動作パルスタイミングに
ついて述べる。第6図は前述した光擬似信号をクリアす
るための構造を有する固体撮像装置の回路構成図である
。第3図の回路構成図において、1垂直伝送線当たり水
平シフトレジスタの単位ビット数が2倍にしてあり、a
,,a,′,a2,a2′・・・・・・なる単位ビッド
構造を有するものである。他の部分構成図は第3図と同
様であるから同一記号を用いている。第7図は本装置を
駆動させるための一実施例を示すパルスタイミング図で
ある。ここでVoは垂直MOSシフトレジスタ34から
垂直MOSスイッチ32に加わる走査パルスである。時
刻P,からP6までの一連のパルスによって垂直伝送線
上の光擬似信号を自己バイアス電荷転送によって水平シ
フトレジスタの単位ビットa,に転送し、次いで時間(
P6〜76 )に適当な水平シフトレジスタの転送クロ
ックを用いてa,にある光擬似信号を隣接ビットa,′
に転送し、a,ビットを空にする。続いて時刻7,から
76′までのダブル転送により、時刻P5で加えられた
パルスVGを用いてホトダイオードから伝送線上に移っ
た真の信号電荷のみを水平シフトレジスタのビットa,
に高効率で転送する。その後1水平走査期間中に適当な
転送クロックを用いて上述した光擬似信号と真の信号電
荷を信号出力部313に向かって水平シフトレジス夕3
12中を転送し読みとる。光擬似信号電荷は適当な方法
を用いて消去し、真の信号電荷のみを読みとれば極めて
質の高い映像信号を得る。光擬似信号を消去する方法と
して例えば出力部313近傍に光擬似信号を分枝して転
送費E案するため水平シフトレジスタの適当な1個以上
のビットに隣接して抜き取り転送ゲートとドレィンを設
け、前記ビッド‘こ光擬似信号が転送された時に、前記
抜き取り転送ゲートにパルスを加えて光擬似信号をドレ
ィンに抜き取れば良い。あるいは、水平シフトレジスタ
の任意数の有効な単位要素に隣接して、転送ゲートを設
けて、水平帰線期間中において、水平シフトレジスタに
転送された光擬似信号電荷を前記転送ゲートを通して水
平シフトレジスタ外へ排出しても良い。
この方法を用いれば映像信号の雑音を軽減し、信号処理
が簡単になる。以上述べたように本発明によれば垂直伝
送線上のドレィン群に蓄積された階電流のバラッキによ
る固定パターンノイズ成分をも激減させることが可能と
なり、極めてSM比の高い映像信号を取り出す事ができ
る。なおこの光擬似信号をクリアする方法によって、飽
和光以上の光が入射した場合に生じる過飽和電荷をクリ
アにすることも可能となり、耐ブルーミング特性が極め
て向上する。水平画素数が大なるものについては垂直伝
送線の奇隅列についてそれぞれ上下に水平シフトレジス
夕を構成して、水平シフトレジスタの高速動作による転
送損失を避けさらに集積度を上げることができるような
固体撮像装置の回路の一実施例を構成することができる
。
が簡単になる。以上述べたように本発明によれば垂直伝
送線上のドレィン群に蓄積された階電流のバラッキによ
る固定パターンノイズ成分をも激減させることが可能と
なり、極めてSM比の高い映像信号を取り出す事ができ
る。なおこの光擬似信号をクリアする方法によって、飽
和光以上の光が入射した場合に生じる過飽和電荷をクリ
アにすることも可能となり、耐ブルーミング特性が極め
て向上する。水平画素数が大なるものについては垂直伝
送線の奇隅列についてそれぞれ上下に水平シフトレジス
夕を構成して、水平シフトレジスタの高速動作による転
送損失を避けさらに集積度を上げることができるような
固体撮像装置の回路の一実施例を構成することができる
。
第8図にその例を示す。回路構成部分は第6図に準じて
番号をつけてある。駆動パルスタイミングは第7図のも
のを用いれば良い。前述してきた転送ゲートTG,TB
は脂に表面チャンネル型として考えてきたが、これらは
全て埋込みチャンネル型として用いる事もできる。この
場合、さらに転送効率が改善されるのは明らかである。
以上説明してきたように本発明によれば従来のMOS型
固体撮像装置では除去が因難な水平走査パルスによるス
イッチングノイズに起因する固定パターンノイズを完全
に除去することができ、さらに光擬似信号やブルーミン
グ電荷をクリアすることによりSN比と耐ブルーミング
特性の大幅な改善が可能となった。
番号をつけてある。駆動パルスタイミングは第7図のも
のを用いれば良い。前述してきた転送ゲートTG,TB
は脂に表面チャンネル型として考えてきたが、これらは
全て埋込みチャンネル型として用いる事もできる。この
場合、さらに転送効率が改善されるのは明らかである。
以上説明してきたように本発明によれば従来のMOS型
固体撮像装置では除去が因難な水平走査パルスによるス
イッチングノイズに起因する固定パターンノイズを完全
に除去することができ、さらに光擬似信号やブルーミン
グ電荷をクリアすることによりSN比と耐ブルーミング
特性の大幅な改善が可能となった。
一方ではCCD型固体撮像装置で見られる信号電荷の多
段の転送に伴う垂直解像度の劣化の程度が各画素の水平
シフトレジスタに対する相対的な距離に依存して変化す
るという弱点を無くし、高い転送効率を得ることができ
、さらに外部からバイアス電荷を注入する必要かないた
め、これらのバラッキによって発生する固定パターン雑
音は生じなかった。従って従来の固体撮像装置にくらべ
て本発明は、解像度特性、SN比、耐ブルーミング特性
等において飛躍的にその性能が向上した。このため本発
明による2次元固体撮像装置は単板カラー用固体撮像素
子としても極めて有用な特性を有する。
段の転送に伴う垂直解像度の劣化の程度が各画素の水平
シフトレジスタに対する相対的な距離に依存して変化す
るという弱点を無くし、高い転送効率を得ることができ
、さらに外部からバイアス電荷を注入する必要かないた
め、これらのバラッキによって発生する固定パターン雑
音は生じなかった。従って従来の固体撮像装置にくらべ
て本発明は、解像度特性、SN比、耐ブルーミング特性
等において飛躍的にその性能が向上した。このため本発
明による2次元固体撮像装置は単板カラー用固体撮像素
子としても極めて有用な特性を有する。
第1図は従来のMOS型2次元団体撮像装置を示す原理
的回路図、第2図はCCDフレームトランスファー方式
の2次元園体撮像装置の原理構成図、第3図は本発明の
2次元団体撮像装置の一実施例を示す回路構成図、第4
図aは第3図で示した装置を駆動する際の各部の電圧波
形を示す図、第4図bは第4図aの各時刻に対応した動
作モードを表わすポテンシャル図、第5図は転送効率を
上げるためのダブル転送を行うためのパルス波形図、第
6図は光擬似信号をクリアする構造を有する本発明の他
の実施例を示す構成図、第7図は第6図の2次元固体撮
像装置を動作させるパルスタイミングの一実施例を示す
図、第8図は伝送線の奇偶列に対応して水平シフトレジ
スタを上下に配した本発明の更に他の実施例を示す回路
構成図である。 31・・・・・・ホトダィオード、32・・・・・・垂
直MOSスイッチ、33…・・・垂直パルス入力線、3
4・・・・・・MOS型垂直シフトレジスタ、35・…
・・垂直伝送線、36・・・・・・転送用MOSトラン
ジスタ、37..・…第一ゲート入力線、38・・・・
・・蓄積ゲート入力線、39…・・・蓄積用容量素子、
310・・・・・・第2転送ゲート、311・・・・・
・第二ゲート入力線、312・・・・・・埋込みチャン
ネル電荷結合型水平シフトレジスタ、313・・・・・
・信号出力部。 第1図 第2図 第3図 第4図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図
的回路図、第2図はCCDフレームトランスファー方式
の2次元園体撮像装置の原理構成図、第3図は本発明の
2次元団体撮像装置の一実施例を示す回路構成図、第4
図aは第3図で示した装置を駆動する際の各部の電圧波
形を示す図、第4図bは第4図aの各時刻に対応した動
作モードを表わすポテンシャル図、第5図は転送効率を
上げるためのダブル転送を行うためのパルス波形図、第
6図は光擬似信号をクリアする構造を有する本発明の他
の実施例を示す構成図、第7図は第6図の2次元固体撮
像装置を動作させるパルスタイミングの一実施例を示す
図、第8図は伝送線の奇偶列に対応して水平シフトレジ
スタを上下に配した本発明の更に他の実施例を示す回路
構成図である。 31・・・・・・ホトダィオード、32・・・・・・垂
直MOSスイッチ、33…・・・垂直パルス入力線、3
4・・・・・・MOS型垂直シフトレジスタ、35・…
・・垂直伝送線、36・・・・・・転送用MOSトラン
ジスタ、37..・…第一ゲート入力線、38・・・・
・・蓄積ゲート入力線、39…・・・蓄積用容量素子、
310・・・・・・第2転送ゲート、311・・・・・
・第二ゲート入力線、312・・・・・・埋込みチャン
ネル電荷結合型水平シフトレジスタ、313・・・・・
・信号出力部。 第1図 第2図 第3図 第4図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 m行n列の行列状に配列された光電変換素子と、前
記光電変換素子に蓄積された光信号電荷を前記光電変換
素子の各列に対応する複数の垂直伝送線上に移すための
MOS構造の垂直シフトレジスタおよびスイツチ素子よ
りなる信号電荷選択手段と、前記光信号電荷を信号出力
部まで順次転送する電荷結合型水平シフトレジスタと、
前記垂直伝送線上に移された前記光信号電荷を前記水平
シフトレジスタへ転送するための第1の転送ゲート、電
荷蓄積用容量素子および第2の転送ゲートからなる信号
電荷選択手段を備え、各列の前記第2の転送ゲートが独
立して、対応する前記電荷蓄積容量素子の電位V_N_
i(i:i列目)設定し、前記第1の転送ゲートが独立
して、前記垂直線の電位V_L_i(i:i列目)を設
定し、前記信号電荷選択手段の主動作状態において、各
列の前記電荷蓄積容量素子の容量C_N_i(i:i列
目)(前記垂直伝送線の容量C_L_i(i:i列目)
に対しC_N_i<C_L_iである。 )に対応して、内部バイアス電荷Q_b_i=C_N_
i(V_1_i−V_2_i)〔但しV_1_i>V_
2_i〕が、前記垂直伝送線と前記電荷蓄積用容量素子
との間を往復する事を特徴とする固体撮像装置。2 水
平シフトレジスタが、垂直伝送線の数の2倍以上の数の
単位要素を有し、前記光信号電荷と前記垂直伝送線上の
不要電荷とが、隣接する前記単位要素にそれぞれ分離し
て、蓄積され転送されることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の固体撮像装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54135590A JPS6030151B2 (ja) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | 固体撮像装置 |
| US06/197,026 US4366503A (en) | 1979-10-19 | 1980-10-15 | Solid state image pick-up device and its charge transfer method |
| DE3039264A DE3039264C2 (de) | 1979-10-19 | 1980-10-17 | Verfahren und Vorrichtung zur Ladungsübertragung bei einer Festkörper-Bildabtastvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54135590A JPS6030151B2 (ja) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | 固体撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5658379A JPS5658379A (en) | 1981-05-21 |
| JPS6030151B2 true JPS6030151B2 (ja) | 1985-07-15 |
Family
ID=15155373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54135590A Expired JPS6030151B2 (ja) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | 固体撮像装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4366503A (ja) |
| JP (1) | JPS6030151B2 (ja) |
| DE (1) | DE3039264C2 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56164681A (en) * | 1980-05-22 | 1981-12-17 | Matsushita Electronics Corp | Solidstate image pick-up device |
| NL8004328A (nl) * | 1980-07-29 | 1982-03-01 | Philips Nv | Schakelinrichting voor het ontladen van een capaciteit. |
| JPS57100361U (ja) * | 1980-12-12 | 1982-06-21 | ||
| JPS5847378A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-19 | Canon Inc | 撮像素子 |
| DE3138294A1 (de) * | 1981-09-25 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Zweidimensionaler halbleiter-bildsensor mit steuerung oder regelung der integrationszeit |
| JPS5870687A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固体撮像素子の駆動方法 |
| JPS58157262A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-19 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
| JPS58169965A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-06 | Hitachi Ltd | 固体撮像装置 |
| JPS5921059A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-02 | Hitachi Ltd | 電荷転送回路 |
| JPS5928772A (ja) * | 1982-08-11 | 1984-02-15 | Sony Corp | 固体撮像装置の駆動方法 |
| US4514821A (en) * | 1982-09-27 | 1985-04-30 | Rca Corporation | Electro-optical CCD transversal filter with analog reference weights |
| JPS59108463A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-22 | Olympus Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
| JPS617766A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Kyocera Corp | 読み取り装置 |
| JPS6194290A (ja) * | 1984-10-15 | 1986-05-13 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ |
| USRE34309E (en) * | 1984-12-26 | 1993-07-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sensor device having plural photoelectric converting elements |
| DE3585516D1 (de) * | 1984-12-26 | 1992-04-09 | Canon Kk | Bildsensoranordnung. |
| DE3680843D1 (de) * | 1985-08-30 | 1991-09-19 | Sgs Thomson Microelectronics | Parallele zeile pro zeile datenuebertragung in ram-speichern. |
| US4661854A (en) * | 1985-12-26 | 1987-04-28 | Rca Corporation | Transfer smear reduction for charge sweep device imagers |
| JPH0740711B2 (ja) * | 1986-06-20 | 1995-05-01 | キヤノン株式会社 | 光センサの駆動方法及び画像入力装置 |
| EP0563846A1 (en) * | 1992-03-30 | 1993-10-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dynamic peaking aperture correction for use with a CCD camera |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5112724A (ja) * | 1974-07-23 | 1976-01-31 | Nippon Electric Co | |
| JPS5389617A (en) * | 1977-01-19 | 1978-08-07 | Hitachi Ltd | Driving method of solid image pickup element |
| JPS5846068B2 (ja) * | 1978-02-06 | 1983-10-14 | フエアチヤイルド・カメラ・エンド・インスツルメント・コ−ポレ−シヨン | 電荷結合型装置 |
| DE2936704A1 (de) * | 1979-09-11 | 1981-03-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Monolithisch integrierte schaltung mit einem zweidimensionalen bildsensor |
-
1979
- 1979-10-19 JP JP54135590A patent/JPS6030151B2/ja not_active Expired
-
1980
- 1980-10-15 US US06/197,026 patent/US4366503A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-10-17 DE DE3039264A patent/DE3039264C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5658379A (en) | 1981-05-21 |
| DE3039264C2 (de) | 1984-07-19 |
| DE3039264A1 (de) | 1981-04-30 |
| US4366503A (en) | 1982-12-28 |
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