JPS603477U - 半導体測定装置 - Google Patents
半導体測定装置Info
- Publication number
- JPS603477U JPS603477U JP9564583U JP9564583U JPS603477U JP S603477 U JPS603477 U JP S603477U JP 9564583 U JP9564583 U JP 9564583U JP 9564583 U JP9564583 U JP 9564583U JP S603477 U JPS603477 U JP S603477U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- under test
- device under
- measurement equipment
- semiconductor measurement
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は従来の半導体測定装置の基本回路構成を示すブ
ロック図、第２図は本考案の一実施例による半導体測定
装置の基本回路構成を示すブロック図である。 １・・・・・・パルスツェナー電流電源、２・・・・・
・被測定物、３・・・・・・電圧フォロワ回路（オペ・
アンプ）、４．５・・・・・・出力電圧波形、６・・・
・・・補助電源、７・・・・・・保護ダイオード。
ロック図、第２図は本考案の一実施例による半導体測定
装置の基本回路構成を示すブロック図である。 １・・・・・・パルスツェナー電流電源、２・・・・・
・被測定物、３・・・・・・電圧フォロワ回路（オペ・
アンプ）、４．５・・・・・・出力電圧波形、６・・・
・・・補助電源、７・・・・・・保護ダイオード。
Claims (1)
- 被測定半導体装置に測定電流を供給する第１の電源と、
該被測定半導体装置に前記測定電流を供給する前に前記
被測定半導体装置が降伏しない程度の予備電流を供給す
る第２の電源と、前記被測定半導体装置の出力電圧を取
り出す電圧フォロワー回路とを含む半導体測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9564583U JPS603477U (ja) | 1983-06-21 | 1983-06-21 | 半導体測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9564583U JPS603477U (ja) | 1983-06-21 | 1983-06-21 | 半導体測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS603477U true JPS603477U (ja) | 1985-01-11 |
Family
ID=30228317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9564583U Pending JPS603477U (ja) | 1983-06-21 | 1983-06-21 | 半導体測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS603477U (ja) |
-
1983
- 1983-06-21 JP JP9564583U patent/JPS603477U/ja active Pending
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