JPS6035001B2 - 寸法測定装置 - Google Patents
寸法測定装置Info
- Publication number
- JPS6035001B2 JPS6035001B2 JP8480278A JP8480278A JPS6035001B2 JP S6035001 B2 JPS6035001 B2 JP S6035001B2 JP 8480278 A JP8480278 A JP 8480278A JP 8480278 A JP8480278 A JP 8480278A JP S6035001 B2 JPS6035001 B2 JP S6035001B2
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- JP
- Japan
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- target object
- focal length
- optical lens
- imaging means
- optical
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、光学的手段を用い非接触で物体の寸法を測
定する装置に関するものである。
定する装置に関するものである。
従釆、この種の装置として、第1図に示すものがあった
。
。
第1図において、1は矢印N方向に移動する鋼材などの
対象物体、2は対象物体1を撮像するレンズおよび映像
を電気信号に変換する検出器を含む撮像手段であるカメ
ラ、3は対象物体1を結像する光学レンズ系を構成する
レンズ、4はしンズ3により結像された映像を電気信号
に変換する1次元、または2次元検出器(以下の説明で
は、2次元検出器で代表する。)、5は2次元検出器4
の出力を受けて映像表示するモニター、6は処理装置で
ある。次に動作について説明する。
対象物体、2は対象物体1を撮像するレンズおよび映像
を電気信号に変換する検出器を含む撮像手段であるカメ
ラ、3は対象物体1を結像する光学レンズ系を構成する
レンズ、4はしンズ3により結像された映像を電気信号
に変換する1次元、または2次元検出器(以下の説明で
は、2次元検出器で代表する。)、5は2次元検出器4
の出力を受けて映像表示するモニター、6は処理装置で
ある。次に動作について説明する。
2次元検出器4から第2図に示すような画像laがモニ
ター5に得られる。
ター5に得られる。
このときの画像の寸法bと、実際の対象物体1の寸法W
とは次式で示される関係にある。W=m・Q●b
‐‐イー)ここでmは光学系の倍率で
レンズ3から対象物体1までの距離Lと、レンズ3から
カメラ2の2次元検出器3までの距離1とにより1
…【2’m=[で
求められる。
とは次式で示される関係にある。W=m・Q●b
‐‐イー)ここでmは光学系の倍率で
レンズ3から対象物体1までの距離Lと、レンズ3から
カメラ2の2次元検出器3までの距離1とにより1
…【2’m=[で
求められる。
また、レンズ3の焦点距離fで示せばf
・・・【31m=こ了となる。
・・・【31m=こ了となる。
一般に焦点距離fは一定値に固定されているので、距離
Lを一定値に保てば、光学系の倍率mは変動しない値と
なる。また、Q‘まカメラ2およびモニター5で決めら
れる電気的な倍率であり、一般には一定値である。
Lを一定値に保てば、光学系の倍率mは変動しない値と
なる。また、Q‘まカメラ2およびモニター5で決めら
れる電気的な倍率であり、一般には一定値である。
したがって光学系の倍率m、電気的な倍率Qを事前に計
算または測定により求めておき、モニター5に得られる
画像laの寸法bを測定し、上述の1式による演算を処
理装置6によりおこなえば、対象物体1の寸法Wが得ら
れる。画像laの寸法bの測定については、通常おこな
われている映像信号処理技術によりおこなわれ、適当な
照明装置を用いて、対象物体1の画像と背景の分離が容
易になるような工夫もされている。
算または測定により求めておき、モニター5に得られる
画像laの寸法bを測定し、上述の1式による演算を処
理装置6によりおこなえば、対象物体1の寸法Wが得ら
れる。画像laの寸法bの測定については、通常おこな
われている映像信号処理技術によりおこなわれ、適当な
照明装置を用いて、対象物体1の画像と背景の分離が容
易になるような工夫もされている。
従来の寸法測定装値は以上のように構成されているので
事前に光学系の倍率m・電気的な倍率Qを計算又は測定
で求めておく必要があり、また、光学系の倍率mについ
ては、対象物体からしンズまでの距離を一定に保つこと
が必要なので、対象物体の厚みが変動したり、また対象
物体が振動したり、さらに、対象物体が傾いている場合
等にはそれらを検出することができず、正確な寸法測定
ができないなどの欠点があった。
事前に光学系の倍率m・電気的な倍率Qを計算又は測定
で求めておく必要があり、また、光学系の倍率mについ
ては、対象物体からしンズまでの距離を一定に保つこと
が必要なので、対象物体の厚みが変動したり、また対象
物体が振動したり、さらに、対象物体が傾いている場合
等にはそれらを検出することができず、正確な寸法測定
ができないなどの欠点があった。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ためになされたもので、異なった焦点距離を有する撮像
手段にて対象物体を撮像し、その撮像結果について処理
回路を介して適当な演算処理をおこなうことにより、対
象物体の傾き、厚みの変動等の影響を受けず、対象物体
の正確な寸法測定ができるような寸法測定装値を提供す
ることを目的としている。
ためになされたもので、異なった焦点距離を有する撮像
手段にて対象物体を撮像し、その撮像結果について処理
回路を介して適当な演算処理をおこなうことにより、対
象物体の傾き、厚みの変動等の影響を受けず、対象物体
の正確な寸法測定ができるような寸法測定装値を提供す
ることを目的としている。
以下、この発明の一実施例を第3図ないし第5図に従っ
て説明する。
て説明する。
第3図において、7は対象物体1の像を2次元検出器4
に結像させるズームレンズで、処理回路8よりのズーム
信号Sgを受けて、焦点距離fを変わる。
に結像させるズームレンズで、処理回路8よりのズーム
信号Sgを受けて、焦点距離fを変わる。
即ち、ズームレンズ7は異なった複数個の焦点距離で対
象物体を結像する光学レンズ系を構成する焦点可変レン
ズに外ならない。8は処理回路で、従来技術の説明のと
ころで述べた処理回路5の外に、ズーム信号Sgを出力
する機能と、後に詳述する記憶演算の機能とが付加され
ている。
象物体を結像する光学レンズ系を構成する焦点可変レン
ズに外ならない。8は処理回路で、従来技術の説明のと
ころで述べた処理回路5の外に、ズーム信号Sgを出力
する機能と、後に詳述する記憶演算の機能とが付加され
ている。
この発明による寸法測定装値の動作では、まず、ズーム
レンズ7を処理回路8の第1のズーム信号Sg,により
、第1の焦点距離f,に設定し、対象物体1を撮像する
。
レンズ7を処理回路8の第1のズーム信号Sg,により
、第1の焦点距離f,に設定し、対象物体1を撮像する
。
この場合のズームレンズ7の第2主点から2次元検出器
4の光電面までの距離(以下光電面までの距離と記す。
4の光電面までの距離(以下光電面までの距離と記す。
)1,は事前の設定がなされている。具体的には、対象
物体1とカメラ2の間の距離で、焦点(ピント)合せす
ることによりおこなわれ、上記1,が測定され上記第1
の焦点距離f,と電気的倍率Qとともに処理回路8の演
算定数として入力されている。この状態でモニター5に
得られる画像laの寸法bを測定するのは従来装置の説
明のところで述べたのと同じ動作で処理回路8がこれを
おこなうが、この発明の装置では第4図イに示すように
カメラ2の光軸cに対しての画像寸法b,,Qを測定す
る。
物体1とカメラ2の間の距離で、焦点(ピント)合せす
ることによりおこなわれ、上記1,が測定され上記第1
の焦点距離f,と電気的倍率Qとともに処理回路8の演
算定数として入力されている。この状態でモニター5に
得られる画像laの寸法bを測定するのは従来装置の説
明のところで述べたのと同じ動作で処理回路8がこれを
おこなうが、この発明の装置では第4図イに示すように
カメラ2の光軸cに対しての画像寸法b,,Qを測定す
る。
処理回路8は画像寸法q,Qを一時記憶し、演算時に読
み出す。次に処理回路8は第2のズーム信号Sg2を出
力し、ズームレンズ7の第2主点位置を第2の焦点位遣
りこ移動させる。
み出す。次に処理回路8は第2のズーム信号Sg2を出
力し、ズームレンズ7の第2主点位置を第2の焦点位遣
りこ移動させる。
この移動にともない、光電面までの距離1,は12に、
焦点距離f,はf2になるが、これらの値は前述したと
同様、装置を構成するうえでの設定値であり、事前に処
理回路8が撮像されて、第4図口に示すような画像la
がモニター5に得られ、カメラの光軸cに対する画像寸
法な,b4が測定され処理回路8に一時記憶されるのは
前に述べた動作と同じである。次いで、処理回路8内で
上記の動作、設定で得られた値を用いて演算がおこなわ
れ対象物体1の両端の座標を求め、さらに、幅が演算に
より得られ出力する。
焦点距離f,はf2になるが、これらの値は前述したと
同様、装置を構成するうえでの設定値であり、事前に処
理回路8が撮像されて、第4図口に示すような画像la
がモニター5に得られ、カメラの光軸cに対する画像寸
法な,b4が測定され処理回路8に一時記憶されるのは
前に述べた動作と同じである。次いで、処理回路8内で
上記の動作、設定で得られた値を用いて演算がおこなわ
れ対象物体1の両端の座標を求め、さらに、幅が演算に
より得られ出力する。
この演算の動作と原理を第5図に用いて詳しく説明する
。
。
原理の概要を示す側面図である第5図では、2次元検出
器4の光電面4aをx軸、カメラ2の光軸cをy軸とし
た座標で示してあり、x,y軸の交点を○、対象物体1
の幅方向端部をP,Qで示す。上述の説明のように、ま
ず、第1の焦点位置8,にズームレンズ7の第2主点を
置いた場合、対象物体1の片側の端部Pの像は、2次元
検出器4の受光面4a上の○点からd.だけ離れたD.
点に結ばれる。
器4の光電面4aをx軸、カメラ2の光軸cをy軸とし
た座標で示してあり、x,y軸の交点を○、対象物体1
の幅方向端部をP,Qで示す。上述の説明のように、ま
ず、第1の焦点位置8,にズームレンズ7の第2主点を
置いた場合、対象物体1の片側の端部Pの像は、2次元
検出器4の受光面4a上の○点からd.だけ離れたD.
点に結ばれる。
ここでd,は前述した画像寸法qと、カメラ2およびモ
ニター5で決められる電気的倍率Qから、d.=害
‐‐‐【11として求められる。
ニター5で決められる電気的倍率Qから、d.=害
‐‐‐【11として求められる。
同様にして、対象物体1の他の端部Q点もD2点に結像
されるので、平=2 …{2
1として求められる。
されるので、平=2 …{2
1として求められる。
さらに、ズームレンズ7の第2主点位置f,と2次元検
出器4の受光面4aまでの距離1,が事前に判明してい
る値であるので、P点とかD,点、Q点とD2点を結ぶ
直線yD,,yD2を示す式が次のように得られる。
出器4の受光面4aまでの距離1,が事前に判明してい
る値であるので、P点とかD,点、Q点とD2点を結ぶ
直線yD,,yD2を示す式が次のように得られる。
yD.i=士Xi−1・ ‐‐‐‘31=岸1
1‐X・−11 ‐‐‐【4}yD2i:・ぷ
」. 棚−−毒11‐X・−11 ‐
‐‐{61次に、第2の焦点位置82にズームレンズ7
の第2主点を移動させた状態では、対象物体1の端部P
,Qの像が2次元検出器4の受光面4aの上のE,,E
2点に結ばれるので、上記同機e.=害
…{71 e2=基 …{8)の関
係が得られ、第5図の破線で示す直線yE,,yE2を
示す式もyE.i=考Xi−12 ‐‐‐{
9)=毒12・X・−12 ‐・‐00yE
2i=・2×i−ー2 …(11)e
2−孝12‐Xi−12 ‐‐‐(12)のよう
に得られる。
1‐X・−11 ‐‐‐【4}yD2i:・ぷ
」. 棚−−毒11‐X・−11 ‐
‐‐{61次に、第2の焦点位置82にズームレンズ7
の第2主点を移動させた状態では、対象物体1の端部P
,Qの像が2次元検出器4の受光面4aの上のE,,E
2点に結ばれるので、上記同機e.=害
…{71 e2=基 …{8)の関
係が得られ、第5図の破線で示す直線yE,,yE2を
示す式もyE.i=考Xi−12 ‐‐‐{
9)=毒12・X・−12 ‐・‐00yE
2i=・2×i−ー2 …(11)e
2−孝12‐Xi−12 ‐‐‐(12)のよう
に得られる。
対象物体1の端部Pは、直線yD,,yE,の交点であ
るから、第4,10式からP点の座標xp,ypはb,
広0,一12) ..・(13)×P=
Q(1,b3−12b,)yp=−Q1,12位,一b
3) …(14)として計算でき、同様に
他の端部Qの座標xQ,yoもXO=QQ(1,一2)
…(15)Q02Q−1,b4)y。
るから、第4,10式からP点の座標xp,ypはb,
広0,一12) ..・(13)×P=
Q(1,b3−12b,)yp=−Q1,12位,一b
3) …(14)として計算でき、同様に
他の端部Qの座標xQ,yoもXO=QQ(1,一2)
…(15)Q02Q−1,b4)y。
=‐Q1,12(b4−Q) …(16
)0,い【12Q)から計算できる。
)0,い【12Q)から計算できる。
そして対象物体1の幅Wは
W=ノ(xp−xQ)2 十(yp−yQ)2.・‐(
17)として求められ、必要であれば対象物体1の懐き
△は△=理二凶 ,..(1
8)×P−×oで得られる。
17)として求められ、必要であれば対象物体1の懐き
△は△=理二凶 ,..(1
8)×P−×oで得られる。
これらの演算は、処理回路8でおこなわれる。
ここで処理回路8について説明すると、処理回路8は上
記各式を演算する演算部の外に、上述の(17)式、即
ち寸法Wの計算結果を表示部、或いは上記計算結果を出
力する出力部、上記y座標のyp,YQの差、換言すれ
ば対象物体1の傾き△((18)式)に対応する量を表
示する表示部をも備えている。したがって、額さ△に応
じて別途制御手段にて、対象物体1の懐きを是正するよ
うにすることもできる。ところで、焦点距離がf,の場
合と焦点距離f2の場合とで対象物体1の傾きが変化し
たときには原理的には正確な測定を達成することはでき
ないが、上記各焦点距離において対象物体1の傾きが異
なるという状況は極めて稀であるので、実用上殆んど問
題はない。
記各式を演算する演算部の外に、上述の(17)式、即
ち寸法Wの計算結果を表示部、或いは上記計算結果を出
力する出力部、上記y座標のyp,YQの差、換言すれ
ば対象物体1の傾き△((18)式)に対応する量を表
示する表示部をも備えている。したがって、額さ△に応
じて別途制御手段にて、対象物体1の懐きを是正するよ
うにすることもできる。ところで、焦点距離がf,の場
合と焦点距離f2の場合とで対象物体1の傾きが変化し
たときには原理的には正確な測定を達成することはでき
ないが、上記各焦点距離において対象物体1の傾きが異
なるという状況は極めて稀であるので、実用上殆んど問
題はない。
又、振動についても、ズームのスピードが振動の周波数
に対して充分大きければ振動の影響を殆んど受けずに正
確に測定しうる。
に対して充分大きければ振動の影響を殆んど受けずに正
確に測定しうる。
実施例では光学レンズ系はズームレンズ7からなり、し
かも処理回路8からのズーム信号Sgによりズームレン
ズ7の焦点距離が変化する構成としたが、例えば焦点距
離が異なる二つのレンズを第1図の矢印N方向(対象物
体1の長手方向)に沿って所定間隔を介して配設し、各
レンズにより結像された各光学像に対応した二つの検出
器4で検出して各電気映像信号を処理回路8に送出する
ように構成してもよい。
かも処理回路8からのズーム信号Sgによりズームレン
ズ7の焦点距離が変化する構成としたが、例えば焦点距
離が異なる二つのレンズを第1図の矢印N方向(対象物
体1の長手方向)に沿って所定間隔を介して配設し、各
レンズにより結像された各光学像に対応した二つの検出
器4で検出して各電気映像信号を処理回路8に送出する
ように構成してもよい。
この場合には、対象物体1が振動、つまり時間的に変移
していても二つの検出器4についての電気的切り替えに
より、異なる焦点距離による測定の切り替えができるの
でズームレンズ7による場合に比べ、振動の影響をはる
かに受け難い利点がある。なお、上記実施例では、説明
のためモニター画像laを用いたが、従釆よりおこなわ
れている画像処理技術では必ずしもモニター5を必要と
しない。
していても二つの検出器4についての電気的切り替えに
より、異なる焦点距離による測定の切り替えができるの
でズームレンズ7による場合に比べ、振動の影響をはる
かに受け難い利点がある。なお、上記実施例では、説明
のためモニター画像laを用いたが、従釆よりおこなわ
れている画像処理技術では必ずしもモニター5を必要と
しない。
また、上記実施例では、計算上のx,y座標の原点を指
定したが、他の適当なところに原点を層き計算式を展開
しても同様の効果が得られる。
定したが、他の適当なところに原点を層き計算式を展開
しても同様の効果が得られる。
以上のように、この発明によれば、異なった複数個の焦
点距離で対象物体を撮像して映像信号に基いて演算して
対象物体の寸法を得るようにしたので、対象物体の振動
、懐き等に関係なく寸法が正確に求められる効果がある
。
点距離で対象物体を撮像して映像信号に基いて演算して
対象物体の寸法を得るようにしたので、対象物体の振動
、懐き等に関係なく寸法が正確に求められる効果がある
。
第1図、第2図はそれぞれ従来装置の構成、動作を示す
ための図、第3図はこの発明による装置の構成を示すた
めの図、第4図イ,口、第5図はそれぞれこの発明によ
る装置の動作を説明するための図である。 図において、1は対象物体、2はカメラ、4は2次元検
出器、5はモニター、7はズームレンズ、8は処理回路
を示す。 尚、図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
ための図、第3図はこの発明による装置の構成を示すた
めの図、第4図イ,口、第5図はそれぞれこの発明によ
る装置の動作を説明するための図である。 図において、1は対象物体、2はカメラ、4は2次元検
出器、5はモニター、7はズームレンズ、8は処理回路
を示す。 尚、図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被測定対象物体を単一の焦点距離で結像する光学レ
ンズ系と、この光学レンズ系による光学像に対応した電
気的映像信号を発生する第1の撮像手段と、この第1の
撮像手段とは異なつた焦点距離を有する第2の撮像手段
と、上記第1および第2の撮像手段より送出される上記
電気的映像信号、および上記焦点距離の値にもとづいて
所定の演算を行うことにより上記物体の寸法を算出する
処理手段を備えたことを特徴とする寸法測定装値。 2 異なつた焦点距離で対象物体を撮像する第1、第2
の撮像手段は、単一の焦点可変レンズからなり、さらに
物体の寸法を算出する処理手段は焦点可変レンズに対す
る可変信号を発生し、かつ焦点可変レンズは前記可変信
号を受けて焦点が変化するのを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の寸法測定装値。 3 異なつた焦点距離で対象物体を撮像する第1、第2
の撮像手段の各々の光学レンズ系は、第1の焦点距離を
有する第1の光学レンズと、光軸が前記第1の光学レン
ズの光軸と所定間隔を介して配設された第2の焦点距離
を有する第2の光学レンズとからなることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の寸法測定装値。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8480278A JPS6035001B2 (ja) | 1978-07-11 | 1978-07-11 | 寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8480278A JPS6035001B2 (ja) | 1978-07-11 | 1978-07-11 | 寸法測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5512432A JPS5512432A (en) | 1980-01-29 |
| JPS6035001B2 true JPS6035001B2 (ja) | 1985-08-12 |
Family
ID=13840833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8480278A Expired JPS6035001B2 (ja) | 1978-07-11 | 1978-07-11 | 寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6035001B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59170213U (ja) * | 1983-04-28 | 1984-11-14 | ヤ−マン株式会社 | 非接触型光学式変位測定装置 |
-
1978
- 1978-07-11 JP JP8480278A patent/JPS6035001B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5512432A (en) | 1980-01-29 |
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