JPS603707A - サンプル値pid制御装置 - Google Patents
サンプル値pid制御装置Info
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- JPS603707A JPS603707A JP11085183A JP11085183A JPS603707A JP S603707 A JPS603707 A JP S603707A JP 11085183 A JP11085183 A JP 11085183A JP 11085183 A JP11085183 A JP 11085183A JP S603707 A JPS603707 A JP S603707A
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- signal
- control
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B13/00—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion
- G05B13/02—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric
- G05B13/0205—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric not using a model or a simulator of the controlled system
- G05B13/024—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric not using a model or a simulator of the controlled system in which a parameter or coefficient is automatically adjusted to optimise the performance
- G05B13/025—Adaptive control systems, i.e. systems automatically adjusting themselves to have a performance which is optimum according to some preassigned criterion electric not using a model or a simulator of the controlled system in which a parameter or coefficient is automatically adjusted to optimise the performance using a perturbation signal
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- Automation & Control Theory (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する分野〕
この発明は制御対象のプロセスをサンプル値制御するサ
ンプル値PID制御装f、Jtに関し、特に閉ループ制
御中にプロセスの動特性を同定してその同定結果に基づ
いて制御定数の最適化を自動的に行なう機能を有するも
のにおいて、制御系の改良とそれに伴なう制御定数の自
動調?および操業中のプロセスの!!′II1%性変化
に対する制御定数の最適化さらに制御系の応答を選択の
できるサンプル値PID制御装Wlに関する。
ンプル値PID制御装f、Jtに関し、特に閉ループ制
御中にプロセスの動特性を同定してその同定結果に基づ
いて制御定数の最適化を自動的に行なう機能を有するも
のにおいて、制御系の改良とそれに伴なう制御定数の自
動調?および操業中のプロセスの!!′II1%性変化
に対する制御定数の最適化さらに制御系の応答を選択の
できるサンプル値PID制御装Wlに関する。
閉ループ制御中にプロセスのgift 特性を同定して
、その同定結果に基づいてPID制御定数を最適に自動
調整する機能を有するサンプル値PID制御装置として
本発明者の一人が発明し、特W[公開公報(特開昭57
−23108号)に記載の技術がある。
、その同定結果に基づいてPID制御定数を最適に自動
調整する機能を有するサンプル値PID制御装置として
本発明者の一人が発明し、特W[公開公報(特開昭57
−23108号)に記載の技術がある。
第1図は、このサンプル値I’ID制御装置の構成を示
すブロック図である。このサンプル値PID制御装置に
おいては、閉ループ制御中にバーシスチントリ・エキサ
イテイングな同定信号を発生し’t−、フoセス(1)
の入出力データから、プロセスク1)のパルス伝達関数
を同定し、その同定結果から、プロセス(1)のS領域
の伝達関数を演算シフ、目標値からプロセス出力までの
特性が最適外モデル特性と一致するように、サンプル値
PIE)制御定数を 電演算し、その演算結果を用いて
コントロールするようになっていた。
すブロック図である。このサンプル値PID制御装置に
おいては、閉ループ制御中にバーシスチントリ・エキサ
イテイングな同定信号を発生し’t−、フoセス(1)
の入出力データから、プロセスク1)のパルス伝達関数
を同定し、その同定結果から、プロセス(1)のS領域
の伝達関数を演算シフ、目標値からプロセス出力までの
特性が最適外モデル特性と一致するように、サンプル値
PIE)制御定数を 電演算し、その演算結果を用いて
コントロールするようになっていた。
すなわち、この装置では、目標値変化に対する連応性を
ねらったサンプル値P I D制御装置であるため、目
標値に対する追(;L +j−は良くなるが、プロセス
の主要林とサンプル値P I J)制御装置の主要ゼロ
点がほぼ相殺されてしまうことがあるため外乱に対する
プロセス出力の抑制力を持たせる必要が生じてきた。
ねらったサンプル値P I D制御装置であるため、目
標値に対する追(;L +j−は良くなるが、プロセス
の主要林とサンプル値P I J)制御装置の主要ゼロ
点がほぼ相殺されてしまうことがあるため外乱に対する
プロセス出力の抑制力を持たせる必要が生じてきた。
つまシ、目標値に対するプロセス出力の連応性と、外乱
に対するプロセス出力の抑制力ともに、すぐれた制御性
のちるサンプル値PID制御系を得る必要があった。
に対するプロセス出力の抑制力ともに、すぐれた制御性
のちるサンプル値PID制御系を得る必要があった。
また、プロセス制御では制御対象によっては目標値を変
化した場合のプロセス出力がオーバシ。
化した場合のプロセス出力がオーバシ。
−トシないようにコントロールしたり、あるいはオーバ
ーシュートしても良い11合など、fQ々のコントロー
ルが行なわれている。
ーシュートしても良い11合など、fQ々のコントロー
ルが行なわれている。
しかしながら、このサンプル値iJ 11)制(rl装
貿では調整する制御定数がどのようなプロセスでも目標
値の変化に対するプロセス−出力の応答が約10チオー
バシ、−卜するように固定したものであった。従って、
プロセス?ii’制御の現1:j、1の要求を元分畝た
すものが必似となった。
貿では調整する制御定数がどのようなプロセスでも目標
値の変化に対するプロセス−出力の応答が約10チオー
バシ、−卜するように固定したものであった。従って、
プロセス?ii’制御の現1:j、1の要求を元分畝た
すものが必似となった。
化などからプロセスの動特性の変わることがある。
当然のことながら、このようなことがあれば最適な制御
定数を設定しなおす必要がある。現状ではレコーダやモ
ニタテレビ等の高価なプラント監視装置を使い、しかも
オペレータが當時監視することにより、プラント変化を
見て対応している。
定数を設定しなおす必要がある。現状ではレコーダやモ
ニタテレビ等の高価なプラント監視装置を使い、しかも
オペレータが當時監視することにより、プラント変化を
見て対応している。
そこで、サンプル値、 P i D flt制御装置が
プラントを監視して、な訃かつ制御定数のM適化を行な
えることが徴求されていた。
プラントを監視して、な訃かつ制御定数のM適化を行な
えることが徴求されていた。
〔発LllJの[1的〕
本発明の目的は、上記した従来のサンプル1jf4’、
PID制御装置メガの制御性の改善、つまり[j標値
変化に対する連応性と外乱に対する抑制性をともに備え
た制御系を得ることのできるサンプル値f’lD制御装
置を提供することであり、また制御系の目標値変化に対
するプロセス出力の応答形状を選択できる、つまシ制御
系をオーバシーートシないように制御定数を決めたり、
あるいはオーパージ。
PID制御装置メガの制御性の改善、つまり[j標値
変化に対する連応性と外乱に対する抑制性をともに備え
た制御系を得ることのできるサンプル値f’lD制御装
置を提供することであり、また制御系の目標値変化に対
するプロセス出力の応答形状を選択できる、つまシ制御
系をオーバシーートシないように制御定数を決めたり、
あるいはオーパージ。
−ト量を任意に)′JAらび、その制御定数を決定でき
るサンプル値P 1 i)制令+11装置Fiを折供す
ることであシ、さらにまた、J夕:束中のプロセスの動
特性の変化を監視して必吸ならは制御定数の最適化を自
動的に行なえるサンプル値P I D制御装置を提供す
ることである。
るサンプル値P 1 i)制令+11装置Fiを折供す
ることであシ、さらにまた、J夕:束中のプロセスの動
特性の変化を監視して必吸ならは制御定数の最適化を自
動的に行なえるサンプル値P I D制御装置を提供す
ることである。
本発明は、プロセスの励%件を閉ループ制御中に同定し
、その同定結果に基づいてプロセスに外乱が入った場合
の抑制力を得るように規範モデルにマツチングするサン
プル値PID制御定数を決定し、その結果プロセスの目
C値変化に対する連応性が考慮されず、劣る分をプロセ
スの目標値入力点と制御偏差演算点の間に目41 (i
iT 7 イルタを具備するようにして、目標値からプ
ロセス出力1での伝達関数が規範モデルに一致するよう
に目標値フィルタの定数を決定して、外乱に対する抑制
性と目標値変化に対する連応性をともに備えたサンプル
値P I ])制御系を拾成し、サンプル値PID制御
定数より決定できる新しく取り入れた目標値フィルタの
足表′Iをプロセスの同定結果からめたサンプル値P】
」〕制制御数に紛1いてM I¥−し決定するように自
fifll lIl′J!f′−するようにし、かつ、
千V!渠中のプロセスのB(’r ’fh性の変化を検
出して動特性の変化が許容値を%gQえた賜金に、前記
同定と詞書定数の訃゛4県を自動的に11なう装動を伺
加することにより操父中のプロセスの動特性変化に適応
し7た制御定数の最適化を常に行なえ、さらに、制−系
の目標値をステップ変化させたときのプロセスの制御量
の応答形状を選択し、その応答形状に合わせた前記サン
プル値PID制御定数および目標値フィルタ定数を自f
Ibh周整できるようにして、制御系の応答形状を規定
する規範モデルを使用者が選択できるようにして、プロ
セスの制御のオーバシ、−ト9を調整可能にしたサンプ
ル値1’ l D制御装置6である。 1 〔発明の効果〕 (1)操業中のプロセスのtri性をO口゛系列iP′
:Tにより同定し、その同定結果から外乱に対する抑制
力が強く、シかも、目標値に対する連応性ともにすぐれ
たサンプル値P l l)制御系の制イ1η1定数の自
1jji7調整を行なうことができる。
、その同定結果に基づいてプロセスに外乱が入った場合
の抑制力を得るように規範モデルにマツチングするサン
プル値PID制御定数を決定し、その結果プロセスの目
C値変化に対する連応性が考慮されず、劣る分をプロセ
スの目標値入力点と制御偏差演算点の間に目41 (i
iT 7 イルタを具備するようにして、目標値からプ
ロセス出力1での伝達関数が規範モデルに一致するよう
に目標値フィルタの定数を決定して、外乱に対する抑制
性と目標値変化に対する連応性をともに備えたサンプル
値P I ])制御系を拾成し、サンプル値PID制御
定数より決定できる新しく取り入れた目標値フィルタの
足表′Iをプロセスの同定結果からめたサンプル値P】
」〕制制御数に紛1いてM I¥−し決定するように自
fifll lIl′J!f′−するようにし、かつ、
千V!渠中のプロセスのB(’r ’fh性の変化を検
出して動特性の変化が許容値を%gQえた賜金に、前記
同定と詞書定数の訃゛4県を自動的に11なう装動を伺
加することにより操父中のプロセスの動特性変化に適応
し7た制御定数の最適化を常に行なえ、さらに、制−系
の目標値をステップ変化させたときのプロセスの制御量
の応答形状を選択し、その応答形状に合わせた前記サン
プル値PID制御定数および目標値フィルタ定数を自f
Ibh周整できるようにして、制御系の応答形状を規定
する規範モデルを使用者が選択できるようにして、プロ
セスの制御のオーバシ、−ト9を調整可能にしたサンプ
ル値1’ l D制御装置6である。 1 〔発明の効果〕 (1)操業中のプロセスのtri性をO口゛系列iP′
:Tにより同定し、その同定結果から外乱に対する抑制
力が強く、シかも、目標値に対する連応性ともにすぐれ
たサンプル値P l l)制御系の制イ1η1定数の自
1jji7調整を行なうことができる。
(2)緑束中のプロセスの!l1Il特付の変化をサン
プル値PID制御装置で監視でき、しかも、動特性の変
化には制御定数の再調j1ミを自動的に行なわせること
ができる。
プル値PID制御装置で監視でき、しかも、動特性の変
化には制御定数の再調j1ミを自動的に行なわせること
ができる。
(3)プロセスの運転仕様に合わせた制御を行なえるよ
うに、プロセスの目標値のステップ変化に対する制御量
の応答形状を使用者が選択できる。しかも、その場合の
サンプル値Pl])制仰定較および目標イ直フィルりの
フィルり2〆紺父も自B3+t m?:1 万ζにより
行なえる。したがって、サンプル値PID制御系の調整
にかかる人手と時間、さらにはプラントの運転ロスを大
幅に省くことができるばかりでなく、操左中のプロセス
の監視のだめの茜価な設備および人手を省くことができ
、さらにプロセスの運転仕様に合わせた制御系の、il
、Tll整数段持つので実用効果は人である。
うに、プロセスの目標値のステップ変化に対する制御量
の応答形状を使用者が選択できる。しかも、その場合の
サンプル値Pl])制仰定較および目標イ直フィルりの
フィルり2〆紺父も自B3+t m?:1 万ζにより
行なえる。したがって、サンプル値PID制御系の調整
にかかる人手と時間、さらにはプラントの運転ロスを大
幅に省くことができるばかりでなく、操左中のプロセス
の監視のだめの茜価な設備および人手を省くことができ
、さらにプロセスの運転仕様に合わせた制御系の、il
、Tll整数段持つので実用効果は人である。
以下に、本発明の一実施例についてV<+面を用いて詳
細に説明する。第2図は、本発明に係るサンプル値P
l ])制御系の回路構成を示すプロ、り図である。制
御?、II対象は、プラントの?、易度、圧ツバ流侶、
液位などを制御するように構成されたプロセス(1)で
あり、サンプルホールド部(2)に、しりサンプルホー
ルドされたプロセス人力u(1)が入力でありy (t
)がプロセス(1)の出力である。
細に説明する。第2図は、本発明に係るサンプル値P
l ])制御系の回路構成を示すプロ、り図である。制
御?、II対象は、プラントの?、易度、圧ツバ流侶、
液位などを制御するように構成されたプロセス(1)で
あり、サンプルホールド部(2)に、しりサンプルホー
ルドされたプロセス人力u(1)が入力でありy (t
)がプロセス(1)の出力である。
この制御対象は、プロセス出力Y (t) k Wt定
のサンプリング周期τで動作するサンプラ(41)と、
このサンプラ(41)の出力するサンプルされたプロセ
ス出力y(N)をフィードバノクイへ号として入力し、
目標値r(t)を同じサンプリング周期τで同期するサ
ンプラ(42)を紅て、と9サンプルされた目綜値価号
「(N)を入力として、目標値フィルタ(12)の出力
ro(N)を生成し、このr4(Nl来 と前記プロセス出力y(N)とから、制御偏差e(へ)
を演算する偏差演算部6)と、制御1rIl差e代をも
とに、プロセス(1)を制御するサンプル値P I D
制彷16’(n Rlj (5)は前記プロセスのte
t作1作置5号11o)を演算して出力するように基本
的なサンダル(ljj r I 11制御系を構成する
ようになっている。ここでNはli:c Wk時間、t
は爽時間を表わしている。
のサンプリング周期τで動作するサンプラ(41)と、
このサンプラ(41)の出力するサンプルされたプロセ
ス出力y(N)をフィードバノクイへ号として入力し、
目標値r(t)を同じサンプリング周期τで同期するサ
ンプラ(42)を紅て、と9サンプルされた目綜値価号
「(N)を入力として、目標値フィルタ(12)の出力
ro(N)を生成し、このr4(Nl来 と前記プロセス出力y(N)とから、制御偏差e(へ)
を演算する偏差演算部6)と、制御1rIl差e代をも
とに、プロセス(1)を制御するサンプル値P I D
制彷16’(n Rlj (5)は前記プロセスのte
t作1作置5号11o)を演算して出力するように基本
的なサンダル(ljj r I 11制御系を構成する
ようになっている。ここでNはli:c Wk時間、t
は爽時間を表わしている。
一方、プロセス(1)のカ11特性を同定して、その結
果に基づいて前記サンプルイ〔”1制御d1算部(5)
のPID制御定数および前記目(;ツ値フィルタ(12
)のフィルタ定数を調整する同定・チ=−ニング機能は
図の同定信号発生部(7)とパルス伝達’9=1数同定
部O)と伝本的なサンプル値I) l D制御1系にシ
1のように接続されている。プロセス(1)の両特性を
同定するには同定信号発生部σ)から、バーシスチント
リ・エキサイテイングな同定信号9鈴を発生して、前記
−ナンプルホールド部3)を介してプロセスα)に注入
する。
果に基づいて前記サンプルイ〔”1制御d1算部(5)
のPID制御定数および前記目(;ツ値フィルタ(12
)のフィルタ定数を調整する同定・チ=−ニング機能は
図の同定信号発生部(7)とパルス伝達’9=1数同定
部O)と伝本的なサンプル値I) l D制御1系にシ
1のように接続されている。プロセス(1)の両特性を
同定するには同定信号発生部σ)から、バーシスチント
リ・エキサイテイングな同定信号9鈴を発生して、前記
−ナンプルホールド部3)を介してプロセスα)に注入
する。
これにより、閉ループ系の町同定会件が成立するので、
(U蝕、yN)、N=1.2、・・・)なるデータを入
力して、前記パルス伝達関数同定部(9)でプロセス(
1)のパルス伝述関t< G 、 (Z s )を時系
列演算して同定する。次に伝達IV、l数演t1:部(
10)は、得られたパルス伝達1:I数G(Z−’)よ
り、S゛領域伝搾関数o (s)の低周波パラメータg
。Sgl、g2、g3を演算する。ここでg。、gl、
g2、g3は伝達関数G(曇を分母列表規し70次式で
示される)くラメータである。
(U蝕、yN)、N=1.2、・・・)なるデータを入
力して、前記パルス伝達関数同定部(9)でプロセス(
1)のパルス伝述関t< G 、 (Z s )を時系
列演算して同定する。次に伝達IV、l数演t1:部(
10)は、得られたパルス伝達1:I数G(Z−’)よ
り、S゛領域伝搾関数o (s)の低周波パラメータg
。Sgl、g2、g3を演算する。ここでg。、gl、
g2、g3は伝達関数G(曇を分母列表規し70次式で
示される)くラメータである。
−y−yブ/l/ 1flj tlil、l f1’j
l ijf g部(5)で用いるサンプル値制動定数の
比例ゲインKc、積分時定数1゛11彼分時定#J、:
T d ハ、i’+’+Vn2低周波ハラメ−タg、
gls g2sg3とサンダル周期τを用いて、外乱
に対する抑制力が最適になるようにサンプル(iXl、
tI制御定数演算部(川で演−aされる。jた、この
サンプル値制穐1定先ソのIll i 、 Ill d
とサンプル周期τより前記目標値フィルタ(12)のフ
ィルタ定数を目4’+((ns変化に対して;’A:’
、LE、1?j i: j# ;iN K 17:rよ
うよ74’/”I’〜6.〜=+< (’13)で演算
するようになつている。
l ijf g部(5)で用いるサンプル値制動定数の
比例ゲインKc、積分時定数1゛11彼分時定#J、:
T d ハ、i’+’+Vn2低周波ハラメ−タg、
gls g2sg3とサンダル周期τを用いて、外乱
に対する抑制力が最適になるようにサンプル(iXl、
tI制御定数演算部(川で演−aされる。jた、この
サンプル値制穐1定先ソのIll i 、 Ill d
とサンプル周期τより前記目標値フィルタ(12)のフ
ィルタ定数を目4’+((ns変化に対して;’A:’
、LE、1?j i: j# ;iN K 17:rよ
うよ74’/”I’〜6.〜=+< (’13)で演算
するようになつている。
このようにして、閉ループ制fr’n中にプロレス(1
)の動特性を同定して、その同定j%j果にノーミづい
て、外乱に対する抑制力が強く、シかも目ゼ;4 (i
+:’+に対する連応性ともにすぐれたサンプル値PI
L1制御系の制(IIjl定θの自動調JJ−Jj、1
.j能がjFj成されるのである。
)の動特性を同定して、その同定j%j果にノーミづい
て、外乱に対する抑制力が強く、シかも目ゼ;4 (i
+:’+に対する連応性ともにすぐれたサンプル値PI
L1制御系の制(IIjl定θの自動調JJ−Jj、1
.j能がjFj成されるのである。
また、前記サンプル値P、11)制御定Qi9辿算部(
11)で用いる制御系の設言1のだめの規範モデルは2
]J1モデルとダンピングのあるモデルを形4大: i
:416vαを使って一式化して、この形4ノ、係数α
を設定変更することによシ、制御系の目や1″値のステ
ップ変化に対する応答板形のオーバシA −) fig
を調整できるようになっている。しかも、この形状係紗
αの調整に伴なう前記サンプル値制御定↓((ルよびフ
ィルタ定数の変更は自動的に11なうようになっている
。
11)で用いる制御系の設言1のだめの規範モデルは2
]J1モデルとダンピングのあるモデルを形4大: i
:416vαを使って一式化して、この形4ノ、係数α
を設定変更することによシ、制御系の目や1″値のステ
ップ変化に対する応答板形のオーバシA −) fig
を調整できるようになっている。しかも、この形状係紗
αの調整に伴なう前記サンプル値制御定↓((ルよびフ
ィルタ定数の変更は自動的に11なうようになっている
。
次に、操業中のプロセス(1)の動!i)性液化を監視
して、1ij1%性変化がd′F8できなくなった場合
に制御定数を再調整するために前記同定・チ、−ニング
機能をトリガする適応(ル能を油、明する。
して、1ij1%性変化がd′F8できなくなった場合
に制御定数を再調整するために前記同定・チ、−ニング
機能をトリガする適応(ル能を油、明する。
適応機能は図の同定終了判定部(14)と特性変化検出
部(15)とコントロール部(16)から(S成され、
図のように同定チ、−ニング機能部およびサンプル値P
、I JJ制御系に接糺1されている。
部(15)とコントロール部(16)から(S成され、
図のように同定チ、−ニング機能部およびサンプル値P
、I JJ制御系に接糺1されている。
まず、前り己同定・チ、−ニング桜゛能の同道でか進む
に従って、j’fll :f+、1伝達門数演詐tfl
t(io)で演算したtj’l ’n12低周波パラメ
ータg。、gl、g2、g3のイjf1が収束してくる
。そこで、同定終了信号ill″+(14)で次式のよ
うにパラメータの収束判定を1−jな−て同定終了信号
を出力するようになっている。
に従って、j’fll :f+、1伝達門数演詐tfl
t(io)で演算したtj’l ’n12低周波パラメ
ータg。、gl、g2、g3のイjf1が収束してくる
。そこで、同定終了信号ill″+(14)で次式のよ
うにパラメータの収束判定を1−jな−て同定終了信号
を出力するようになっている。
Ig、rtJ)−gi (N−1)14几Ass (i
=1〜3)・・・・・・1152式 %式% 値を設定する。
=1〜3)・・・・・・1152式 %式% 値を設定する。
この第2式の同定終了条Y1が満たされたとき、同定終
了判定部(14)が同定終了111号をコントロール部
(16)に入力し、コントロール部(16)が前8(シ
同定・チーーニング様能の同定信号発生部σ)とノくル
ス伝達関数同定部(9)および伝達1−目9剋Δ部(1
0)の動作を停止させるようになっている。
了判定部(14)が同定終了111号をコントロール部
(16)に入力し、コントロール部(16)が前8(シ
同定・チーーニング様能の同定信号発生部σ)とノくル
ス伝達関数同定部(9)および伝達1−目9剋Δ部(1
0)の動作を停止させるようになっている。
さらに、コントロール部(16)は同定・チ、−ニング
械能の停止時の前記サンプルfll′1制御定数演算部
(11)で演算されだKc、 T i、 ’I’dのイ
1葭を前記ザンブル値制御演算も1責5)に入力し、フ
ィルタ足載演算(する) W’T 算したフィルタ定数を前Hi: II J:?
j値フィルタに入力してサンプル値PIJJ制御:PI
l′′1−のυ、・1整を終了するようになっている。
械能の停止時の前記サンプルfll′1制御定数演算部
(11)で演算されだKc、 T i、 ’I’dのイ
1葭を前記ザンブル値制御演算も1責5)に入力し、フ
ィルタ足載演算(する) W’T 算したフィルタ定数を前Hi: II J:?
j値フィルタに入力してサンプル値PIJJ制御:PI
l′′1−のυ、・1整を終了するようになっている。
また、コントロール部(16Nd回定糾了(i4号を受
けて、特性変化検出部(15)に同定終了時の前記パル
ス化iV l’N、li同足fit! (9)で演4゛
Jシたプロセスのパラメータを入力させ、特性変化検出
部(15)を起i1)させる。特性変化検出部(15)
は入力されたプロセスパラメータとプロセスの操作信号
LIN)とプロセス米 信号7代を使ってサンプル周期τ毎にプロセス(1)の
同定終了後の11テ性変化を′6)を算して、その結果
をコントロール部(16)に出力するようになっている
。
けて、特性変化検出部(15)に同定終了時の前記パル
ス化iV l’N、li同足fit! (9)で演4゛
Jシたプロセスのパラメータを入力させ、特性変化検出
部(15)を起i1)させる。特性変化検出部(15)
は入力されたプロセスパラメータとプロセスの操作信号
LIN)とプロセス米 信号7代を使ってサンプル周期τ毎にプロセス(1)の
同定終了後の11テ性変化を′6)を算して、その結果
をコントロール部(16)に出力するようになっている
。
ここで、特性変化検出部(15)で鉋算される特性変化
信号の性′J1として、プロセス(1)の動特性が変わ
った場合とプロセス(1)に夕(乱が加わった場合には
直流成分が現われる。しかも、このiαbIL成分の現
われている時にプロセス(]、)の入カイi’j 4j
を変佳さ仕ると、外乱の場合は直流成分が変化しないが
、プロセス(1)の動1゛j性が変化している坊1合は
直流成力が変動する。
信号の性′J1として、プロセス(1)の動特性が変わ
った場合とプロセス(1)に夕(乱が加わった場合には
直流成分が現われる。しかも、このiαbIL成分の現
われている時にプロセス(]、)の入カイi’j 4j
を変佳さ仕ると、外乱の場合は直流成分が変化しないが
、プロセス(1)の動1゛j性が変化している坊1合は
直流成力が変動する。
そこで、物件′、!シー化七′N山部(15)のiiQ
Tr’(結果に直流成分が発生し、しかもあらかじめ
7:ゾ定する許五値を越えた潟、1合に、プロセス(1
)の入カイi;号がパルス的に変わるようにコントロー
ル部(16)から動!1゛〒性り2署り確認パルスを1
ン、Iのようにランゾル値)’ l D制1fll 4
1; f7.の目+’;!+直1i’i ”3’ r
(’l)に力If 、’C’J−R1((17) ’ち
るいは操作48号U。INlに加算部(6)、あるいは
また1ト11差個号演算部(3)のいずれか1点に加え
、そのMj、 !’の特性変化(の山部(16)で出力
した直流成分の変iajの有無をコントロール+t+s
(161で判定する。
Tr’(結果に直流成分が発生し、しかもあらかじめ
7:ゾ定する許五値を越えた潟、1合に、プロセス(1
)の入カイi;号がパルス的に変わるようにコントロー
ル部(16)から動!1゛〒性り2署り確認パルスを1
ン、Iのようにランゾル値)’ l D制1fll 4
1; f7.の目+’;!+直1i’i ”3’ r
(’l)に力If 、’C’J−R1((17) ’ち
るいは操作48号U。INlに加算部(6)、あるいは
また1ト11差個号演算部(3)のいずれか1点に加え
、そのMj、 !’の特性変化(の山部(16)で出力
した直流成分の変iajの有無をコントロール+t+s
(161で判定する。
ここで、りCil山があるJ混合は言′1hされ)「い
フ゛ロセスの動71.l1例の乳化であるので、前記同
定・チューニング桧h[(を起動させて、制御定かを藉
しく調整し、変動のない場合は外乱であり、−リ゛ング
ル値P1])制御演し′>、 r:+X(51の1iI
III作でレギ、レーシヲンてきるので、前記特性変化
検出部(16)に出力が零に )なるように外乱の/・
二めの補止111“4を人力するように役っている。
フ゛ロセスの動71.l1例の乳化であるので、前記同
定・チューニング桧h[(を起動させて、制御定かを藉
しく調整し、変動のない場合は外乱であり、−リ゛ング
ル値P1])制御演し′>、 r:+X(51の1iI
III作でレギ、レーシヲンてきるので、前記特性変化
検出部(16)に出力が零に )なるように外乱の/・
二めの補止111“4を人力するように役っている。
以上のようにして、植束中のプロセス(1)のq’:j
t14変化を監視し、さらに!17I114′、i性
変化時には1輩・チューニング4;(を能をトリガして
、]Ii牛、1.気なffrllイ、!1)定数の調胎
が自動的になされるようになっている。
t14変化を監視し、さらに!17I114′、i性
変化時には1輩・チューニング4;(を能をトリガして
、]Ii牛、1.気なffrllイ、!1)定数の調胎
が自動的になされるようになっている。
なお、本発明のザンプルイ11″IP i ’、1)
jjiす;、’a41装置VlでCJ、コントロール部
(16)で図示しないデータ入力設定器、例えばコンソ
ールタイプライタ、コンソールディスプレイモニタ、あ
るいは専用パネルから人力されるところの′す”ンプル
値制御定数の初期値、サンプル周期τ、化4形状係数α
などを入力して前記した関係!?3都へ設定するように
なっている。
jjiす;、’a41装置VlでCJ、コントロール部
(16)で図示しないデータ入力設定器、例えばコンソ
ールタイプライタ、コンソールディスプレイモニタ、あ
るいは専用パネルから人力されるところの′す”ンプル
値制御定数の初期値、サンプル周期τ、化4形状係数α
などを入力して前記した関係!?3都へ設定するように
なっている。
畑らに、PI副制御るいはP ]、 D ;li制御の
設定外史、同定・チューニング(良能の1jiJ作のオ
ン・オフ設定と適応楼、能のオン・オフ設定も行なうよ
うになっている。
設定外史、同定・チューニング(良能の1jiJ作のオ
ン・オフ設定と適応楼、能のオン・オフ設定も行なうよ
うになっている。
次に、各構成tτIS分についてさらにh1細に説明す
る。
る。
サンプル値制仰演n部(5)は比例ゲイン1<01積分
時W数T!、微分時定数’It’d、(初期値でけl(
c、。
時W数T!、微分時定数’It’d、(初期値でけl(
c、。
T+o%pd、)、サンプル周期τを用いて制(、Il
l偏差r(Nから操作(Q刊【Io(へ)を次のように
ザ:/プル周期 ”毎に汗(算して出力する。
l偏差r(Nから操作(Q刊【Io(へ)を次のように
ザ:/プル周期 ”毎に汗(算して出力する。
半
uoIJ)=uo(N−1)+Δu oII)・・・・
・、 f433式%式% )) ・・・・・・2134式 同定(iT1号う己生部(7)では、バーシスチントリ
・エキサイテイングなイn号Vも)を発生し、この同定
イb家 号Vも)しより1シシロX1ζ(6)でU。(へ)と刀
11p、され、ナンフ゛ルホールド部(2)の入力と女
る。ずなわち、ぴ式で示される。
・、 f433式%式% )) ・・・・・・2134式 同定(iT1号う己生部(7)では、バーシスチントリ
・エキサイテイングなイn号Vも)を発生し、この同定
イb家 号Vも)しより1シシロX1ζ(6)でU。(へ)と刀
11p、され、ナンフ゛ルホールド部(2)の入力と女
る。ずなわち、ぴ式で示される。
吉0−♂。N)+翰・−・−・・−rg 5式本実施例
での2、同定48号り荀として簡単なアルゴリズムで4
1−成することのできるM系列信号を用いた。
での2、同定48号り荀として簡単なアルゴリズムで4
1−成することのできるM系列信号を用いた。
パルス伝升関截同定部O)は、プロセス出カケ号半
ytJ)と第5式のU(へ)からプロセス(1)のlj
l /l¥性をあられすパルス伝達関数を時系列処理に
より同定するものである。
l /l¥性をあられすパルス伝達関数を時系列処理に
より同定するものである。
本実jmiπI+のパルス伝メ:門みス回)iJ、 t
’t:i (9)は、周知の拡鮫最小29+!:フィル
タで4j“L成されている。ノIt終的ニ、フロセス(
1)のパルス伝ン(1ζ11斂は次式でまる。
’t:i (9)は、周知の拡鮫最小29+!:フィル
タで4j“L成されている。ノIt終的ニ、フロセス(
1)のパルス伝ン(1ζ11斂は次式でまる。
伝辻旧;シ>、 1′j%: 4’l ’riii (
1(1)は、パルス伝1ト11.1に、゛・同定部(1
9)で6:すIされたパルス伝a I’/−1数のパラ
メータai(i = 1〜m )、b((i=1〜n
)から61’、’ 1式でボされる伝達1グ1係()
(S)の分母系列のパラメータ(go+g1g 2 +
g 3+・・・・・・)を演−e、する。この(、:
、::kj、、’方法については、2120回S I
Q E学M iif; tj 会(Hf(56年7月)
の講演香号1110rパルス伝達1)、1数からS旬J
、!、:の低周波特性心高方式のtr= i:」で示さ
れている方法で行なっている。
1(1)は、パルス伝1ト11.1に、゛・同定部(1
9)で6:すIされたパルス伝a I’/−1数のパラ
メータai(i = 1〜m )、b((i=1〜n
)から61’、’ 1式でボされる伝達1グ1係()
(S)の分母系列のパラメータ(go+g1g 2 +
g 3+・・・・・・)を演−e、する。この(、:
、::kj、、’方法については、2120回S I
Q E学M iif; tj 会(Hf(56年7月)
の講演香号1110rパルス伝達1)、1数からS旬J
、!、:の低周波特性心高方式のtr= i:」で示さ
れている方法で行なっている。
サンプル値制御定<M ifi算部(11)は、1バ乃
、閉否り演算部(10)で演算された伝達1゛七(数G
(S)の分母系列ノくラメータ(gg +g1.+g
2 +g2 )とサンプルJt・目jllτより、f
yプル1+ff、 fljll ’1111tI:t
:、i% f’:!S (5) f 用イア) 外乱K
91してプロセスの変ikhの抑制力の艮い −IJ
−シブル値P I IJ制御’)、’+14・ξを(ト
シーしている。本実7iiQ例では、北森が計測自動制
御学会論文$、1979年第15巻不5号J)・11:
3〜136、「制7i+11幻象の↑71チ分的知N:
”jに基つくリーンプル11i、制(+’ll系の言1
1′泪法jの中で述べている方V、にもとづいて、サン
プルイト・)) l I)定逸′lを演算している。
、閉否り演算部(10)で演算された伝達1゛七(数G
(S)の分母系列ノくラメータ(gg +g1.+g
2 +g2 )とサンプルJt・目jllτより、f
yプル1+ff、 fljll ’1111tI:t
:、i% f’:!S (5) f 用イア) 外乱K
91してプロセスの変ikhの抑制力の艮い −IJ
−シブル値P I IJ制御’)、’+14・ξを(ト
シーしている。本実7iiQ例では、北森が計測自動制
御学会論文$、1979年第15巻不5号J)・11:
3〜136、「制7i+11幻象の↑71チ分的知N:
”jに基つくリーンプル11i、制(+’ll系の言1
1′泪法jの中で述べている方V、にもとづいて、サン
プルイト・)) l I)定逸′lを演算している。
−まず、Jlf、fi’jコ、モデルの伝達j7動リ一
〇)をp口iτ−1北イCのダンピングのある川、範モ
デルと本発明?−i+、:iする2」、iモデルを形状
係ζ′tαで一式什しプr次J(、て力える。
〇)をp口iτ−1北イCのダンピングのある川、範モ
デルと本発明?−i+、:iする2」、iモデルを形状
係ζ′tαで一式什しプr次J(、て力える。
■慴)−−−−−−一−−−−’−”−−−−一−−’
−’−−−’−1十σ5−+−α、(σS)2+α3(
σS>3+α4(σS)4+であり、係数 ’4’ 3
.、E、、 3/1ouは北ス“トの規むj5モデルの
ものである。膨状係薬ンαが0ならしI 2 ]百モデ
ルを規範モデルとし、形状係数αが1ならば化1°仕の
規範モデルとなる。さらに形状係数αは0≦α≦2.0
のイ11をとることにより、色々な規範モデルが使用で
きる。
−’−−−’−1十σ5−+−α、(σS)2+α3(
σS>3+α4(σS)4+であり、係数 ’4’ 3
.、E、、 3/1ouは北ス“トの規むj5モデルの
ものである。膨状係薬ンαが0ならしI 2 ]百モデ
ルを規範モデルとし、形状係数αが1ならば化1°仕の
規範モデルとなる。さらに形状係数αは0≦α≦2.0
のイ11をとることにより、色々な規範モデルが使用で
きる。
さて、ステップタ■乱に対して、制御1保の応募を規(
・[lモデルW (6’lとマツチングさぜることによ
り、ここで、(’ O+ O、、C2けiJ、’、 !
lデ、のi<c 、 Jlf 、 、 Tdと次のよう
な口J係であられすことができる。
・[lモデルW (6’lとマツチングさぜることによ
り、ここで、(’ O+ O、、C2けiJ、’、 !
lデ、のi<c 、 Jlf 、 、 Tdと次のよう
な口J係であられすことができる。
Kc=O。
T’1=o110o 旧−・:p9式
%式%(
従って、第8式からサンプル値P I l)制御4へ1
1・゛の動作モードに応じて以下のY、ECS’1.を
行なう。
1・゛の動作モードに応じて以下のY、ECS’1.を
行なう。
PL動作では、次の2次方程式
=0 ・・・ 紀10式
半
を1・jfいて正の最小根欠σとすると、0゜01は次
のようになる。
のようになる。
PID動作では、次の3次方程式を)つ・1いて(g2
+τg、十τ2go)C4a 3−1− (g 3 +
−τg++2 謝 同4.f・に正の最小枳をdとすれば、Co、 Q 、
、 (j2は次のようになる。
+τg、十τ2go)C4a 3−1− (g 3 +
−τg++2 謝 同4.f・に正の最小枳をdとすれば、Co、 Q 、
、 (j2は次のようになる。
以上のPI動作の場合とP I D動作の場合の一連の
演算をコントロール部(16)の動作指令信号に従って
サンプル値制御定数演算部(川で行なうのである。
演算をコントロール部(16)の動作指令信号に従って
サンプル値制御定数演算部(川で行なうのである。
その動作フローを第3図に示す。
以上で、ステノプタl乱に対して制御系の応答を適切な
抑制力のあるようにすることができるが、一方、このま
まではプロセス(1)の目標値r。凹をステップ変化さ
せるとオーパージ、−トが大きすぎたり、整定時間が長
くな−たりして、必ずしも連応性の良い制御は行なえな
い。
抑制力のあるようにすることができるが、一方、このま
まではプロセス(1)の目標値r。凹をステップ変化さ
せるとオーパージ、−トが大きすぎたり、整定時間が長
くな−たりして、必ずしも連応性の良い制御は行なえな
い。
そこで、次に目標値信号からプロセス信号までの伝達+
9:i 、Q Y (81/ r (、’i)も前I!
2 J’A、1jj11、モデ# W $)にマツチン
グするように、新らたに目4庁値フィルタ(12)を用
いて補止を行なう。この目標値フィルりi((Z−1)
は次式のようにサンプル周期毎、に演算を行なうもので
ある。
9:i 、Q Y (81/ r (、’i)も前I!
2 J’A、1jj11、モデ# W $)にマツチン
グするように、新らたに目4庁値フィルタ(12)を用
いて補止を行なう。この目標値フィルりi((Z−1)
は次式のようにサンプル周期毎、に演算を行なうもので
ある。
3
II (Z−’ ) = −−m=−−−−−−−・・
・・・2fB4式%式% この目標値フィルタ(12)のフィルタ定数り、、〜2
゜〜3は前1己ザンプル値制御定船vIσ部でれンI算
した積分時定数Ill i1倣分時定数1゛dとサンプ
ル周期τかこの第15式の演算をフィルタ定数む・H、
tJ’l’、 f″1lX(13)で行なうものである
。
・・・2fB4式%式% この目標値フィルタ(12)のフィルタ定数り、、〜2
゜〜3は前1己ザンプル値制御定船vIσ部でれンI算
した積分時定数Ill i1倣分時定数1゛dとサンプ
ル周期τかこの第15式の演算をフィルタ定数む・H、
tJ’l’、 f″1lX(13)で行なうものである
。
以上、同定結果よシ、−サンプル値制御演算部(5)で
用いる比例ゲインKC1和分1時>−1−数’l’ i
、 徽分時足載Tdの調詰方法とその結果から目標値
フィルタ(12)のフィルタ定ρのi’41 !I合方
法を示した。
用いる比例ゲインKC1和分1時>−1−数’l’ i
、 徽分時足載Tdの調詰方法とその結果から目標値
フィルタ(12)のフィルタ定ρのi’41 !I合方
法を示した。
このようにすることにより、外乱に対する抑制力が強く
、シかも目ね値に対する連応性の良いサンプル値PID
制御系の調号1“′−を自jjjfJ化するものである
。
、シかも目ね値に対する連応性の良いサンプル値PID
制御系の調号1“′−を自jjjfJ化するものである
。
さらに、第7式で示す規範モデルを用いているので形状
係数αの設定により、オーパージニートしない制御系か
ら適当なオーパージニートをする制御系の制御定数の調
整を自動的に行なえるものである。
係数αの設定により、オーパージニートしない制御系か
ら適当なオーパージニートをする制御系の制御定数の調
整を自動的に行なえるものである。
案
によって、制御系の応答を自由に’1j(1択できるこ
とがわかる。
とがわかる。
次に本発明の適応機能の詳細な説明を第2図に戻って説
明する。同定・チューニング終了時にはパルス伝達関斂
同定部e)によって、プロセス(i)の特性パラメータ
負 (i=1〜m)、宣 (i=1〜n)とプロセス(
1)の平衡点パラメータ令が明きらかになる。一方、1
ヤ循中のプロセス(1)の動特性が変わったとするとQ
”j ’I’、’iパラメータ+aI(+ = 1−m
)、b+’(1=1〜n)が変わったはずであり、ま
pニブロセス(1)に外乱が印加されるとdが変わるK
JE t b着。
明する。同定・チューニング終了時にはパルス伝達関斂
同定部e)によって、プロセス(i)の特性パラメータ
負 (i=1〜m)、宣 (i=1〜n)とプロセス(
1)の平衡点パラメータ令が明きらかになる。一方、1
ヤ循中のプロセス(1)の動特性が変わったとするとQ
”j ’I’、’iパラメータ+aI(+ = 1−m
)、b+’(1=1〜n)が変わったはずであり、ま
pニブロセス(1)に外乱が印加されるとdが変わるK
JE t b着。
そこで、特性体化検出部(15)で次式のようにモデル
tjj4差をjifjiネ、する。
tjj4差をjifjiネ、する。
η(へ)=yN)−y蝕 ・・・・・・・・・ 第16
式ここでy(へ)は同定・チューニング終了時の特性パ
ラメータから次のように演算されるプロセスの出力であ
る。
式ここでy(へ)は同定・チューニング終了時の特性パ
ラメータから次のように演算されるプロセスの出力であ
る。
祁)>胃箱y(N−i)十ヌ錦u(N−i)+?1 ・
・・第18式 □+=1 1=1 一方、現zPのプロセス出力は次式のようになる。
・・第18式 □+=1 1=1 一方、現zPのプロセス出力は次式のようになる。
yN)士畠1y(〜1)=渚パ(N−i)+gff”+
Δqε(N−i)+d ・・・第19式ここでεはノイ
ズである。
Δqε(N−i)+d ・・・第19式ここでεはノイ
ズである。
第18式と第19式をM’16式に代入することによシ
、モデル誤差1NJff、次のようになる。
、モデル誤差1NJff、次のようになる。
つまり、モデル誤差η(へ)は特性パラメータの変化が
入った式である。
入った式である。
ここで、第20式の期待値E〔η〜〕を考えると、特性
変化の無いときはE〔η(へ))=0であシ、特性変化
が有るとE〔η〜〕〜0となる。
変化の無いときはE〔η(へ))=0であシ、特性変化
が有るとE〔η〜〕〜0となる。
しかしながら、期待値E〔η(へ)〕を演、(1,する
ことは実用上できない。そこで、本実施例では次式のよ
うにモデル誤差η(へ)の短時間平均値τ(へ)を演算
している。
ことは実用上できない。そこで、本実施例では次式のよ
うにモデル誤差η(へ)の短時間平均値τ(へ)を演算
している。
この、モデル誤差の短時間平均値τ鉤をr[零値L1
と次のように比較判定することにょシ、プロセス(1)
の特性変化を監視する。
と次のように比較判定することにょシ、プロセス(1)
の特性変化を監視する。
I7丹1〉Ll・ ・・・・・・・・・ 第22式ここ
で、許容値り、lは次に示す特性パラメータベクトルの
ノルムから演算する。
で、許容値り、lは次に示す特性パラメータベクトルの
ノルムから演算する。
ここで、第23式の11δθ11/ 11t11はプロ
セス(1)の特性変化率を示している。
セス(1)の特性変化率を示している。
したがって、
のように、プロセス(1)の特性変化の許容率チを設定
することによシ、許容値り、が演算できる。
することによシ、許容値り、が演算できる。
さて、このようにして演算されたモデル誤差の短時間平
均値η(へ)は、プロセス(1)の動特性が変わった場
合および外乱が印加されているJ(+、合、ともに直江
成分が発生する。
均値η(へ)は、プロセス(1)の動特性が変わった場
合および外乱が印加されているJ(+、合、ともに直江
成分が発生する。
しかしながら、外乱による発生の場合はPID制御自身
でレギーレーシ1ンできるので、たとえ許容値り、・を
越えたとしても問題がない。
でレギーレーシ1ンできるので、たとえ許容値り、・を
越えたとしても問題がない。
一方、プロセスの動特性変化で発生している場合は、当
然ながら制御定数の′F+H’e aVj 全必要とす
る。
然ながら制御定数の′F+H’e aVj 全必要とす
る。
そこで、このふたつの発生原因を判定する必要がある。
本実施例では、前記第20式を丙記して説、明すると、
・・・・・・第24式
この式から、プロセスの動特性の変わった場合つまシδ
a11とδ臥 が変化し、δdは変化せず零のとき、プ
ロセスの入力信号であるu (N −i ) ヲ変化す
ることによシ、さらにモデル誤差が変化することがわか
る。
a11とδ臥 が変化し、δdは変化せず零のとき、プ
ロセスの入力信号であるu (N −i ) ヲ変化す
ることによシ、さらにモデル誤差が変化することがわか
る。
一方、プロセスの外乱が変わった場合、つまりδdが変
化し、δa、とδb<iは変化せず零のときはプロセス
の入カイh号であるu(N−i)を変化しても、モデル
誤差は変わらない仁とがわかる。
化し、δa、とδb<iは変化せず零のときはプロセス
の入カイh号であるu(N−i)を変化しても、モデル
誤差は変わらない仁とがわかる。
つまり、モデル誤差が許容値り、を越えた場合に、プロ
セスの入力信号u(’N−1)が変わるように動特性変
化確認パルスを偏差信号演算部6)、あるいは同定信号
加算?S1((6) 、あるいはまた加算部(17)の
いずれか1点から印加することにより実現できる。
セスの入力信号u(’N−1)が変わるように動特性変
化確認パルスを偏差信号演算部6)、あるいは同定信号
加算?S1((6) 、あるいはまた加算部(17)の
いずれか1点から印加することにより実現できる。
本実施例では、偏差イハ号演3′#、部(3)に加える
ように桁数している。次に、この動4“を性久化#超パ
ルスを印加した徒のモデル誤差の変動の検出には次式の
ようにモデル誤差ηへの彼分値を演:l’!シた結果を
使っている。
ように桁数している。次に、この動4“を性久化#超パ
ルスを印加した徒のモデル誤差の変動の検出には次式の
ようにモデル誤差ηへの彼分値を演:l’!シた結果を
使っている。
ここで、L2 はり、と同様に次式で演ff−する。
+1Δψ(Nll=(y (N−1)−y (N−に−
1) 、−、y (N−m) −y (N−1c −m
) 、u (N−1) −u (N−に−1) 、
・ 。
1) 、−、y (N−m) −y (N−1c −m
) 、u (N−1) −u (N−に−1) 、
・ 。
” (N ” ) u (N−に−n )”つまシ、印
加する動特性変化確F、rパルスの振11Q?i以上の
ように、モデル誤差1η(へ)1が許容値Jノ+ を越
えた場合に動特性変化値:誌パルスを印加し、その直後
にモデル誤差の微分値1Δη(\)Iが検出レベルLl
を越えた場合、プロセスの動11”Y件変化が有シと
判定し、前記同定チ、−ニング機能を起動させる。
加する動特性変化確F、rパルスの振11Q?i以上の
ように、モデル誤差1η(へ)1が許容値Jノ+ を越
えた場合に動特性変化値:誌パルスを印加し、その直後
にモデル誤差の微分値1Δη(\)Iが検出レベルLl
を越えた場合、プロセスの動11”Y件変化が有シと
判定し、前記同定チ、−ニング機能を起動させる。
一方、動特性変化確認パルスを印加しても判定時間NT
内にモデル誤差の微分値1△η(へ)1がL上を越えな
い場合、外乱と判定してモデル誤差1η勤1を補正する
。
内にモデル誤差の微分値1△η(へ)1がL上を越えな
い場合、外乱と判定してモデル誤差1η勤1を補正する
。
つまシ、前記第20式のδdにこのときの1η■1を外
乱補正値として入力する。この適応機能の動以上、木9
F’+明ではJ品フイ=中のプロセスの動特性変化を検
出して、制御グミt数の’M’ ii”I m!作;〜
i府自rlj的に行なうものである。
乱補正値として入力する。この適応機能の動以上、木9
F’+明ではJ品フイ=中のプロセスの動特性変化を検
出して、制御グミt数の’M’ ii”I m!作;〜
i府自rlj的に行なうものである。
4、 図面のfハ1単な、i況明
第1図は従来例の説明に供するブロック図、第2図は本
発明のサンプル値P I D fliil fjll形
。li、’、+−の回路4:’j 1氏し、1、第3図
れプロ・ツク1内を65?1す]するフロー1X1、第
41¥1は本発明の形状保砂設5に機h[:の効果説明
し1、第5図は本発明の適応cr能の!hは′]説明口
1である。
発明のサンプル値P I D fliil fjll形
。li、’、+−の回路4:’j 1氏し、1、第3図
れプロ・ツク1内を65?1す]するフロー1X1、第
41¥1は本発明の形状保砂設5に機h[:の効果説明
し1、第5図は本発明の適応cr能の!hは′]説明口
1である。
(1)・・・プロセス、e)・・・サンプルホールド、
(41)ト(42)・・・サンプラ、但)・・・サンプ
ル値制御ち゛・Ip部、(7)・・・同定イ5j号発生
部、υ)・・・パルス伝達関数同定部(10)・・・伝
近門数演算部、(11)・・・ザンプル値制御定蕎り浄
j算部、(12)・・・目枠値フィルタ、(13)・・
・フィル″′″″″?’(If−741(、(”°°°
“J ! M 7 M’“″””is、 0s+−q”
、性液化検出部、(16)・・・コントロール部、<
171・・・加算部。
(41)ト(42)・・・サンプラ、但)・・・サンプ
ル値制御ち゛・Ip部、(7)・・・同定イ5j号発生
部、υ)・・・パルス伝達関数同定部(10)・・・伝
近門数演算部、(11)・・・ザンプル値制御定蕎り浄
j算部、(12)・・・目枠値フィルタ、(13)・・
・フィル″′″″″?’(If−741(、(”°°°
“J ! M 7 M’“″””is、 0s+−q”
、性液化検出部、(16)・・・コントロール部、<
171・・・加算部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)制御対象となるプロセスの目(ご値信号をサンプ
リングしてフィルタ演算する目標値フィルタとこの目標
値フィルタの出力信号と前記プロセスの制御m、をサン
プリングしたプロ上146号から制御偏差を@算して、
この制御偏差信号をPID制御演算して前記プロセスの
操作信号を出力するサンプル値PID制御演算部とから
(°11成される制御ループ内に、パーシスチントリ・
エキサイテイング信号からなる同定信号を印加する同定
信号発生部と、この同定信号発生部で発生した同定信号
を前記サンプル値PID制御演算部の出力に加算して得
られる操作信号およびプロセス信号から前記プロセスの
パラメータを同定するパルス伝達関数同定部とこのパル
ス伝fQ IJ“31数同定部で得られるプロセスのパ
ルス伝達関数からS(ラプラス演Jl、子)領域の伝達
関数を演算する伝達し1数′1Jir算部と、この伝達
関数演算部の演算結果から前記サンプル値PID制御演
算部で用いるPID制御定数を油算するサンプル値制御
定数演算部と、このサンプル値PID制御定数演算部の
P l 1)制御定数から前記目標値フィルタのフィル
タ定数を演算するフィルタ定数演算部から構成する同定
・チューニング機能と前記伝達関数演算部の演算結果か
ら前記同定の終了を演算判定する同定終了判定部と、同
定終了時の前記パルス伝達関数演算部のプロセスパラメ
ータト前記同定・チューニング機能の停止した後のプロ
セスの操作信号およびプロセス信号から前記プロセスの
特性変化を演算する特性変化検出部と、この特性変化検
出部の演算結果があらかじめ設定した特性変化n′「零
値を越える場合に前記プロセスのサンプリングした目標
値信号にパルスを印加し、このパルスを印加した後の前
記特性変化検出部の演3v結果の過渡変化の有無により
、同定・を−一ニング杉・り能を11スタートもしくは
停止を維持するコントロール部から構成する再スタート
機能とを具fltjiしたことをtf4+ (、Jとす
るサンプル値PID制御’l’−lls“。 値PID制御装置。 6)パルスの印加点を同定信号の加算点とする構成にし
たことを特徴とする特8′FM>J6[を第1項記載の
サンプル値PID制御装置1’J、’ 。 (4)サンプル値PID制御定数演算部の演算に用いる
規範モデルを2項モデルとダンピングのあるモデルのふ
たつを形状係数で一式化して、この形状係数を可変する
形状係数設定部を具備したことを特徴とする特許請A囲
第1項記載のザンプル値PID制御装(no
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11085183A JPS603707A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | サンプル値pid制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11085183A JPS603707A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | サンプル値pid制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS603707A true JPS603707A (ja) | 1985-01-10 |
| JPH0519725B2 JPH0519725B2 (ja) | 1993-03-17 |
Family
ID=14546264
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11085183A Granted JPS603707A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | サンプル値pid制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS603707A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61267101A (ja) * | 1985-05-22 | 1986-11-26 | Toshiba Corp | プラント制御系制御定数演算装置 |
| JPS6277607A (ja) * | 1985-09-11 | 1987-04-09 | Chino Corp | Pid定数の自動調整装置 |
| JPS63116204A (ja) * | 1986-11-05 | 1988-05-20 | Toshiba Corp | 適応制御装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54116580A (en) * | 1978-03-01 | 1979-09-10 | Toshiba Corp | Process controller |
| JPS5723108A (en) * | 1980-07-18 | 1982-02-06 | Toshiba Corp | Sampled-value pid controller |
| JPS5750006A (en) * | 1980-09-08 | 1982-03-24 | Mitsubishi Electric Corp | Characteristic change detector |
| JPS5866107A (ja) * | 1981-10-15 | 1983-04-20 | Toshiba Corp | プロセス制御装置 |
-
1983
- 1983-06-22 JP JP11085183A patent/JPS603707A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54116580A (en) * | 1978-03-01 | 1979-09-10 | Toshiba Corp | Process controller |
| JPS5723108A (en) * | 1980-07-18 | 1982-02-06 | Toshiba Corp | Sampled-value pid controller |
| JPS5750006A (en) * | 1980-09-08 | 1982-03-24 | Mitsubishi Electric Corp | Characteristic change detector |
| JPS5866107A (ja) * | 1981-10-15 | 1983-04-20 | Toshiba Corp | プロセス制御装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61267101A (ja) * | 1985-05-22 | 1986-11-26 | Toshiba Corp | プラント制御系制御定数演算装置 |
| JPS6277607A (ja) * | 1985-09-11 | 1987-04-09 | Chino Corp | Pid定数の自動調整装置 |
| JPS63116204A (ja) * | 1986-11-05 | 1988-05-20 | Toshiba Corp | 適応制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0519725B2 (ja) | 1993-03-17 |
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