JPS6037422B2 - 摺動円板の耐久性試験方法 - Google Patents
摺動円板の耐久性試験方法Info
- Publication number
- JPS6037422B2 JPS6037422B2 JP55067372A JP6737280A JPS6037422B2 JP S6037422 B2 JPS6037422 B2 JP S6037422B2 JP 55067372 A JP55067372 A JP 55067372A JP 6737280 A JP6737280 A JP 6737280A JP S6037422 B2 JPS6037422 B2 JP S6037422B2
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- Japan
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- disk
- sliding
- chip
- disc
- durability
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- Expired
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-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気ディスクなどの損勤円板の耐久性試験方法
に係る。
に係る。
近年の磁気ディスク装置は、磁気記録媒体である磁気デ
ィスク上に磁気ヘッドを浮上させて記録再生を行う。
ィスク上に磁気ヘッドを浮上させて記録再生を行う。
すなわち、磁気ディスクの回転に伴って磁気ディスク表
面近くに生ずる空気の流れによって、磁気ヘッドが空気
力学的に浮上するのである。従って、磁気ディスクの回
転が停止したり、所定の回転速度に到達しないうちは、
磁気ディスク上に磁気ヘッドが接触摺動している。
面近くに生ずる空気の流れによって、磁気ヘッドが空気
力学的に浮上するのである。従って、磁気ディスクの回
転が停止したり、所定の回転速度に到達しないうちは、
磁気ディスク上に磁気ヘッドが接触摺動している。
そこで、こうした酒動に対する耐久性を増加させるため
、磁気ディスクはアルミ等の金属円板上に磁気記録媒体
層を形成するだけでなく、潤滑剤を塗布含浸させている
。さて、磁気ディスクの損傷などにより重要な情報が破
壊されることを防ぐためには、上述のように磁気ディス
クの耐久性を向上させることが必要である。
、磁気ディスクはアルミ等の金属円板上に磁気記録媒体
層を形成するだけでなく、潤滑剤を塗布含浸させている
。さて、磁気ディスクの損傷などにより重要な情報が破
壊されることを防ぐためには、上述のように磁気ディス
クの耐久性を向上させることが必要である。
このため、磁気記録媒体の表面を平滑にすることや、潤
滑剤の新しい組成、最適の塗布含浸量等についての開発
が盛んに行われている。
滑剤の新しい組成、最適の塗布含浸量等についての開発
が盛んに行われている。
しかしながら、再現性が高く、かつ短時間で磁気ディス
クの耐久性を知り得る方法が開発されておらず、例えば
品質試験に当り実際の磁気ヘッドを使用して長時間の連
続動作試験を行わざるを得ないという不便があった。
クの耐久性を知り得る方法が開発されておらず、例えば
品質試験に当り実際の磁気ヘッドを使用して長時間の連
続動作試験を行わざるを得ないという不便があった。
また、硬質ボールを磁気ヘッドの代りに磁気ディスク上
で摺動させることも考えられるが、実験の結果、この方
法では再現性が低いことが判明した。
で摺動させることも考えられるが、実験の結果、この方
法では再現性が低いことが判明した。
この原因は磁気ディスク上に散在する微小突起の影響が
強く作用しているためと推測される。更に、磁気へッド
もこ大きな荷重を外部から加えて磁気ディスク上で楯動
させる場合には、磁気ディスク自体の強度によって制限
を受けるだけでなく、磁気ディスクを回転させるために
著しく大きな駆動力を必要とする問題があるので、到底
実現するまでに至らない。本発明はこのような問題がな
く簡単に、迅速に、再現性よく磁気ディスクなどの耐久
性を試験することを目的としており、この目的は本発明
においては、被試験円板の表面と平行な面に沿い移動自
在に構成されれ、且つ該円板表面に対し垂直面内で揺動
自在に設けられた童錘と、該重錘の下部に、円柱形状に
形成されて成り、且つ被試験円板の半径方向に最軸が配
向するチップとを備てなる試験装置を使用し、該重鍵の
自重で被試験円板に線接触せしめて該チップに垂直な荷
重を加え、チップと被試験円板との間に生ずる摺動摩擦
力を監視しながら上記被試験円板を回転させ、チップと
被試験円板とが損動を開始した時点から、上記摺動摩擦
力が急増し始める時点までの摺動量を計測して、この計
測値により被試験円板の耐久性を検定することによって
達成されるが、以下その一実施例を図面に従って詳細に
説明する。
強く作用しているためと推測される。更に、磁気へッド
もこ大きな荷重を外部から加えて磁気ディスク上で楯動
させる場合には、磁気ディスク自体の強度によって制限
を受けるだけでなく、磁気ディスクを回転させるために
著しく大きな駆動力を必要とする問題があるので、到底
実現するまでに至らない。本発明はこのような問題がな
く簡単に、迅速に、再現性よく磁気ディスクなどの耐久
性を試験することを目的としており、この目的は本発明
においては、被試験円板の表面と平行な面に沿い移動自
在に構成されれ、且つ該円板表面に対し垂直面内で揺動
自在に設けられた童錘と、該重錘の下部に、円柱形状に
形成されて成り、且つ被試験円板の半径方向に最軸が配
向するチップとを備てなる試験装置を使用し、該重鍵の
自重で被試験円板に線接触せしめて該チップに垂直な荷
重を加え、チップと被試験円板との間に生ずる摺動摩擦
力を監視しながら上記被試験円板を回転させ、チップと
被試験円板とが損動を開始した時点から、上記摺動摩擦
力が急増し始める時点までの摺動量を計測して、この計
測値により被試験円板の耐久性を検定することによって
達成されるが、以下その一実施例を図面に従って詳細に
説明する。
第１図は本発明に係る試験を実施するための装置の一例
を示す斜視図、第２図は計測値を説明するための摩擦力
変動を示す図、第３図は本発明による計測値と実際の使
用状態における耐久性との関係示す図である。
を示す斜視図、第２図は計測値を説明するための摩擦力
変動を示す図、第３図は本発明による計測値と実際の使
用状態における耐久性との関係示す図である。
第１図において、１は耐摩耗性炭素鋼あるいはセラミッ
クもしくはフェライト等の硬質材料よりなる円柱形のチ
ップ、２はオモリ、３はピボツト軸受、４はヨーク、５
は挟ガイド、６は揺動アーム、７はピボット、８は支持
フレーム、９はリンク、１川ま摩擦力検出器、１１は被
試験円板である。
クもしくはフェライト等の硬質材料よりなる円柱形のチ
ップ、２はオモリ、３はピボツト軸受、４はヨーク、５
は挟ガイド、６は揺動アーム、７はピボット、８は支持
フレーム、９はリンク、１川ま摩擦力検出器、１１は被
試験円板である。
チップ１はオモリ２に接着されており、オモリ２はピボ
ット軸受３を介してチップーの長手方向と直角な軸の回
りに回動自在にヨーク４に接続している。
ット軸受３を介してチップーの長手方向と直角な軸の回
りに回動自在にヨーク４に接続している。
また、ヨーク４は挟ガイド５によりチップ１が回転しな
いように規制され、他方上下方向には移動可能になって
いる。そして、ヨーク４の上端に設けたピン４ａにより
ヨーク４の矢印Ａ方向の移動が揺動アーム６に伝達され
、更に揺動アーム６の動きはリンク９を押し込んで検出
器１０を作動させるようになっている。なお、支持フレ
ーム８および検出器１川ま固定されているものとする。
このような構造なので、チップーはその自重と、オモリ
２およびヨーク４の重量との和に等しい荷重で被試験円
板１１に押圧されている。
いように規制され、他方上下方向には移動可能になって
いる。そして、ヨーク４の上端に設けたピン４ａにより
ヨーク４の矢印Ａ方向の移動が揺動アーム６に伝達され
、更に揺動アーム６の動きはリンク９を押し込んで検出
器１０を作動させるようになっている。なお、支持フレ
ーム８および検出器１川ま固定されているものとする。
このような構造なので、チップーはその自重と、オモリ
２およびヨーク４の重量との和に等しい荷重で被試験円
板１１に押圧されている。
また、ピボット軸受３設けているので、チップ１の長手
方向にわたり均等な荷重分布となっている。更に、チッ
プ１は挟ガイド５によって、播鰯アームの微小な揺動角
の範囲の誤差をもって、一定方向（円板１１の半径方向
）を向いている。このような状態で被試験円板１１が矢
印Ａ方向に回転すると、チップ１に矢印Ａ方向の摩擦力
が加わり、その摩擦力はピン４ａおよび揺動アーム６、
リンク９を介して検出器を作動させ、その大きさが検出
される。第２図は以上のようにして検出された摩擦力の
経時的な変化を示しており、図示のよう摺動が開始され
ると同時に摩擦力が検出され、以後いまらくはその値は
ほぼ一定値を保つが、やがて急激に摩擦力が増加し始め
る現象が生じる。
方向にわたり均等な荷重分布となっている。更に、チッ
プ１は挟ガイド５によって、播鰯アームの微小な揺動角
の範囲の誤差をもって、一定方向（円板１１の半径方向
）を向いている。このような状態で被試験円板１１が矢
印Ａ方向に回転すると、チップ１に矢印Ａ方向の摩擦力
が加わり、その摩擦力はピン４ａおよび揺動アーム６、
リンク９を介して検出器を作動させ、その大きさが検出
される。第２図は以上のようにして検出された摩擦力の
経時的な変化を示しており、図示のよう摺動が開始され
ると同時に摩擦力が検出され、以後いまらくはその値は
ほぼ一定値を保つが、やがて急激に摩擦力が増加し始め
る現象が生じる。
すなわち、この現象が生じるともはや滑らかな摺動状態
を維持できず、情動円板としての潤滑能がつきたことを
意味する。そこで、本発明では摺動開始からこの現象が
生じるまでの経過時間ＴＲをもって超動円板の耐久度を
定めるようにしている。実験例を示すと、チップの材質
をＳＫ材、寸法？２肌、長さ４側とし、オモリ１略、摺
動円板の回転数１２０仇ｐｍとした場合に、潤滑剤の吸
収が少ない円板では１粉」間、磁気塗膜の燐付け過剰な
円板では１５分間、正常な円板では１２０分間以上の耐
久力（これをローラ強度と仮に称する。
を維持できず、情動円板としての潤滑能がつきたことを
意味する。そこで、本発明では摺動開始からこの現象が
生じるまでの経過時間ＴＲをもって超動円板の耐久度を
定めるようにしている。実験例を示すと、チップの材質
をＳＫ材、寸法？２肌、長さ４側とし、オモリ１略、摺
動円板の回転数１２０仇ｐｍとした場合に、潤滑剤の吸
収が少ない円板では１粉」間、磁気塗膜の燐付け過剰な
円板では１５分間、正常な円板では１２０分間以上の耐
久力（これをローラ強度と仮に称する。
）を有することが判明している。そして、こうした一連
の実験と実際の使用状態における耐久性を示す量を得る
ための実験とを併行して多数行い次の結果を得た。すな
わち、第３図に示すように磁気ディスクと磁気ヘッドと
の正常な抵摩擦接触が可能な最大回数（ＣＳＳ回数）を
機軸にとり、本発明に係る試験値（ローラ強度）を縦軸
にとって両者の相関関係をみてみると、ほぼ直線的な比
例関係があり、その再現性も良好であった。
の実験と実際の使用状態における耐久性を示す量を得る
ための実験とを併行して多数行い次の結果を得た。すな
わち、第３図に示すように磁気ディスクと磁気ヘッドと
の正常な抵摩擦接触が可能な最大回数（ＣＳＳ回数）を
機軸にとり、本発明に係る試験値（ローラ強度）を縦軸
にとって両者の相関関係をみてみると、ほぼ直線的な比
例関係があり、その再現性も良好であった。
このように本発明においては、試験用のチップが直線状
に酒動円板に接触するので、局所的な摺動円板表面の凹
凸の影響が排除され良好な再現性を有する計測値を得る
ことができる。
に酒動円板に接触するので、局所的な摺動円板表面の凹
凸の影響が排除され良好な再現性を有する計測値を得る
ことができる。
また、接触面積が小さいので比較的小さな荷重で大きな
接触圧力を加えて、高加速的に試験を行うことができる
。その場合に、円板を回転させるモータなどが大きなト
ルクを必要としないので簡単に試験を行うことができる
。
接触圧力を加えて、高加速的に試験を行うことができる
。その場合に、円板を回転させるモータなどが大きなト
ルクを必要としないので簡単に試験を行うことができる
。
尚、上記実施例では、円柱状のチップを用いたが本発明
はこれに限定されるものではなく、他の形状としてよい
のは明らかであり、耐久性を示す数量としては酒動時間
に代って摺動距離を用いるようにすることもできる。
はこれに限定されるものではなく、他の形状としてよい
のは明らかであり、耐久性を示す数量としては酒動時間
に代って摺動距離を用いるようにすることもできる。
第１図は本発明を実施するための装置の一例を示す斜視
図、第２図は摩擦力の経時的な変化と本発明の計測値と
の関係を示す図、第３図は磁気ディスクにおける本発明
明の計測値と実際使用状態での耐久力との対応関係を示
す図である。 １…チップ、２…オモリ、３…ピボツト軸受、４・・・
ヨーク、５・・・挟ガイド、６・・・揺動アーム、７・
・・ピボット、８・・・支持フレーム、９・・・リンク
、１０・・・検出器、１１・・・被試験円板。 衆１図 弟Ｚ図 衆３図
図、第２図は摩擦力の経時的な変化と本発明の計測値と
の関係を示す図、第３図は磁気ディスクにおける本発明
明の計測値と実際使用状態での耐久力との対応関係を示
す図である。 １…チップ、２…オモリ、３…ピボツト軸受、４・・・
ヨーク、５・・・挟ガイド、６・・・揺動アーム、７・
・・ピボット、８・・・支持フレーム、９・・・リンク
、１０・・・検出器、１１・・・被試験円板。 衆１図 弟Ｚ図 衆３図
Claims (1)
- １ 円柱形状に形成され、被試験円板の半径方向に長軸
が配向するチツプを上記被試験円板に線接触せしめ、且
つ上記チツプに上記被試験円板に垂直な方向での荷重を
加え、上記チツプと上記試験円板との間に生ずる摺動摩
擦力を監視しながら上記被試験円板を回転させ、上記チ
ツプと上記被試験円板とが摺動を開始した時点から、上
記摺動摩擦力が急増し始める時点での摺動量を計測して
、この計測値により被試験円板の耐久性を検定すること
を特徴とする摺動円板の耐久性試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55067372A JPS6037422B2 (ja) | 1980-05-21 | 1980-05-21 | 摺動円板の耐久性試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55067372A JPS6037422B2 (ja) | 1980-05-21 | 1980-05-21 | 摺動円板の耐久性試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56163491A JPS56163491A (en) | 1981-12-16 |
| JPS6037422B2 true JPS6037422B2 (ja) | 1985-08-26 |
Family
ID=13343109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55067372A Expired JPS6037422B2 (ja) | 1980-05-21 | 1980-05-21 | 摺動円板の耐久性試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6037422B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5984139A (ja) * | 1982-11-06 | 1984-05-15 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | 摺動接点試験機 |
| JPS59148135A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気デイスクの耐久性評価方法 |
| JPS60133539A (ja) * | 1983-12-22 | 1985-07-16 | Hitachi Ltd | 磁気デイスク強度評価方法 |
-
1980
- 1980-05-21 JP JP55067372A patent/JPS6037422B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56163491A (en) | 1981-12-16 |
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