JPS6037720A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPS6037720A JPS6037720A JP58147026A JP14702683A JPS6037720A JP S6037720 A JPS6037720 A JP S6037720A JP 58147026 A JP58147026 A JP 58147026A JP 14702683 A JP14702683 A JP 14702683A JP S6037720 A JPS6037720 A JP S6037720A
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- JP
- Japan
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- film
- glass
- glass substrate
- substrate
- face
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/32—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials characterised by intermediate layers between substrates and deposited layers
- H10P14/3202—Materials thereof
- H10P14/3238—Materials thereof being insulating materials
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/38—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials characterised by treatments done after the formation of the materials
- H10P14/3802—Crystallisation or recrystallisation of non-monocrystalline semiconductor materials, e.g. regrowth
- H10P14/3808—Crystallisation or recrystallisation of non-monocrystalline semiconductor materials, e.g. regrowth using laser beams
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/29—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials characterised by the substrates
- H10P14/2901—Materials
- H10P14/2922—Materials being non-crystalline insulating materials, e.g. glass or polymers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P14/00—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars
- H10P14/20—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of semiconductor materials
- H10P14/34—Deposited materials, e.g. layers
- H10P14/3402—Deposited materials, e.g. layers characterised by the chemical composition
- H10P14/3404—Deposited materials, e.g. layers characterised by the chemical composition being Group IVA materials
- H10P14/3411—Silicon, silicon germanium or germanium
Landscapes
- Recrystallisation Techniques (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はガラス基板上に半導体膜を形成した半導体装置
の製造方法に関する。
の製造方法に関する。
従来、ガラス基板上の半導体膜の加工処理に関しては極
力低温で処理することにより、ガラス中防止する方法が
用いられていた。
力低温で処理することにより、ガラス中防止する方法が
用いられていた。
しかし、上記従来波ヤ14によると、必ずしもNaの影
響を完全に防止出来ないという欠点があった本発明は、
かかる従来技術の欠点をなくシ、ガラス基板を用いた半
導体装置に於いても、ガラス中のNaの影響を受けない
半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
響を完全に防止出来ないという欠点があった本発明は、
かかる従来技術の欠点をなくシ、ガラス基板を用いた半
導体装置に於いても、ガラス中のNaの影響を受けない
半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するための本発明の基本的な構成は、半
導体装置の製造方法に於て、ガラス基板上に形成された
半導体膜を熱処理、エツチング処理、膜形成処理等の加
工処理を施すに際し、ガラス基板裏面に陰極板、半導体
膜が形成される又はされたガラス基板表面に陽極板を設
置し、各極板に電圧を印加して、前記加工処理を施すこ
とを特徴とする。
導体装置の製造方法に於て、ガラス基板上に形成された
半導体膜を熱処理、エツチング処理、膜形成処理等の加
工処理を施すに際し、ガラス基板裏面に陰極板、半導体
膜が形成される又はされたガラス基板表面に陽極板を設
置し、各極板に電圧を印加して、前記加工処理を施すこ
とを特徴とする。
以下、実施例により本発明を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示す模式図である。すなわ
ち、ガラス基板1の表面には5102膜2、アモルファ
スB j、 ffg 3が形成され、該アモルファス8
1膜をレーザー光7により多結晶化するに際し、陰極板
4′をガラス基板1の裏面に、陰極板としてガラス板5
に酸化スズ膜6を形成した極板をガラス基板の表面に設
置し、両極板に各々の極性の電圧を印加すると、ガラス
基板1中のNaイオンは、陽極板側に引き寄せられ、半
導体膜3に形成される半導体素子のNaによる特性劣化
を起さない。
ち、ガラス基板1の表面には5102膜2、アモルファ
スB j、 ffg 3が形成され、該アモルファス8
1膜をレーザー光7により多結晶化するに際し、陰極板
4′をガラス基板1の裏面に、陰極板としてガラス板5
に酸化スズ膜6を形成した極板をガラス基板の表面に設
置し、両極板に各々の極性の電圧を印加すると、ガラス
基板1中のNaイオンは、陽極板側に引き寄せられ、半
導体膜3に形成される半導体素子のNaによる特性劣化
を起さない。
本発明の如く、ガラス基板上の半導体膜を形成し、該半
導体膜を用いて半導体装置を製造する場合に、加工処理
、とりわけ力に熱処理を伴う処理時にはガラス基板の裏
面にたえずNaを引き寄せるべく電界を印加しておけば
、ガラス基板上の半導体素子がガラス中のNaイオンに
より特性劣化を起す恐れがなくなる効果がある。
導体膜を用いて半導体装置を製造する場合に、加工処理
、とりわけ力に熱処理を伴う処理時にはガラス基板の裏
面にたえずNaを引き寄せるべく電界を印加しておけば
、ガラス基板上の半導体素子がガラス中のNaイオンに
より特性劣化を起す恐れがなくなる効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す模式1図である1・・
・・・・ガラス基板 3・・・・・・81月莫 4・・・・・・陰極板 5・・・・・・ガラス板 6・・・・・・ネサ陽極膜 以 上 出願人 株式会社諏訪精工舎
・・・・ガラス基板 3・・・・・・81月莫 4・・・・・・陰極板 5・・・・・・ガラス板 6・・・・・・ネサ陽極膜 以 上 出願人 株式会社諏訪精工舎
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ガラス基板上に形成された半導体膜を熱処理。 エツチング処理、膜形成処理等の加工処理を施すに際し
、ガラス基板裏面に陰極板、半導体膜が形成される、ま
たはされたガラス基板表面に陽極板を設置し、各極板に
電圧を印加して、前記加工処理を施すことを特徴とする
半導体装置の製造方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58147026A JPS6037720A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58147026A JPS6037720A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6037720A true JPS6037720A (ja) | 1985-02-27 |
Family
ID=15420861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58147026A Pending JPS6037720A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6037720A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07321364A (ja) * | 1995-04-28 | 1995-12-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
| US6043105A (en) * | 1985-05-07 | 2000-03-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor sensitive devices |
| CN107644924A (zh) * | 2017-09-18 | 2018-01-30 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种硅薄膜单面去除方法 |
-
1983
- 1983-08-10 JP JP58147026A patent/JPS6037720A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6503771B1 (en) | 1983-08-22 | 2003-01-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor photoelectrically sensitive device |
| US6043105A (en) * | 1985-05-07 | 2000-03-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing semiconductor sensitive devices |
| JPH07321364A (ja) * | 1995-04-28 | 1995-12-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
| CN107644924A (zh) * | 2017-09-18 | 2018-01-30 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种硅薄膜单面去除方法 |
| CN107644924B (zh) * | 2017-09-18 | 2019-06-11 | 浙江晶科能源有限公司 | 一种硅薄膜单面去除方法 |
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