JPS6039788Y2 - 放射温度計 - Google Patents
放射温度計Info
- Publication number
- JPS6039788Y2 JPS6039788Y2 JP1980079635U JP7963580U JPS6039788Y2 JP S6039788 Y2 JPS6039788 Y2 JP S6039788Y2 JP 1980079635 U JP1980079635 U JP 1980079635U JP 7963580 U JP7963580 U JP 7963580U JP S6039788 Y2 JPS6039788 Y2 JP S6039788Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- temperature
- comparison
- voltage
- amplifier
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- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は温度測定対象物から放射する入射光と比較光
源から放射する比較光とを光学チョッパーによって時分
割して交互に光検出器に入射させ、その入射光及び比較
光の差が最小にするように比較光源の輝度を自動制御し
て両者を平衡させ測定対象物の温度を測定する方式の放
射温度計に関する。
源から放射する比較光とを光学チョッパーによって時分
割して交互に光検出器に入射させ、その入射光及び比較
光の差が最小にするように比較光源の輝度を自動制御し
て両者を平衡させ測定対象物の温度を測定する方式の放
射温度計に関する。
放射温度計は第1図に示すように測定対象物11から放
射する入射光はレンズ12を介してチョッパー13に与
えられ、比較光源14から放射する比較光とチョッパー
13によって時分割して交互に光検出器15に入射され
る。
射する入射光はレンズ12を介してチョッパー13に与
えられ、比較光源14から放射する比較光とチョッパー
13によって時分割して交互に光検出器15に入射され
る。
光検出器15からは入射光と比較光とのエネルギの差に
応じた交流電圧信号■1が得られる。
応じた交流電圧信号■1が得られる。
交流信号■1は交流増幅器16によって増幅される。
その増幅出力■2は同期整流器17によってチョッパー
13のチョッパー動作と同期して同期整流され、入射光
の強さに相当する直流電圧と比較光の強さに相当する直
流電圧とに分けられた後、両者の差が増幅器18によっ
て増幅される。
13のチョッパー動作と同期して同期整流され、入射光
の強さに相当する直流電圧と比較光の強さに相当する直
流電圧とに分けられた後、両者の差が増幅器18によっ
て増幅される。
その増幅出力V3は電圧電流変換回路19によって電流
Iに変換され、その電流が比較光源14のランプに供給
される。
Iに変換され、その電流が比較光源14のランプに供給
される。
この結果ランプ電流は入射光と比較光とが平衡するよう
な値に自動的に制御される。
な値に自動的に制御される。
よってこのランプ電流の値から測定対象物11の温度を
測定することができる。
測定することができる。
交流増幅器16は例えば演算増幅器21の出力側が抵抗
素子22.23の分圧回路を通じて共通電位点に接続さ
れ、その抵抗素子22.23の接続点が演算増幅器21
の入力側に帰還接続されて構成される。
素子22.23の分圧回路を通じて共通電位点に接続さ
れ、その抵抗素子22.23の接続点が演算増幅器21
の入力側に帰還接続されて構成される。
チョッパー13は反射部及び透過部が等角間隔に設けら
れた回転板24と、その回転板24を回転するモータ2
5とよりなり、その回転板24の回転タイミングや同期
タイミング発生手段26により検出されて同期整流器1
7へ供給される。
れた回転板24と、その回転板24を回転するモータ2
5とよりなり、その回転板24の回転タイミングや同期
タイミング発生手段26により検出されて同期整流器1
7へ供給される。
電圧電流変換回路19では増幅器18の出力がnpn
トランジスタ27のベースへ供給すれ、トランジスタ2
7のエミッタは抵抗素子28を通じて共通電位点に接続
され、コレクタはpnpトランジスタ29のベースに接
続されると共に抵抗素子31を通じて電源端子32に接
続され、トランジスタ29のエミッタは抵抗素子33を
通じて電源端子32に接続され、コレクタはランプ14
のフィラメントを通じて共通電位点に接続される。
トランジスタ27のベースへ供給すれ、トランジスタ2
7のエミッタは抵抗素子28を通じて共通電位点に接続
され、コレクタはpnpトランジスタ29のベースに接
続されると共に抵抗素子31を通じて電源端子32に接
続され、トランジスタ29のエミッタは抵抗素子33を
通じて電源端子32に接続され、コレクタはランプ14
のフィラメントを通じて共通電位点に接続される。
この従来の放射温度計においては測定回路のループゲイ
ンが測定温度と周囲温度とによって大きく変化するため
、測定温度範囲の下限側で周囲温度が比較的高いときに
ループゲインが不足して温度変動誤差が生じやすくなり
、また測定温度範囲の上限側で周囲温度が比較的低いと
きにループゲインが大き過ぎて回路が発振し易くなり、
不安定になりやすい。
ンが測定温度と周囲温度とによって大きく変化するため
、測定温度範囲の下限側で周囲温度が比較的高いときに
ループゲインが不足して温度変動誤差が生じやすくなり
、また測定温度範囲の上限側で周囲温度が比較的低いと
きにループゲインが大き過ぎて回路が発振し易くなり、
不安定になりやすい。
これらのために測定する温度範囲を広くとれない欠点が
あった。
あった。
これらの点について更に説明すると、第1図に示した放
射温度計において対象物11の温度T(K)、入射光の
エネルギW、交流電圧■1、ランプ14のランプ電流1
1ランプ14からの比較光のエネルギW、の関係を利得
ブロック線図で表わせば第2図に示すようになる。
射温度計において対象物11の温度T(K)、入射光の
エネルギW、交流電圧■1、ランプ14のランプ電流1
1ランプ14からの比較光のエネルギW、の関係を利得
ブロック線図で表わせば第2図に示すようになる。
即ち対象物11の温度が微小変化ΔTが生じると入射光
のエネルギは△W変化し、これと帰還利得βの比較光の
エネルギ変化△Wrとの差が感度Sの光検出器15で検
出され、その交流信号出力■、は交流増幅器16から電
圧電流変換回路19までの利得Aの回路34を通じてラ
ンプ電流の微小変化ΔIを出力する。
のエネルギは△W変化し、これと帰還利得βの比較光の
エネルギ変化△Wrとの差が感度Sの光検出器15で検
出され、その交流信号出力■、は交流増幅器16から電
圧電流変換回路19までの利得Aの回路34を通じてラ
ンプ電流の微小変化ΔIを出力する。
SA (1)
Δ””I+SAβΔW
と表わされる。
(イ)測定温度T (K)と入射エネルギWとの関係は
第3図に示すようにWはToに比例する。
第3図に示すようにWはToに比例する。
ここでnは光検出器15の感度Sの波長スペクトルなど
によってきまる定数である。
によってきまる定数である。
例えばn=9〜11のような値になる。
(ロ)感度Sは第4図に示すように入射エネルギWによ
って変化しWの増加と共に減少し、また入射エネルギW
が小さいときは周囲温度tによっても変化し、周囲温度
tが高い程感度Sは大きくなる。
って変化しWの増加と共に減少し、また入射エネルギW
が小さいときは周囲温度tによっても変化し、周囲温度
tが高い程感度Sは大きくなる。
(ハ)利得Aは電気回路の定数によってきまり、第1図
においては交流電圧V1に関係なく一定であり、 9=□1 も 1 0μ@ 0 R2R2R6 となる。
においては交流電圧V1に関係なく一定であり、 9=□1 も 1 0μ@ 0 R2R2R6 となる。
ここてR19R2= R3= R4,R5= R6はそ
れぞれ抵抗素子22,23.28.31及び33の抵抗
値であり、μは増幅器18の増幅率である。
れぞれ抵抗素子22,23.28.31及び33の抵抗
値であり、μは増幅器18の増幅率である。
に)ランプ電流Iとランプ14からの放射エネルギW、
との関係は第5図に示すようにW「がImに比例する。
との関係は第5図に示すようにW「がImに比例する。
ここでmはランプ14によって異なるが、例えばn=7
〜4である。
〜4である。
これからβは
調、 ■
β=aI框W’rz l =I m
となる。
m=7〜4の場合1≧0.9〜0.7となる。βとWf
との関係は第6図に示すようになる。
との関係は第6図に示すようになる。
上記(イ)〜に)から第2図のフィードバック回路のル
ープゲインG=SAβと測定温度Tとの関係は第7図に
示すようになる。
ープゲインG=SAβと測定温度Tとの関係は第7図に
示すようになる。
つまり先に述べたように測定温度Tが低いとループゲイ
ンGが小さくなり過ぎ測定温度に誤差が生じ易い、また
測定温度Tが高く、かつ周囲温度tが比較的低いとルー
プゲインGが高くなり過ぎ不安定になる。
ンGが小さくなり過ぎ測定温度に誤差が生じ易い、また
測定温度Tが高く、かつ周囲温度tが比較的低いとルー
プゲインGが高くなり過ぎ不安定になる。
この考案の目的は測定温度が低い場合にも正確に測定す
ることができ、かつ測定温度が高く、また周囲温度が低
い場合にも安定に動作する放射温度計を提供することに
ある。
ることができ、かつ測定温度が高く、また周囲温度が低
い場合にも安定に動作する放射温度計を提供することに
ある。
この考案によれば交流増幅回路より電圧電流変換回路ま
でにおける増幅率を定める抵抗素子の一つに周囲温度に
よって抵抗値が変化するものを用いて測定範囲の下限側
の測定温度で、かつ周囲温度が高い時における光検出素
子の感度の低下を前記増幅率を増加することによって補
償する。
でにおける増幅率を定める抵抗素子の一つに周囲温度に
よって抵抗値が変化するものを用いて測定範囲の下限側
の測定温度で、かつ周囲温度が高い時における光検出素
子の感度の低下を前記増幅率を増加することによって補
償する。
また電圧電流変換回路の変換率を定める抵抗素子として
電流により抵抗値が非線形に変化する素子を用い、測定
範囲の上限側でのループゲインの増加は、電圧電流変換
回路の変換率がランプ電流の増加により減少することに
よっておさえる。
電流により抵抗値が非線形に変化する素子を用い、測定
範囲の上限側でのループゲインの増加は、電圧電流変換
回路の変換率がランプ電流の増加により減少することに
よっておさえる。
このよにしてループゲインの変化範囲を狭くする。
この考案による放射温度計の一例を第8図に第1図と対
応する部分に同符号を付けて示す。
応する部分に同符号を付けて示す。
この実施例においては交流増幅器16の増幅率を規定す
る抵抗素子23の代りに負温度係数交流抵抗素子36が
用いられる。
る抵抗素子23の代りに負温度係数交流抵抗素子36が
用いられる。
また電圧電流変換回路19の帰還抵抗素子33の代りに
、例えばニクロム線またはタングステン線など抵抗値が
電流の増加によって増える非線形抵抗素子37が用いら
れる。
、例えばニクロム線またはタングステン線など抵抗値が
電流の増加によって増える非線形抵抗素子37が用いら
れる。
この第8図に示した放射温度計のループゲインGは従来
と同様にG=SAβで表わされ、S、 A。
と同様にG=SAβで表わされ、S、 A。
βのうちSとβは従来と同じであるがAは。
=1鄭(6)、、、、も、IR2(t) R4
R6(I) となる。
R6(I) となる。
R2(t)は抵抗素子36の抵抗値であり、周囲温度t
により変化し、R6(I)は抵抗素子37の抵抗値であ
り、ランプ電流Iにより変化する。
により変化し、R6(I)は抵抗素子37の抵抗値であ
り、ランプ電流Iにより変化する。
抵抗素子36の抵抗値R2(t)と温度tとの関係は例
えば第9図に示すようにtが増加すると減少する。
えば第9図に示すようにtが増加すると減少する。
非線形抵抗素子37の抵抗値R6(I)とランプ電流(
I)との関係は例えは第10図に示すようにIが増加す
ると非線形に抵抗値が増加する。
I)との関係は例えは第10図に示すようにIが増加す
ると非線形に抵抗値が増加する。
従って利得Aは第11図に示すように電流■が増加する
と減少し、また温度tが上昇すると増加する。
と減少し、また温度tが上昇すると増加する。
第4図のS−W、第11図のA−I、第6図のβ−Wr
及び第5図のWr I、第3図BのW−Tの各関係か
らループゲインG…SAβと測定温度Tとの関係を求め
ると第12図に示すようになる。
及び第5図のWr I、第3図BのW−Tの各関係か
らループゲインG…SAβと測定温度Tとの関係を求め
ると第12図に示すようになる。
第12図かられかるように測定温度Tの変化に対してル
ープゲインGの変化が小さくなり、温度Tが低いときて
もゲインGが周囲温度tの変化によって変わらない。
ープゲインGの変化が小さくなり、温度Tが低いときて
もゲインGが周囲温度tの変化によって変わらない。
従って広い範囲の温度測定が可能である。
また測定温度範囲の下限側での温度ドリフトが小さい。
更に光検出器15の温度による物理的特性変化の欠点を
電気回路で簡単に補正できる。
電気回路で簡単に補正できる。
なお交流増幅器16において抵抗素子24の代りに周囲
温度により抵抗値が変化する正温度係数の感温抵抗素子
を用いてもよい。
温度により抵抗値が変化する正温度係数の感温抵抗素子
を用いてもよい。
更に電圧電流変換回路の抵抗素子28に負温度係数の感
温抵抗素子を用いて増幅率Aが周囲温度変化に応じて変
化するようにしてもよい。
温抵抗素子を用いて増幅率Aが周囲温度変化に応じて変
化するようにしてもよい。
感温抵抗素子は光検出器15の近くに配されるべきであ
り、電圧電流変換回路19を光検出器15から離して設
ける場合や交流増幅器16で充分な利得を得る場合は交
流増幅器16に感温抵抗素子を接続してその増幅率を温
度tに応じて変化させる方がよい。
り、電圧電流変換回路19を光検出器15から離して設
ける場合や交流増幅器16で充分な利得を得る場合は交
流増幅器16に感温抵抗素子を接続してその増幅率を温
度tに応じて変化させる方がよい。
第1図は従来の放射温度計を示す接続図、第2図はその
微小温度変化へTに対する等価回路図、第3図は入射光
エネルギW−測定温度T特性図、第4図は光検出器感度
S−人射光エネルギW特性図、第5図は比較光エネルギ
W「ランプ電流特性図、第6図は帰還利得β−比較光エ
ネルギW「特性図、第7図はループゲインG−測定温度
T特性図、第8図はこの考案による放射温度計の一例を
示す接続図、第9図は感温抵抗素子の抵抗値R2(t)
−周囲温度を特性図、第10図は非線形抵抗素子の抵抗
値R6(t)ランプ電流特性図、第11図は増幅率A−
ランプ電流特性図、第12図はこの考案の温度計のルー
プゲインG−測定温度特性図である。 11:測定対象物、13:チョッパー、14:比較光源
、15:光検出器、16:交流増幅器、17:同期整流
回路、18:増幅器、19:[正電流変換回路、36:
負温度係数抵抗素子、37:非線形抵抗素子。
微小温度変化へTに対する等価回路図、第3図は入射光
エネルギW−測定温度T特性図、第4図は光検出器感度
S−人射光エネルギW特性図、第5図は比較光エネルギ
W「ランプ電流特性図、第6図は帰還利得β−比較光エ
ネルギW「特性図、第7図はループゲインG−測定温度
T特性図、第8図はこの考案による放射温度計の一例を
示す接続図、第9図は感温抵抗素子の抵抗値R2(t)
−周囲温度を特性図、第10図は非線形抵抗素子の抵抗
値R6(t)ランプ電流特性図、第11図は増幅率A−
ランプ電流特性図、第12図はこの考案の温度計のルー
プゲインG−測定温度特性図である。 11:測定対象物、13:チョッパー、14:比較光源
、15:光検出器、16:交流増幅器、17:同期整流
回路、18:増幅器、19:[正電流変換回路、36:
負温度係数抵抗素子、37:非線形抵抗素子。
Claims (1)
- 測定対象物から放射された入射光と、比較光源用ランプ
から放射された比較光とをチョッパーによって交互に光
検出器に照射し、これら入射光と比較光との強度差に応
じた波高値をもつ交流信号を得、その交流信号を交流増
幅器で増幅し、その増幅出力を同期整流し、上記入射光
の強さに相当する直流電圧と上記比較光の強さに相当す
る直流電圧とに分離し、これら両者の差を増幅しその増
幅出力を電圧電流変換器によって電流に変換し、その電
流によって上記比較光源ランプの電流を制御して上記入
射光と比較光とを平衡させ、その時の比較光源ランプ電
流の値によって上記測定対象物の温度を測定する放射温
度計において、上記交流増幅器及び電圧電流変換器間の
増幅率を定める抵抗素子の少なくとも1個として、周囲
温度によってその抵抗値が変化する抵抗素子が用いられ
て周囲温度が上昇すると上記増幅率が増加するようにさ
れ、上記電圧電流変換器の変換率を定める抵抗素子の少
なくとも1個として上記ランプ電流の大きさによってそ
の電流が増加すると変換率が減少するように抵抗値が変
化する非線形抵抗素子が用いられ、測定回路のループ利
得が測定温度及び周囲温度の変化に拘らずほぼ一定に保
持される放射温度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980079635U JPS6039788Y2 (ja) | 1980-06-06 | 1980-06-06 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980079635U JPS6039788Y2 (ja) | 1980-06-06 | 1980-06-06 | 放射温度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS574727U JPS574727U (ja) | 1982-01-11 |
| JPS6039788Y2 true JPS6039788Y2 (ja) | 1985-11-29 |
Family
ID=29442109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980079635U Expired JPS6039788Y2 (ja) | 1980-06-06 | 1980-06-06 | 放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6039788Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021139708A (ja) * | 2020-03-04 | 2021-09-16 | 日本製鉄株式会社 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63169942U (ja) * | 1987-04-27 | 1988-11-04 | ||
| JPH0192714U (ja) * | 1987-12-14 | 1989-06-19 | ||
| JPH0249611Y2 (ja) * | 1987-12-21 | 1990-12-27 | ||
| JPH0198413U (ja) * | 1987-12-21 | 1989-06-30 | ||
| JPH0249612Y2 (ja) * | 1987-12-29 | 1990-12-27 | ||
| JPH01104611U (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-14 | ||
| JPH01104612U (ja) * | 1987-12-29 | 1989-07-14 |
-
1980
- 1980-06-06 JP JP1980079635U patent/JPS6039788Y2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021139708A (ja) * | 2020-03-04 | 2021-09-16 | 日本製鉄株式会社 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS574727U (ja) | 1982-01-11 |
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