JPS6041182A - 測定事象の発生頻度分布測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）発明の技術分野 本発明は測定事象の発生頻度分布測定方法に係り、特に
測定事象の発生態様とは無関係にその事象の発生頻度分
布を測定し得る方法に関する。

＜ａ＞技術の背景 電子計算機等において生ずる事象にはランダムに発生す
る性質のものや、予め決められた周期で生ずるものがあ
る。このような事象の性質如何を問わず、その発生頻度
分布を測定したいという要求がある。これは例えば、計
算機の性能測定や計算機システムの効率的な運用に供せ
んとすることから由来するものである。

しかしながら、従来測定方法には、これに十分応え得る
技法はなく、上述のような要求を満たしきれず不都合を
来しており、これを解決し得る技術手段の開発が要望さ
れている。

（ハ）従来技術と問題点 従来における計算機の性能測定における従来技法は成る
特定の事象の発生回数及び時間を測定する場合、成る任
意の時間内での事象発生総数及びその総時間長を測定し
得ても、事象の測定時間内での発生頻度分布は測定し得
ないものであった。

これがため、上述のような不具合はなお残存されたまま
にある。

仁）発明の目的 本発明は上述したような従来技法の有する欠点に鑑みて
創案されたもので、その目的は測定事象の発生頻度分布
を測定し得て計算機等の性能測定に寄与し得る測定事象
の発生頻度分布測定方法を提供することにある。

け）発明の構成 そして、この目的達成のため、本発明方法は予め決めら
れた周期で更新されつつある記憶装置のアドレッシング
手段を測定事象の発生によって初期化する直前に上記ア
ドレッシング手段が示すアドレスに発生した測定事象を
積算し、該発生した測定事象で上記アドレッシング手段
を初期化する過程を所定の測定時間繰り返すようにした
ものである。

（へ）発明の実施例 以下、添付図面を参照して本発明の詳細な説明する。

添付図面は本発明の一実施例を示す。この図において、
１は線２を経て測定事象を受ける微分回路であり、その
出力はカウンタ３の入力部３ａ及び記憶装置の書込み許
可人力６ｄに接続されている。カウンタ３は＋１カウン
トアツプ回路３ｂによって更新され、且つ微分回路１か
らの信号を受けたとき、線５上に与えられている初期値
がカウンタ３ヘセントされるように構成されている。

そのカウンタ３のカウント値はアドレスとして、記憶装
置６のアドレッシング部６ａへ接続されている。記憶装
置６の読み出し出力６ｂは＋１力ウン上アツプ回路７を
経て記憶装置６の書込み入力６ｃへ接続されている。

次に、上述構成回路での本発明測定態様を説明する。

説明の都合上、回路が動作状態にあり、且つ測定事象例
えば、計算機の処理要求の発生で微分回路１から出力信
号があってカウンタ３が初期値に再設定されたものとす
る。

そのカウンタ３のカウント値は予め決められた周期毎に
＋１カウントアツプ回路３ｂにより＋１だけカウントア
ツプされ続ける。

このカウント値の更新中に線２上に測定事象が発生する
と、その事象の発生が微分回路１で検出され、これを表
わす検出信号が記憶装置の書込み許可人力６ｄへ供給さ
れる。その時にカウンタ３のカウント値が示す記憶装置
６のアドレスからデータが読み出さ　れ、そのデータが
＋１カウントアツプ回路７で＋１だけカウントアツプさ
れたその更新データが記憶装置６の書込み入力６Ｃへ送
り込まれて来て、更新データの基になったデータを読み
出した記憶装置６のアドレス、即ちカウンタ３のカウン
ト値が示すアドレスに書き込まれる、即ちデータの更新
が行なわれる。

一方、この更新動作と同時的に、その更新に供された上
述検出信号がカウンタ３の入力部３ａへ供給され、再び
カウンタ３の初期化、即ち初期値のカウンタ３への設定
が行なわれる。

こうして、次の測定事象の発生を待ち、その発生があっ
たとき上述と同様の動作が生ぜしめられる。このような
測定が所定の測定時間について行なわれる。

上述したところから明らかなように、各アドレスはカウ
ンタ３の更新周期の整数倍になっているから、そのアド
レスの値は更新周期×初期値からそのアドレスを発生さ
せた更新回数つまり成る事象と次の事象との間の時間間
隔となっている。従って、記憶装置のアドレスとデータ
とを関連付けて読み出せば、上述冬時間間隔に何回事象
が発生しているかという測定事象の発生頻度分布を得る
ことが出来る。この分布から例えば、計算機の性能測定
を行なうことが出来る。

なお、上述初期値及び周期を必要に応じて可変にしても
よい。又、測定事象信号の性質に応じて微分回路を他の
事象発生時刻を決定し得る回路で代替してもよい。

（ト）発明の効果 以上述べたように、本発明によれば、 ■測定事象の発生頻度分布を得ることが出来、■これを
用いて計算機等の性能評価のトゥールに資することが出
来る、等の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

添付図面は本発明の一実施例を示す図である。 図中、１は微分回路、３はカウンタ、３ａは＋１カウン
トアツプ回路、４はアンドゲート、６は記憶装置、６ａ
はアドレッシング部、７は＋１カラントアップ回路であ
る。 特許出願人　富士通株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 予め決められた周期で更新されつつある記憶装置のアド
   レッシング手段を測定事象の発生によって初期化する直
   前に上記アドレッシング手段が示すアドレスに発生した
   測定事象を積算し、該発生した測定事象で上記アドレッ
   シング手段を初期化する過程を所定の測定時間繰り返す
   ことを特徴とする測定事象の発生頻度分布測定方法。