JPS6041730Y2 - 半導体導電型測定器の電極構造 - Google Patents
半導体導電型測定器の電極構造Info
- Publication number
- JPS6041730Y2 JPS6041730Y2 JP1810180U JP1810180U JPS6041730Y2 JP S6041730 Y2 JPS6041730 Y2 JP S6041730Y2 JP 1810180 U JP1810180 U JP 1810180U JP 1810180 U JP1810180 U JP 1810180U JP S6041730 Y2 JPS6041730 Y2 JP S6041730Y2
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- Japan
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- electrode
- electrode structure
- electrodes
- measuring instrument
- semiconductor
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Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、半導体ウェーハの導電型を測定する測定器
、特にその電極構造の改良に関する。
、特にその電極構造の改良に関する。
半導体デバイスの材料であるシリコン等のウェーハには
、N型とP型との二種類の導電型があり、デバイスの設
計用途に応じて使い分けられている。
、N型とP型との二種類の導電型があり、デバイスの設
計用途に応じて使い分けられている。
一般に、この導電型の測定には、ゼーベック効果を利用
した。
した。
通称P/N測定器といわれる導電型測定器が用いられて
いる。
いる。
ここで従来のP/N測定器について述べると、その電極
は、第1図に示すように二本に分離されており、一般に
よれば、両電極間に温度差を与えるため熱電極1は市販
の電気ハンダゴテなどを用い、図示していない電圧調整
器によってコテ先の温度を適温に維持し、他方の冷電極
2は市販テスターのリード棒などを用いており、それを
使用するときには前記熱電極1と冷電極2とを両手を用
いてそれぞれ被測定ウェーハ4に当接して、その時発生
する熱起電力の方向を検出部3の電圧計によって知り、
導電型の測定をしていた。
は、第1図に示すように二本に分離されており、一般に
よれば、両電極間に温度差を与えるため熱電極1は市販
の電気ハンダゴテなどを用い、図示していない電圧調整
器によってコテ先の温度を適温に維持し、他方の冷電極
2は市販テスターのリード棒などを用いており、それを
使用するときには前記熱電極1と冷電極2とを両手を用
いてそれぞれ被測定ウェーハ4に当接して、その時発生
する熱起電力の方向を検出部3の電圧計によって知り、
導電型の測定をしていた。
しかしながら、熱電極1として用いられた電気ハンダゴ
テは、コテ先の外径が3〜577aφ程度とかなり大型
であるうえ、材質も半導体に接触させるには不都合な銅
などを用いていた。
テは、コテ先の外径が3〜577aφ程度とかなり大型
であるうえ、材質も半導体に接触させるには不都合な銅
などを用いていた。
そしてこれに起因して、従来の測定器にあっては、次に
ような種々の問題を有していた。
ような種々の問題を有していた。
(1)電極の接触部が銅、アルミニウムあるいは真ちゅ
うなどのため、被測定物たる半導体ウェーハの重金属汚
染を招来し、デバイスのリーク不良などを発生していた
。
うなどのため、被測定物たる半導体ウェーハの重金属汚
染を招来し、デバイスのリーク不良などを発生していた
。
(2)熱電極の接触部が銅の場合、先端に絶縁性酸化物
の生皮を防ぐため、低温度(たとえば50℃程度)で使
用しなければならず、熱起電力が少なく、低感度であっ
た。
の生皮を防ぐため、低温度(たとえば50℃程度)で使
用しなければならず、熱起電力が少なく、低感度であっ
た。
(3)全体に大型で剛性が強いため、測定の際ウェーハ
に破損やキズを生じ易く、またウェーハ・エッヂ部など
の周部測定が不可能であった。
に破損やキズを生じ易く、またウェーハ・エッヂ部など
の周部測定が不可能であった。
(4)二本に分離した電極のため、片手での測定ができ
ず、作業性が悪かった。
ず、作業性が悪かった。
この考案は、これらの問題をすべて解決するためになさ
れたもので、その目的は、半導体ウェーバに重金属汚染
を招来することなく、高感度での局部測定を可能とし、
さらにウェーバの破損やキズを生じることなく、片手に
容易に導電型の測定を行なうことができる半導体導電型
測定器の電極構造を提供することにある。
れたもので、その目的は、半導体ウェーバに重金属汚染
を招来することなく、高感度での局部測定を可能とし、
さらにウェーバの破損やキズを生じることなく、片手に
容易に導電型の測定を行なうことができる半導体導電型
測定器の電極構造を提供することにある。
その目的を達成するため、この考案にあっては、一つの
電極把手に、ヒーターを内蔵する電極と内蔵しない電極
の二本を取り付け、かつこれら二本の電極それぞれに、
銅などの熱伝導性の良い導電性接続子を介在させて、こ
の導電性接続子より小径の接触針を取り付けるようにし
たことに特徴がある。
電極把手に、ヒーターを内蔵する電極と内蔵しない電極
の二本を取り付け、かつこれら二本の電極それぞれに、
銅などの熱伝導性の良い導電性接続子を介在させて、こ
の導電性接続子より小径の接触針を取り付けるようにし
たことに特徴がある。
勿論この場合、前記接触針の材料としては、被測定ウェ
ーバの特性を劣化させないようなもの、たとえばタング
ステンあるいはタングステンカーバイドまたはモリブデ
ンなどを用いる。
ーバの特性を劣化させないようなもの、たとえばタング
ステンあるいはタングステンカーバイドまたはモリブデ
ンなどを用いる。
以下、この考案の実施例を、第2図を参照しながら詳細
に説明する。
に説明する。
まず、電極の一体化を計るため、一つの電極把手5の一
端に、外径3.5mφ程度で15W程度のカートリッヂ
ヒーター6を内蔵する熱電極7と、外径3.5mφ程度
でヒーターを内蔵しない冷電極8との二本の電極をそれ
ぞれ取り付ける。
端に、外径3.5mφ程度で15W程度のカートリッヂ
ヒーター6を内蔵する熱電極7と、外径3.5mφ程度
でヒーターを内蔵しない冷電極8との二本の電極をそれ
ぞれ取り付ける。
熱電極7に内蔵するヒーター6は、小型化と熱効率の向
上を計るため、カートリッヂタイプを採用するのがよい
。
上を計るため、カートリッヂタイプを採用するのがよい
。
つぎに、熱電極7と冷電極8それぞれの先端に、外径5
771771φ、長さ20mm程度の熱伝導性の良い材
質、たとえば銅などで作った接続子9を咬合させる。
771771φ、長さ20mm程度の熱伝導性の良い材
質、たとえば銅などで作った接続子9を咬合させる。
このとき、これらの接続子9については、熱電極用と冷
電極用とを図示のように分離してもよく、あるいは各々
を電気的および熱的絶縁を施した状態で一体物としても
よい。
電極用とを図示のように分離してもよく、あるいは各々
を電気的および熱的絶縁を施した状態で一体物としても
よい。
また、それら接続子9は、汚染源とならないよう適当な
メッキを施すとか、外周を耐熱樹脂でコーティングする
のも好ましいことである。
メッキを施すとか、外周を耐熱樹脂でコーティングする
のも好ましいことである。
このような接続子9の他端には小穴9aがあり、この各
小穴9aにはタングステンあるいはタングステンカーバ
イドまたはモリブデンなどの外径0.5TrrJnφ、
長さ10m程度の接触針10を取り付ける。
小穴9aにはタングステンあるいはタングステンカーバ
イドまたはモリブデンなどの外径0.5TrrJnφ、
長さ10m程度の接触針10を取り付ける。
接触針10にタングステンあるいはタングステンカーバ
イドまたはモリブデンなどを用いることによって、半導
体ウェーバへの重金属汚染が激減し、また0、 577
171φに細棒を用いることによって、測定の際ウェー
バへの当たりが柔軟になるので、ウェーバに破損やキズ
が生じないなど多くの利点がある。
イドまたはモリブデンなどを用いることによって、半導
体ウェーバへの重金属汚染が激減し、また0、 577
171φに細棒を用いることによって、測定の際ウェー
バへの当たりが柔軟になるので、ウェーバに破損やキズ
が生じないなど多くの利点がある。
ただ、柔軟性のみに重点をおいて接触針10を余りに細
くすると、熱伝導性が低下し、熱電極側の接触針先端の
温度が充分に上昇せず、測定感度の低下を来たすので、
接触針10の長さおよび太さについては、それらを考慮
して適切な選定が必要である。
くすると、熱伝導性が低下し、熱電極側の接触針先端の
温度が充分に上昇せず、測定感度の低下を来たすので、
接触針10の長さおよび太さについては、それらを考慮
して適切な選定が必要である。
以上の説明から理解されるように、この考案によれば次
のような多くの効果を有する。
のような多くの効果を有する。
(イ)熱電極7と冷電極8とを一つの電極把手5に取り
付けているので、電極部が小型化かつ一体化でき、片手
操作が可能となり、測定の作業性を大きく向上すること
ができ、また消費電力を、たとえば従来の15W程度に
対し5W程度に低減することができる。
付けているので、電極部が小型化かつ一体化でき、片手
操作が可能となり、測定の作業性を大きく向上すること
ができ、また消費電力を、たとえば従来の15W程度に
対し5W程度に低減することができる。
(ロ)熱電極7および冷電極8の二つの電極それぞれに
、熱伝導性の良い導電性接続子9を介在させて接触針1
0を取り付けているので、導電性接続子9および接触針
10各々について適切な材料を選ぶことができ、半導体
ウェーバを重金属で汚染したり、破損やキズを生じたり
することが防止でき、また接触針10の先端温度をたと
えば80℃と充分に上昇させることができることとなり
、測定感度を大きく上昇させることができる。
、熱伝導性の良い導電性接続子9を介在させて接触針1
0を取り付けているので、導電性接続子9および接触針
10各々について適切な材料を選ぶことができ、半導体
ウェーバを重金属で汚染したり、破損やキズを生じたり
することが防止でき、また接触針10の先端温度をたと
えば80℃と充分に上昇させることができることとなり
、測定感度を大きく上昇させることができる。
測定感度について具体的数値を挙げると、従来の測定器
ではP型について5Ω−cmが測定限度であったのに対
し、この考案のものでは100Ω−cmの測定をも行な
うことができるようになった。
ではP型について5Ω−cmが測定限度であったのに対
し、この考案のものでは100Ω−cmの測定をも行な
うことができるようになった。
(ハ)前記(ロ)の場合と同じ理由により、接触針10
の小径化できるので、局所測定が可能となり、ウェーバ
を収容ケースに入れたまま、そのエッヂ部に電極を当接
腰安定した状態で測定を行なうことができ、それにより
測定に伴なうウェーバの破損や汚染などを低減すること
ができる。
の小径化できるので、局所測定が可能となり、ウェーバ
を収容ケースに入れたまま、そのエッヂ部に電極を当接
腰安定した状態で測定を行なうことができ、それにより
測定に伴なうウェーバの破損や汚染などを低減すること
ができる。
このウェーバのエッヂ部(周縁部)はデバイスの製作に
直接関与しない部分であるから、その部分に測定器の電
極を当接し、それによって仮にキズや汚れを発生したと
してもデバイス製品に与える影響はほとんどない。
直接関与しない部分であるから、その部分に測定器の電
極を当接し、それによって仮にキズや汚れを発生したと
してもデバイス製品に与える影響はほとんどない。
第1図は従来の測定器の使用説明図、第2図はこの考案
の一実施例を示す縦断面図である。 5・・・・・・電極把手、 6・・・・・・ヒーター 7・・・・・・熱電 極、 8・・・・・・冷電極、 9・・・・・・導電性接続子、 10・・・ ・・・接触針。
の一実施例を示す縦断面図である。 5・・・・・・電極把手、 6・・・・・・ヒーター 7・・・・・・熱電 極、 8・・・・・・冷電極、 9・・・・・・導電性接続子、 10・・・ ・・・接触針。
Claims (2)
- (1)半導体ウェーハの導電型を測定する測定器におい
て、一つの電極把手に、ヒーターを内蔵する電極と、内
蔵しない電極の二本を取り付け、かつこれら二本の電極
それぞれに、熱伝導性の良い導電性接続子を介在させて
、この導電性接続子より小径の接触針を取り付けるよう
にしたことを特徴とする半導体導電型測定器の電極構造
。 - (2)接触針は、タングステンあるいはタングステンカ
ーバイドまたはモリブデンからなることを特徴とする実
用新案登録請求の範囲第(1)項に記載の半導体導電型
測定器の電極構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1810180U JPS6041730Y2 (ja) | 1980-02-15 | 1980-02-15 | 半導体導電型測定器の電極構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1810180U JPS6041730Y2 (ja) | 1980-02-15 | 1980-02-15 | 半導体導電型測定器の電極構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56119654U JPS56119654U (ja) | 1981-09-11 |
| JPS6041730Y2 true JPS6041730Y2 (ja) | 1985-12-19 |
Family
ID=29614427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1810180U Expired JPS6041730Y2 (ja) | 1980-02-15 | 1980-02-15 | 半導体導電型測定器の電極構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6041730Y2 (ja) |
-
1980
- 1980-02-15 JP JP1810180U patent/JPS6041730Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56119654U (ja) | 1981-09-11 |
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