JPS6042359Y2 - 赤外線分析装置 - Google Patents
赤外線分析装置Info
- Publication number
- JPS6042359Y2 JPS6042359Y2 JP1980094290U JP9429080U JPS6042359Y2 JP S6042359 Y2 JPS6042359 Y2 JP S6042359Y2 JP 1980094290 U JP1980094290 U JP 1980094290U JP 9429080 U JP9429080 U JP 9429080U JP S6042359 Y2 JPS6042359 Y2 JP S6042359Y2
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- Japan
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- infrared
- light
- head
- window
- measured
- Prior art date
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、赤外線分析装置に関し、更に詳しくは、シー
ト状の紙に近赤外線を照射し、故紙と相互作用をもった
近赤外線を検出しシート状の紙に含まれるまたは吸着す
る水分量に関する信号を得て、該信号から水分量や水分
率等の測定を行なう赤外線分析装置に関する。
ト状の紙に近赤外線を照射し、故紙と相互作用をもった
近赤外線を検出しシート状の紙に含まれるまたは吸着す
る水分量に関する信号を得て、該信号から水分量や水分
率等の測定を行なう赤外線分析装置に関する。
第1図は、赤外線分析装置の従来例の構成説明図であり
、図中、1は検出部上ヘッド、2は検出部下ヘッド、3
は被測定体、4は近赤外線照射窓、(以下1照射窓ヨと
いう)、5は近赤外線受光窓(以下1受光窓ヨという)
、6はフィルタホイール、7は光学フィルタ、8.10
はレンズ、9はランプ、11は光感応素子、12a、1
2bは反射被膜である。
、図中、1は検出部上ヘッド、2は検出部下ヘッド、3
は被測定体、4は近赤外線照射窓、(以下1照射窓ヨと
いう)、5は近赤外線受光窓(以下1受光窓ヨという)
、6はフィルタホイール、7は光学フィルタ、8.10
はレンズ、9はランプ、11は光感応素子、12a、1
2bは反射被膜である。
第1図において、上ヘッド1と下ヘッド2は対向配置さ
れ、その対向面の所定領域には反射被膜12a、12b
が被覆されるとともに、上ヘッド1には照射窓4が接け
られ、下ヘッド2には上記照射窓4と光軸が異なる位置
に受光窓5が設けられている。
れ、その対向面の所定領域には反射被膜12a、12b
が被覆されるとともに、上ヘッド1には照射窓4が接け
られ、下ヘッド2には上記照射窓4と光軸が異なる位置
に受光窓5が設けられている。
また、光学フィルタ7が埋設支承されたフィルタホイー
ル6は、その回転により、ランプ9から発せられレンズ
8を通過した近赤外線を断続光となし、照射窓4から被
測定体3へ照射せしめている。
ル6は、その回転により、ランプ9から発せられレンズ
8を通過した近赤外線を断続光となし、照射窓4から被
測定体3へ照射せしめている。
而して、照射窓4から照射された近赤外線は、被測定体
3を透過し若しくは反射被膜12a、12bおよび被測
定体3の表面で散乱して受光窓5に達し、レンズ10を
経て、光感応素子11で検出され受光光量に対応した所
定の信号が出力されている。
3を透過し若しくは反射被膜12a、12bおよび被測
定体3の表面で散乱して受光窓5に達し、レンズ10を
経て、光感応素子11で検出され受光光量に対応した所
定の信号が出力されている。
第2図は、第1図における上ヘッド1の表面付近の拡大
断面図であり、図中、21a、21bはアルミ鋳物部、
22 a、 22 bは散乱面を形成する反射物体、2
3は反射物体22 a、 22 bを保護するための
カバーガラス24a、24bは反射物体22a、22b
を加熱するためのアルミプレート、25は空気流を遮断
し近赤外線を透過させる透過ガラスでなる遮蔽物、27
a、27bはアルミプレート24 a t 24 bs
反射物体22a。
断面図であり、図中、21a、21bはアルミ鋳物部、
22 a、 22 bは散乱面を形成する反射物体、2
3は反射物体22 a、 22 bを保護するための
カバーガラス24a、24bは反射物体22a、22b
を加熱するためのアルミプレート、25は空気流を遮断
し近赤外線を透過させる透過ガラスでなる遮蔽物、27
a、27bはアルミプレート24 a t 24 bs
反射物体22a。
22b1カバーガラス23、およびアルミ鋳物部21a
、21bで形成される間隙部、28at28bは反射物
体22 a、 22 bとカバーガラス23で形成さ
れる間隙部、29a、29bは上ヘツド1内に供給され
る上ヘツド1内の放熱や防塵を行なう空気流、30は第
1図のランプ9から発せられレンズ8を通り光学フィル
タ7を透過した近赤外線である。
、21bで形成される間隙部、28at28bは反射物
体22 a、 22 bとカバーガラス23で形成さ
れる間隙部、29a、29bは上ヘツド1内に供給され
る上ヘツド1内の放熱や防塵を行なう空気流、30は第
1図のランプ9から発せられレンズ8を通り光学フィル
タ7を透過した近赤外線である。
第2図において、空気流29a。29bは間隙部27a
、27bを通り主として間隙部27a、27bに付着す
る紙粉等を上ヘッドの外へ運び去るとともに、間隙部2
8a、28bに一定圧力を供給し外部から紙粉等が間隙
部28a、28bに混入するのを防止する。
、27bを通り主として間隙部27a、27bに付着す
る紙粉等を上ヘッドの外へ運び去るとともに、間隙部2
8a、28bに一定圧力を供給し外部から紙粉等が間隙
部28a、28bに混入するのを防止する。
然し乍ら、上記従来例においては、アルミプレート24
a、24b、遮蔽物25等を必要とするため、赤外線分
析計の上ヘツド製作上部品点数も多く、また近赤外線が
遮蔽物25を透過するため、近赤外線の光量が低下し、
更に上記間隙部28a、28bにどうしてもゴミ等が入
り間隙部28a、28bの汚れ防止も十分にはできない
という欠点があった。
a、24b、遮蔽物25等を必要とするため、赤外線分
析計の上ヘツド製作上部品点数も多く、また近赤外線が
遮蔽物25を透過するため、近赤外線の光量が低下し、
更に上記間隙部28a、28bにどうしてもゴミ等が入
り間隙部28a、28bの汚れ防止も十分にはできない
という欠点があった。
本考案は、かかる欠点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的は、上記欠点が全て取り除かれた構造の簡単な赤
外線分析装置を提供するにある。
の目的は、上記欠点が全て取り除かれた構造の簡単な赤
外線分析装置を提供するにある。
本考案の特徴は、赤外線分析装置の上下ヘッドにおいて
、入出射窓部分は平面状若しくは傾斜状であり、入出窓
以外の部分は波形であるところの表面形状を有するカバ
ーガラスであって、入出射窓部分を除いた全内壁面には
反射被膜が被覆されたものを用いることにより、上下ヘ
ッドの入出射窓において近赤外線の入出射に際して近赤
外線の光量が減少するのを防止するとともに、反射被膜
で形成される散乱面が汚染されるのを防止することにあ
る。
、入出射窓部分は平面状若しくは傾斜状であり、入出窓
以外の部分は波形であるところの表面形状を有するカバ
ーガラスであって、入出射窓部分を除いた全内壁面には
反射被膜が被覆されたものを用いることにより、上下ヘ
ッドの入出射窓において近赤外線の入出射に際して近赤
外線の光量が減少するのを防止するとともに、反射被膜
で形成される散乱面が汚染されるのを防止することにあ
る。
以下、本考案について図を用いて詳細に説明する。
第3図は、本考案の実施例の構成説明図であり、図中、
31はカバーガラス、32a、32bは反射物質である
。
31はカバーガラス、32a、32bは反射物質である
。
また、第3図において、第2図と同一記号は同一意味を
もたせ使用し、ここでの説明は省略する。
もたせ使用し、ここでの説明は省略する。
第3図において、近赤外線30は、前記従来例と異なり
、第2図の遮蔽物25によって光量が低下されることな
く直接カバーガラス31に達したのち、出射光として出
射窓から出射する。
、第2図の遮蔽物25によって光量が低下されることな
く直接カバーガラス31に達したのち、出射光として出
射窓から出射する。
また、空気流29a、29bは、カバーガラス31によ
って直進流路が妨げられ、間隙部27a、27bの方向
に流れることにより、間隙部27a、27bに付着する
紙粉等が除去される。
って直進流路が妨げられ、間隙部27a、27bの方向
に流れることにより、間隙部27a、27bに付着する
紙粉等が除去される。
尚、本考案は上記一実施例に限定されるものではなく、
近赤外線の出射光を散乱させない照射窓を有する構成の
範囲内で種々の変形は可能であり、例えば、第4図に示
す如く、カバーガラス31に所定の傾斜を有する出射窓
部34を設、近赤外線30が出射窓部34を通過する際
屈折させられるような構成であってもよい。
近赤外線の出射光を散乱させない照射窓を有する構成の
範囲内で種々の変形は可能であり、例えば、第4図に示
す如く、カバーガラス31に所定の傾斜を有する出射窓
部34を設、近赤外線30が出射窓部34を通過する際
屈折させられるような構成であってもよい。
また、上記説明は、赤外線分析装置の検出部上ヘッドに
ついて詳述したが、赤外線分析装置の検出部下ヘッドに
ついても同様であり、検出部下ヘッドの場合は透過若し
くは散した近赤外線が光量を低下させることなく入射窓
に入射する。
ついて詳述したが、赤外線分析装置の検出部下ヘッドに
ついても同様であり、検出部下ヘッドの場合は透過若し
くは散した近赤外線が光量を低下させることなく入射窓
に入射する。
以上、詳しく説明したような本考案の実施例によれば、
カバーガラスの内壁面に反射被膜が被覆された構成であ
るために、前記従来例のようにカバーガラスと反射面の
間のすきまにゴミが入るようなことはないという利点を
有する。
カバーガラスの内壁面に反射被膜が被覆された構成であ
るために、前記従来例のようにカバーガラスと反射面の
間のすきまにゴミが入るようなことはないという利点を
有する。
また、本考案の実施例は前記従来例に比して赤外線分析
装置の上下ヘッド製作上部品点数も少なく、また構造も
簡単であり、赤外線分析装置を容易かつ迅速に製作する
上で本考案の実施効果は大なるものがある。
装置の上下ヘッド製作上部品点数も少なく、また構造も
簡単であり、赤外線分析装置を容易かつ迅速に製作する
上で本考案の実施効果は大なるものがある。
第1図は、赤外線分析装置の従来例の構成説明図、第2
図は、第1図における上ヘッド1の表面付近の拡大断面
図、第3図は、本考案の他の実施例の構成説明図、第4
図は、本考案の他の実施例を示す構成説明図である。 1・・・・・・検出部上ヘッド、2・・・・・・検出部
下ヘッド、3・・・・・・被測定体、4・・・・・・照
射窓、5・・・・・・受光窓、6・・・・・・フィルタ
ホイール、7・・・・・・光学フィルタ、8.10・・
・・・・レンズ、9・・・・・・ランプ、11・・・・
・・光感応素子、12a、12b・・・・・・反射被膜
、21 at 21b−−−−−−アルミ鋳物部、22
a、22b・・・・・・反射物体、23・・・・・・カ
バーガラス、24a。 24b・・・・・・アルミプレート、25・・・・・・
遮蔽物、26−−−−−−窓穴、27a、27b、28
a、28b・・・・・・間隙部、29at29b・・・
・・・空気流、30・・・・・・近赤外線。
図は、第1図における上ヘッド1の表面付近の拡大断面
図、第3図は、本考案の他の実施例の構成説明図、第4
図は、本考案の他の実施例を示す構成説明図である。 1・・・・・・検出部上ヘッド、2・・・・・・検出部
下ヘッド、3・・・・・・被測定体、4・・・・・・照
射窓、5・・・・・・受光窓、6・・・・・・フィルタ
ホイール、7・・・・・・光学フィルタ、8.10・・
・・・・レンズ、9・・・・・・ランプ、11・・・・
・・光感応素子、12a、12b・・・・・・反射被膜
、21 at 21b−−−−−−アルミ鋳物部、22
a、22b・・・・・・反射物体、23・・・・・・カ
バーガラス、24a。 24b・・・・・・アルミプレート、25・・・・・・
遮蔽物、26−−−−−−窓穴、27a、27b、28
a、28b・・・・・・間隙部、29at29b・・・
・・・空気流、30・・・・・・近赤外線。
Claims (1)
- 検出部上ヘッドに内蔵された光源から照射窓を透過して
出射される近赤外線を被測定体に照射し、該被測定体を
透過し若しくは検出部上・下ヘッドの散乱面および被測
定体の表面で散乱した前記近赤外線を、検出部上ヘッド
に内蔵された光感応素子で受光窓を透過させて受光し、
前記被測定体に含まれたり吸着されたりしている水分量
や水分率を測定する赤外線分析装置において、一側の面
の一部に平面状若しくは傾斜状の光透過部を有し該光透
退部以外の部分には反射被膜が被覆され且つ他側の面の
全体が平面状である板状の2つのカバーガラスを、前記
他側の面が前記被測定体に対向するように前記検出部上
ヘッドおよび検出部下ヘッドに着設し、前記光透過部が
前記照射窓および前記受光窓となり、前記反射被膜が前
記検出部上・下ヘッドの散乱面となるように構成したこ
とを特徴とする赤外線分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980094290U JPS6042359Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 | 赤外線分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980094290U JPS6042359Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 | 赤外線分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5716953U JPS5716953U (ja) | 1982-01-28 |
| JPS6042359Y2 true JPS6042359Y2 (ja) | 1985-12-26 |
Family
ID=29456220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980094290U Expired JPS6042359Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 | 赤外線分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6042359Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3793524A (en) * | 1972-09-05 | 1974-02-19 | Measurex Corp | Apparatus for measuring a characteristic of sheet materials |
-
1980
- 1980-07-04 JP JP1980094290U patent/JPS6042359Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5716953U (ja) | 1982-01-28 |
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