JPS6042900B2 - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
- Publication number
- JPS6042900B2 JPS6042900B2 JP10997478A JP10997478A JPS6042900B2 JP S6042900 B2 JPS6042900 B2 JP S6042900B2 JP 10997478 A JP10997478 A JP 10997478A JP 10997478 A JP10997478 A JP 10997478A JP S6042900 B2 JPS6042900 B2 JP S6042900B2
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- JP
- Japan
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- photometric
- light
- lens
- optical system
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- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0474—Diffusers
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は測光装置、特に、望ましい測光分布が得られる
測光装置に関するものである。
測光装置に関するものである。
物体、情報等の被測光体からの光をレンズ等の集光光学
系によつて測光素子上に集光することによつて測光する
装置は既に知られている。
系によつて測光素子上に集光することによつて測光する
装置は既に知られている。
この様な装置において、口径食や、ＣＯＳ’則によつて
測光界周辺部の測光ウエートが著しく中心部に比べて低
くなる、すなわち中央重点測光、傾向が有つた。
測光界周辺部の測光ウエートが著しく中心部に比べて低
くなる、すなわち中央重点測光、傾向が有つた。
測光界周辺部の測光ウエートが著しく中心部に比べて低
くない測光が望まれる場合、この測光装置は好ましくな
かつた。特に連続的なシーンを撮影するシネカメラの測
光装置においてパンニング操作の際画面の急激な露光量
の変化を伴う為、中央重点測光を好ましくなく、平均測
光が望まれている。従つて、集光光学系を使用する測光
装置におい「山−２ｌ−ご眉言！、ＩＩＡちＳＭＩｆｉ
Ｌ’、−１−｜【■上古６を−■１Ｈｈ布［ＩＸ−仝ヨ
小測光分布に変更することが望まれる。
くない測光が望まれる場合、この測光装置は好ましくな
かつた。特に連続的なシーンを撮影するシネカメラの測
光装置においてパンニング操作の際画面の急激な露光量
の変化を伴う為、中央重点測光を好ましくなく、平均測
光が望まれている。従つて、集光光学系を使用する測光
装置におい「山−２ｌ−ご眉言！、ＩＩＡちＳＭＩｆｉ
Ｌ’、−１−｜【■上古６を−■１Ｈｈ布［ＩＸ−仝ヨ
小測光分布に変更することが望まれる。
本発明はこの点を考慮して為されたものである。
従つて、本発明の目的は測光分布が変更された集光光学
系を使用する測光装置を提供することにある。そして、
この目的は測光分布変更手段を集光光学系の一部に形成
したことによつて達成している。すなわち、本発明は測
光分布変更手段を単に装置内に設けることではなく、こ
の手段を集光光学系の一部に形成することを特徴として
いる。
系を使用する測光装置を提供することにある。そして、
この目的は測光分布変更手段を集光光学系の一部に形成
したことによつて達成している。すなわち、本発明は測
光分布変更手段を単に装置内に設けることではなく、こ
の手段を集光光学系の一部に形成することを特徴として
いる。
この特徴によつて、単に、測光分布を変更するのみなら
ず、作製の容易さ等の効果を有するものである。以下本
発明の実施例を添付した図面を使用して説明する。
ず、作製の容易さ等の効果を有するものである。以下本
発明の実施例を添付した図面を使用して説明する。
第１図は従来の測光装置を有するシネカメラの光学配置
図で、１は対物レンズでフィルム３上に被写体像を形成
する。１’は対物レンズ１中に配置されたビームスプリ
ッターで不図示のファインダー光学系の方向に光を分割
する。
図で、１は対物レンズでフィルム３上に被写体像を形成
する。１’は対物レンズ１中に配置されたビームスプリ
ッターで不図示のファインダー光学系の方向に光を分割
する。
２は）対物レンズ１とフィルム３の間に配置された測光
光束分割用の光分割器である。この光分割器２は平行平
面板の間にハーフミラーを光軸に対して傾設している。
このハーフミラーによつて反射された光は光分割器の入
射面によつて全反射され、出；射面より射出される。４
はレンズである。
光束分割用の光分割器である。この光分割器２は平行平
面板の間にハーフミラーを光軸に対して傾設している。
このハーフミラーによつて反射された光は光分割器の入
射面によつて全反射され、出；射面より射出される。４
はレンズである。
対物レンズ１及びこのレンズ４によつて測光素子５に対
して集光光学系を構成する。測光素子５の配置位置はこ
の集光光学系の射出瞳位置近傍である。又、レンズ４は
測光素子５の配置位置等によつては凹面鏡としても良い
。第２図は第１図の測光素子５の部分が示されている。
して集光光学系を構成する。測光素子５の配置位置はこ
の集光光学系の射出瞳位置近傍である。又、レンズ４は
測光素子５の配置位置等によつては凹面鏡としても良い
。第２図は第１図の測光素子５の部分が示されている。
この図から解るように、軸外光１０は軸上光１１に比ベ
ロ径食によつて光束幅がせまくなつている。更に、ＣＯ
Ｓ４則による照度の低下、レンズ４がフレネルレンズの
場合に生じる鋸部での光量ロス、あるいは軸外光の一部
が測光素子に入射しない等々の原因で周辺照度の低下が
生じる。この為、従来の集光光学系を使用している測光
装置は中央重点的な測光分布になつてしまう。この為、
本発明の測光装置は集光光学系特に、対物レンズ１と測
光素子５の間に配置されたレンズ、に測光分布を変更す
る手段を設けることによつて中央重点的な測光分布を他
の測光分布に変更している。第３図には本発明の測光装
置に適用するレンズ１３が示されている。
ロ径食によつて光束幅がせまくなつている。更に、ＣＯ
Ｓ４則による照度の低下、レンズ４がフレネルレンズの
場合に生じる鋸部での光量ロス、あるいは軸外光の一部
が測光素子に入射しない等々の原因で周辺照度の低下が
生じる。この為、従来の集光光学系を使用している測光
装置は中央重点的な測光分布になつてしまう。この為、
本発明の測光装置は集光光学系特に、対物レンズ１と測
光素子５の間に配置されたレンズ、に測光分布を変更す
る手段を設けることによつて中央重点的な測光分布を他
の測光分布に変更している。第３図には本発明の測光装
置に適用するレンズ１３が示されている。
このレンズ１３は第１図のレンズ４の代りに配置される
。そして、このレンズの光軸部分には測光分布を変更す
る手段として拡散面６が形成されている。この拡散面は
スリガラス等のマット面、回折格子面等によつて形成，
し、少なくともこの部分に入射した光が測光素子面より
大きく拡散する拡散特性を有していることが望まれる。
この様に構成することによつて、レンズ１３の中心部を
通る光のある部分は拡散によつて測光素子５に入射しな
い為、測光分布が変更ζする。従つて、拡散の度合、拡
散面の大きさ等を適宜設定することによつて平均測光が
行ない得る。第５図Ｂには第３図のレンズ１３によつて
得られる測光分布が示されている。
。そして、このレンズの光軸部分には測光分布を変更す
る手段として拡散面６が形成されている。この拡散面は
スリガラス等のマット面、回折格子面等によつて形成，
し、少なくともこの部分に入射した光が測光素子面より
大きく拡散する拡散特性を有していることが望まれる。
この様に構成することによつて、レンズ１３の中心部を
通る光のある部分は拡散によつて測光素子５に入射しな
い為、測光分布が変更ζする。従つて、拡散の度合、拡
散面の大きさ等を適宜設定することによつて平均測光が
行ない得る。第５図Ｂには第３図のレンズ１３によつて
得られる測光分布が示されている。
第５図Ａに示され３た第１図の装置によつて得られる中
央重点的な測光分布に比べて測光ウエートが画面の各部
に平均化されていることが理解される。第４図には本発
明の第２実施例に使用するレンズ１５が示されている。
央重点的な測光分布に比べて測光ウエートが画面の各部
に平均化されていることが理解される。第４図には本発
明の第２実施例に使用するレンズ１５が示されている。
このレンズ１５には測光分布を変更する手段として集光
光学系の正規の集光作用を変更する手段、例えば異なる
曲率の面、レンズの切欠き、遮光板の設置等が形成され
ている。第４図の実施例においては、フレネル非形成面
８が形成されている。又、このフレネル非形成面８は被
写界の上部、すなわち空部からの光を測光素子５に向わ
さない様な位置に形成されている。すなわちフレネル非
形成面８は素通し面であノる為、測光素子５を素通し光
束の通過位置よりはずして配置することによつてこの部
分の光の多くは測光されない。従つて、測光分布が変更
される。この様に空部の測光を行なわない理由は明るい
空部からの光に影響されずに適切な露光を得る−為であ
る。もちろんこのフレネル形成面８部に遮光板をおいて
も同様の効果を得る。尚、このフレネル非形成面８によ
つて測光分布の変更は可能であるが、本実施例において
は更に測光分布を所望なものとする為第３図と同様に中
心部に拡散面６が設けられている。これによつて、空部
の測光ウエートが低く、かつそれ以外の部分においては
平均測光の測光分布が得られる。この測光分布は第５図
Ｃに示されている。尚第４図の１６はレンズホルダーで
ある。又第３図、第４図の両実施例においてフレネル面
７は光分割器２側に配置されている方が拡散効果上好ま
しい。
光学系の正規の集光作用を変更する手段、例えば異なる
曲率の面、レンズの切欠き、遮光板の設置等が形成され
ている。第４図の実施例においては、フレネル非形成面
８が形成されている。又、このフレネル非形成面８は被
写界の上部、すなわち空部からの光を測光素子５に向わ
さない様な位置に形成されている。すなわちフレネル非
形成面８は素通し面であノる為、測光素子５を素通し光
束の通過位置よりはずして配置することによつてこの部
分の光の多くは測光されない。従つて、測光分布が変更
される。この様に空部の測光を行なわない理由は明るい
空部からの光に影響されずに適切な露光を得る−為であ
る。もちろんこのフレネル形成面８部に遮光板をおいて
も同様の効果を得る。尚、このフレネル非形成面８によ
つて測光分布の変更は可能であるが、本実施例において
は更に測光分布を所望なものとする為第３図と同様に中
心部に拡散面６が設けられている。これによつて、空部
の測光ウエートが低く、かつそれ以外の部分においては
平均測光の測光分布が得られる。この測光分布は第５図
Ｃに示されている。尚第４図の１６はレンズホルダーで
ある。又第３図、第４図の両実施例においてフレネル面
７は光分割器２側に配置されている方が拡散効果上好ま
しい。
第１図及び第２図は集光光学系を使用した従来の測光装
置を適用したシネカメラの光学配置図、第３図は本発明
の測光装置の第１実施例に適用する集光光学系を示す図
、第４図は第２実施例に適用する集光光学系を示す図、
第５図は測光分布を示す図である。 図中、１，４は集光光学系、２は光分割器、３はフィル
ム、５は測光素子、６は拡散面、７はフレネル面、８は
フレネル非形成面、１０は軸外光、１１は軸上光、１３
，１５はフレネルレンズである。
置を適用したシネカメラの光学配置図、第３図は本発明
の測光装置の第１実施例に適用する集光光学系を示す図
、第４図は第２実施例に適用する集光光学系を示す図、
第５図は測光分布を示す図である。 図中、１，４は集光光学系、２は光分割器、３はフィル
ム、５は測光素子、６は拡散面、７はフレネル面、８は
フレネル非形成面、１０は軸外光、１１は軸上光、１３
，１５はフレネルレンズである。
Claims (1)
- １ 被測光体からの光を集光光学系によつて測光素子に
集光し測光する測光装置において、前記集光光学系の一
部分に該集光光学系の光軸近傍の光束を拡散させる拡散
手段を有した光学部材を配置し、被測光体の測光分布を
変更させたことを特徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10997478A JPS6042900B2 (ja) | 1978-09-07 | 1978-09-07 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10997478A JPS6042900B2 (ja) | 1978-09-07 | 1978-09-07 | 測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5536767A JPS5536767A (en) | 1980-03-14 |
| JPS6042900B2 true JPS6042900B2 (ja) | 1985-09-25 |
Family
ID=14523862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10997478A Expired JPS6042900B2 (ja) | 1978-09-07 | 1978-09-07 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6042900B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5732426A (en) * | 1980-08-02 | 1982-02-22 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Photometric method of camera |
| US7761003B2 (en) | 2007-05-24 | 2010-07-20 | Nikon Corporation | Optical apparatus and manufacturing method of optical apparatus |
-
1978
- 1978-09-07 JP JP10997478A patent/JPS6042900B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5536767A (en) | 1980-03-14 |
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