JPS604367Y2 - Sample exchange device in electron microscope - Google Patents
Sample exchange device in electron microscopeInfo
- Publication number
- JPS604367Y2 JPS604367Y2 JP3217080U JP3217080U JPS604367Y2 JP S604367 Y2 JPS604367 Y2 JP S604367Y2 JP 3217080 U JP3217080 U JP 3217080U JP 3217080 U JP3217080 U JP 3217080U JP S604367 Y2 JPS604367 Y2 JP S604367Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- chuck
- sample tube
- chamber
- exchange
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- Expired
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Description
【考案の詳細な説明】
本考案は電子顕微鏡において光軸方向から試料を挿入す
るタイプの試料交換装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a sample exchange device of the type that inserts a sample from the optical axis direction in an electron microscope.
斯かる光軸方向から試料を挿入するタイプの試料交換装
置としては、鏡体の側壁に回動且つ移動可能に貫通、保
持された交換棒の先端にチャックを設け、該チャックに
て試料筒を挾持した状態で、交換棒を操作することより
、試料筒を試料移動台と交換室との間を移動させるよう
になした構造のものが広く使用されている。A sample exchange device of the type that inserts the sample from the optical axis direction is equipped with a chuck at the tip of an exchange rod that is rotatably and movably penetrated and held in the side wall of the mirror body, and the sample tube is inserted with the chuck. A widely used structure is such that the sample cylinder is moved between the sample moving stage and the exchange chamber by operating the exchange rod while the sample tube is held in the sample tube.
しかし乍ら、斯かる従来装置においては試料筒を挾持す
る部分にこの試料筒を保護するための部材が設けてない
ため、試料筒を交換室から試料移動台に向けて移動させ
る際、試料筒が鏡体に接触し、傷がつくことがある。However, in such conventional devices, there is no member to protect the sample tube in the part that holds the sample tube, so when moving the sample tube from the exchange chamber to the sample transfer stage, may come into contact with the mirror and cause scratches.
特に試料筒の試料移動台への嵌合面(この嵌合面は通常
テーパー状に加工されている。In particular, the fitting surface of the sample cylinder to the sample moving stage (this fitting surface is usually machined into a tapered shape).
)に傷がつくと、試料筒は試料移動台に密接した状態で
装着することができなくなるため振動が発生しやすくな
り、又試料位置が変化するので、分解能へ悪影響を及ぼ
す欠点がある。) is scratched, the sample tube cannot be attached closely to the sample moving stage, which tends to cause vibrations, and the sample position changes, which has the drawback of adversely affecting resolution.
本考案は斯かる不都合を解決することを目的とするもの
で、以下図面に基づき詳説する。The present invention aims to solve such inconveniences, and will be explained in detail below with reference to the drawings.
第1図は本考案の一実施例を示す断面図、第2図は第1
図のA−A断面図であり、1は電子顕微鏡の対物レンズ
である。Fig. 1 is a sectional view showing one embodiment of the present invention, and Fig. 2 is a cross-sectional view showing an embodiment of the present invention.
It is a sectional view taken along the line AA in the figure, and 1 is an objective lens of an electron microscope.
2は該対物レンズ1の上方に設けられた試料室で、内部
に試料移動台3が水平移動可能に設けられている。Reference numeral 2 denotes a sample chamber provided above the objective lens 1, in which a sample moving table 3 is provided so as to be horizontally movable.
これら試料室2及び対物レンズ1内は図示外の真空ポン
プにより高真空に保たれる。The inside of the sample chamber 2 and the objective lens 1 are maintained at a high vacuum by a vacuum pump not shown.
該試料移動台の中央部には試料(図示せず)を内蔵した
試料筒4を装着するための穴5が形威しである。In the center of the sample moving table, there is a hole 5 for mounting a sample cylinder 4 containing a sample (not shown).
6は前記試料室2の側壁に設けられた交換室で、一端は
試料室2に連通し、他端(大気側)には蓋体7が着脱可
能に取り付けられている。Reference numeral 6 denotes an exchange chamber provided on the side wall of the sample chamber 2, one end of which communicates with the sample chamber 2, and a lid 7 removably attached to the other end (atmospheric side).
該蓋体7には球体軸受8を介して交換棒9が回動且つ移
動可能に貫通、保持されている。A replacement rod 9 is rotatably and movably penetrated through the lid body 7 via a spherical bearing 8 and is held therein.
該交換棒9の一端(真空側)には回転軸10を介してチ
ャック11が回動自在に取り付けられている。A chuck 11 is rotatably attached to one end (vacuum side) of the exchange rod 9 via a rotating shaft 10.
該チャック11には前記試料筒4の上部に設けた鍔部1
2を挾持せしめる掛止部13a、13bが設けてあり、
該掛止部13a、13b部分には図示しないが試料筒4
の鍔部12を挾持したときにこの試料筒が動かない様に
する為に板バネ等が設けである。The chuck 11 has a flange 1 provided at the top of the sample cylinder 4.
2 is provided with hooks 13a and 13b for holding the
Although not shown in the drawings, the sample tube 4 is attached to the hooking portions 13a and 13b.
A plate spring or the like is provided to prevent the sample cylinder from moving when the flange 12 is clamped.
一方前記交換棒9の大気側には嫡子14が設けである。On the other hand, a legitimate child 14 is provided on the atmosphere side of the exchange rod 9.
15は前記試料筒4を保護するための保護羽根で、該保
護羽根は少なくとも試料筒4のテーパ一部4aをカバー
するだけの長さを有した短冊状に形威されており、又保
護羽根15はその上部が二つの支持棒16at16bを
介して前記回転軸10に取り付けられている。Reference numeral 15 denotes a protective blade for protecting the sample cylinder 4, and the protective blade is shaped like a strip having a length sufficient to cover at least the tapered part 4a of the sample cylinder 4. 15 is attached at its upper part to the rotating shaft 10 via two support rods 16at16b.
該各支持棒16a、16bは回転軸10を貫通した状態
で固定されており、又該各支持棒には回転軸10に巻装
されたねじりバネ17a及び17bの一端が夫々係合さ
れている。Each of the support rods 16a and 16b is fixed so as to pass through the rotation shaft 10, and one end of a torsion spring 17a and 17b wound around the rotation shaft 10 is engaged with each support rod, respectively. .
このねじりバネ17a、17bの他端は前記チャック1
1に固定されたストッパー18a、18bに夫々係合さ
れている。The other ends of the torsion springs 17a and 17b are connected to the chuck 1.
1, respectively.
従って前記保護羽根15はねじりバネ17a、17bに
より回転軸10を中心にして第1図中反時計方向、つま
り試料筒4から離れるような方向の回転力を与えられて
いる。Therefore, the protection blade 15 is given a rotational force in a counterclockwise direction in FIG. 1, that is, in a direction away from the sample tube 4, about the rotating shaft 10 by the torsion springs 17a and 17b.
前記各ストッパー18a、18bは前記支持棒16a、
16bと当接し、保護羽根15の回転を停止させる役目
を果している。Each of the stoppers 18a, 18b includes the support rod 16a,
16b, and serves to stop the rotation of the protection blade 15.
又前記保護羽根15の回転軸10への取り付にしては第
3図中実線で示すように交換室6内に試料筒4が水平に
おかれたときこの試料筒の下方に置かれるように配置さ
れており、更に該保護羽根15の上部には交換棒9との
衝突をさけるための欠切部19が形威しである。The protective blade 15 is attached to the rotating shaft 10 in such a way that it is placed below the sample tube 4 when it is placed horizontally in the exchange chamber 6, as shown by the solid line in FIG. Furthermore, a cutout 19 is provided at the top of the protective blade 15 to avoid collision with the replacement rod 9.
20は前記交換室6内に設けられたガイド体で、前記試
料筒4を水平状態に保つ役目を果し、該ガイド体20は
半円筒状に形威されている。Reference numeral 20 denotes a guide body provided in the exchange chamber 6, which serves to keep the sample tube 4 in a horizontal state, and the guide body 20 has a semi-cylindrical shape.
21は前記交換室6の試料室2側に設置された前記保護
板15の開閉を行なうためのくの字状の板バネで、下端
が交換室6にビス等により固定され、又上端21aは丸
く折り曲げられてその内部に軸22が挿入されている。Reference numeral 21 designates a dogleg-shaped plate spring for opening and closing the protection plate 15 installed on the sample chamber 2 side of the exchange chamber 6, and its lower end is fixed to the exchange chamber 6 with screws or the like, and its upper end 21a is It is bent into a circle and the shaft 22 is inserted inside it.
該軸22はその両端が第2図で示すように交換室6の側
壁に当接されている。Both ends of the shaft 22 are in contact with the side walls of the exchange chamber 6, as shown in FIG.
これにより板バネ21の上端21aが交換室6側に移動
するのを阻止している。This prevents the upper end 21a of the leaf spring 21 from moving toward the exchange chamber 6 side.
又前記板バネ21は自由長のときその上端21aが前記
ガイド20の内壁の底部と略一致している。Further, when the leaf spring 21 is in its free length, its upper end 21a substantially coincides with the bottom of the inner wall of the guide 20.
斯かる装置における動作を説明する。The operation of such a device will be explained.
第1図中実線で示す状態は観察済み試料を内蔵した試料
筒4の鍔部12をチャック11により挾持してこの試料
筒4を試料移動台3の穴からぬき出した状態である。The state shown by the solid line in FIG. 1 is a state in which the chuck 11 holds the collar 12 of the sample tube 4 containing the observed sample, and the sample tube 4 is pulled out of the hole in the sample moving stage 3.
このときチャック11に設けた保護羽根15はねじりバ
ネ17a、17bにより回転して試料筒4から離れてい
る。At this time, the protective blades 15 provided on the chuck 11 are rotated by the torsion springs 17a and 17b and separated from the sample cylinder 4.
これは試料移動台3から試料筒4の挿脱時に保護羽根1
5が試料移動台3等に衝突するのを防止するためである
。This is the protection blade 1 when inserting and removing the sample cylinder 4 from the sample moving stage 3.
This is to prevent the specimen 5 from colliding with the sample moving table 3 and the like.
この状態において嫡子14を操作して交換棒9を同図中
右方に直線移動させれば、先ず一点鎖線aで示すように
保護羽根15が板バネ21の上端21aと当接するため
、この保護羽根15はねじりバネ17a、17bに抗し
て回転軸10を中心にして時計方向に回動し、試料筒4
に接近する。In this state, if the replacement rod 9 is moved linearly to the right in the figure by operating the eldest child 14, the protection blade 15 will first come into contact with the upper end 21a of the leaf spring 21, as shown by the dashed line a. The blade 15 rotates clockwise about the rotating shaft 10 against the torsion springs 17a and 17b, and the sample tube 4
approach.
しかして、交換棒9の移動により保護羽根15が試料筒
4に対して所定位置まで接近すると試料筒4、チャック
11がこの保護羽根15と共に回転軸10を中心にして
時計方向に回動するため、この試料筒4、チャック11
及び保護羽根15が第3図中二点鎖線すで示すように板
バネ21上にのりあげる。When the protection blade 15 approaches the sample tube 4 to a predetermined position due to the movement of the exchange rod 9, the sample tube 4 and the chuck 11 rotate clockwise around the rotating shaft 10 together with the protection blade 15. , this sample cylinder 4, chuck 11
And the protective blade 15 is lifted up on the leaf spring 21 as shown by the two-dot chain line in FIG.
この状態で更に交換棒9を同方向に移動させることによ
り第3図中実線ですように試料筒4、チャック11及び
保護羽根15がガイド体20上にのりあげ、交換室6内
に収納される。In this state, by further moving the exchange rod 9 in the same direction, the sample cylinder 4, chuck 11, and protective blade 15 are lifted up on the guide body 20 and stored in the exchange chamber 6, as shown by the solid line in FIG. .
しかる後、第3図中三点鎖線Cで示すようにエアーロッ
ク弁を閉じて試料室2と交換室6を遮断することにより
交換室内を大気にし、新しい試料と交換する。Thereafter, as shown by the three-dot chain line C in FIG. 3, the air lock valve is closed to shut off the sample chamber 2 and the exchange chamber 6, thereby making the inside of the exchange chamber atmospheric and replacing the sample with a new sample.
次に前述と逆の動作を行なえば、新しい試料を内蔵した
試料筒4を第1図中実線で示すように光軸2上におくこ
とができる。Next, by performing the operation in reverse to the above, the sample cylinder 4 containing a new sample can be placed on the optical axis 2 as shown by the solid line in FIG.
この状態において嫡子14を上方に移動すればチャック
11が下降するため、試料筒4は試料移動台3に装着す
る。In this state, if the eldest child 14 is moved upward, the chuck 11 will be lowered, so that the sample cylinder 4 is mounted on the sample moving stage 3.
このとき交換棒9の下降により板バネ21は軸22と共
に押し下げられる。At this time, the leaf spring 21 is pushed down together with the shaft 22 due to the lowering of the replacement rod 9.
又前記ガイド体20の底部には交換棒9の回動をさまた
げないように長溝23が形威しである。Further, a long groove 23 is formed at the bottom of the guide body 20 so as not to hinder the rotation of the exchange rod 9.
しかして試料筒4の装着後、嫡子14を回せば、チャッ
ク11が交換棒9を中心にして第1図中紙面に対して垂
直方向に回動するため、チャック11の掛止部13a、
13bが試料筒4の鍔部4aからはずれる。After mounting the sample tube 4, if the child 14 is rotated, the chuck 11 rotates about the exchange rod 9 in a direction perpendicular to the plane of the paper in FIG.
13b is removed from the flange 4a of the sample cylinder 4.
しかる後チャック11を前述した動作を行なうことによ
り交換室6内に移動させる。Thereafter, the chuck 11 is moved into the exchange chamber 6 by performing the above-described operation.
尚該実施例において図示しないが交換室6の大気側には
交換棒の移動を規制する案内手段が設けである。Although not shown in this embodiment, a guide means for regulating the movement of the exchange rod is provided on the atmosphere side of the exchange chamber 6.
以上の如く構成することにより本考案は試料筒を交換室
側から交換室へ移送する場合、或いは逆の場合、この試
料筒が板バネやガイド体と直接接触するのを防止するこ
とができるため、試料筒のテーパー面に傷がつくのを防
止できる。With the above configuration, the present invention can prevent the sample tube from coming into direct contact with the leaf spring or guide body when transferring the sample tube from the exchange chamber side to the exchange chamber, or vice versa. , it is possible to prevent scratches on the tapered surface of the sample tube.
従って試料筒を試料移動台に安定して装着することがで
きるため、耐振性の向上をはかることができ、しかも試
料は対物レンズ磁極片の所定位置に設定され、分解能の
低下を招くことはなくなる。Therefore, the sample tube can be stably mounted on the sample moving stage, improving vibration resistance.Moreover, the sample is set at a predetermined position on the objective lens magnetic pole piece, so there is no reduction in resolution. .
又、保護羽根のチャックへの取り付けに際し、ねじりバ
ネにより回転力を与えているため、板バネ21上にのせ
られたチャックが試料室側に落下するときの衝突を緩和
することができ、試料筒のチャックからの脱落を防止す
ることができる等実用性大なる効果を有する。In addition, when attaching the protective blades to the chuck, a torsion spring applies rotational force, which can alleviate the collision when the chuck placed on the leaf spring 21 falls into the sample chamber, and the sample cylinder It has great practical effects, such as being able to prevent objects from falling off the chuck.
尚前述の説明では試料筒のチャックへの挟持に際しては
試料筒に設けた鍔部をチャックの二つの掛止部とスプリ
ング等によって挾持するように構成したが、他の例とし
てチャックに外部の操作により回転させることのできる
二つの爪を取り付け、この両爪で試料筒を挾持するよう
になしてもよい。In the above explanation, when the sample cylinder is held in the chuck, the flange provided on the sample cylinder is held by the two hooking parts of the chuck and a spring. It is also possible to attach two claws that can be rotated by a screwdriver, and to hold the sample tube between the two claws.
又、交換棒の操作によりチャックを試料室と交換室との
間を往復させるように構成したが、これに限定されるこ
となく既知の交換手段を利用してもよい。Further, although the chuck is configured to be moved back and forth between the sample chamber and the exchange chamber by operating the exchange rod, the present invention is not limited to this, and any known exchange means may be used.
第1図は本考案の一実施例を示す断面図、第2図は第1
図のA−A断面図、第3図は本考案の動作を説明するた
めの図である。
1:対物レンズ、2:試料室、3:試料移動台、4:試
料筒、6:交換室、7:蓋体、8:球体軸受、9:交換
棒、10:回転軸、11:チャック、12:鍔部、13
a及び13b:掛止部、14:嫡子、15:保護羽根、
16a及び16b:支持棒、17a及び17b:ねじり
バネ、18a及び18b=ストツパー、19:欠切部、
20ニガイド体、21:板バネ、22:軸、23:長溝
。Fig. 1 is a sectional view showing one embodiment of the present invention, and Fig. 2 is a cross-sectional view showing an embodiment of the present invention.
The AA sectional view in the figure and FIG. 3 are diagrams for explaining the operation of the present invention. 1: Objective lens, 2: Sample chamber, 3: Sample moving table, 4: Sample cylinder, 6: Exchange chamber, 7: Lid, 8: Spherical bearing, 9: Exchange rod, 10: Rotating shaft, 11: Chuck, 12:Tsubabe, 13
a and 13b: hanging part, 14: legitimate child, 15: protective feather,
16a and 16b: support rod, 17a and 17b: torsion spring, 18a and 18b = stopper, 19: cutout,
20 guide body, 21: plate spring, 22: shaft, 23: long groove.
Claims (1)
に装着した試料移動台と、前記試料室内に連通した交換
室と、前記試料筒を挾持するためのチャックと、該チャ
ックを回動可能に取り付は且つ試料筒を試料室と交換室
との間を往復させるための手段と、前記チャックに挾持
された試料筒を保護するためにこのチャックに回動可能
に保持された保護羽根と、該保護羽根を試料筒から常に
離間せしめるように回転力を与えるための手段と、前記
試料室と交換室との間における試料交換通路上におかれ
且つ前記保護羽根を前記チャックの交換室側への移動に
ともなって試料筒に向けて回動させるための手段とから
なる電子顕微鏡における試料交換装置。A sample moving stage placed in a sample chamber and removably attached with a sample tube holding a sample, an exchange chamber communicating with the sample chamber, a chuck for holding the sample tube, and the chuck rotatable. means for reciprocating the sample tube between the sample chamber and the exchange chamber, and a protective blade rotatably held on the chuck to protect the sample tube held in the chuck. , a means for applying a rotational force so as to keep the protective blade apart from the sample tube; A sample exchange device for an electron microscope, comprising means for rotating the sample tube toward the sample tube as it moves to the sample tube.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3217080U JPS604367Y2 (en) | 1980-03-12 | 1980-03-12 | Sample exchange device in electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3217080U JPS604367Y2 (en) | 1980-03-12 | 1980-03-12 | Sample exchange device in electron microscope |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56133666U JPS56133666U (en) | 1981-10-09 |
| JPS604367Y2 true JPS604367Y2 (en) | 1985-02-07 |
Family
ID=29627970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3217080U Expired JPS604367Y2 (en) | 1980-03-12 | 1980-03-12 | Sample exchange device in electron microscope |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS604367Y2 (en) |
-
1980
- 1980-03-12 JP JP3217080U patent/JPS604367Y2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56133666U (en) | 1981-10-09 |
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