JPS6044193A - レ−ザ加工装置 - Google Patents
レ−ザ加工装置Info
- Publication number
- JPS6044193A JPS6044193A JP58152748A JP15274883A JPS6044193A JP S6044193 A JPS6044193 A JP S6044193A JP 58152748 A JP58152748 A JP 58152748A JP 15274883 A JP15274883 A JP 15274883A JP S6044193 A JPS6044193 A JP S6044193A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axis
- processing
- laser beam
- laser
- spot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/082—Scanning systems, i.e. devices involving movement of the laser beam relative to the laser head
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明はレーザビームによって銘板の刻印等の加工を行
なうレーザ加工装置で、X軸ミラーおよびY軸ミラー等
の光路変更素子によりレーザビームのスポットを平面上
の所望の位置に移動させることによって、被加工物を移
動させることなく二次元加工を行なうレーザ加工装置、
特にレーザスポットの位置歪み補償機構に関する。
なうレーザ加工装置で、X軸ミラーおよびY軸ミラー等
の光路変更素子によりレーザビームのスポットを平面上
の所望の位置に移動させることによって、被加工物を移
動させることなく二次元加工を行なうレーザ加工装置、
特にレーザスポットの位置歪み補償機構に関する。
レーザ加工を行なう方法はレーザスポットと被加工物と
のそれぞれの空間的な位置関係から大別して、前記スポ
ットの位置を同定してこの位置に対して被加工物を移動
させて加工する方法と、前記被加工物の位置を固定して
この被加工物に対してレーザスポットをミラー等の光路
変更素子によって移動させて加工する方法と罠分けられ
るが、前者には被加工物の広い面積の部分の加工が可能
で、後者には被加工物の加工可能な面積は狭いが加工速
度が早いという利点があり、このため小面積の銘板の刻
印を行なうようなレーザ加工装置には一般に後者の方法
が採用されている。第1図はこのようなレーザスポット
を移動させて加工する従来のレーザ加工装置の構成図、
第2図は第1図におけるレーザビーム駆動部2の構成図
、第3図は第2図における集光レンズ25の動作原理図
である。各図において同一の部分には同一の符号が付し
である。
のそれぞれの空間的な位置関係から大別して、前記スポ
ットの位置を同定してこの位置に対して被加工物を移動
させて加工する方法と、前記被加工物の位置を固定して
この被加工物に対してレーザスポットをミラー等の光路
変更素子によって移動させて加工する方法と罠分けられ
るが、前者には被加工物の広い面積の部分の加工が可能
で、後者には被加工物の加工可能な面積は狭いが加工速
度が早いという利点があり、このため小面積の銘板の刻
印を行なうようなレーザ加工装置には一般に後者の方法
が採用されている。第1図はこのようなレーザスポット
を移動させて加工する従来のレーザ加工装置の構成図、
第2図は第1図におけるレーザビーム駆動部2の構成図
、第3図は第2図における集光レンズ25の動作原理図
である。各図において同一の部分には同一の符号が付し
である。
第1図において、1はレーザビーム発生装置、1aはそ
の出力としてのレーザビーム、2は集光レンズ25が設
げられたレーザビーム駆動部、2aはレーザビーム駆動
部2内から出射され集光レンズ25によって集束されて
被加工物3の加工面3aにビームスポット2bが形成さ
れるレーザビーム、4は被加工物3を設置する被加工物
設置台、5はレーザビーム発生装置lル−ザビーム駆動
部2、被加工物、設置台4からなる加工処理部、6は加
工処理部5に対して加工信号■xおよびVy、を出力す
る加工信号発生部で、信号VXおよびVyはそれぞれ加
工面3aにおけるレーザスポット2bのXおよびY座標
に応じた信号である。61および62はそれぞれ加工信
号処理部6に設けられていて、該処理部6内に別に設け
られた図示されていない電子計算機の出力するXおよび
Y座標ディジタル信号をそれぞれXおよびY座標アナロ
グ信号■工およびVyに変換して出力するXおよびY座
標信号発器である。レーザビーム発生装置、レーザビー
ム駆動部2および被加工物設置台4は加工処理部5の図
示されていない筐体に固設されていて、図では被加工物
設置台4の被加工物3に対向する設置面が垂直状態とし
て示されているが、該設置台4は被加工物3を設置し一
?−J−<するために通常前記設置面が水平に設けられ
ている。被加工物3は被加工物設置台4に設置されて、
その加工面3aにレーザビーム2aによるビームスポッ
ト2bが形成されて、該スボツ)2bのエネルギーによ
って被加工物3が加工される。23.24はそれぞれX
、Y座標信号■X、Vyが入力され該信号を増幅してこ
れらの信号に応じた信号23a、24a を出力するX
、Y座標用サーボアンプ、21a、22aはそれぞれ信
号23a 、24aが入力されてこれらの信号に応じた
角度だけ内蔵のサーボモータの軸21b、22bが回転
するX軸、Y軸スキャナ、21.22はそれぞれ軸21
b、22bに結合されてこれらの軸の回転に伴なって回
転し、レーザビーム1aを反射してその光路を変更し、
ビームスボッ)2bの加工面3aKおけるX、Y座標を
決定する光路変更素子としてのX軸、Y軸ミラーである
。レーザビーム駆動部2はミラー21.22、スキャナ
21a、22a、軸21b、22b1サーボアンズ23
,24.集光レンズ25で構成されている。第1図にお
いては加工処理部5および加工信号発生部6が上述のよ
うに構成されているので、X軸およびY軸ミラー21.
22は座標信号Vx * Vyのそれぞれに応Uた回転
位置まで回転して停止する。以上の説明から明らかなよ
うに、サーボアンプ23とスキ″ヤナ21a1サーボア
ンプ24とスキャナ22aのそれぞれは機能的に一体の
ものと考えてよいので、以下それぞれを単にスキャナ2
1a、スキャナ22aと呼ぶこともある。
の出力としてのレーザビーム、2は集光レンズ25が設
げられたレーザビーム駆動部、2aはレーザビーム駆動
部2内から出射され集光レンズ25によって集束されて
被加工物3の加工面3aにビームスポット2bが形成さ
れるレーザビーム、4は被加工物3を設置する被加工物
設置台、5はレーザビーム発生装置lル−ザビーム駆動
部2、被加工物、設置台4からなる加工処理部、6は加
工処理部5に対して加工信号■xおよびVy、を出力す
る加工信号発生部で、信号VXおよびVyはそれぞれ加
工面3aにおけるレーザスポット2bのXおよびY座標
に応じた信号である。61および62はそれぞれ加工信
号処理部6に設けられていて、該処理部6内に別に設け
られた図示されていない電子計算機の出力するXおよび
Y座標ディジタル信号をそれぞれXおよびY座標アナロ
グ信号■工およびVyに変換して出力するXおよびY座
標信号発器である。レーザビーム発生装置、レーザビー
ム駆動部2および被加工物設置台4は加工処理部5の図
示されていない筐体に固設されていて、図では被加工物
設置台4の被加工物3に対向する設置面が垂直状態とし
て示されているが、該設置台4は被加工物3を設置し一
?−J−<するために通常前記設置面が水平に設けられ
ている。被加工物3は被加工物設置台4に設置されて、
その加工面3aにレーザビーム2aによるビームスポッ
ト2bが形成されて、該スボツ)2bのエネルギーによ
って被加工物3が加工される。23.24はそれぞれX
、Y座標信号■X、Vyが入力され該信号を増幅してこ
れらの信号に応じた信号23a、24a を出力するX
、Y座標用サーボアンプ、21a、22aはそれぞれ信
号23a 、24aが入力されてこれらの信号に応じた
角度だけ内蔵のサーボモータの軸21b、22bが回転
するX軸、Y軸スキャナ、21.22はそれぞれ軸21
b、22bに結合されてこれらの軸の回転に伴なって回
転し、レーザビーム1aを反射してその光路を変更し、
ビームスボッ)2bの加工面3aKおけるX、Y座標を
決定する光路変更素子としてのX軸、Y軸ミラーである
。レーザビーム駆動部2はミラー21.22、スキャナ
21a、22a、軸21b、22b1サーボアンズ23
,24.集光レンズ25で構成されている。第1図にお
いては加工処理部5および加工信号発生部6が上述のよ
うに構成されているので、X軸およびY軸ミラー21.
22は座標信号Vx * Vyのそれぞれに応Uた回転
位置まで回転して停止する。以上の説明から明らかなよ
うに、サーボアンプ23とスキ″ヤナ21a1サーボア
ンプ24とスキャナ22aのそれぞれは機能的に一体の
ものと考えてよいので、以下それぞれを単にスキャナ2
1a、スキャナ22aと呼ぶこともある。
第2図において、21C,22Gはそれぞれ第1図にお
けるサーボアンプ23.24の各出力信号23a、’2
4aをスキャナ21a、22aに導く電線、X−Xおよ
びY−Yで示した部分はそれぞれ加工面3aに設定され
たX軸および該X軸に直交したY軸で、Z−zで示した
部分はX軸とY軸との交点OにおいてX軸とN軸とがつ
くる平面に対して垂直に設けた2軸である。したがって
点0はX軸、Y軸およびZ軸からなる三軸直交座標系の
原点である。Z軸は集光レンズ250光軸と一致し、か
つY軸ミラー22と交わるように構成されている。図に
おいて、第1図のレーザビーム発生装置1からのレーザ
ビーム1aが本図のレーザビーム駆動部2に入射すると
該ビーム1aはまずX軸ミラー21で反射され、ついで
Y軸ミラー22で反射された後集光レンズ25で集果さ
れてビームスポット2bを被加工物3の加工1lTIi
3aに形成する。l+1主ビーム1aとのなす角度が原
点状態忙あるX軸ミラー21によるレー、ザビーム1a
のである。ビームR1はZ軸と一致するようにミラー2
1および22が配設されているので、該ビームR1はレ
ンズ25を透過した後ビーム2alとしてビームスボッ
)2bを座標の原点Oに形成する。I2はX軸ミラー2
1がX軸スキャナ21aによっである角度回転したとき
のビーム1aの反射ビーム、几、はY軸ミラー22がビ
ーム也を形成した時の原点状態のままでビームエ、がそ
のミラー22によって反射されて形成されたビームで、
ビームR1はレンズ25で集束された後、ビーム2a2
となってビームスポット2bをX軸上の点Xaに形成す
る。点X8がX軸上の点になることは後に説明する。
けるサーボアンプ23.24の各出力信号23a、’2
4aをスキャナ21a、22aに導く電線、X−Xおよ
びY−Yで示した部分はそれぞれ加工面3aに設定され
たX軸および該X軸に直交したY軸で、Z−zで示した
部分はX軸とY軸との交点OにおいてX軸とN軸とがつ
くる平面に対して垂直に設けた2軸である。したがって
点0はX軸、Y軸およびZ軸からなる三軸直交座標系の
原点である。Z軸は集光レンズ250光軸と一致し、か
つY軸ミラー22と交わるように構成されている。図に
おいて、第1図のレーザビーム発生装置1からのレーザ
ビーム1aが本図のレーザビーム駆動部2に入射すると
該ビーム1aはまずX軸ミラー21で反射され、ついで
Y軸ミラー22で反射された後集光レンズ25で集果さ
れてビームスポット2bを被加工物3の加工1lTIi
3aに形成する。l+1主ビーム1aとのなす角度が原
点状態忙あるX軸ミラー21によるレー、ザビーム1a
のである。ビームR1はZ軸と一致するようにミラー2
1および22が配設されているので、該ビームR1はレ
ンズ25を透過した後ビーム2alとしてビームスボッ
)2bを座標の原点Oに形成する。I2はX軸ミラー2
1がX軸スキャナ21aによっである角度回転したとき
のビーム1aの反射ビーム、几、はY軸ミラー22がビ
ーム也を形成した時の原点状態のままでビームエ、がそ
のミラー22によって反射されて形成されたビームで、
ビームR1はレンズ25で集束された後、ビーム2a2
となってビームスポット2bをX軸上の点Xaに形成す
る。点X8がX軸上の点になることは後に説明する。
第3図において、θはビー′ムR2とし/ズ25の光軸
とのなす角度で、Lxは原点Oと点Xsとの間の距離、
すなわち点XsのX座標値である。し・ンズ25は焦点
距離をfとした場合、Lx=f・θの関係を満足する関
係を有している。
とのなす角度で、Lxは原点Oと点Xsとの間の距離、
すなわち点XsのX座標値である。し・ンズ25は焦点
距離をfとした場合、Lx=f・θの関係を満足する関
係を有している。
したがって第2図および第31において、X軸ミラー2
1がスキャナ21aによって回転させられビームI2と
I、とのなす角αが変化すると、Y軸ミラー22が原点
状態のままの場合はビームR7のZ軸となす角θが角α
に応じて変化するので、ビーム2a2の形成するビーム
スボッ)2bはX軸上を移動し、この時ビームスポット
2bの原点Oからの距離Lxは角θに比例するので角θ
が角αと比例関係にあれば距離Lxは角αに比例するこ
とになる。以上の説明はY軸ミラー22が原点状態に固
定された状態でX軸ミラー21が回転した場合のビーム
スボッ)2bの形成の経緯であるが、今度はX軸ミラー
21が原点状態のままでY軸ミラー22がスキャf22
aにょっ向へ反射され、この反射ビームはレンズ25を
透過してビームスボッ)2bを加工面3aに形成する。
1がスキャナ21aによって回転させられビームI2と
I、とのなす角αが変化すると、Y軸ミラー22が原点
状態のままの場合はビームR7のZ軸となす角θが角α
に応じて変化するので、ビーム2a2の形成するビーム
スボッ)2bはX軸上を移動し、この時ビームスポット
2bの原点Oからの距離Lxは角θに比例するので角θ
が角αと比例関係にあれば距離Lxは角αに比例するこ
とになる。以上の説明はY軸ミラー22が原点状態に固
定された状態でX軸ミラー21が回転した場合のビーム
スボッ)2bの形成の経緯であるが、今度はX軸ミラー
21が原点状態のままでY軸ミラー22がスキャf22
aにょっ向へ反射され、この反射ビームはレンズ25を
透過してビームスボッ)2bを加工面3aに形成する。
この場合、ビームスボッ)2bはミラー22の回転に伴
なってY軸上を移動するように該ミラー22が構成され
ており、このスポット2bと原点0との距離り。
なってY軸上を移動するように該ミラー22が構成され
ており、このスポット2bと原点0との距離り。
は集光レンズ25の前述の特性によって前記角度βに比
例している。したがってミラー21と22とが同時に回
転するとビームスボッ)2bが角度αおよびβに応じた
加工面3aの位置に形成される。
例している。したがってミラー21と22とが同時に回
転するとビームスボッ)2bが角度αおよびβに応じた
加工面3aの位置に形成される。
第1図ないし、第3図においてはレーザ加工装置が上述
のように構成されているので、加工信号発生部6から座
標信号Vz、Vyが出方されると、これらの信号に応じ
てミラー21.22が原点状態から回転し、この結果レ
ーザビームのスボッ)2bが加工面3aの前記信号Vx
、Vyに応じた座標位置忙形成されて加工が行なわれる
。
のように構成されているので、加工信号発生部6から座
標信号Vz、Vyが出方されると、これらの信号に応じ
てミラー21.22が原点状態から回転し、この結果レ
ーザビームのスボッ)2bが加工面3aの前記信号Vx
、Vyに応じた座標位置忙形成されて加工が行なわれる
。
次に上述のレーザ加工装置の欠点を説明する。
すなわち、とのレーザ加工装置が加工動作を行なう際は
加工信号発生部6内の電子計X機が加ニブログラム知従
って動作する。この加ニブログラムには通常被加工物3
の加工すべき点の位置がXおよびY座標の値で設定され
ていて、これらの値は電子計算機からディジタル信号の
形で出力された後座標信号発生器61.62によってア
ナログ座標信号V x 、 V yに変換され、上述の
機構を介して集光レンズ25に入射するレーザビームの
2軸となす角度θおよびβに変換される。したがってレ
ンズ25に収差がなくかつ角度θおよびβがそれぞれ信
号■Xおよび■、に比例していれば、前述のディジタル
出力信号で指定された被加工物3の加工すべき点の位置
に正しくレーザビームのスポット2bが形成される。し
かしながらこのレーザ加工装置は上述のような構成にな
っているので角度βは信号■、に比例するが、角度θは
後述の理由で角度βの影響を受けて角度α、したかって
信号■xに比例しない。またレンズ25には通常収差が
あるので、仮に角度θおよびβがそれぞれ信号Vxおよ
び■yに比例していてもθやβが大きくなるとI、x=
(eθ・Ly= f・βの関係が成立しなくなる。
加工信号発生部6内の電子計X機が加ニブログラム知従
って動作する。この加ニブログラムには通常被加工物3
の加工すべき点の位置がXおよびY座標の値で設定され
ていて、これらの値は電子計算機からディジタル信号の
形で出力された後座標信号発生器61.62によってア
ナログ座標信号V x 、 V yに変換され、上述の
機構を介して集光レンズ25に入射するレーザビームの
2軸となす角度θおよびβに変換される。したがってレ
ンズ25に収差がなくかつ角度θおよびβがそれぞれ信
号■Xおよび■、に比例していれば、前述のディジタル
出力信号で指定された被加工物3の加工すべき点の位置
に正しくレーザビームのスポット2bが形成される。し
かしながらこのレーザ加工装置は上述のような構成にな
っているので角度βは信号■、に比例するが、角度θは
後述の理由で角度βの影響を受けて角度α、したかって
信号■xに比例しない。またレンズ25には通常収差が
あるので、仮に角度θおよびβがそれぞれ信号Vxおよ
び■yに比例していてもθやβが大きくなるとI、x=
(eθ・Ly= f・βの関係が成立しなくなる。
この結果電子計算機の出力する座標位置とビームスポッ
ト2bの被加工物3における実際の位置との間に差異を
生じ、この差異か上述のレーザ加工装置の加工歪みとな
る。第4図はこのような加工歪みの発生状況を示したも
ので、第4図の囚および0図はそれぞれ電子計算機から
等間隔で直交する格子状パターン信号を出力させた場合
にビームスボッ)2bが実際に被加工物3において形成
しくハ)は収差のある集光レンズ25を使用した場合の
例である。第4図(5)においては、横方向の格子線H
はY軸に平行でかつそのY軸方向の格子間隔は等間隔と
なっているが、縦方向の格子線qは湾曲していてそのX
軸方狗の格子間隔はX座標が零の時は等間隔であるがX
座標の絶対値がふえると大きくなっている。これはレン
ズ25に収差がない状態では、ビームスボッ)2bのX
座標は信号■yに比例する角度βによって決定されるが
、ビームスボッ)2bのX座標は角度βによる干渉を受
けて信号■X忙比例しなくなる角度θによって決定され
たためである。また第4図(ハ)においては格子線H,
Gは共にY軸およびY軸上では等間隔となっているが、
これらの格子線f−1、GはY軸およびY軸から離れる
につれて湾曲が大きくなっている。
ト2bの被加工物3における実際の位置との間に差異を
生じ、この差異か上述のレーザ加工装置の加工歪みとな
る。第4図はこのような加工歪みの発生状況を示したも
ので、第4図の囚および0図はそれぞれ電子計算機から
等間隔で直交する格子状パターン信号を出力させた場合
にビームスボッ)2bが実際に被加工物3において形成
しくハ)は収差のある集光レンズ25を使用した場合の
例である。第4図(5)においては、横方向の格子線H
はY軸に平行でかつそのY軸方向の格子間隔は等間隔と
なっているが、縦方向の格子線qは湾曲していてそのX
軸方狗の格子間隔はX座標が零の時は等間隔であるがX
座標の絶対値がふえると大きくなっている。これはレン
ズ25に収差がない状態では、ビームスボッ)2bのX
座標は信号■yに比例する角度βによって決定されるが
、ビームスボッ)2bのX座標は角度βによる干渉を受
けて信号■X忙比例しなくなる角度θによって決定され
たためである。また第4図(ハ)においては格子線H,
Gは共にY軸およびY軸上では等間隔となっているが、
これらの格子線f−1、GはY軸およびY軸から離れる
につれて湾曲が大きくなっている。
これは第4図(5)に示した歪みにさらにレンズ25の
収差による歪みが合成された結果で、本(ハ)図では格
子線HはY軸に対して凸に、また格子線GはY軸に対し
て凹に湾曲しているが、これら格子線の凹凸状態はレン
ズ25の収差の度合いによって決定されるものであって
、この凹凸状態は場合によっては(ハ)図とは逆の状態
になることもあり一般には不定である。いずれにしても
第4図から明らかなように上述のレーザ加工装置では、
ビームスポット2bの位置の計算機出力信号に対する歪
みは、該スポラ)2bの位置が座標の原点0の附近にあ
るときは小さく、該スポット2bの位置が原点Oからは
なれるにつれて大きくなる。この結果、このような構成
の従来のレーザ加工装置には、被加工物3の加工面が大
面積であると加工精度が低下するという欠点があり、加
工精度を上げるためには被加工物3の加工面積を狭(せ
ざるをえないという欠点があることになる。また広い面
積の加工面ニ対して加工精度を上げるためにはビームス
ボッ)2bの位置歪みを補償するプログラムを予め前述
の加ニブログラムに組みこんでおく方法が考えられるカ
ーこの方法では電子計算機におゆる補償演算に時間がか
かるので加工速度が遅いという欠点がある。
収差による歪みが合成された結果で、本(ハ)図では格
子線HはY軸に対して凸に、また格子線GはY軸に対し
て凹に湾曲しているが、これら格子線の凹凸状態はレン
ズ25の収差の度合いによって決定されるものであって
、この凹凸状態は場合によっては(ハ)図とは逆の状態
になることもあり一般には不定である。いずれにしても
第4図から明らかなように上述のレーザ加工装置では、
ビームスポット2bの位置の計算機出力信号に対する歪
みは、該スポラ)2bの位置が座標の原点0の附近にあ
るときは小さく、該スポット2bの位置が原点Oからは
なれるにつれて大きくなる。この結果、このような構成
の従来のレーザ加工装置には、被加工物3の加工面が大
面積であると加工精度が低下するという欠点があり、加
工精度を上げるためには被加工物3の加工面積を狭(せ
ざるをえないという欠点があることになる。また広い面
積の加工面ニ対して加工精度を上げるためにはビームス
ボッ)2bの位置歪みを補償するプログラムを予め前述
の加ニブログラムに組みこんでおく方法が考えられるカ
ーこの方法では電子計算機におゆる補償演算に時間がか
かるので加工速度が遅いという欠点がある。
本発明は上述のようなレーザスポットを移動させて二次
元加工を行なう従来のレーザ加工装置における欠点を解
消して、かなり広い面積にわたって加工歪みが少なく、
かつ加工速度の早いレーザ加工装置を提供することを目
的とするものである。
元加工を行なう従来のレーザ加工装置における欠点を解
消して、かなり広い面積にわたって加工歪みが少なく、
かつ加工速度の早いレーザ加工装置を提供することを目
的とするものである。
本発明は上述の目的を達成するために、レーザビーム発
生装置の発生するレーザビームなレーザビーム駆動部に
設けた集光レンズで集束して被加工物の加工面にスポッ
トを形成させ、このスポットの位置を加工信号発生部の
出力信号によって前記駆動部に設けたY軸およびY軸谷
光路変更素子を駆動して移動させて前記被加工物の二次
元加゛工を行なうレーザ加工装置において、前記加工信
号発生部と前記レーザビーム駆動部との間に加工歪み補
償回路を設け、この回路に加工信号発生部の出力信号が
入力されるとこの回路からレーザビーム駆動部に対して
、前記スポットの位置のY軸光路変更素子の状態にもと
づく歪みと集光レンズの収差にもとづく歪みとを補償す
る信号が出力されるようにすることによって、被加工物
のかなり広い面積にわたって歪みが少なく、かつ速度の
早い加工が行なわれるようにしたものである。
生装置の発生するレーザビームなレーザビーム駆動部に
設けた集光レンズで集束して被加工物の加工面にスポッ
トを形成させ、このスポットの位置を加工信号発生部の
出力信号によって前記駆動部に設けたY軸およびY軸谷
光路変更素子を駆動して移動させて前記被加工物の二次
元加゛工を行なうレーザ加工装置において、前記加工信
号発生部と前記レーザビーム駆動部との間に加工歪み補
償回路を設け、この回路に加工信号発生部の出力信号が
入力されるとこの回路からレーザビーム駆動部に対して
、前記スポットの位置のY軸光路変更素子の状態にもと
づく歪みと集光レンズの収差にもとづく歪みとを補償す
る信号が出力されるようにすることによって、被加工物
のかなり広い面積にわたって歪みが少なく、かつ速度の
早い加工が行なわれるようにしたものである。
以下に本発明を図面を参照して説明する。
まず、木9発明の詳細な説明するために第2図のビーム
駆動部におけるレーザビームの軌跡を第5図によって説
明する。図において第1図および第2図におけるものと
同一の部分には同一の符号が付しである。説明を容易に
するために最初に集光レンズ25に収差がない場合につ
いて説明する。
駆動部におけるレーザビームの軌跡を第5図によって説
明する。図において第1図および第2図におけるものと
同一の部分には同一の符号が付しである。説明を容易に
するために最初に集光レンズ25に収差がない場合につ
いて説明する。
第5図においてX軸ミラー21は平面状の反射面を有し
ていて、線分8−Zxはこの反射面内にある回転軸であ
る。X軸ミラー21はX軸スキャナ21aによって回転
軸S −Zxを軸として回転する。
ていて、線分8−Zxはこの反射面内にある回転軸であ
る。X軸ミラー21はX軸スキャナ21aによって回転
軸S −Zxを軸として回転する。
Sは回転軸5−4x上にあり、かつX軸ミラー21の反
射面上にある点である。レーザビーム1aは点Sにおい
て回転軸5−zXに対し℃垂直になるように入射してお
り、■はその反射ビームである。
射面上にある点である。レーザビーム1aは点Sにおい
て回転軸5−zXに対し℃垂直になるように入射してお
り、■はその反射ビームである。
したがってビームlaと■とは軸8−ZXK対して垂直
な平面を形成していて、その平面は軸8−ZXと点Sに
おいて交わっていることになる。Y軸ミラー22は平面
状の反射面を有していて、線分0I−Xyはこの反射面
内にある回転軸である。Y軸ミーラー22はY軸スキャ
ナ22aによって回転軸Q’+ −Xyを軸として回転
する。回転軸O,−X、はビーム1aと工とで形成され
た平面内にあって、ビームエは、ミラー220反射面上
にあってかつ回転軸o、−xy上にある点01で該軸0
l−Xyと交わるように構成されている。線分0.−2
yは点OLにおいて、と−ム1aと工とで形成された平
面に対して垂直に設定した軸である。線分5−XXは、
軸O,−Xyと軸0l−Zyとがつくる平面に対して平
行な点Sを含んだ平面がビーム1aとIとがつくる平面
と交わる交線である。したがって回転軸S −ZXは点
Sを含んだ軸O,−Xyと軸0.−Zyとがつくる平面
に対して平行な平面内に含まれている。以下説明の便宜
上、軸0.−X、 、 o、−Z、およびS −Z x
をそれぞれ軸X F * Z YおよびZxと略称し、
線分S −Xxを軸Xxと略称する。ま7二軸ZxとX
xとがつくる平面、軸zyとXyとがつくる平面および
レーザビームlaと工とがつくる平面をそれぞれZX−
Xx面、zy−X、面および1a−I面と略称すること
にする。以上の説明から明らかなように軸2χとZ、と
は平行で、軸XsとXyも平行である。P。
な平面を形成していて、その平面は軸8−ZXと点Sに
おいて交わっていることになる。Y軸ミラー22は平面
状の反射面を有していて、線分0I−Xyはこの反射面
内にある回転軸である。Y軸ミーラー22はY軸スキャ
ナ22aによって回転軸Q’+ −Xyを軸として回転
する。回転軸O,−X、はビーム1aと工とで形成され
た平面内にあって、ビームエは、ミラー220反射面上
にあってかつ回転軸o、−xy上にある点01で該軸0
l−Xyと交わるように構成されている。線分0.−2
yは点OLにおいて、と−ム1aと工とで形成された平
面に対して垂直に設定した軸である。線分5−XXは、
軸O,−Xyと軸0l−Zyとがつくる平面に対して平
行な点Sを含んだ平面がビーム1aとIとがつくる平面
と交わる交線である。したがって回転軸S −ZXは点
Sを含んだ軸O,−Xyと軸0.−Zyとがつくる平面
に対して平行な平面内に含まれている。以下説明の便宜
上、軸0.−X、 、 o、−Z、およびS −Z x
をそれぞれ軸X F * Z YおよびZxと略称し、
線分S −Xxを軸Xxと略称する。ま7二軸ZxとX
xとがつくる平面、軸zyとXyとがつくる平面および
レーザビームlaと工とがつくる平面をそれぞれZX−
Xx面、zy−X、面および1a−I面と略称すること
にする。以上の説明から明らかなように軸2χとZ、と
は平行で、軸XsとXyも平行である。P。
は点OIを通ってZ x −X x面に立てた垂線の足
で、ZxXx面と1a−I而とは垂直であるから点P。
で、ZxXx面と1a−I而とは垂直であるから点P。
は軸XX上にある。αはビームIと垂線0.P、とのな
す角度であつ℃第2図における角度αに対応している。
す角度であつ℃第2図における角度αに対応している。
Xlは軸XX上の点で線分O,X、と垂線の法線が垂1
m O+ P +と一致している時のビームエの点01
から反射したビーム几の経路と一致している。故に点P
、は線分SXIの中点である。02は点X1から軸Xy
におろした垂線の足である。しだがつてビームI、Rお
よび垂線o、p、 、x、o、はすべて1a−I面内に
ある。垂線o、 p、とX、0.とは平行で、垂線o、
p、とビームエとは角度αで交わっているので、ビーム
■の延長線と垂mXs O−の延長線とは角度αで交わ
る。Xsはその交点である。線分o、y。
m O+ P +と一致している時のビームエの点01
から反射したビーム几の経路と一致している。故に点P
、は線分SXIの中点である。02は点X1から軸Xy
におろした垂線の足である。しだがつてビームI、Rお
よび垂線o、p、 、x、o、はすべて1a−I面内に
ある。垂線o、 p、とX、0.とは平行で、垂線o、
p、とビームエとは角度αで交わっているので、ビーム
■の延長線と垂mXs O−の延長線とは角度αで交わ
る。Xsはその交点である。線分o、y。
は垂、@ o、p、の延長線で、垂線0.P、はZ、
−X、面に直交しているから、軸Z、と軸Xyと線分0
.Y、とで三軸直交座標糸が構成されていることになる
。以下説明の便宜上線分o、yyを軸Yy、@ZyとY
、とのなす平面をz、−Yy面、軸xyとYyとのなす
千面乞X、−Y、面と略称する。xy−Y、面は1a−
I面と一致している。ミラー220反射面が軸Xyを軸
として回転すると、ミラー220反射面上の点OAKお
(ける法線はzy−y 、面内を点O1を中心として回
転する。
−X、面に直交しているから、軸Z、と軸Xyと線分0
.Y、とで三軸直交座標糸が構成されていることになる
。以下説明の便宜上線分o、yyを軸Yy、@ZyとY
、とのなす平面をz、−Yy面、軸xyとYyとのなす
千面乞X、−Y、面と略称する。xy−Y、面は1a−
I面と一致している。ミラー220反射面が軸Xyを軸
として回転すると、ミラー220反射面上の点OAKお
(ける法線はzy−y 、面内を点O1を中心として回
転する。
今ミラー220反射面が・軸Xyを軸として回転して、
・該ミ9−22の反射面上の点O1における法線が垂線
0. P、と角度γをなしたとする。Q、はその法線と
Zx−Xx面との交点である。Q、はZX−Xx面内で
点X、において軸Xxに垂直に立てた、すなわち軸Zx
に平行な直線と、ビームエと法+vJ 01Q+ との
な・す平面との交点である。したがって線分X、Q。
・該ミ9−22の反射面上の点O1における法線が垂線
0. P、と角度γをなしたとする。Q、はその法線と
Zx−Xx面との交点である。Q、はZX−Xx面内で
点X、において軸Xxに垂直に立てた、すなわち軸Zx
に平行な直線と、ビームエと法+vJ 01Q+ との
な・す平面との交点である。したがって線分X、Q。
とX10.とのなす平面はZ、−Yy面に平行である。
以後説明の便宜上線分X、Q、とX、 O,とのなす平
面を、点X−が線分Xl山の延長線上にあるのでXIQ
t Xx面と略称する。今、ミラー220反射面の法
線olQ、が線分o、p、とγの角度をなしているので
、ビームlは該ビームIと法&IO,Q、とがなす平面
内で点0.において反射される。その反射ビームがX、
Q。
面を、点X−が線分Xl山の延長線上にあるのでXIQ
t Xx面と略称する。今、ミラー220反射面の法
線olQ、が線分o、p、とγの角度をなしているので
、ビームlは該ビームIと法&IO,Q、とがなす平面
内で点0.において反射される。その反射ビームがX、
Q。
X1面と交わった点X、と1−る。 この場合(1)式
が成立する。
が成立する。
Z′30 + Q * =/Q t C)+ X t・
・・・・・・・・・・・・・・・曲・(11線分Q、X
1はビーム■と法線0.Q、とのなす平面とX、Q!X
、面との交線であり、線分0.X、はビームエトrJd
tmOIQ、とのなす平面内にあるから、点入、は線分
Q、X、上にある。三角形SIJ、X、において線分o
、Q、、とX、Q、と(・ま平行であるから次の(2)
式が成立する。
・・・・・・・・・・・・・・・曲・(11線分Q、X
1はビーム■と法線0.Q、とのなす平面とX、Q!X
、面との交線であり、線分0.X、はビームエトrJd
tmOIQ、とのなす平面内にあるから、点入、は線分
Q、X、上にある。三角形SIJ、X、において線分o
、Q、、とX、Q、と(・ま平行であるから次の(2)
式が成立する。
/sO,Ql=10.X、X、 、/QtO,X、=1
0.X、Xl・−・<2)(1)式と(2)とから(3
)式が得られるので三角形oIXlX、は二等辺三角形
である。
0.X、Xl・−・<2)(1)式と(2)とから(3
)式が得られるので三角形oIXlX、は二等辺三角形
である。
/(J、X、X、 =10.x、x、・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・(3)すなわち線分O,X
、とO,X、とは長さが等しい。線分O,X、の長さは
、三角形SX、X、において線分り、P。
・・・・・・・・・・・・・(3)すなわち線分O,X
、とO,X、とは長さが等しい。線分O,X、の長さは
、三角形SX、X、において線分り、P。
とX、X、とが平行で点P、が線分SX、の中点である
から、線分SO,の長さに等しい。点Sはレーザビーム
1aとミラー21とのビーム駆動部にj6げる配置によ
って固定された点であり、点OIはミラー21と22と
のビーム駆動部における配置と角度αとによって決定さ
れた点で、点0.はミラー210回転に伴なって角度α
が増減すれば軸Xl上を動(が、角度αが設定されると
軸Xl上に固定された点である。したがって線分SO3
の長さは角度αが一定であると一定である。故に線分O
,X、の長さは角度αる点と点O1との間の該反射ビー
ムの長さは、/P。
から、線分SO,の長さに等しい。点Sはレーザビーム
1aとミラー21とのビーム駆動部にj6げる配置によ
って固定された点であり、点OIはミラー21と22と
のビーム駆動部における配置と角度αとによって決定さ
れた点で、点0.はミラー210回転に伴なって角度α
が増減すれば軸Xl上を動(が、角度αが設定されると
軸Xl上に固定された点である。したがって線分SO3
の長さは角度αが一定であると一定である。故に線分O
,X、の長さは角度αる点と点O1との間の該反射ビー
ムの長さは、/P。
如
0、Q、=γの伺何にかがわらず線分80.の長さに等
しく一足である。この結果ビームlの点O1における反
射ビームは、ミラー220反射面が軸Xyを軸として回
転すると点01を頂点とする円錐面上を動くことになり
、この円錐面とX、Q、X、面との交綴は、点Xlがそ
の交線上の一つの点であるから、X、Q、X。
しく一足である。この結果ビームlの点O1における反
射ビームは、ミラー220反射面が軸Xyを軸として回
転すると点01を頂点とする円錐面上を動くことになり
、この円錐面とX、Q、X、面との交綴は、点Xlがそ
の交線上の一つの点であるから、X、Q、X。
面上において点0!を中心とし半径が線分O,X、の長
さに等しい円Cになる。点X、はこの円C上にある0I
PtO+XI=αであるから、円錐回X、O,X、上の
母線のZy−Yy面となす角度はαに等しく、ビーム■
の法線0.P、となす角度αか小さくなるとX、 Qt
X 。
さに等しい円Cになる。点X、はこの円C上にある0I
PtO+XI=αであるから、円錐回X、O,X、上の
母線のZy−Yy面となす角度はαに等しく、ビーム■
の法線0.P、となす角度αか小さくなるとX、 Qt
X 。
面はzy−Yy面に近づき4、α=0°では円CはZy
−Yy而面における中心を01とし半径を(J、)’、
と1−る円となる。なお/P I(J+ Qr −I
Us )’−a C2−γであるから、lX、O,X、
= 2γである。すなわちミラー220反射面の法想
o+Q、がZ y−1’、y面内で軸Yyに対して角度
γだけ傾くと、線分O,X、はZy−Y1面に平行なX
、Q、X、抑内で軸Yyに平行な線分0.Xlに対して
角度2γだけ傾くことになる。図におい1:X、はγ=
45°の場合に、点O1におい壬ビーム1が反射したと
きのその反射ビームと円Cとの交点である。
−Yy而面における中心を01とし半径を(J、)’、
と1−る円となる。なお/P I(J+ Qr −I
Us )’−a C2−γであるから、lX、O,X、
= 2γである。すなわちミラー220反射面の法想
o+Q、がZ y−1’、y面内で軸Yyに対して角度
γだけ傾くと、線分O,X、はZy−Y1面に平行なX
、Q、X、抑内で軸Yyに平行な線分0.Xlに対して
角度2γだけ傾くことになる。図におい1:X、はγ=
45°の場合に、点O1におい壬ビーム1が反射したと
きのその反射ビームと円Cとの交点である。
したがって点X、はZ y−X y面内にある。、tf
i X、は45°〈γ<900の範囲のある角度γに応
じた円C上の点である。Pt1Ps 、p、およびP、
はそれぞれXl lX、 、 X4およびX、のzy−
Yy面における正写影である。この場合/x、o、p、
=αが成立することは明らかである。
i X、は45°〈γ<900の範囲のある角度γに応
じた円C上の点である。Pt1Ps 、p、およびP、
はそれぞれXl lX、 、 X4およびX、のzy−
Yy面における正写影である。この場合/x、o、p、
=αが成立することは明らかである。
以上の説明で明らかなように、ミラー22かγ=45°
の状態にあるときはビームIのミラー22による反射ビ
ームZy−Xy面内にあり、ミラー22がこの状態のま
までミラー21が回I賦してビームIの法線0. P、
に対する一度αか変ると、111記反剖ビームはZy−
Xy面内で点O1を中心とし−(回転する。この時の該
反射ビームの軸Z、に対する角度はαに等しい。したが
ってこの場合、α=0°では反射ビームの方向は軸Zy
に一致する。またミラー21′がα−00の状態にある
ときはビームIのミラー22による反射ビームはZy−
’Yy面内にあり、ミラー21がこの状態のままでミラ
ー22が回転して角度γが変ると、該反射ビームZ、−
Yy面内で点O1を中心として回転する。この時の該反
射ビームの軸ZyK対する角度は2γに等しい。
の状態にあるときはビームIのミラー22による反射ビ
ームZy−Xy面内にあり、ミラー22がこの状態のま
までミラー21が回I賦してビームIの法線0. P、
に対する一度αか変ると、111記反剖ビームはZy−
Xy面内で点O1を中心とし−(回転する。この時の該
反射ビームの軸Z、に対する角度はαに等しい。したが
ってこの場合、α=0°では反射ビームの方向は軸Zy
に一致する。またミラー21′がα−00の状態にある
ときはビームIのミラー22による反射ビームはZy−
’Yy面内にあり、ミラー21がこの状態のままでミラ
ー22が回転して角度γが変ると、該反射ビームZ、−
Yy面内で点O1を中心として回転する。この時の該反
射ビームの軸ZyK対する角度は2γに等しい。
第6図は第5図の部分拡大図である。図において第5図
と同一の部分には同一の符号を−付しである。第6図に
おいてC8は第5図における円Cの一部、入。およびP
2Oはそれぞれ点人および点P4のzy−X、面への正
写影である。角度βMs O,p、の角度であって、線
分0.P4が線分01X4のZ、−Y、面への正写影で
あるから、角度βは第5図の角度2γに応じた角度で、
同図においてミラー22の反射面がγ=45°+(β/
2)だけ回転すると第6図においてl P801P4
=βとなる。αはl P2O01X40の角度である。
と同一の部分には同一の符号を−付しである。第6図に
おいてC8は第5図における円Cの一部、入。およびP
2Oはそれぞれ点人および点P4のzy−X、面への正
写影である。角度βMs O,p、の角度であって、線
分0.P4が線分01X4のZ、−Y、面への正写影で
あるから、角度βは第5図の角度2γに応じた角度で、
同図においてミラー22の反射面がγ=45°+(β/
2)だけ回転すると第6図においてl P801P4
=βとなる。αはl P2O01X40の角度である。
したがって第6図から(3)式が得られる。
線分OI”40 + olp、 l ”1lX3および
0.P、の長さである。
0.P、の長さである。
(3)式から(4)式がまる。
tanα= tanα/cosβ ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(4)すなわち(4)式は、第5図におけるレーザ
ビームlaに対するミラー210反射面の傾きが一定で
、その結果角度αが一定であっても、ミラー22の反射
面が。γ=45°+(β/2)だけ傾くと、第6図にお
いて反射ビーム01x4のZ、−X、面への正写影OI
* 入。Ozy軸となす角αがβによって変化することを意
味している。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(4)すなわち(4)式は、第5図におけるレーザ
ビームlaに対するミラー210反射面の傾きが一定で
、その結果角度αが一定であっても、ミラー22の反射
面が。γ=45°+(β/2)だけ傾くと、第6図にお
いて反射ビーム01x4のZ、−X、面への正写影OI
* 入。Ozy軸となす角αがβによって変化することを意
味している。
前述した従来のレーザ加工装置では、第5図および第6
図における軸Z、上の点02よりも下側にある点Oにお
いて軸zyに直交するように被加工物の加工面をおいて
加工するようにしているので、zy−X、面とZ y
7 Y y面とが前記加工面と交わることによってこの
加工面に点Oを原点とするX−’−Y直交座標系が形成
され、この座標糸のX軸はZ、−X。
図における軸Z、上の点02よりも下側にある点Oにお
いて軸zyに直交するように被加工物の加工面をおいて
加工するようにしているので、zy−X、面とZ y
7 Y y面とが前記加工面と交わることによってこの
加工面に点Oを原点とするX−’−Y直交座標系が形成
され、この座標糸のX軸はZ、−X。
面によって、またこの座標系のY軸はz、−y、面によ
って形成される。したがって従来のレーザ加工装置では
反射ビーム0.X4が軸Z、上にある時のXおよびY軸
ミラー21.22の各反射面の傾き状態を原点状態とし
ており、この原点状態では前述のようにα=00.γ=
45°である。すなわちY軸ミラー220反射面がこの
原点状態を維持した状態でX軸ミラー210反射面が回
転すると、反射ビームO,X、はZ、−X;面内で点O
,を中心として回転し、該ビームの原点状態0.P、と
なす角P、0.X、の大きさは/5OIP1の大きさに
等しい。この場合反射ビームO,X、によって第2図の
集光レンズ25を介して被加工物の加工面に形成される
ビームスポットは前述したところから明らかなように該
加工面におけるX軸上を移動し、該ビームスポットのX
座標の値はl Ps UlXsの大きさ、すなわちαに
比例する。換言すればαがビームスポットのX座標の値
を決定することKなる。したがってαがX軸スキャナ2
1aに人力される信号に比例していれハ、コの時のビー
ムスポットのX座標の値は該信号に比例する。またX軸
ミラー210反射面が原点状態を維持した状態でY軸ミ
ラー220反射面が原点状態からβ/2の角度だけ回転
すると反射ビームO,P4はzy−yy面内で点01を
中心として回転し、該ビームの原点状態となす角P、
O,P4の大きさはβとなる。この場合反射ビーム0.
P、によって第2図の集光レンズ25を介して被加工物
の加工面に形成されるビームスポットは前述したところ
から明らかなように該加工面におけるY軸上を移動し、
該ビームスポットのX座標の値は1PsO+P4−の大
きさ、すなわちβに比例する。換言すればβがビームス
ポットのX座標の値を決定することになる。したがって
βがY軸スキャナ22aに入力される信号に比例してい
れば、この時のビームスポットのX座標の値は該信号に
比例する。したがって、ビームIの点O1にお(・て反
射されたビームが、Zy−X、面およびZy−yy面の
いずれの面内にもない01X4である場合には、このビ
ームO,X4か第2図のi+レンズ25を介して被加工
物の加工面ニラくルビームスポットのXおよびX座標の
値は、れることになる。この場合角度βはミラー220
反射面の回転角β/2に比例しているので、前記ビーム
スポットのX座標の値はミラー220反射* 面の回転角に比例していて問題はないが、角度αは角度
αに等しくなり(4)式で示されて℃・るように角度β
の影響を受ける。このため、この場合の前記ビームスポ
ットのX座標の値は、角度αがたとえX軸スキャナ21
aの人力信号に比例していても該人力信号に比例しない
ことになる。すなわち前記ビームスポットのX座標の値
はスキャナ22.aの人力1d号の影舎を受げ、(4)
式にもとづく歪みを含んだものとなる。この歪みが第4
図(5)で説明した格子aGの湾曲である。
って形成される。したがって従来のレーザ加工装置では
反射ビーム0.X4が軸Z、上にある時のXおよびY軸
ミラー21.22の各反射面の傾き状態を原点状態とし
ており、この原点状態では前述のようにα=00.γ=
45°である。すなわちY軸ミラー220反射面がこの
原点状態を維持した状態でX軸ミラー210反射面が回
転すると、反射ビームO,X、はZ、−X;面内で点O
,を中心として回転し、該ビームの原点状態0.P、と
なす角P、0.X、の大きさは/5OIP1の大きさに
等しい。この場合反射ビームO,X、によって第2図の
集光レンズ25を介して被加工物の加工面に形成される
ビームスポットは前述したところから明らかなように該
加工面におけるX軸上を移動し、該ビームスポットのX
座標の値はl Ps UlXsの大きさ、すなわちαに
比例する。換言すればαがビームスポットのX座標の値
を決定することKなる。したがってαがX軸スキャナ2
1aに人力される信号に比例していれハ、コの時のビー
ムスポットのX座標の値は該信号に比例する。またX軸
ミラー210反射面が原点状態を維持した状態でY軸ミ
ラー220反射面が原点状態からβ/2の角度だけ回転
すると反射ビームO,P4はzy−yy面内で点01を
中心として回転し、該ビームの原点状態となす角P、
O,P4の大きさはβとなる。この場合反射ビーム0.
P、によって第2図の集光レンズ25を介して被加工物
の加工面に形成されるビームスポットは前述したところ
から明らかなように該加工面におけるY軸上を移動し、
該ビームスポットのX座標の値は1PsO+P4−の大
きさ、すなわちβに比例する。換言すればβがビームス
ポットのX座標の値を決定することになる。したがって
βがY軸スキャナ22aに入力される信号に比例してい
れば、この時のビームスポットのX座標の値は該信号に
比例する。したがって、ビームIの点O1にお(・て反
射されたビームが、Zy−X、面およびZy−yy面の
いずれの面内にもない01X4である場合には、このビ
ームO,X4か第2図のi+レンズ25を介して被加工
物の加工面ニラくルビームスポットのXおよびX座標の
値は、れることになる。この場合角度βはミラー220
反射面の回転角β/2に比例しているので、前記ビーム
スポットのX座標の値はミラー220反射* 面の回転角に比例していて問題はないが、角度αは角度
αに等しくなり(4)式で示されて℃・るように角度β
の影響を受ける。このため、この場合の前記ビームスポ
ットのX座標の値は、角度αがたとえX軸スキャナ21
aの人力信号に比例していても該人力信号に比例しない
ことになる。すなわち前記ビームスポットのX座標の値
はスキャナ22.aの人力1d号の影舎を受げ、(4)
式にもとづく歪みを含んだものとなる。この歪みが第4
図(5)で説明した格子aGの湾曲である。
次にこの歪みを少なくする補償原理を説明する。
すなわち、まず文字記号の意味を次のように定めると(
5)式が得られる。ここにK s 、 K tは定数で
ある。
5)式が得られる。ここにK s 、 K tは定数で
ある。
VXoSX軸スキャナ21aの人力信号。
■yo:Y軸スキャナ22aの人力信号。
Lx:被加工物の加工面におけるビームス列ミツトのX
座標の値。
座標の値。
Ly:被加工物の加工面におけるビームスS<ットのX
座標の値。
座標の値。
Ks:XおよびY軸スキャナにおける電圧・ビーム反射
角変換係数。
角変換係数。
Kt:レーザビームの集光レンズ入射角・被加工物上ノ
ビームスポット座標没換係数 (4) 、 (51式から(6)および(7)式がめら
れる。
ビームスポット座標没換係数 (4) 、 (51式から(6)および(7)式がめら
れる。
L y = K t −K s・vyo ・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(7)(6)式を展開すると近似式として(8)式
が得られる。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・(7)(6)式を展開すると近似式として(8)式
が得られる。
(7)および(8)式から明らかなように、ビームスポ
ットのY座標の値り、はY軸スなりナ22aの人力信号
■yoのみに比例していて問題はないが、ビームスポッ
トのX座標の値、LxはX軸スキャナ21aの入力信号
■xoのみに比・倒せず、(8)式の()内の第2項以
下の項の影響を受けることになる。すなわち、(8)式
の()内の第2項以下の項はvyolc起因する加工歪
みに対応する項である。したがって、この加工歪みに対
応する項の除去を目的として。
ットのY座標の値り、はY軸スなりナ22aの人力信号
■yoのみに比例していて問題はないが、ビームスポッ
トのX座標の値、LxはX軸スキャナ21aの入力信号
■xoのみに比・倒せず、(8)式の()内の第2項以
下の項の影響を受けることになる。すなわち、(8)式
の()内の第2項以下の項はvyolc起因する加工歪
みに対応する項である。したがって、この加工歪みに対
応する項の除去を目的として。
入力信号Vxおよびvyoが入力されると出方信号Vx
6を出力する加工歪み補償回路を設け、その出方信号V
xoをX軸スキャナ21aに入力するものとし。
6を出力する加工歪み補償回路を設け、その出方信号V
xoをX軸スキャナ21aに入力するものとし。
この加工歪み補償回路の入出力信号変換特性が(9)式
であられされるものとする。
であられされるものとする。
ここで(9)式を(8)式に代入し、さらにKtおよび
Kaの定数の値を考慮すれば近似的に(1o)が得られ
る。
Kaの定数の値を考慮すれば近似的に(1o)が得られ
る。
Lx=Kt−Ks@VX四〇・曲曲曲−・曲・曲(1o
)(10)から明らかなように、ビームスポットのX座
標の値Lxは歪み補償回路の入力信号Vxに比例してい
る。すなわち(10)式を導出する過程で使用した信号
V x + V’ yoがそれぞれ第1図に示した加工
信号発生部6の出力する座@伯号Vx、Vyに相当する
ものであれば、ビームスポットのX、Y座標の値Lx’
、Lyは該加工信号発生部6の出方信号に比例した加工
歪みのない値になる。以上の説明では歪み補償回路の変
換特性が(9)式であられされるものとしたが、(9)
式の()内の814 J ′j6よび第4項は第1およ
び第2項に比べて一般に小さい。このため本発明者は歪
み補償回路の変換特性を(1工)式のようにして計算な
らびに実験を行なった結果、X座標の値Lxの歪みは無
視しうる程度の小さい値になることを確認した。したが
つ℃前記歪み補償回路の変換特性は(11)式を採用し
ても差し支えないことになる。
)(10)から明らかなように、ビームスポットのX座
標の値Lxは歪み補償回路の入力信号Vxに比例してい
る。すなわち(10)式を導出する過程で使用した信号
V x + V’ yoがそれぞれ第1図に示した加工
信号発生部6の出力する座@伯号Vx、Vyに相当する
ものであれば、ビームスポットのX、Y座標の値Lx’
、Lyは該加工信号発生部6の出方信号に比例した加工
歪みのない値になる。以上の説明では歪み補償回路の変
換特性が(9)式であられされるものとしたが、(9)
式の()内の814 J ′j6よび第4項は第1およ
び第2項に比べて一般に小さい。このため本発明者は歪
み補償回路の変換特性を(1工)式のようにして計算な
らびに実験を行なった結果、X座標の値Lxの歪みは無
視しうる程度の小さい値になることを確認した。したが
つ℃前記歪み補償回路の変換特性は(11)式を採用し
ても差し支えないことになる。
以上に説明した事項は集光レンズに収差がない場合にレ
ーザビームのスポットが被加工物において形成する位置
歪みとその歪みを低減する補償原理とであった。ところ
がこのビームスポットの位置歪みは前述したように集光
レンズの取止によって発生し、この結果前記位置歪みの
態様は第4図β)において説明したようになる。そして
この場合の格子線G 、 IIの歪みの状態は第4図(
ハ)から明らかなようにレンズの収差の度合いによって
凸になるか凹になるかの違いはあろても第4図(6)の
格子線Gの歪みの状態に力j似している。このため本発
明者は、集光レンズ[Ip(差がある場合、前述の歪み
補償回路に(12)および(13)式で示されるような
変換特性をもたせ、この歪み補償回路にカムエイぽ号発
生部6の出力するXおよびY座標信号VxおよびV、を
入力し、この歪み補償回路から出力される信号vxOお
よびVFoをそれぞれX軸およびY軸スキャナ21a、
、、22aに入力するようにして実験を行なった結果、
定数鳩および1t2を適当に選定することによってビー
ムスポットのXおよびYJ3flの値L x 、 L
yのそれぞれの歪みは無視しうる程夏の小さい値になる
ことを6Lgした。
ーザビームのスポットが被加工物において形成する位置
歪みとその歪みを低減する補償原理とであった。ところ
がこのビームスポットの位置歪みは前述したように集光
レンズの取止によって発生し、この結果前記位置歪みの
態様は第4図β)において説明したようになる。そして
この場合の格子線G 、 IIの歪みの状態は第4図(
ハ)から明らかなようにレンズの収差の度合いによって
凸になるか凹になるかの違いはあろても第4図(6)の
格子線Gの歪みの状態に力j似している。このため本発
明者は、集光レンズ[Ip(差がある場合、前述の歪み
補償回路に(12)および(13)式で示されるような
変換特性をもたせ、この歪み補償回路にカムエイぽ号発
生部6の出力するXおよびY座標信号VxおよびV、を
入力し、この歪み補償回路から出力される信号vxOお
よびVFoをそれぞれX軸およびY軸スキャナ21a、
、、22aに入力するようにして実験を行なった結果、
定数鳩および1t2を適当に選定することによってビー
ムスポットのXおよびYJ3flの値L x 、 L
yのそれぞれの歪みは無視しうる程夏の小さい値になる
ことを6Lgした。
(12)、(13)式において抜刀は第4図の)におけ
る格子線G、Hの凹凸の状態に応じてi!s足されるも
ので、たとえば格子線G、Hの凹凸が第4図◎の状態に
ある時は、(12)式では−が選定され(13)式では
十が選定される。
る格子線G、Hの凹凸の状態に応じてi!s足されるも
ので、たとえば格子線G、Hの凹凸が第4図◎の状態に
ある時は、(12)式では−が選定され(13)式では
十が選定される。
本発明は以上に説明した歪へ補償原理を用いて、集光レ
ンズにおける収差の有無にかかわらずビームスポットの
位置歪みを除去しようとするものであって、以下に本発
明の実施例を図面を参照して説明する。第7図は本発明
によるレーザ加工装置の一実施例の概略ブロック図で、
図において加工処理部5は第1図におけるものと同様に
構成されているが説明の便宜上レーザビーム駆動部2の
みが示され、被加工物設置台等は省略されている。
ンズにおける収差の有無にかかわらずビームスポットの
位置歪みを除去しようとするものであって、以下に本発
明の実施例を図面を参照して説明する。第7図は本発明
によるレーザ加工装置の一実施例の概略ブロック図で、
図において加工処理部5は第1図におけるものと同様に
構成されているが説明の便宜上レーザビーム駆動部2の
みが示され、被加工物設置台等は省略されている。
また図において第1図におけるものと同一の機能を有す
る部分には同一の符号が付しである。
る部分には同一の符号が付しである。
第7図において第1図と異なる旨は70の加工歪み補償
回路で、この補償回路70において、A。
回路で、この補償回路70において、A。
BはそれぞれXおよびY座標信号発生器61.62の各
出力信号Vxおよびvyが人力される端子、71は端子
Aから信号Vxが入力され出力信号として−Vxを出力
する反転増幅器、72,73,77.78はそれぞれ二
個の入力端子を有しこの両入方端子に入力された二つの
信号の積に相当する信号を出力する乗算器で、乗算器7
2はその両入力端子に共に端子Bから信号V、が入力さ
れるので出方信号として■y′を出力し、乗算器77は
その両入方端子に共に端子Aから信号Vxが入力される
ので出方信号としてVxを出力し、乗算器73はその両
入方端子のそれぞれに反転増幅71の出力信号−Vxと
乗算器72の出力信号V、”とが入力されるので出方信
号として−Vx・7戸を出力し、乗算器78はそのvy
・■x″を出力する。74.79はそれぞれ係数器で、
係数器74には乗算器73の出力信号が入力されるので
この係数器74からは前記出方信号に定数Mを乗じた信
号−M・VXIIVF”が出力され、係数器79には乗
算器78の出力信号が入力されるのでこの係数器79か
らは前記出力信号に定数へを乗じた信号へ・V、・Vx
が出力される。この場合、係数器74.79においては
可変抵抗抵抗器を用いることによって係数M、Nが可変
に構成されている。75は反転増幅器71の出力信号−
Vxが入力されて出力信号Vxを出力する反転増幅器で
ある。
出力信号Vxおよびvyが人力される端子、71は端子
Aから信号Vxが入力され出力信号として−Vxを出力
する反転増幅器、72,73,77.78はそれぞれ二
個の入力端子を有しこの両入方端子に入力された二つの
信号の積に相当する信号を出力する乗算器で、乗算器7
2はその両入力端子に共に端子Bから信号V、が入力さ
れるので出方信号として■y′を出力し、乗算器77は
その両入方端子に共に端子Aから信号Vxが入力される
ので出方信号としてVxを出力し、乗算器73はその両
入方端子のそれぞれに反転増幅71の出力信号−Vxと
乗算器72の出力信号V、”とが入力されるので出方信
号として−Vx・7戸を出力し、乗算器78はそのvy
・■x″を出力する。74.79はそれぞれ係数器で、
係数器74には乗算器73の出力信号が入力されるので
この係数器74からは前記出方信号に定数Mを乗じた信
号−M・VXIIVF”が出力され、係数器79には乗
算器78の出力信号が入力されるのでこの係数器79か
らは前記出力信号に定数へを乗じた信号へ・V、・Vx
が出力される。この場合、係数器74.79においては
可変抵抗抵抗器を用いることによって係数M、Nが可変
に構成されている。75は反転増幅器71の出力信号−
Vxが入力されて出力信号Vxを出力する反転増幅器で
ある。
76.80はそれぞれ二個の入力端子を有しこの両入力
端子に入力された二つの信号の和に、相当する信号を出
力する加算器で、加算器76はその両入力端子のそれぞ
れに反転増幅75の出力信号Vxと係数器74の出力信
号−M・Vx・■y′とが入力されるので出力信号とし
てVx−M・V、・V y ” ”’ V XIを出力
し、加算器80はその両入力端子のそれぞれに係数器7
9の出力信号Na %l y・Vxと端子Bからの信号
V、とが入力されるので出力信号としてVy+N・V
y−V :c ” ”” V ylを出力する。C,D
はそれぞれ信号Vx1. V7t−を出力する端子で、
レーザビーム駆動部2のX軸片およびY軸周サーボアン
プ23.24はそれぞれ出力端子CおよびDに接続され
ている。
端子に入力された二つの信号の和に、相当する信号を出
力する加算器で、加算器76はその両入力端子のそれぞ
れに反転増幅75の出力信号Vxと係数器74の出力信
号−M・Vx・■y′とが入力されるので出力信号とし
てVx−M・V、・V y ” ”’ V XIを出力
し、加算器80はその両入力端子のそれぞれに係数器7
9の出力信号Na %l y・Vxと端子Bからの信号
V、とが入力されるので出力信号としてVy+N・V
y−V :c ” ”” V ylを出力する。C,D
はそれぞれ信号Vx1. V7t−を出力する端子で、
レーザビーム駆動部2のX軸片およびY軸周サーボアン
プ23.24はそれぞれ出力端子CおよびDに接続され
ている。
したがって本レーザ加工装置ではスキャナ21a。
22aはそれぞれ信号VxI+V)’lによって駆動さ
れることになる。加工歪み補償回路70は上述の端子A
、B、C,D、反転増幅器71,75、乗算器72゜7
3.77.78、係数器74,79、加算器76 、8
0で構成されている。この場合、信号V xlは(12
)式において復号の−を採用した時の信号Vx6に相当
し、信号vy1は(13)式において復号の十を採用し
た時の信号VFoに相当する。このため、加工信号発生
部6の出力信号Vx、Vyをそのままレーザビーム駆動
部2に入力した時ビームスポットの位置歪みが第4図(
ハ)に示したようになる従来のレーザ加工装置に本実施
例の加工歪み補償回路7oを使用すると、係数器74.
79における定数fJNを適当に選定することによって
前記ビームスポットの位置歪みを殆ど無視し得る程度に
小さくすることができる。
れることになる。加工歪み補償回路70は上述の端子A
、B、C,D、反転増幅器71,75、乗算器72゜7
3.77.78、係数器74,79、加算器76 、8
0で構成されている。この場合、信号V xlは(12
)式において復号の−を採用した時の信号Vx6に相当
し、信号vy1は(13)式において復号の十を採用し
た時の信号VFoに相当する。このため、加工信号発生
部6の出力信号Vx、Vyをそのままレーザビーム駆動
部2に入力した時ビームスポットの位置歪みが第4図(
ハ)に示したようになる従来のレーザ加工装置に本実施
例の加工歪み補償回路7oを使用すると、係数器74.
79における定数fJNを適当に選定することによって
前記ビームスポットの位置歪みを殆ど無視し得る程度に
小さくすることができる。
すなわち本実施例のレーザ加工装置では、加工信号発生
部6の出力座標信号V、、Vyは加工歪み補償回路70
でそれぞれ変換されてVxl +VFIとなってレーザ
ビーム駆動部2に入力されるので、定数M、Nを適宜設
定することによって、集光レンズの収差にもとづ(レー
ザスポットの位置歪みとY軸ミラー22の傾き状態によ
って干渉されるレ−ザスポットのX軸方向位置歪みとの
合成歪みが第4図(ハ)のようになってもこの合成歪み
は殆ど補償され、被加工物には信号Vx、Vyに応じた
正確なパターンがレーザスポットによって形成される。
部6の出力座標信号V、、Vyは加工歪み補償回路70
でそれぞれ変換されてVxl +VFIとなってレーザ
ビーム駆動部2に入力されるので、定数M、Nを適宜設
定することによって、集光レンズの収差にもとづ(レー
ザスポットの位置歪みとY軸ミラー22の傾き状態によ
って干渉されるレ−ザスポットのX軸方向位置歪みとの
合成歪みが第4図(ハ)のようになってもこの合成歪み
は殆ど補償され、被加工物には信号Vx、Vyに応じた
正確なパターンがレーザスポットによって形成される。
信号Vx1 eVy、はそれぞれ(12)、(13)式
にもとづくものであり、(12)、(13)式は上述の
歪み補償原理の説明から明らかなように近似的にめられ
たものである。したがって(12)、(13)式は信号
Vx、Vyのすべての値に対して適用できるものではな
いが、本発明者は実験によって、−辺工0clrLの正
方形状加工面において、補償回路70がない場合とある
場合とにおけるレーザスポットのXおよびY座標の各最
大歪みがそれぞれ約6チと約0.5%になることを確認
している。
にもとづくものであり、(12)、(13)式は上述の
歪み補償原理の説明から明らかなように近似的にめられ
たものである。したがって(12)、(13)式は信号
Vx、Vyのすべての値に対して適用できるものではな
いが、本発明者は実験によって、−辺工0clrLの正
方形状加工面において、補償回路70がない場合とある
場合とにおけるレーザスポットのXおよびY座標の各最
大歪みがそれぞれ約6チと約0.5%になることを確認
している。
第7図においては、加工歪み補償回路70の出力端子C
,Dにおいてそれぞれ信号Vx+ 、Vy、が得られる
ようにしたが、第4図(ハ)において格子線Gが凸にな
るようなレーザスポットの歪みが発生する場合は加算器
76の代りに減算器を使用すること圧よってこの歪みを
補償することができ、また第4図但)において格子線H
が凹になるようなレーザスポットの歪みが発生する場合
も加算器800代りに減算器を使用することによってこ
の歪みを補償することができることは上述の説明から明
らかである。
,Dにおいてそれぞれ信号Vx+ 、Vy、が得られる
ようにしたが、第4図(ハ)において格子線Gが凸にな
るようなレーザスポットの歪みが発生する場合は加算器
76の代りに減算器を使用すること圧よってこの歪みを
補償することができ、また第4図但)において格子線H
が凹になるようなレーザスポットの歪みが発生する場合
も加算器800代りに減算器を使用することによってこ
の歪みを補償することができることは上述の説明から明
らかである。
以上に説明したように、本発明においては、レーザビー
ム発生装置と、被加工物設置台と、前記被加工物設置台
に設置された被加工物の加工面に前記レーザビーム発生
装置の発生するレーザビームノスポットを形成する集光
レンズをVa 、t タレーザビーム駆動部と、加工信
号発生部とを有し、前記加工信号発生部の出力信号を前
記レーザビーム駆動部の入力信号として該駆動部に設け
たX軸光路変更素子およびY軸光路変更素子によって前
記スポットを前記加工面のX軸方向およびこれに直交す
るY軸方向に駆動して、前記スポットにより前記被加工
物を加工するレーザ加工装置において、前記加工信号発
生部の出力信号が人力されて、前記加工面における前記
スポットの位置の、前記Y軸光路変更素子の状態にもと
づく歪みと前記集光レンズの収差にもとづく歪みとを補
償する信号を出力する加工歪み補償回路を設け、この加
工歪み補償回路の出力信号を前記レーザビーム駆動部の
入力信号とするようにしたので、このようなレーザ加工
装置によれば、従来のレーザ加工装置において発生した
加工面における。レーザビームのスポットの集光レンズ
の収差にもとづく位置歪みやY軸光路変更素子の干渉に
もとづく前記スポットのXN座標の歪みが前記加工面の
広い面積にわたって補償されるので加工歪みの少1よい
正確な加工が行なえる効果があり、またこのようなレー
ザ加工装置では、レーザスポットの位置歪みの補償が加
工信号発生部内の電子計算機のプログラムによって行な
われるのではなくて、(12)、(13)式にもとづく
歪み補償回路によって行なわれるので補償動作が高速と
なり加工速度が向上する効果がある。なお本発明のレー
ザ加工装置においては収差の大きい集光レンズを使用し
ても、この収差にもとづくレーザスポットの位置歪みが
加工歪み補償回路によって効果的に補償されるがで、こ
のようなレーザ加工装置には安価な集光レンズを使用で
きるという効果もある。
ム発生装置と、被加工物設置台と、前記被加工物設置台
に設置された被加工物の加工面に前記レーザビーム発生
装置の発生するレーザビームノスポットを形成する集光
レンズをVa 、t タレーザビーム駆動部と、加工信
号発生部とを有し、前記加工信号発生部の出力信号を前
記レーザビーム駆動部の入力信号として該駆動部に設け
たX軸光路変更素子およびY軸光路変更素子によって前
記スポットを前記加工面のX軸方向およびこれに直交す
るY軸方向に駆動して、前記スポットにより前記被加工
物を加工するレーザ加工装置において、前記加工信号発
生部の出力信号が人力されて、前記加工面における前記
スポットの位置の、前記Y軸光路変更素子の状態にもと
づく歪みと前記集光レンズの収差にもとづく歪みとを補
償する信号を出力する加工歪み補償回路を設け、この加
工歪み補償回路の出力信号を前記レーザビーム駆動部の
入力信号とするようにしたので、このようなレーザ加工
装置によれば、従来のレーザ加工装置において発生した
加工面における。レーザビームのスポットの集光レンズ
の収差にもとづく位置歪みやY軸光路変更素子の干渉に
もとづく前記スポットのXN座標の歪みが前記加工面の
広い面積にわたって補償されるので加工歪みの少1よい
正確な加工が行なえる効果があり、またこのようなレー
ザ加工装置では、レーザスポットの位置歪みの補償が加
工信号発生部内の電子計算機のプログラムによって行な
われるのではなくて、(12)、(13)式にもとづく
歪み補償回路によって行なわれるので補償動作が高速と
なり加工速度が向上する効果がある。なお本発明のレー
ザ加工装置においては収差の大きい集光レンズを使用し
ても、この収差にもとづくレーザスポットの位置歪みが
加工歪み補償回路によって効果的に補償されるがで、こ
のようなレーザ加工装置には安価な集光レンズを使用で
きるという効果もある。
第1図は従来のレーザ加工装置のmw図、第2図は第1
図におけるレーザビーム駆動部の構成図、第3図は第2
図におげろ集光レンズの動作原理図、第4図は加工歪み
の発生状況を示した図で、同図(5)は収差のない集光
レンズを使用した場合、同図(ハ)は収差のある集光レ
ンズを使用した場合、第5図は第2図のレーザビーム駆
動部に2けるレーザビームの軌跡説明図、第6図は第5
図の部分拡大図、第7図は本発明によるレーザ加工装置
の一実施例の概略ブロック図である。 各図において、1・・・・・・レーザビーム発生装置、
1a+2a12alJalLI+ 、i、、it、it
、rkLt−・−・・・レーザビーム、2・・・・・・
レーザビーム駆動部、2b・・・・・・レーザビームの
スポット、3・・・・・・被加工物、3a・・・・・・
加工面、4・・・・・・被加工物設置台、6・・・・・
・加工信号発生部、21・・・・・・X11]光路変更
素子としてのX軸ミラー、22・・・・・・Y軸光路変
更素子としてのY軸ミラー、25・・・・・・集光レン
ズ、70・・・・・・加工歪み補償回路、 V、、V、
・・・・・・加工信号発生部の出力信号、Vxl 、V
yl・・・・・・加工歪み補償回路の出第2図 第 3 図 +[3) 184図
図におけるレーザビーム駆動部の構成図、第3図は第2
図におげろ集光レンズの動作原理図、第4図は加工歪み
の発生状況を示した図で、同図(5)は収差のない集光
レンズを使用した場合、同図(ハ)は収差のある集光レ
ンズを使用した場合、第5図は第2図のレーザビーム駆
動部に2けるレーザビームの軌跡説明図、第6図は第5
図の部分拡大図、第7図は本発明によるレーザ加工装置
の一実施例の概略ブロック図である。 各図において、1・・・・・・レーザビーム発生装置、
1a+2a12alJalLI+ 、i、、it、it
、rkLt−・−・・・レーザビーム、2・・・・・・
レーザビーム駆動部、2b・・・・・・レーザビームの
スポット、3・・・・・・被加工物、3a・・・・・・
加工面、4・・・・・・被加工物設置台、6・・・・・
・加工信号発生部、21・・・・・・X11]光路変更
素子としてのX軸ミラー、22・・・・・・Y軸光路変
更素子としてのY軸ミラー、25・・・・・・集光レン
ズ、70・・・・・・加工歪み補償回路、 V、、V、
・・・・・・加工信号発生部の出力信号、Vxl 、V
yl・・・・・・加工歪み補償回路の出第2図 第 3 図 +[3) 184図
Claims (1)
- レーザビーム発生装置と被加工物設置台と、前記被加工
物設置台に設置された被加工物の加工面に前記レーザビ
ーム発生装置の発生するレーザビームのスポットを形成
する集光レンズを備えたレーザ・ビーム駆動部と、加工
信号発生部とを有し、前記加工信号発生部の出力信号を
箭・記レーザビーム駆動部の人1号として該駆動部に設
けたX軸光路変更累子およびY軸光路変更素子によって
前記スポットを前記加工面のX軸方向およびこれに直交
するY軸方向に駆動して、前記スポットにより前記被加
工物を加工するレーザ加工装置において、前記加工信号
発生部の出力信号が入力されて、前記加工面における前
記スポットの位置の、前記Y@光路変更素子の状態にも
とづく歪みと前記集光レンズの収差にもとづく歪みとを
補償する信号を出力する加工歪み補償回路を設け、この
加工歪み補償回路の出力信号を前記レーザビーム駆動部
の入力信号としたことを特徴とするレーザ加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58152748A JPS6044193A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | レ−ザ加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58152748A JPS6044193A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | レ−ザ加工装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6044193A true JPS6044193A (ja) | 1985-03-09 |
| JPS6258834B2 JPS6258834B2 (ja) | 1987-12-08 |
Family
ID=15547298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58152748A Granted JPS6044193A (ja) | 1983-08-22 | 1983-08-22 | レ−ザ加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6044193A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61241720A (ja) * | 1985-04-19 | 1986-10-28 | Nec Corp | ビ−ムポジシヨナ |
| JP2002321072A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-05 | Sunx Ltd | レーザマーキング装置 |
| JP2009125762A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Y E Data Inc | レーザマーキング装置 |
-
1983
- 1983-08-22 JP JP58152748A patent/JPS6044193A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61241720A (ja) * | 1985-04-19 | 1986-10-28 | Nec Corp | ビ−ムポジシヨナ |
| JP2002321072A (ja) * | 2001-04-27 | 2002-11-05 | Sunx Ltd | レーザマーキング装置 |
| JP2009125762A (ja) * | 2007-11-21 | 2009-06-11 | Y E Data Inc | レーザマーキング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6258834B2 (ja) | 1987-12-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5980088A (en) | Laser drawing apparatus with precision scaling-correction | |
| US4475787A (en) | Single facet wobble free scanner | |
| JP2616990B2 (ja) | 光ビーム位置誤差補正方法と装置 | |
| US4606601A (en) | Single facet wobble free scanner | |
| CN113643282A (zh) | 一种工件涂胶轨迹生成方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| US20020054297A1 (en) | Three dimensional scanning system | |
| US5185815A (en) | Multiple target correlator system | |
| US5618454A (en) | Multi-wavelength programmable laser processing mechanisms and apparatus utilizing design data translation system | |
| TW556456B (en) | A device for measuring relative position error | |
| JPS6044193A (ja) | レ−ザ加工装置 | |
| US4851656A (en) | Method and apparatus for enhancing optical photoplotter accuracy | |
| US5751588A (en) | Multi-wavelength programmable laser processing mechanisms and apparatus utilizing vaporization detection | |
| JPS5860593A (ja) | 形状検出方法と装置 | |
| GB2259361A (en) | Picture processing method in optical measuring apparatus | |
| JPS6258833B2 (ja) | ||
| CN118218778B (zh) | 一种激光打标方法、装置以及系统 | |
| JPH0780674A (ja) | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | |
| CN118218777A (zh) | 一种激光打标方法、装置以及系统 | |
| JPS58201006A (ja) | 立体形状検出装置 | |
| JPH07253304A (ja) | 多軸位置決めユニットおよびこれにおける測長方法 | |
| JP3078655B2 (ja) | 光ビーム走査装置 | |
| JPH01306813A (ja) | 走査光の歪補正装置 | |
| JP2823750B2 (ja) | レーザマーキング装置 | |
| JPS59182348A (ja) | 菊池パタ−ン又は擬菊池パタ−ンの解析方法 | |
| JPH08147471A (ja) | 3次元データ入力処理方法 |