JPS6045819B2 - 被検出物の移送制御装置 - Google Patents
被検出物の移送制御装置Info
- Publication number
- JPS6045819B2 JPS6045819B2 JP53033311A JP3331178A JPS6045819B2 JP S6045819 B2 JPS6045819 B2 JP S6045819B2 JP 53033311 A JP53033311 A JP 53033311A JP 3331178 A JP3331178 A JP 3331178A JP S6045819 B2 JPS6045819 B2 JP S6045819B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- output
- receiving element
- comparator
- label
- Prior art date
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- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Labeling Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は例えばラベルプリンタのラベル移送制御等に
適用した場合に好適な被検出物の移送制御装置に関する
。
適用した場合に好適な被検出物の移送制御装置に関する
。
従来この種の被検出物の移送制御装置に使用される光
学的検知装置は一般には受光素子からの出力を直流増幅
器等て増幅し、この増幅された出力を予め所定値に設定
した基準電圧と比較して被検出物の有無に応じた差出力
を取出し、この差出力でスイッチ回路等を駆動する如く
構成されている。
学的検知装置は一般には受光素子からの出力を直流増幅
器等て増幅し、この増幅された出力を予め所定値に設定
した基準電圧と比較して被検出物の有無に応じた差出力
を取出し、この差出力でスイッチ回路等を駆動する如く
構成されている。
このような構成の従来の装置ではノイズである外部光線
例えば太陽光や店頭の照明光等が受光素子に入射すると
スイッチ回路が誤動作するおそれがあつた。このような
不都合を解消するために−受光素子の先端に外部光線を
防止する為のフード等を設けるようにしたものもある。
しかし、かかる手段を講じても完全に誤動作防止を行な
えるまでには至つていない。一方受光素子に塵埃等が付
着して受光素子の出力が低下した場合には前記増幅器の
増幅度の調整や前記基準電圧の調整等を、その都度行な
う必要があつた。更に受光素子に聖埃等が付着し且つ外
部光線が強い場合には、受光素子による出力と外部光線
による出力との差が著しく小さくなるため、増幅器の増
幅度や基準電圧等の調整のみては、もはや十分な検出能
力を確保することは困難であり、オーバホール等を行な
わざるを得なかつた。 本発明はこのような事情を考慮
してなされたもので、その目的とするところは受光素子
の先端に外部光線を遮断する為のフード等を設ける必要
がなく、更に発光素子や受光素子の表面に多少の塵埃等
が付着しても格別の調整等を行なうことなしに、常に正
確な検出出力が得られ被検出物の移送制御か正確にてき
る被検出物の移送制御装置を提供することにある。
例えば太陽光や店頭の照明光等が受光素子に入射すると
スイッチ回路が誤動作するおそれがあつた。このような
不都合を解消するために−受光素子の先端に外部光線を
防止する為のフード等を設けるようにしたものもある。
しかし、かかる手段を講じても完全に誤動作防止を行な
えるまでには至つていない。一方受光素子に塵埃等が付
着して受光素子の出力が低下した場合には前記増幅器の
増幅度の調整や前記基準電圧の調整等を、その都度行な
う必要があつた。更に受光素子に聖埃等が付着し且つ外
部光線が強い場合には、受光素子による出力と外部光線
による出力との差が著しく小さくなるため、増幅器の増
幅度や基準電圧等の調整のみては、もはや十分な検出能
力を確保することは困難であり、オーバホール等を行な
わざるを得なかつた。 本発明はこのような事情を考慮
してなされたもので、その目的とするところは受光素子
の先端に外部光線を遮断する為のフード等を設ける必要
がなく、更に発光素子や受光素子の表面に多少の塵埃等
が付着しても格別の調整等を行なうことなしに、常に正
確な検出出力が得られ被検出物の移送制御か正確にてき
る被検出物の移送制御装置を提供することにある。
以下本発明の一実施例を図面に基ついて説明する。
１は発振器であり、所定周期の矩形波パルスを送出する
ものである。
ものである。
この発振器１の出力端は抵抗２を介して発光素子３のア
ノードに接続されている。発光素子３のカソードは接地
されている。発光素子３は例えば発光ダイオードであつ
て被検出物移送経路Ａの一側傍に配設されている。この
発光素子３はこの素子３からの光が上記移送経路Ａを横
切つて移送経路Ａの他側傍に到達するビーム状の光とな
つて放射される如く構成されている。４は例えばフォト
トランジスタ等の受光素子であつて、前記発光素子３か
らの光を受光するように被検出物移送経路Ａの他側傍に
配置されている。
ノードに接続されている。発光素子３のカソードは接地
されている。発光素子３は例えば発光ダイオードであつ
て被検出物移送経路Ａの一側傍に配設されている。この
発光素子３はこの素子３からの光が上記移送経路Ａを横
切つて移送経路Ａの他側傍に到達するビーム状の光とな
つて放射される如く構成されている。４は例えばフォト
トランジスタ等の受光素子であつて、前記発光素子３か
らの光を受光するように被検出物移送経路Ａの他側傍に
配置されている。
５は被検出物としてのラベルであり、後記するラベル移
送機構１７により図中矢印のように移送される。
送機構１７により図中矢印のように移送される。
上記受光素子４のコレクタには図示していない直流電源
から正電圧が与えられるものとなつている。受光素子４
のエミッタは一方において分圧抵抗６および７を直列に
介して接地されている。また上記エミッタは他方におい
てダイオード８を順方向に介し、さらに積分回路■を介
して接地されている。上記積分回路主は充電用コンデン
サ１０と、このコンデンサ１０に並列に接続された放電
用抵抗１１とで構成されている。なお上記ダイオード８
は積分回路ｕからの出力が受光素子４の出力に影響を与
えないように設けた逆流阻止用ダイオードである。前記
分圧抵抗６と７との接続点Ｍは抵抗１２を介して演算増
幅器からなる比較器１３の負端子（−）に接続されてお
り、前記ダイオード８とコンデンサ１０との接続点Ｎは
抵抗１４を介して比較器１３の正端子（＋）に接続され
ている。なお、比較器１３の正端子（＋）は抵抗１５を
介して図示していない直流電源に接続されている。従つ
て上記抵抗１５と前記抵抗１４および１１は、比較器１
３のバイアス回路を構成している。このバイアス回路は
受光素子４の出力が微小のとき、ダイオード８の電圧降
下が大きくなつて比較器１３の正端子（＋）に印加され
る入力電圧レベルが負端子（−）に印加される外部光線
に応じた入力電圧レベルより著しく低下するのを補償す
る為のものである。上記比較器１３の出力端は駆動制御
回路１６に接続されている。この駆動制御回路１６は例
えばフリップフロ．ノブ回路等で構成されており、比較
器１３の差出力に応じて、ラベル移送機構１７への動作
指令およびラベル５の表面に所定の印字を行なう印字機
構１８への印字指令を選択的に送出するものである。な
お上記印字機構１８は入力端に設けたアンードゲート１
９の一方の入力端に前記駆動制御回路１６からの印字指
令が与えられ、他方の入力端に図示してない印字内容供
給回路から信号が与えられたときに動作するようになつ
ている。次にこのように構成された本発明実施例装置の
動作を説明する。
から正電圧が与えられるものとなつている。受光素子４
のエミッタは一方において分圧抵抗６および７を直列に
介して接地されている。また上記エミッタは他方におい
てダイオード８を順方向に介し、さらに積分回路■を介
して接地されている。上記積分回路主は充電用コンデン
サ１０と、このコンデンサ１０に並列に接続された放電
用抵抗１１とで構成されている。なお上記ダイオード８
は積分回路ｕからの出力が受光素子４の出力に影響を与
えないように設けた逆流阻止用ダイオードである。前記
分圧抵抗６と７との接続点Ｍは抵抗１２を介して演算増
幅器からなる比較器１３の負端子（−）に接続されてお
り、前記ダイオード８とコンデンサ１０との接続点Ｎは
抵抗１４を介して比較器１３の正端子（＋）に接続され
ている。なお、比較器１３の正端子（＋）は抵抗１５を
介して図示していない直流電源に接続されている。従つ
て上記抵抗１５と前記抵抗１４および１１は、比較器１
３のバイアス回路を構成している。このバイアス回路は
受光素子４の出力が微小のとき、ダイオード８の電圧降
下が大きくなつて比較器１３の正端子（＋）に印加され
る入力電圧レベルが負端子（−）に印加される外部光線
に応じた入力電圧レベルより著しく低下するのを補償す
る為のものである。上記比較器１３の出力端は駆動制御
回路１６に接続されている。この駆動制御回路１６は例
えばフリップフロ．ノブ回路等で構成されており、比較
器１３の差出力に応じて、ラベル移送機構１７への動作
指令およびラベル５の表面に所定の印字を行なう印字機
構１８への印字指令を選択的に送出するものである。な
お上記印字機構１８は入力端に設けたアンードゲート１
９の一方の入力端に前記駆動制御回路１６からの印字指
令が与えられ、他方の入力端に図示してない印字内容供
給回路から信号が与えられたときに動作するようになつ
ている。次にこのように構成された本発明実施例装置の
動作を説明する。
発振器１を動作させるとこの発振器１から所定周期のパ
ルス出力が送出され、これが抵抗２を介して発光素子３
に供給される。このため発光素子３は所定周期で点滅す
る。今ラベル５が、発光素子３と受光素子４とが対向配
設されているラベル検出位置に存在していないものとす
ると、発光素子３からの光は受光素子４に入射する。こ
のとき受光素子４には通常の場合は、発ｊ光素子３から
のパルス光線の他にノズルとなる外部光線も同時に入射
する。従つて受光素子４は外部光線にパルス光線が重畳
した光に対応する出力を発生させる。この受光素子４の
出力は一方において分圧抵抗６および７によつて分圧さ
れたのち入力抵抗１２を介して比較器１３の負端子に与
えられる。上記負端子に与えられる入力波形は第２図の
ａに示す如きもので、外部光線によつて発生した雑音成
分Ｘの上にパルス光線によつて発生した信号成分Ｙが重
畳したものとなつている。上記゛雑音成分ＸのレベルＬ
１は外部光線の強さによつて変動する。また信号成分Ｙ
のレベルＬは発光素子３の発光出力および受光素子４の
感度等によつて変動する。受光素子４の出力は他方にお
いてダイオード８を介して積分回路■に入力する。積分
回路ｕによつて積分された出力は入力抵抗１４を介して
比較器１３の正端子に与えられる。この正端子に与えら
れる積分入力Ｚの波形は第２図ｂに示すようなものであ
り、そのレベルＬは前記第２図ａの雑音成分ｘのレベル
Ｌ１に近い。なお比較器１３の正端子には抵抗１５を介
して直流バイアス電圧が印加されているので上記積分出
力のレベルＬはほぼ前記雑音成分ＸのレベルＬ１と等し
いものとなる。したがつて比較器１３の出力端からは正
端子に入力した電圧から負端子に入力した電圧が差引か
れ、かつ増幅された差出力が駆動制御回路１６へ送出さ
れる。この差出力の波形は第２図ｃに示すようなものと
なる。かくして駆動制御回路１６が動作し、前記ラベル
移送機構１７に動作指令を与える。したがつてラベル移
送機構１７は動作を開始して、ラベル５を発光素子３と
受光素子４との間まで移送する。ラベル５が前記発光素
子３のパルス光線を遮断すると、受光素子４の出力がな
くなるので比較器１３の出力端から送出されていた信号
出力は断たれ、駆動制御回路１６が反転動作する。した
がつてラベル移送機構１７は動作停止し、その結果ラベ
ル５はパルス光線を遮断した状態で停止する。一方この
停止期間中に駆動制御回路１６は前記印字機構１８へ印
字指令を出す。この印字指令が送出されているとき、前
記印字内容供給回路から印字信号が到来すると、この印
字信号はアンドゲート１９を通り印字機構１８に供給さ
れる。このため印字機構１８が動作する。したがつてラ
ベル検出位置へ到来する前の位置で静止しているラベル
５に印字がなされる。ラベル検出位置に停止しているラ
ベル５が手動操作、その他の取出し手段によつてラベル
検出位置から外部へ取出されると、再び発光素子３から
の光が受光素子４へ入射する。このため前述した動作が
再び開始される。このように本装置においては発光素子
３からの光をパルス光線とし、このパルス光線を受光す
る受光素子４の出力と、この出力を積分した出力とを比
較して、その差出力を得るように構成されているので、
基準電圧となる積分出力Ｚのレベル！が雑音成分Ｘのレ
ベルＬ１の変動に応じて変化することになる。
ルス出力が送出され、これが抵抗２を介して発光素子３
に供給される。このため発光素子３は所定周期で点滅す
る。今ラベル５が、発光素子３と受光素子４とが対向配
設されているラベル検出位置に存在していないものとす
ると、発光素子３からの光は受光素子４に入射する。こ
のとき受光素子４には通常の場合は、発ｊ光素子３から
のパルス光線の他にノズルとなる外部光線も同時に入射
する。従つて受光素子４は外部光線にパルス光線が重畳
した光に対応する出力を発生させる。この受光素子４の
出力は一方において分圧抵抗６および７によつて分圧さ
れたのち入力抵抗１２を介して比較器１３の負端子に与
えられる。上記負端子に与えられる入力波形は第２図の
ａに示す如きもので、外部光線によつて発生した雑音成
分Ｘの上にパルス光線によつて発生した信号成分Ｙが重
畳したものとなつている。上記゛雑音成分ＸのレベルＬ
１は外部光線の強さによつて変動する。また信号成分Ｙ
のレベルＬは発光素子３の発光出力および受光素子４の
感度等によつて変動する。受光素子４の出力は他方にお
いてダイオード８を介して積分回路■に入力する。積分
回路ｕによつて積分された出力は入力抵抗１４を介して
比較器１３の正端子に与えられる。この正端子に与えら
れる積分入力Ｚの波形は第２図ｂに示すようなものであ
り、そのレベルＬは前記第２図ａの雑音成分ｘのレベル
Ｌ１に近い。なお比較器１３の正端子には抵抗１５を介
して直流バイアス電圧が印加されているので上記積分出
力のレベルＬはほぼ前記雑音成分ＸのレベルＬ１と等し
いものとなる。したがつて比較器１３の出力端からは正
端子に入力した電圧から負端子に入力した電圧が差引か
れ、かつ増幅された差出力が駆動制御回路１６へ送出さ
れる。この差出力の波形は第２図ｃに示すようなものと
なる。かくして駆動制御回路１６が動作し、前記ラベル
移送機構１７に動作指令を与える。したがつてラベル移
送機構１７は動作を開始して、ラベル５を発光素子３と
受光素子４との間まで移送する。ラベル５が前記発光素
子３のパルス光線を遮断すると、受光素子４の出力がな
くなるので比較器１３の出力端から送出されていた信号
出力は断たれ、駆動制御回路１６が反転動作する。した
がつてラベル移送機構１７は動作停止し、その結果ラベ
ル５はパルス光線を遮断した状態で停止する。一方この
停止期間中に駆動制御回路１６は前記印字機構１８へ印
字指令を出す。この印字指令が送出されているとき、前
記印字内容供給回路から印字信号が到来すると、この印
字信号はアンドゲート１９を通り印字機構１８に供給さ
れる。このため印字機構１８が動作する。したがつてラ
ベル検出位置へ到来する前の位置で静止しているラベル
５に印字がなされる。ラベル検出位置に停止しているラ
ベル５が手動操作、その他の取出し手段によつてラベル
検出位置から外部へ取出されると、再び発光素子３から
の光が受光素子４へ入射する。このため前述した動作が
再び開始される。このように本装置においては発光素子
３からの光をパルス光線とし、このパルス光線を受光す
る受光素子４の出力と、この出力を積分した出力とを比
較して、その差出力を得るように構成されているので、
基準電圧となる積分出力Ｚのレベル！が雑音成分Ｘのレ
ベルＬ１の変動に応じて変化することになる。
このため外部光線の強弱とは無関係に雑音成分ｘを常に
的確に除去できる。そして上記雑音成分ＸのレベルＬ１
と積分出力ＺのレベルＬ３とのわずかな差はバイアス回
路による電圧によつて補償されるので常に信号成分Ｙの
みが正確に抽出される。かくして本装置は太陽光の入射
する店頭やスポットライトの照射されるバツクヤード等
においても、すぐれた検出能力を発揮する。つまり従来
の装置にしばしば見受けられる１ラベル暴走ョといつた
検出不能の事態を招くおそれが殆んどない。本発明は上
述した一実施例に限定されるものではない。
的確に除去できる。そして上記雑音成分ＸのレベルＬ１
と積分出力ＺのレベルＬ３とのわずかな差はバイアス回
路による電圧によつて補償されるので常に信号成分Ｙの
みが正確に抽出される。かくして本装置は太陽光の入射
する店頭やスポットライトの照射されるバツクヤード等
においても、すぐれた検出能力を発揮する。つまり従来
の装置にしばしば見受けられる１ラベル暴走ョといつた
検出不能の事態を招くおそれが殆んどない。本発明は上
述した一実施例に限定されるものではない。
例えば比較器１３の正及び負端子を逆に使用してもよい
。その場合には比較器１３の出力の極性とは逆となるの
で、後段の回路をそれに応じたものにすればよい。また
パルス光線は電球の前面にスリットを有した円板を回転
させて得られる点減光線でもよい。又被検出物はラベル
５に限定されるものではなく乗車券その他に使用されて
いるチケット等でもよい。以上説明したように本発明は
周期的にパルス光線を送出する発光体と、この発光体か
らの光を受光する受光素子とを被検出物の移送経路をは
さんで対向配設し、上記受光素子の出力と、この出力を
積分回路て積分した出力とを比較器で比較し、その差出
力で駆動制御回路を動作して移動機構を動作して被検出
物を移送動作する被検出物の移送制御装置である。
。その場合には比較器１３の出力の極性とは逆となるの
で、後段の回路をそれに応じたものにすればよい。また
パルス光線は電球の前面にスリットを有した円板を回転
させて得られる点減光線でもよい。又被検出物はラベル
５に限定されるものではなく乗車券その他に使用されて
いるチケット等でもよい。以上説明したように本発明は
周期的にパルス光線を送出する発光体と、この発光体か
らの光を受光する受光素子とを被検出物の移送経路をは
さんで対向配設し、上記受光素子の出力と、この出力を
積分回路て積分した出力とを比較器で比較し、その差出
力で駆動制御回路を動作して移動機構を動作して被検出
物を移送動作する被検出物の移送制御装置である。
したがつて本発明によれば、基準電圧レベルが雑音成分
となる外部光線等の強弱に応じたものとなるので、雑音
成分をほぼ完全に除去することができ、外部光線遮断用
のフード等を設けなくとも、外部光線が入射するおそれ
のある場所で安定に使用できるうえ、信号成分のレベル
が微小な場合であつても信号対雑音比が極めて高い信号
を取出せるので、塵埃付着時による発光素子の発光強度
低下や受光素子の感度低化等が或る程度生じたとしても
格別の調整等を行なわすに被検出物の移送制御が正確に
てきる被検出物の移送制御装置を提供できる。
となる外部光線等の強弱に応じたものとなるので、雑音
成分をほぼ完全に除去することができ、外部光線遮断用
のフード等を設けなくとも、外部光線が入射するおそれ
のある場所で安定に使用できるうえ、信号成分のレベル
が微小な場合であつても信号対雑音比が極めて高い信号
を取出せるので、塵埃付着時による発光素子の発光強度
低下や受光素子の感度低化等が或る程度生じたとしても
格別の調整等を行なわすに被検出物の移送制御が正確に
てきる被検出物の移送制御装置を提供できる。
第１図は本発明の一実施例の回路構成図、第２ζ図Ａ，
ｂ，ｃは同実施例の動作を説明する為の各部の信号波形
図である。 １・・・・・・発振器、３・・・・・・発光素子、４・
・・・・・受光素子、５・・・・・・ラベル、Ｕ・・・
・・・積分回路、１３・・・・・・比較器。
ｂ，ｃは同実施例の動作を説明する為の各部の信号波形
図である。 １・・・・・・発振器、３・・・・・・発光素子、４・
・・・・・受光素子、５・・・・・・ラベル、Ｕ・・・
・・・積分回路、１３・・・・・・比較器。
Claims (1)
- １ 被検出物の移送経路の側傍に配置され周期的にパル
ス光線を送出する発光体と、この発光体の発光光線を上
記移送経路の他側傍において受光するように配設された
受光素子と、この受光素子の出力を平滑する積分回路と
、この積分回路の出力と前記受光素子の出力とを比較し
て差出力を取出す比較器と、この比較器の差出力に応動
する駆動制御回路と、この駆動制御回路に駆動され上記
被検出物を移送動作する移送機構とを具備したことを特
徴とする被検出物の移送制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53033311A JPS6045819B2 (ja) | 1978-03-23 | 1978-03-23 | 被検出物の移送制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53033311A JPS6045819B2 (ja) | 1978-03-23 | 1978-03-23 | 被検出物の移送制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54126079A JPS54126079A (en) | 1979-09-29 |
| JPS6045819B2 true JPS6045819B2 (ja) | 1985-10-12 |
Family
ID=12383006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53033311A Expired JPS6045819B2 (ja) | 1978-03-23 | 1978-03-23 | 被検出物の移送制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6045819B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5539316Y2 (ja) * | 1975-08-14 | 1980-09-13 |
-
1978
- 1978-03-23 JP JP53033311A patent/JPS6045819B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54126079A (en) | 1979-09-29 |
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