JPS6046428A - Zero-point correcting device of weighing instrument - Google Patents

Zero-point correcting device of weighing instrument

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JPS6046428A
JPS6046428A JP15453783A JP15453783A JPS6046428A JP S6046428 A JPS6046428 A JP S6046428A JP 15453783 A JP15453783 A JP 15453783A JP 15453783 A JP15453783 A JP 15453783A JP S6046428 A JPS6046428 A JP S6046428A
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JP
Japan
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value
weighing
amount
sample point
storage unit
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JP15453783A
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Takashi Hirano
隆志 平野
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Yamato Scale Co Ltd
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Yamato Scale Co Ltd
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  • Weight Measurement For Supplying Or Discharging Of Specified Amounts Of Material (AREA)

Abstract

PURPOSE:To perform high-precision weighing through a weighing instrument which increases in sticking weight with a frequency of weighing by storing estimated values of the sticking weight previously, calculating the sticking weight when weighing is performed specific times, and correcting the zero point. CONSTITUTION:A memory 12 is stored with estimated values beta1-betam of sticking weight at respective sampling points of weighing frequency which are determined previously, and gradient coefficients alpha1-alpham between the estimated values at the respective sampling points. When a weighing signal is generated by the weighing instrument 10, a counter 14 counts the frequency of weighing. Its counted value is read by a read circuit 16 to read the estimated value and gradient coefficient corresponding to a sampling point frequency out of the memory 12, and those and the counted value from the sampling point are applied to a multiplier 18 and an adder 20 to calculate the sticking amount. This calculated value is subtracted out of the measured value to obtain the measured weight.

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、計量器の零点補正装置に関し、特に計量回
数が増加するに従って付着物の量が増加する計量器用の
ものに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a zero point correction device for a measuring instrument, and in particular to a device for a measuring instrument in which the amount of deposits increases as the number of measurements increases.

一般に計量器にも種々のものがあり、例えば計量槽にロ
ードセルを設けたような計量器において粉本等を計量し
ては排出することを繰返した場合、粉体等の一部が排出
しても計量槽に付着し、その付着量が計量回数が増加す
ればするほど、第1図に示すように非線形的に増加する
ものがあった。
In general, there are various types of measuring instruments. For example, if a measuring device with a load cell installed in the measuring tank repeatedly measures and discharges powder, etc., some of the powder, etc. will be discharged. Some of the particles also adhered to the measuring tank, and the amount of the adhered particles increased non-linearly as the number of measurements increased, as shown in FIG.

従来、このような計量器において、正確K 計t する
ために行なう零点補正装置には、第2図に示すように何
回か計量するたびに一珪計量を中止し、そのときの付着
量(第1図に示すal、、β2・・・an)をメモリ2
に記憶させ、次にメモリ2の記憶値を更新するまで1.
計量器4の計量信号からメモリ2の記憶値を減算器6で
減算すΣことか行な4つれていた。しかし、これではメ
モリ2の記憶値を更新するまでの計量回数が多いと、メ
モリ2に記憶されている値と現実の付着量とが離れすぎ
、補正効果が薄れるという問題がある。これを防止する
ために逆にメモリ2の記憶値を更新するまでの計量回数
をヤくすると、計量器の停止回数が増加し、計量能力が
低下するという問題がある。
Conventionally, in such a measuring instrument, the zero point correction device used to accurately measure K.sub.t is used to stop the measurement of one quart after each measurement as shown in FIG. al, , β2...an) shown in FIG.
1. until the next time the stored value in memory 2 is updated.
The value stored in the memory 2 was subtracted by the subtractor 6 from the measurement signal of the measuring device 4. However, this has the problem that if the number of times of measurement is large before updating the value stored in the memory 2, the value stored in the memory 2 and the actual amount of adhesion will be too far apart, and the correction effect will be weakened. In order to prevent this, if the number of measurements taken until the value stored in the memory 2 is updated is reduced, the number of stops of the weighing device will increase, resulting in a decrease in measurement performance.

この発明は、上記の2つの問題を同時に解決するために
なされたもので、第1図に示すように計量回数の増加に
応じて付着量が非線形的に増加する場合、適当な個数の
標本点を定め、それら各標本点における付着量の予測値
b1..b2・・・bnが判明している場合、付着量を
表わす曲線は、各予測値をつなぐ折線(第1図には点線
で示しである)によって近似できることを利用したもの
である。
This invention was made to solve the above two problems at the same time.As shown in Fig. 1, when the amount of adhesion increases non-linearly as the number of measurements increases, is determined, and the predicted value b1. of the adhesion amount at each sample point is determined. .. When b2...bn are known, the curve representing the adhesion amount can be approximated by a broken line (indicated by a dotted line in FIG. 1) connecting each predicted value.

そのため、この発明は、各標本点における付着量の予測
値を記憶すると共に、各標本点間におけるこう配係数を
記憶している記憶部と、n個とn刊個の標本点間におけ
る計量回数をカウントするカウンタと、そのカウント値
と上記記憶部から読み出したn個とn刊個の標本点間の
こう配係数とを乗算する乗算器と、上記カラ/りがカウ
ントしたときの上記計量器の計量信号から」1記乗算器
の乗算値と上記記憶部から読み出したn個目の標本点の
予測値を減算する減算器とから構成されている。
Therefore, the present invention has a storage unit that stores the predicted value of the adhesion amount at each sample point, and also stores the gradient coefficient between each sample point, and the number of measurements between n and nth sample points. A counter for counting, a multiplier for multiplying the count value by a gradient coefficient between n and n sample points read from the storage unit, and a measuring device for measuring when the color/li is counting. The subtracter subtracts the multiplied value of the first multiplier and the predicted value of the n-th sample point read from the storage section from the signal.

このように構成すると、第3図に示すようにn個目の標
本点における予測値をβn、 n刊個目の標本点におけ
る予測値をβ(n+1)とすると、これら両標木点間に
おけるこう配係数o<’nは、(β(n+n1JAで表
わされる。ただし丁はn個と(n+1 )個目の標本点
との間の計量回数である。従って、n個と(n+1)個
目の標本点との間の計量中には、記憶部からOCnとa
nとを読み出し、例えばn個目の標本点から数えて3番
目の計量の際の付着量は3D(n+βnでめられるから
、カウンタのカウント値3とへnとを乗算器で乗算し、
3番目の計量の際の計量信号から乗算値3cxnとan
とを減算器で減算すると真のイis蛾が得られる。
With this configuration, as shown in Figure 3, if the predicted value at the n-th sampling point is βn, and the predicted value at the n-th sampling point is β(n+1), then the The gradient coefficient o<'n is expressed as (β(n+n1JA). However, d is the number of measurements between the n and (n+1)th sample points. During measurement between sample points, OCn and a are stored from the storage unit.
For example, the adhesion amount at the third measurement counting from the nth sample point is determined by 3D (n + βn, so multiply the count value 3 of the counter by n using a multiplier,
Multiply values 3cxn and an from the weighing signal at the third weighing
By subtracting and with a subtractor, we get the true is moth.

これによると、わざわざ計量を中止してメモリの記憶値
を更新する必要がな(、シかも折線近似で付着量を算出
しているので、その精度は非常に高い。
According to this, there is no need to take the trouble to stop the measurement and update the stored value in the memory.Since the adhesion amount is calculated using a polygonal line approximation, the accuracy is very high.

上記の発明では、anには予測値を利用しているので、
その精度は幾分低い。そこで、別の発明では記憶部へは
こう配係数のみを記憶させ、別の記憶部にはn個目の標
本点における現実の付着量を記憶させ、計量器の計量信
号から上記の乗算値とn個目の標本点における現実の付
着量とを減算させている。
In the above invention, since the predicted value is used for an,
Its accuracy is somewhat low. Therefore, in another invention, only the gradient coefficient is stored in the storage section, and the actual adhesion amount at the n-th sample point is stored in another storage section, and the above multiplication value and n The actual adhesion amount at the second sample point is subtracted.

以下、この2つの発明を第4図乃至第6図に示す3つの
実施例に基づいて詳細に説明する。第4図は第1の実施
例を示したもので、同図において10は計量器である。
Hereinafter, these two inventions will be explained in detail based on three embodiments shown in FIGS. 4 to 6. FIG. 4 shows the first embodiment, in which numeral 10 is a measuring instrument.

12はメモリで、各標本点N11N2・・・Nmにおけ
る付着量の予測値β1、β2・・・8mと、各標本点の
予測値間のこう配係数tel、α2・・・O+jmとを
記憶している。
12 is a memory that stores predicted values β1, β2...8m of the adhesion amount at each sample point N11N2...Nm, and gradient coefficients tel, α2...O+jm between the predicted values of each sample point. There is.

これら予測値及びこう配係数は、カウンタ14及び読出
回路I6によって読出される。すなわち、カウンタ14
は、計量器10が発生する計量信号に基づいて計量回数
をカウントする。このカウント値CIは続出回路I6に
供給され、続出回路16は、そのカウント値がN1に達
するまでは(XIとβ1とを読み出しカウント値がN1
を超えN2に達するまではN2とβ2とを読み出す。以
下、同様にして(XmとβI′111で順に読み出す。
These predicted values and gradient coefficients are read out by the counter 14 and readout circuit I6. That is, the counter 14
counts the number of times of weighing based on the weighing signal generated by the weighing device 10. This count value CI is supplied to the continuation circuit I6, and the continuation circuit 16 reads XI and β1 until the count value reaches N1.
N2 and β2 are read until N2 is reached. Thereafter, in the same manner (Xm and βI' 111 are read out in order).

このようにして読み出されたこう配係数は乗算器I8に
、予測値は加算器20に供給される。
The thus read gradient coefficient is supplied to the multiplier I8, and the predicted value is supplied to the adder 20.

乗算器18はカウンタ22のカウント値C2とこう配係
数とを乗算する。カウンタ22も計量信号に基づいて計
量器O1oの計量回数をカウントするものであるが、カ
ウンタ14とは異なるのは、カウンタ14のカウント値
CIがNl、N2・・・Nmに達するごとに読み出回路
16の信号によってリセットされることである。従って
、カウンタ22のカウント値C2は常に成る標本点から
次の標本点までの間の計量回数を表わしている。よって
、先に説明したようにこのカウンタ22のカウント値C
2とこう配係数との乗算値に予測値を加算器2oで加算
した値は、そのときのイ」着量の近似値を表わしている
。この近似値を減算器24で減算することによって零点
補正がなされる。なお、カラン月4は付着物を除去した
際にはリセットされることは、いうまでもない。
The multiplier 18 multiplies the count value C2 of the counter 22 by the gradient coefficient. The counter 22 also counts the number of times of weighing by the scale O1o based on the weighing signal, but is different from the counter 14 in that it is read out every time the count value CI of the counter 14 reaches Nl, N2...Nm. It is reset by the signal of the circuit 16. Therefore, the count value C2 of the counter 22 represents the number of times of measurement from one sample point to the next sample point. Therefore, as explained earlier, the count value C of this counter 22
The value obtained by adding the predicted value to the multiplied value of 2 and the gradient coefficient by the adder 2o represents an approximate value of the amount of I" at that time. Zero point correction is performed by subtracting this approximate value using a subtracter 24. Incidentally, it goes without saying that the Curtain Moon 4 is reset when the deposit is removed.

第2の実施例は、第1の実施例が各標本点の付着量の予
測値を用いたのに対し、各標本点の現実の付着量を用い
た点が異なる。すなわち、第5図に示すようにメモリ2
6にはこう配係数Nl乃至ocmのみを記憶させてあり
、カウンタ14のカウント値C!が旧乃至Nmになった
ときの続出回路16の出力によってメモリ28にそのと
きの現実の付着量を記憶させ、それ以後、減算器30に
よって計量器10の計量信号からメモリ28の記憶値を
減算し、減算器30の減算出力から減算器32によって
乗算器18の出力を減算するものである。予測値よシも
現実の付着量を使用した方が精度はより高くなる。
The second embodiment differs in that the first embodiment uses the predicted value of the amount of adhesion at each sample point, whereas the actual amount of adhesion at each sample point is used. That is, as shown in FIG.
6 stores only the gradient coefficients Nl to ocm, and the count value C! of the counter 14! The actual adhesion amount at that time is stored in the memory 28 by the output of the continuous circuit 16 when the value becomes Nm or Nm, and thereafter, the value stored in the memory 28 is subtracted from the measurement signal of the measuring instrument 10 by the subtractor 30. Then, the output of the multiplier 18 is subtracted by the subtracter 32 from the subtraction output of the subtracter 30. The accuracy will be higher if the actual adhesion amount is used instead of the predicted value.

第3の実施例は、第1及び第2の実施例がこう配係数を
予め定めていたのに対し、所定回数の計量の終了した際
の付着量と、この所定回数の計量を開始する前の何着量
とから次のこう配係数を定めるようにしだ点で異なる。
In contrast to the first and second embodiments, in which the gradient coefficient is predetermined, the third embodiment determines the amount of adhesion upon completion of a predetermined number of measurements and the amount of adhesion before starting this predetermined number of measurements. The difference is that the next gradient coefficient is determined based on the amount of clothing.

すなわち、第6図において、34はカウンタで、計量器
IOの計量信号に基づいて計量回数をカウントし、その
カウント値が所定回数に達すると出力を生成する。36
はメモリで、カウンタ34が新たにカウントを開始する
前の現実の付着量を記憶している。カウンタが所定回数
カウントしたとき計量器)0はそのときの付着量を表わ
す計量信号を生成している。この計量信号とメモリ36
の記憶値との差が、減算器38で得られ、その差は除算
器40によってカラ/りのカウント値で除算され、乗算
器42によって適当な定数Klが乗算され、次のこう配
係数が得られる。これが得られたとき遅延回路44で遅
延されたカウンタ34の出力(カウンタ34のカウント
値が所定値VCfzつだときカウンタ34が生成した出
力)がメモリ36.46、カウンタ34に供給され、メ
モリ36の記憶値はそのときの何着量に更新されると共
に、メモリ46は新たに演算されたこう配係数を記憶し
、カウンタ34がリセットされる。
That is, in FIG. 6, a counter 34 counts the number of measurements based on the measurement signal from the measuring instrument IO, and generates an output when the count value reaches a predetermined number. 36
is a memory that stores the actual amount of adhesion before the counter 34 starts counting anew. When the counter counts a predetermined number of times, the scale (meter) 0 generates a measurement signal representing the amount of adhesion at that time. This weighing signal and memory 36
The difference from the stored value is obtained by a subtracter 38, the difference is divided by the count value of color/di by a divider 40, and multiplied by an appropriate constant Kl by a multiplier 42 to obtain the next gradient coefficient. It will be done. When this is obtained, the output of the counter 34 delayed by the delay circuit 44 (the output generated by the counter 34 when the count value of the counter 34 exceeds the predetermined value VCfz) is supplied to the memory 36.46 and the counter 34, and the memory 36 The stored value is updated to the current amount of clothing, the memory 46 stores the newly calculated gradient coefficient, and the counter 34 is reset.

以後、計量が再開されると、減算器48で計量器の計量
信号からメモリ36の記憶値が減算されると共に、乗算
器59でカウンタ34のカウント値とメモリ46の記憶
値とが乗算される。°減算器52で減算器48の減算出
力から乗算器50の乗算値が減算され、零点補正がされ
る。なお、メモリ46と乗算器50との間に介在する切
換スイッチ54は、当初、こう配係数の演算ができない
ので、当初定数に2をこう配係数として使用するだめの
ものである。
Thereafter, when weighing is restarted, the subtracter 48 subtracts the value stored in the memory 36 from the measurement signal of the scale, and the multiplier 59 multiplies the count value of the counter 34 and the value stored in the memory 46. . The multiplication value of the multiplier 50 is subtracted from the subtracted output of the subtracter 48 by the ° subtracter 52, and zero point correction is performed. Note that since the changeover switch 54 interposed between the memory 46 and the multiplier 50 cannot initially calculate the gradient coefficient, the constant 2 cannot be used as the gradient coefficient initially.

上記の各実施例は普通の計量器にこの発明を実施したも
のであるが、他に組合せ秤に用いる計量器にも実施でき
る。
In each of the embodiments described above, the present invention is implemented in an ordinary measuring instrument, but it can also be implemented in a measuring instrument used in a combination scale.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は計量器における計量回数とその計量器の付着量
との関係を表わす図、第2図は従来の零点補正装置のブ
ロック図、第3図はこの発明による零点補正装置の原理
の説明に用いる図、第4図は同零点補正装置の第1の実
施例のブロック図、第5図は同零点補正装置の第2の実
施例のブロック図、第6図は同零点補正装置の第3の実
施例のブロック図である。 IO・・・計量器、12・・・記憶部、18・・・乗算
器、22・・・カウンタ、24.32.52・・・減算
器、26.46・・・第1の記憶部、2B、36・・・
第2の記憶部。 特許出願人 大和製衡株式会社 代 理 人 清 水 哲 ほか2名 才1図 ’Xzr;v 73 図 手続補正書(自発) 昭和59年11月22− El 1、事件の表示 特願昭58−154537号 2、発明の名称 計量器の零点補正装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 明細書の「発明の詳細な説明」の(αd06 補正の内
容 (月 明細書第5頁第11行目に1付着量」とあるのを
「計量値」と訂正する。 (2) 同第8頁第1行目に「そのときの現実の付着量
」とあるのを「そのときの無負荷時の値である現実の付
着量」と訂正する。 以上
Fig. 1 is a diagram showing the relationship between the number of times of measurement with a measuring instrument and the amount of adhesion on the measuring instrument, Fig. 2 is a block diagram of a conventional zero point correction device, and Fig. 3 is an explanation of the principle of the zero point correction device according to the present invention. 4 is a block diagram of the first embodiment of the zero point correction device, FIG. 5 is a block diagram of the second embodiment of the zero point correction device, and FIG. 6 is a block diagram of the second embodiment of the zero point correction device. FIG. 3 is a block diagram of the third embodiment. IO...Measuring device, 12...Storage unit, 18...Multiplier, 22...Counter, 24.32.52...Subtractor, 26.46...First storage unit, 2B, 36...
Second storage section. Patent applicant Yamato Seiko Co., Ltd. Representative Tetsu Shimizu and two others 1 figure 'Xzr; No. 154537 No. 2, Name of the invention Zero point correction device for measuring instruments 3, Relationship with the person making the amendment (2) In the first line of page 8 of the same page, the phrase “Actual deposition amount at that time” should be changed to “No amount at that time.” The actual adhesion amount is the value under load.''

Claims (1)

【特許請求の範囲】 +11 被計量物品を排出してもその一部が付着物とし
て残ると共に計量回数が増加するに従って上記付着物の
量が非線形的に増加する計量器において、複数回にわた
って計量した際の上記計量回数よりも少ない個数の標本
点における上記付着物の量の予測値を記憶すると共に各
標本点間におけるこう配係数を記憶する記憶部と、n個
目の上記標本点とnn個目のよ記標本点との間における
計量回数をカウントするカウンタと、壬のカウント値と
上記記憶部から読み出したn個目の標本点とn+1個目
の標本点との間のこう配係数とを乗算する乗算器と、上
記カウントをしたときの上記計量器の計量信号から上記
乗算器の乗算値と上記記憶部から読み出したn個目の標
本点における上記付着物の量の予測値とを減算する減算
器とからなる計量器の零点補正装置。 (2)被計量物品を排出してもその一部が付着物と七−
て残ると共に計量回数が増加するに従って上記付着物の
量が非線形的に増加する計量器において、複数回にわた
って計量した際の上記計量回数よりも少ない個数の標本
点における上記付着物の量の予測値間のこう配係数を記
憶する第1の記憶部と、上記各標本点における現実の上
記付着物の量を記憶する第2の記憶部と、n個目とn+
1個目の上記標本点における計量回数をカウントするカ
ウンタと、そのカウント値と第1の記憶部から読み出し
たn個目とn+1個目の標本点との間のこう配係数を乗
算する乗算器と、上記カウントをしたときの上記計量器
の計量信号から上記乗算器の乗算値と第2の記憶部から
読み出したn個目の標本点における上記現実の付着物の
量とを減算する減算器とからなる計量器の零点補正装置
。
[Claims] +11 Even if the article to be weighed is discharged, a part of it remains as deposits, and the amount of deposits increases non-linearly as the number of measurements increases. a storage unit that stores a predicted value of the amount of deposits at a smaller number of sample points than the number of times of measurement at the time of measurement, and also stores a gradient coefficient between each sample point; Multiply the counter that counts the number of measurements between the Noyo sample point and the count value of the bottle by the gradient coefficient between the n-th sample point and the n+1-th sample point read from the storage unit. subtracting the multiplication value of the multiplier and the predicted value of the amount of the deposit at the n-th sample point read from the storage unit from the measurement signal of the measuring device when performing the counting; A zero point correction device for a measuring instrument consisting of a subtracter. (2) Even if the article to be weighed is discharged, some of it may be contaminated with foreign matter.
In a measuring instrument in which the amount of the deposit increases non-linearly as the number of measurements increases, the predicted value of the amount of the deposit at a smaller number of sample points than the number of measurements when measured multiple times. a first storage unit that stores the gradient coefficient between the nth and n+ points; a second storage unit that stores the actual amount of the deposit at each sample point;
a counter that counts the number of measurements at the first sample point; a multiplier that multiplies the count value by a gradient coefficient between the n-th and n+1-th sample points read from the first storage unit; , a subtracter that subtracts the multiplication value of the multiplier and the actual amount of deposits at the n-th sample point read from the second storage unit from the measurement signal of the measuring device when performing the counting; A measuring instrument zero point correction device consisting of:
JP15453783A 1983-08-23 1983-08-23 Zero-point correcting device of weighing instrument Granted JPS6046428A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016017827A (en) * 2014-07-08 2016-02-01 大和製衡株式会社 Combination balance

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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