JPS6046431A - レ−ザ用パワ−メ−タ - Google Patents
レ−ザ用パワ−メ−タInfo
- Publication number
- JPS6046431A JPS6046431A JP13715583A JP13715583A JPS6046431A JP S6046431 A JPS6046431 A JP S6046431A JP 13715583 A JP13715583 A JP 13715583A JP 13715583 A JP13715583 A JP 13715583A JP S6046431 A JPS6046431 A JP S6046431A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser beam
- power meter
- laser
- light receiving
- heat sink
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、レーザ用パワーメータの改良された構成に
関する4ものである。
関する4ものである。
従来この種のレーザ用パワーメー、りとしては、第1図
(a)及びΦ)に示すものがあった。第1図(a)は従
来のレーザ用パワーメータを示す縦断面図、第1図の)
は、第1図(a)のレーザ用パワーメータの裏面図でお
る。上記各図において、1は矢印で示すレーザビーム、
2はレーザビーム1を受ける受光板、3は絶縁板、4は
熱電対、5,6は熱電対4を構成する第1金属及び第2
金属、7は熱電対4の第1金属5と第2金属6との接点
、8はヒートシンク、9は冷却水である。
(a)及びΦ)に示すものがあった。第1図(a)は従
来のレーザ用パワーメータを示す縦断面図、第1図の)
は、第1図(a)のレーザ用パワーメータの裏面図でお
る。上記各図において、1は矢印で示すレーザビーム、
2はレーザビーム1を受ける受光板、3は絶縁板、4は
熱電対、5,6は熱電対4を構成する第1金属及び第2
金属、7は熱電対4の第1金属5と第2金属6との接点
、8はヒートシンク、9は冷却水である。
次に、上記第1図(a)及び(b)の動作について説明
する。レーザビームlのパワーは受光板2に伝わシ、絶
縁板3上に多数個が分布配置された熱電対4は、受光板
2の受けたレーザビームlのパワーがヒートシンク8に
伝達されることによって決定される裏面温度に対応する
熱起電力を発生する。
する。レーザビームlのパワーは受光板2に伝わシ、絶
縁板3上に多数個が分布配置された熱電対4は、受光板
2の受けたレーザビームlのパワーがヒートシンク8に
伝達されることによって決定される裏面温度に対応する
熱起電力を発生する。
各熱電対4は、その第1金属5と第2金属6とが接点7
において接合し、各接点7は絶縁板3上に形成されてい
る。これによシ、省熱電対4をそれぞれ直列接続して絶
縁板3上に配置することにより、各熱電対4が発生する
それぞれの熱起電力の和を出力させ、受光板2の平均的
温度とシートシンク8の温度を検知し、この両者の温度
差ΔTによってレーザビーム1のパワー’t−x出する
様にしている。
において接合し、各接点7は絶縁板3上に形成されてい
る。これによシ、省熱電対4をそれぞれ直列接続して絶
縁板3上に配置することにより、各熱電対4が発生する
それぞれの熱起電力の和を出力させ、受光板2の平均的
温度とシートシンク8の温度を検知し、この両者の温度
差ΔTによってレーザビーム1のパワー’t−x出する
様にしている。
従来のレーザ用パワーメータは以上の様に構成されてい
るので、受光板2の受けたレーザビーム1のパワーがヒ
ートシンク8に伝達される熱通路の限定がなされておら
ず、したがって、レーザビーム1の受光板2への入射位
置の変化によって、主要な熱通路も変化することになる
。このため、レーザビーム1の形状が崩れたル、受光板
2へのレーザビーム1の入射点の軸ずれが生じた)する
と、検知される温度が不正確になるという欠点があった
。
るので、受光板2の受けたレーザビーム1のパワーがヒ
ートシンク8に伝達される熱通路の限定がなされておら
ず、したがって、レーザビーム1の受光板2への入射位
置の変化によって、主要な熱通路も変化することになる
。このため、レーザビーム1の形状が崩れたル、受光板
2へのレーザビーム1の入射点の軸ずれが生じた)する
と、検知される温度が不正確になるという欠点があった
。
この発明は、上記の様な従来のものの欠点を改善する目
的でなされたもので、レーザビームを受ける受光板から
、ヒートシンクへの熱通路を1箇所又は数箇所に限定し
、この熱通゛路の温度差を検出する様にして成る構成と
することによシ、レーザビームの受光板への入射位置の
変化等に左右されずに、正確な温度を検知できるレーザ
用パワーメータを提供するものである。
的でなされたもので、レーザビームを受ける受光板から
、ヒートシンクへの熱通路を1箇所又は数箇所に限定し
、この熱通゛路の温度差を検出する様にして成る構成と
することによシ、レーザビームの受光板への入射位置の
変化等に左右されずに、正確な温度を検知できるレーザ
用パワーメータを提供するものである。
以下、この発明の実施例を図について説明する、第2図
(a)はこの発明の一実施例であるレーザ用パワーメー
タを示す縦断面図、第2図の)は、第2図(a)の17
−ザ用パワーメータにおける検知手段を付加した裏面図
で、第1図(a)及びΦ)と同一部分tよ同一符号を用
いて表示してめシ、その詳細な説明は省略する。上記各
図において、10i11:受光板2とヒートシンク8と
を結合する熱通路でるる。熱電対4は熱通路10の両サ
イド側にそれぞれ設けられている。11は画然電対4の
熱起電力の差を増幅するアンプ、12はメータである。
(a)はこの発明の一実施例であるレーザ用パワーメー
タを示す縦断面図、第2図の)は、第2図(a)の17
−ザ用パワーメータにおける検知手段を付加した裏面図
で、第1図(a)及びΦ)と同一部分tよ同一符号を用
いて表示してめシ、その詳細な説明は省略する。上記各
図において、10i11:受光板2とヒートシンク8と
を結合する熱通路でるる。熱電対4は熱通路10の両サ
イド側にそれぞれ設けられている。11は画然電対4の
熱起電力の差を増幅するアンプ、12はメータである。
上記した構成を有するこの発明の一実施例であるレーザ
用パワーメータで鉱、画然電対4の各指示温度の温度差
ΔTは、熱通路10を通過するレーザビーム1のレーザ
パワーWと1対1で対応している。例えば、受光板2を
、その厚さi b: 1 mmの表面を黒体処理したア
ルミ板となし、このアルミ板の直径λを25mとし、熱
通路lOも同一材料のアルミ板で、その幅dを4瓢、長
さtをImとした場合、熱輻射や熱対流によるパワー損
失は無視できるので、レーザパワーWは、 で表わされる。上記(1)式よシ、20Wのレーザパワ
ーWに対して、温度差Δ’1’=22℃となる。画然電
対4の出力差はアンプ11によシ増幅され、メータ12
への出力とされる。これによシ、レーザパワーWの絶対
値によってメータ12(D−出力を較正することによル
、レーザ用パワーメータが完成され得る。
用パワーメータで鉱、画然電対4の各指示温度の温度差
ΔTは、熱通路10を通過するレーザビーム1のレーザ
パワーWと1対1で対応している。例えば、受光板2を
、その厚さi b: 1 mmの表面を黒体処理したア
ルミ板となし、このアルミ板の直径λを25mとし、熱
通路lOも同一材料のアルミ板で、その幅dを4瓢、長
さtをImとした場合、熱輻射や熱対流によるパワー損
失は無視できるので、レーザパワーWは、 で表わされる。上記(1)式よシ、20Wのレーザパワ
ーWに対して、温度差Δ’1’=22℃となる。画然電
対4の出力差はアンプ11によシ増幅され、メータ12
への出力とされる。これによシ、レーザパワーWの絶対
値によってメータ12(D−出力を較正することによル
、レーザ用パワーメータが完成され得る。
第3図は、第2図(b)のレーザ用パワーメータにおけ
る温度分布を示す図である。第3図には、定常状態にお
ける受光板2の裏面の等温度線Aの温度分布が示されて
おシ、その最°高温度部Bが受光板2へのレーザビーム
1の入射位置である。第3図に示される様に、受光板2
からヒートシンク8への熱通路lOは1箇所に限定され
ているので、レーザビームlの入射位置の変化やレーザ
ビーム1の形状の変化等によっても、熱通路lOの温度
分布に与える影響を実質的に無視できる程度に抑制し得
る。また、風の対流や輻射による熱の流出は、熱通路1
0を通過する熱量に対してほとんど無視できる。これは
、受光板2を単純に、小型に構成することが、上記した
この発明により可能となったことに起因する。同時に、
受光板2の熱容量も構造の単純性から非常に小さくする
ことができ、これにより、応答性の早いパワーモニタを
構成し得る。
る温度分布を示す図である。第3図には、定常状態にお
ける受光板2の裏面の等温度線Aの温度分布が示されて
おシ、その最°高温度部Bが受光板2へのレーザビーム
1の入射位置である。第3図に示される様に、受光板2
からヒートシンク8への熱通路lOは1箇所に限定され
ているので、レーザビームlの入射位置の変化やレーザ
ビーム1の形状の変化等によっても、熱通路lOの温度
分布に与える影響を実質的に無視できる程度に抑制し得
る。また、風の対流や輻射による熱の流出は、熱通路1
0を通過する熱量に対してほとんど無視できる。これは
、受光板2を単純に、小型に構成することが、上記した
この発明により可能となったことに起因する。同時に、
受光板2の熱容量も構造の単純性から非常に小さくする
ことができ、これにより、応答性の早いパワーモニタを
構成し得る。
第4図(a)及び(b)はこの発明の他の実施例である
レーザ用パワーメータを示す縦断面図及び裏面図である
。第4図(a)及び(b)に示すものは、受光板2の形
状を傘屋形状に形成した構成を有し、これによシ、レー
ザビームlの多重反射によって、受光板2のレーザパワ
ーの吸収率を上昇させる様にしたものである。
レーザ用パワーメータを示す縦断面図及び裏面図である
。第4図(a)及び(b)に示すものは、受光板2の形
状を傘屋形状に形成した構成を有し、これによシ、レー
ザビームlの多重反射によって、受光板2のレーザパワ
ーの吸収率を上昇させる様にしたものである。
第5図(a)及びΦ)はこの発明のさらに他の実施例で
あるレーザ用パワーメータを示す縦断面図及び裏面図で
ある。第5図(a)及び(b)に示すものは、受光板2
とヒートシンク8とを結合する熱通路1゜を、受光板2
の背面に設け、熱通路1oの両端側にそれぞれ熱電対4
を配置した構成金有し、これにより、その構成の対称性
を向上させる様にしたものである。
あるレーザ用パワーメータを示す縦断面図及び裏面図で
ある。第5図(a)及び(b)に示すものは、受光板2
とヒートシンク8とを結合する熱通路1゜を、受光板2
の背面に設け、熱通路1oの両端側にそれぞれ熱電対4
を配置した構成金有し、これにより、その構成の対称性
を向上させる様にしたものである。
第6図(a)及び(b)はこの発明のさらに他の実施例
であるレーザ用パワーメータを示す縦断面図及び検知手
段を付加した裏面図である。第6図(a)及び(b)に
示すものは、受光板2とヒートシンク8とを結合する熱
通路10を2箇所設け、それぞれの箇所における画然電
対4の熱起電力の差を各アンプ11によって増幅した後
、加算回路13によって加え、メータ12への出力とす
る様に構成したものである。この場合のレーザパワーW
は、上記(1)式と同様に、 で表わされる。ただし、Δ’11+ΔT、は各熱通路1
0の温度差である。上述した様な構成によシ、レーザパ
ワーWを受けて生じる受光板2の熱変形を有効的に抑止
することが可能となる。
であるレーザ用パワーメータを示す縦断面図及び検知手
段を付加した裏面図である。第6図(a)及び(b)に
示すものは、受光板2とヒートシンク8とを結合する熱
通路10を2箇所設け、それぞれの箇所における画然電
対4の熱起電力の差を各アンプ11によって増幅した後
、加算回路13によって加え、メータ12への出力とす
る様に構成したものである。この場合のレーザパワーW
は、上記(1)式と同様に、 で表わされる。ただし、Δ’11+ΔT、は各熱通路1
0の温度差である。上述した様な構成によシ、レーザパ
ワーWを受けて生じる受光板2の熱変形を有効的に抑止
することが可能となる。
この発明は以上説明した様に、レーザビームを受ける受
光板とヒートシンクとの間の熱通路を、限定された箇所
に設け、この熱通路の温度差を検出する様に構成したの
で、レーザビームの受光板への入射位置の変化等に何ら
影響を受けることなく、極めて正確な温度を検知できる
と共に、非常にコンパクトに構成でき、また、高速度に
応答できるレーザ用パワーメータが得られるという優れ
た効果を奏するものである。
光板とヒートシンクとの間の熱通路を、限定された箇所
に設け、この熱通路の温度差を検出する様に構成したの
で、レーザビームの受光板への入射位置の変化等に何ら
影響を受けることなく、極めて正確な温度を検知できる
と共に、非常にコンパクトに構成でき、また、高速度に
応答できるレーザ用パワーメータが得られるという優れ
た効果を奏するものである。
第1図(a) ti従来のレーザ用パワーメータを示す
縦断面図、第1図(b)は、第1図(a)のレーザ用パ
ワーメータの裏面図、第2図(a)はこの発明の一実施
例であるレーザ用パワーメータを示す縦断面図、第2図
(b)は、第2図(a)のレーザ用パワーメータにおけ
る検知手段を付加した裏面図、第3図は、第2図(b)
のレーザ用パワーメータにおける温度分布を示す図、第
4図(a)及び(b)、第5図(a)及び(b) U、
それぞれこの発明の他の実施例であるレーザ用パワーメ
ータを示す縦断面図及び裏面図、第6図(a)及び(b
)は、この発明のさらに他の実施例であるレーザ用パワ
ーメータを示す縦断面図及び検知手段を付加した裏面図
である。 図において、1・・・レーザビーム、2・・・受光板、
3・・・絶縁板、4・・・熱電対、5・・・第1金属、
6・・・第2金属、7・・・接点、8・・・ヒートシン
ク、9・・・冷却水、10・・・熱通路、11・・・ア
ンプ、12・・・メータ、13・・・加算回路である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 (b) ム (b) 第3図 第4図 (b) (b) 111! 発 手続補正占 ↑、Y許庁長宮殿 レーザ用パワーメータ 3、補正をする者 代表者片山仁へ部 4、代理人 5、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄。 6、補正の内容 (1)明細書第4頁第16行目の「直径λ」を、「直径
」と補正する。
縦断面図、第1図(b)は、第1図(a)のレーザ用パ
ワーメータの裏面図、第2図(a)はこの発明の一実施
例であるレーザ用パワーメータを示す縦断面図、第2図
(b)は、第2図(a)のレーザ用パワーメータにおけ
る検知手段を付加した裏面図、第3図は、第2図(b)
のレーザ用パワーメータにおける温度分布を示す図、第
4図(a)及び(b)、第5図(a)及び(b) U、
それぞれこの発明の他の実施例であるレーザ用パワーメ
ータを示す縦断面図及び裏面図、第6図(a)及び(b
)は、この発明のさらに他の実施例であるレーザ用パワ
ーメータを示す縦断面図及び検知手段を付加した裏面図
である。 図において、1・・・レーザビーム、2・・・受光板、
3・・・絶縁板、4・・・熱電対、5・・・第1金属、
6・・・第2金属、7・・・接点、8・・・ヒートシン
ク、9・・・冷却水、10・・・熱通路、11・・・ア
ンプ、12・・・メータ、13・・・加算回路である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 (b) ム (b) 第3図 第4図 (b) (b) 111! 発 手続補正占 ↑、Y許庁長宮殿 レーザ用パワーメータ 3、補正をする者 代表者片山仁へ部 4、代理人 5、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄。 6、補正の内容 (1)明細書第4頁第16行目の「直径λ」を、「直径
」と補正する。
Claims (1)
- レーザビームを受ける受光板とヒートシンクとの間に1
箇所又は数箇所の限定された熱通路を形成し、この熱通
路の温度差を検出する様にして成ることを特徴とするレ
ーザ用パワーメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13715583A JPS6046431A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | レ−ザ用パワ−メ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13715583A JPS6046431A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | レ−ザ用パワ−メ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6046431A true JPS6046431A (ja) | 1985-03-13 |
Family
ID=15192101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13715583A Pending JPS6046431A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | レ−ザ用パワ−メ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6046431A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6720559B2 (en) | 2000-05-18 | 2004-04-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Infrared sensor |
| US6921195B2 (en) * | 2002-02-12 | 2005-07-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for characterization of devices and circuits |
| WO2010027441A3 (en) * | 2008-08-27 | 2010-06-03 | Heetronix | Power and energy meter for measuring electromagnetic radiation |
| CN103148931A (zh) * | 2013-01-18 | 2013-06-12 | 华北电力大学(保定) | 一种使用小功率探测器探测大功率激光束的装置及方法 |
-
1983
- 1983-07-27 JP JP13715583A patent/JPS6046431A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6720559B2 (en) | 2000-05-18 | 2004-04-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Infrared sensor |
| US6921195B2 (en) * | 2002-02-12 | 2005-07-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for characterization of devices and circuits |
| US7249881B2 (en) | 2002-02-12 | 2007-07-31 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for characterization of devices and circuits |
| WO2010027441A3 (en) * | 2008-08-27 | 2010-06-03 | Heetronix | Power and energy meter for measuring electromagnetic radiation |
| CN103148931A (zh) * | 2013-01-18 | 2013-06-12 | 华北电力大学(保定) | 一种使用小功率探测器探测大功率激光束的装置及方法 |
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