JPS6048074B2 - メモリ回路 - Google Patents
メモリ回路Info
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- JPS6048074B2 JPS6048074B2 JP53014427A JP1442778A JPS6048074B2 JP S6048074 B2 JPS6048074 B2 JP S6048074B2 JP 53014427 A JP53014427 A JP 53014427A JP 1442778 A JP1442778 A JP 1442778A JP S6048074 B2 JPS6048074 B2 JP S6048074B2
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- Japan
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- memory
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Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims description 25
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、多重アドレス法を用いたメモリ回路に関す
る。
る。
絶縁ゲート型電界効果トランジスタを用いたダイナミッ
クメモリ回路装置(以下ダイナミックMOSメモリと称
す)の1チップあたりの記憶容量は急増しており、16
にビットメモリが実用に供されている。
クメモリ回路装置(以下ダイナミックMOSメモリと称
す)の1チップあたりの記憶容量は急増しており、16
にビットメモリが実用に供されている。
かかる記憶容量の増大に伴いアドレス入力数が増え、こ
のことは、メモリの実装密度の面で好ましくない。この
欠点を解決するために一個の入力から時分割により二個
以−ヒのアドレス指定入力を導入する「多重アドレス方
式」が提案された。この方法に従えば、例えばl6にビ
ットメモリのアドレス入力14本が、二重アドレス方式
により半分の7本に減らすことができる。同様にこの二
重アドレス方式によれば、9本のアドレス線で262、
144ビットメモリを実現できる。しかしながら、この
ビット容量を262に×1ビットで、すなわち1個のウ
ェハーチップで構成する場合、従来のように列および行
アドレス指定を同数で行おうとすると列アドレスは、5
ト本のワード線を駆動する必要がでてくる。この場合、
ワード線単位で行なうリフレッシュ処理において一定の
リフレッシュ動作時間の割合、所謂「ビイジイ率」は1
0%近くにあり、メモリ動作の効率上きわめて好ましく
ない。この発明の目的は、多重アドレス方式を用いたメ
モリ回路において、リフレッシュサイクル中に占めるリ
フレッシュ動作時間の割合所謂「ビイジイ率」を小さく
して動作効率を向上したメモリ回路を提供することにあ
る。
のことは、メモリの実装密度の面で好ましくない。この
欠点を解決するために一個の入力から時分割により二個
以−ヒのアドレス指定入力を導入する「多重アドレス方
式」が提案された。この方法に従えば、例えばl6にビ
ットメモリのアドレス入力14本が、二重アドレス方式
により半分の7本に減らすことができる。同様にこの二
重アドレス方式によれば、9本のアドレス線で262、
144ビットメモリを実現できる。しかしながら、この
ビット容量を262に×1ビットで、すなわち1個のウ
ェハーチップで構成する場合、従来のように列および行
アドレス指定を同数で行おうとすると列アドレスは、5
ト本のワード線を駆動する必要がでてくる。この場合、
ワード線単位で行なうリフレッシュ処理において一定の
リフレッシュ動作時間の割合、所謂「ビイジイ率」は1
0%近くにあり、メモリ動作の効率上きわめて好ましく
ない。この発明の目的は、多重アドレス方式を用いたメ
モリ回路において、リフレッシュサイクル中に占めるリ
フレッシュ動作時間の割合所謂「ビイジイ率」を小さく
して動作効率を向上したメモリ回路を提供することにあ
る。
本発明によるメモリ回路は時分制御によりそれ)ぞれが
複数のアドレス情報を導入する所定数のアドレス端子を
有するダイナミックメモリ回路において、上記所定数の
アドレス端子の一部にはそのアドレス情報を記憶する手
段が設けられ、第1のタイミングで上記一部のアドレス
端子はそのアト レス情報を上記記憶する手段に書き込
むと共に他の上記所定数のアドレス端子はそのアドレス
情報をメモリ部のリフリツシユが必要な第1のアドレス
群に対応させ、第2のタイミングで上記所定数のアドレ
ス端子のアドレス情報と上記記憶する手段に記憶された
アドレス情報とをメモリ部の第2のアドレス群に対応さ
せるようにしたことを特徴とする。
複数のアドレス情報を導入する所定数のアドレス端子を
有するダイナミックメモリ回路において、上記所定数の
アドレス端子の一部にはそのアドレス情報を記憶する手
段が設けられ、第1のタイミングで上記一部のアドレス
端子はそのアト レス情報を上記記憶する手段に書き込
むと共に他の上記所定数のアドレス端子はそのアドレス
情報をメモリ部のリフリツシユが必要な第1のアドレス
群に対応させ、第2のタイミングで上記所定数のアドレ
ス端子のアドレス情報と上記記憶する手段に記憶された
アドレス情報とをメモリ部の第2のアドレス群に対応さ
せるようにしたことを特徴とする。
本発明によれば多重アドレス法の利点であるアドレス入
力端子を小数に抑えるという利点を生かしたままでメモ
リ部のリフレッシュの必要なアドレスを大幅に減少させ
ることができるためにリフレッシュ動作時間を減少させ
て回路の動作効率を向上せしめることができる。
力端子を小数に抑えるという利点を生かしたままでメモ
リ部のリフレッシュの必要なアドレスを大幅に減少させ
ることができるためにリフレッシュ動作時間を減少させ
て回路の動作効率を向上せしめることができる。
次に第1図を参照して本発明の一実施例を説明する。
第1図は本発明を262Kビットメモリについて適用し
た場合の例である。
た場合の例である。
アドレス入力端子A。〜A6はXアドレスインバータ4
に導入され、その出力は列デコーダ3に入力され128
本のワード線W,〜Wl3の内の1つを選択するように
構成される。端子爾史は外部から第1の同期信号を受け
てそれをRAS発生回路1に導入してエネーブル信号と
しての同期信号RASを発生させる。この信号RASは
Xアドレスインバータ4、列デコーダ3、X−Y変換回
路9、セルマトリクス2に供給される。またアドレス入
力端子A。−A6およびA7〜〜はYアドレスインバー
タ7に導入され、Yアドレスインバータ7の出力は行デ
コーダ6に入力される。端子O?は外部から第2の同期
信号を受け、それをCAS発生回路10に導入して同期
信号CASを発生し、これをX−Y変換回路9、入出力
回路5、行デコーダ6、Yアドレスインバータ7に供給
する。アドレスインバータ.は周知の如く入力に対し真
補の出力を発生せしめる。X−Y換回路9は信号RAS
によつて2ビットのアドレス入力A7およびA8を書き
込み、信号CASによつて書き込んだA7およびA8な
るアドレス内容を読み出す機能を有し、その出力Al,
a2は!入出力回路5に印加される。次に動作について
述べると、同期信号RASと同期して入力する〜〜への
9本の入力のうちA。−A6までの7本は、Xアドレス
インバータ4に導入され、その出力は列デコーダ3に入
力されさらに列デコーダ3の出力くは、セルマトリクス
のワード線W1〜Wl28を選択駆動する。入力A7,
A8の二つは、X−Y変換回路9にRASに同期して入
力され、CAS信号が入力するまて情報を保持する。次
に信号CASと同期してA。
に導入され、その出力は列デコーダ3に入力され128
本のワード線W,〜Wl3の内の1つを選択するように
構成される。端子爾史は外部から第1の同期信号を受け
てそれをRAS発生回路1に導入してエネーブル信号と
しての同期信号RASを発生させる。この信号RASは
Xアドレスインバータ4、列デコーダ3、X−Y変換回
路9、セルマトリクス2に供給される。またアドレス入
力端子A。−A6およびA7〜〜はYアドレスインバー
タ7に導入され、Yアドレスインバータ7の出力は行デ
コーダ6に入力される。端子O?は外部から第2の同期
信号を受け、それをCAS発生回路10に導入して同期
信号CASを発生し、これをX−Y変換回路9、入出力
回路5、行デコーダ6、Yアドレスインバータ7に供給
する。アドレスインバータ.は周知の如く入力に対し真
補の出力を発生せしめる。X−Y換回路9は信号RAS
によつて2ビットのアドレス入力A7およびA8を書き
込み、信号CASによつて書き込んだA7およびA8な
るアドレス内容を読み出す機能を有し、その出力Al,
a2は!入出力回路5に印加される。次に動作について
述べると、同期信号RASと同期して入力する〜〜への
9本の入力のうちA。−A6までの7本は、Xアドレス
インバータ4に導入され、その出力は列デコーダ3に入
力されさらに列デコーダ3の出力くは、セルマトリクス
のワード線W1〜Wl28を選択駆動する。入力A7,
A8の二つは、X−Y変換回路9にRASに同期して入
力され、CAS信号が入力するまて情報を保持する。次
に信号CASと同期してA。
−A8お9本の入力がYアドレスインバータ7に入力さ
れその出力は、行デコーダ6に入力される。行デコーダ
6の出力は、セルマトリクスに接続している入出力回路
入力される。このときの行デコーダの出力はt=512
のデコーダ出力を選択し、これを入出力回路に与える。
またこのときX−Y変換回路10で記憶された信号RA
Sに同期して書き込まれた信号も信号CASに同期して
読み出されて2ビツトノの出力Al,a2として入出力
回路に与えられる。この結果して入出力回路5は行デコ
ーダ6からの9ビットによつて選択された出力にさらに
2ビット分を加重し、最終的に11ビット分の選択出力
を発生してメモリセル2の行をデコードする。かくして
同期信号RASによつて7ビット入力の列デコーダをイ
ネールにし、同期信号CASによつて11ビットによる
行デコードを行なうことによつてアドレスを完了し、入
出力アンプ8によつてデータの書込み、読み出しが行な
われる。この構成によれば、列デコーダ3の出力は12
8本であり、現存の16Kビットのダイナミックメモリ
ーと同一のリフレッシュ動作ですみ、おかつ262Kビ
ットという大容量メモリーを実現できる。次に第2図に
より本発明の他の実施例を説明する。
れその出力は、行デコーダ6に入力される。行デコーダ
6の出力は、セルマトリクスに接続している入出力回路
入力される。このときの行デコーダの出力はt=512
のデコーダ出力を選択し、これを入出力回路に与える。
またこのときX−Y変換回路10で記憶された信号RA
Sに同期して書き込まれた信号も信号CASに同期して
読み出されて2ビツトノの出力Al,a2として入出力
回路に与えられる。この結果して入出力回路5は行デコ
ーダ6からの9ビットによつて選択された出力にさらに
2ビット分を加重し、最終的に11ビット分の選択出力
を発生してメモリセル2の行をデコードする。かくして
同期信号RASによつて7ビット入力の列デコーダをイ
ネールにし、同期信号CASによつて11ビットによる
行デコードを行なうことによつてアドレスを完了し、入
出力アンプ8によつてデータの書込み、読み出しが行な
われる。この構成によれば、列デコーダ3の出力は12
8本であり、現存の16Kビットのダイナミックメモリ
ーと同一のリフレッシュ動作ですみ、おかつ262Kビ
ットという大容量メモリーを実現できる。次に第2図に
より本発明の他の実施例を説明する。
本実施例ては第1図の前述の実施例におけるX一Y変換
回路9の出力Al,a2を入出力回路5で2ビット加重
するかわりに出力Al,a2をYアドレスインバータ7
に入力A。
回路9の出力Al,a2を入出力回路5で2ビット加重
するかわりに出力Al,a2をYアドレスインバータ7
に入力A。
−A8と共に同期信号CASに対応して、計11ビット
の入力をYアドレスインバータに入力するようにしたも
のである。この場合行デコーダ6の出力線数が2048
本となる。以上本発明を実施例について説明したが本発
明は上述の実施例に制限されるものではなく任意の容量
のメモリに対しても同様に適用でき、またアドレスイン
バータがデコーダ等の構成も制限されるものではない。
の入力をYアドレスインバータに入力するようにしたも
のである。この場合行デコーダ6の出力線数が2048
本となる。以上本発明を実施例について説明したが本発
明は上述の実施例に制限されるものではなく任意の容量
のメモリに対しても同様に適用でき、またアドレスイン
バータがデコーダ等の構成も制限されるものではない。
第1図は、この発明を262Kに適用した場合実施例を
示す回路ブロック図であり、第2図は本発明の他の実施
例を示す回路ブロック図である。
示す回路ブロック図であり、第2図は本発明の他の実施
例を示す回路ブロック図である。
Claims (1)
- 1 時分割制御によりそれぞれが複数のアドレス情報を
導入する所定数のアドレス端子を有するダイナミックメ
モリ回路において、前記所定数のアドレス端子の一部に
はそのアドレス情報を記憶する手段が設けられ、第1の
タイミングで前記一部のアドレス端子はそのアドレス情
報を前記記憶する手段に書き込むと共に前記アドレス端
子の他のものはそのアドレス情報をメモリ部のリフレツ
シヨが必要な第1のアドレス群に割り当て、第2のタイ
ミングで前記所定数のアドレス端子のアドレス情報およ
び前記記憶する手段から読み出したアドレス情報とをメ
モリ部の第2のアドレス群に割り当てるようにしたこと
を特徴とするメモリ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53014427A JPS6048074B2 (ja) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | メモリ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53014427A JPS6048074B2 (ja) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | メモリ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54107229A JPS54107229A (en) | 1979-08-22 |
| JPS6048074B2 true JPS6048074B2 (ja) | 1985-10-25 |
Family
ID=11860716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53014427A Expired JPS6048074B2 (ja) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | メモリ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6048074B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5958689A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-04 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1978
- 1978-02-09 JP JP53014427A patent/JPS6048074B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54107229A (en) | 1979-08-22 |
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