JPS6048700B2 - 表面波法超音波探傷装置 - Google Patents
表面波法超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS6048700B2 JPS6048700B2 JP52006373A JP637377A JPS6048700B2 JP S6048700 B2 JPS6048700 B2 JP S6048700B2 JP 52006373 A JP52006373 A JP 52006373A JP 637377 A JP637377 A JP 637377A JP S6048700 B2 JPS6048700 B2 JP S6048700B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw
- signal
- circuit
- length
- test material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、表面技法超音波探傷において、被検材全面を
一定面積ことに分割し、前記各面積あたりの疵個数およ
び疵長さを検出し、これに基づいて前記各面積ごとの疵
評価を行なう表面技法超音波探傷装置に関する。
一定面積ことに分割し、前記各面積あたりの疵個数およ
び疵長さを検出し、これに基づいて前記各面積ごとの疵
評価を行なう表面技法超音波探傷装置に関する。
表面技法超音波探傷において、被検材表面の平坦度が悪
い場合に、前記被検材の疵評価をエコー高さのみで行な
うと、その評価精度は充分とは言えない。
い場合に、前記被検材の疵評価をエコー高さのみで行な
うと、その評価精度は充分とは言えない。
これは、被検材の疵と、それに対応するエコー高さとの
相関が良好でないことによる。本発明の目的は、表面技
法超音波探傷方法によ・り被検材の疵を検知し、被検材
疵の評価を行なうにあたつて、被検材全面を一定評価面
積ごとに区分し、前記各評価面積あたりの疵個数および
疵長さを求め、これに基づいて、前記各評価面積ごとの
疵評価を行ない、さらに、被検材全体を評価すフる装置
を提供することにある。また、本発明の要旨は、探触子
と被検材とを相対運動させて被検材全面を評価する表面
波法超音波探傷装置において：探触子で検知した信号と
設定レベルとを比較し、さらに、この信号波形を形成す
るゲートレベル波形成形器と；被検材と探触子との相対
的な移動量を検知し、電気信号に変換する移動量検出回
路と；基準長さ信号を発生する基準信号発生器と；前記
ゲートレベル波形成形回路から信号を受けて疵個数をカ
ウントする疵個数計数回路と；前記ゲートレベル波形成
形回路と前記移動量検出回路との論理積信号を受けて疵
長をカウントする疵長計数回路と；前記疵個数計数回路
および疵長計数回路から信号を受けて疵評価値を算出す
る演算装置と：前記演算装置からの信号を出力する出力
装置と；を備えており、被検材の超音波進行方向および
これと直交する方向のそれぞれを、規定のゲート巾およ
び基準長さに区分してなる各評価面積ごとに疵評価値を
算出し、さらにこれに基づいて被検材全面についての疵
評価を行なう表面波法超音波探傷装置にある。
相関が良好でないことによる。本発明の目的は、表面技
法超音波探傷方法によ・り被検材の疵を検知し、被検材
疵の評価を行なうにあたつて、被検材全面を一定評価面
積ごとに区分し、前記各評価面積あたりの疵個数および
疵長さを求め、これに基づいて、前記各評価面積ごとの
疵評価を行ない、さらに、被検材全体を評価すフる装置
を提供することにある。また、本発明の要旨は、探触子
と被検材とを相対運動させて被検材全面を評価する表面
波法超音波探傷装置において：探触子で検知した信号と
設定レベルとを比較し、さらに、この信号波形を形成す
るゲートレベル波形成形器と；被検材と探触子との相対
的な移動量を検知し、電気信号に変換する移動量検出回
路と；基準長さ信号を発生する基準信号発生器と；前記
ゲートレベル波形成形回路から信号を受けて疵個数をカ
ウントする疵個数計数回路と；前記ゲートレベル波形成
形回路と前記移動量検出回路との論理積信号を受けて疵
長をカウントする疵長計数回路と；前記疵個数計数回路
および疵長計数回路から信号を受けて疵評価値を算出す
る演算装置と：前記演算装置からの信号を出力する出力
装置と；を備えており、被検材の超音波進行方向および
これと直交する方向のそれぞれを、規定のゲート巾およ
び基準長さに区分してなる各評価面積ごとに疵評価値を
算出し、さらにこれに基づいて被検材全面についての疵
評価を行なう表面波法超音波探傷装置にある。
以下、図面を参照して、本発明による実施例を説明する
。
。
第１図は、本発明の一実施例を示す概略説明図てある。
図において、１は被検材、２は探触子である。探触子２
から発信された超音波は、点線矢印の方向、すなわち被
検材搬送方向と垂直に伝搬し、その有効探傷距離は、例
えば約６００７ｍである。本実施例では、この有効探傷
距離をほぼ均等に６分割してあり、探触子側からＧ，，
Ｇ。・・・・・・Ｇ。と称することにする。また、前記
Ｇ，，Ｇ。・・・・・・Ｇ。の巾をゲート巾と称する。
被検材搬送方向は、一般に被検材長手方向と一 ．致さ
せるが、この方向に沿つて被検材を評価の都合上、基準
長さΔ１毎に区分する。前記評価面積は、したがつて（
ゲート巾）×（基準長さ）の大きさをもつ。本実施例で
は、ゲート巾は約１００−、基準長さは約４０−にとつ
ている。さて、第２図の如く、例えば被検材のＧ，ゲー
トに相等する個所に３個の疵があつたとする。
から発信された超音波は、点線矢印の方向、すなわち被
検材搬送方向と垂直に伝搬し、その有効探傷距離は、例
えば約６００７ｍである。本実施例では、この有効探傷
距離をほぼ均等に６分割してあり、探触子側からＧ，，
Ｇ。・・・・・・Ｇ。と称することにする。また、前記
Ｇ，，Ｇ。・・・・・・Ｇ。の巾をゲート巾と称する。
被検材搬送方向は、一般に被検材長手方向と一 ．致さ
せるが、この方向に沿つて被検材を評価の都合上、基準
長さΔ１毎に区分する。前記評価面積は、したがつて（
ゲート巾）×（基準長さ）の大きさをもつ。本実施例で
は、ゲート巾は約１００−、基準長さは約４０−にとつ
ている。さて、第２図の如く、例えば被検材のＧ，ゲー
トに相等する個所に３個の疵があつたとする。
そして、被検材１と探触子２との相対運動を行なわずに
探触子２から超音波を発信すると、前記疵３により反射
された反射波が生じる。この関係を例えばブラウン管表
示すると第３図の如くなる。図において、４は入射（発
信）波、５は反射波を示している。また、例えば被検材
を搬送し、この搬送方向に垂直に超音波を発信した場合
の、被検材疵部からの反射波形をアナログ出力と称する
ことにする。
探触子２から超音波を発信すると、前記疵３により反射
された反射波が生じる。この関係を例えばブラウン管表
示すると第３図の如くなる。図において、４は入射（発
信）波、５は反射波を示している。また、例えば被検材
を搬送し、この搬送方向に垂直に超音波を発信した場合
の、被検材疵部からの反射波形をアナログ出力と称する
ことにする。
第２図の如く数個の疵が密集してる場合には、、このア
ナログ出力は、第４図の６に示したようにフなる。アナ
ログ出力のエコー高さＨ２は、第３図の反射波のうちの
最大エコー高さＨ，にほぼ等しく、その幅は、疵３のう
ちの最も長い疵長１に相当する時間ｕで示される大きさ
をもつ。そして、疵相互の間隔が広い場合には、アナ口
；グ出力は、第５図ａのようになる。
ナログ出力は、第４図の６に示したようにフなる。アナ
ログ出力のエコー高さＨ２は、第３図の反射波のうちの
最大エコー高さＨ，にほぼ等しく、その幅は、疵３のう
ちの最も長い疵長１に相当する時間ｕで示される大きさ
をもつ。そして、疵相互の間隔が広い場合には、アナ口
；グ出力は、第５図ａのようになる。
次に、第６図は、本発明による疵評価装置の実施例を説
明するブロック図である。
明するブロック図である。
１０は、探傷装置で、前記アナログ出力を出力する。
ゲートレベル波形成形器１１は、前記アナＪログ出力を
入力し、品質管理上あるいはノイズ対策上から定めた設
定レベルと前記入力信号を比較して、規定以上の疵に対
応する信号をピックアップし、さらにこれを例えば矩形
パルスに形成する。これを第５図ｃに示しておいた。前
記ゲートレベル波形成形器１１の出力信号は、疵個数カ
ウンタ１２およびＡＮＤ回路２１へ加えられる。このア
ナログ出力信号は、前述の説明のとおり疵の密集度が高
い場合には、被検材疵の個数に完全に対応するものでは
ないが、便宜上、この信号の数を疵個数とする。１８は
、メジャーリングロー゛ルで、被検材搬送に伴なう移動
量を検出する。
入力し、品質管理上あるいはノイズ対策上から定めた設
定レベルと前記入力信号を比較して、規定以上の疵に対
応する信号をピックアップし、さらにこれを例えば矩形
パルスに形成する。これを第５図ｃに示しておいた。前
記ゲートレベル波形成形器１１の出力信号は、疵個数カ
ウンタ１２およびＡＮＤ回路２１へ加えられる。このア
ナログ出力信号は、前述の説明のとおり疵の密集度が高
い場合には、被検材疵の個数に完全に対応するものでは
ないが、便宜上、この信号の数を疵個数とする。１８は
、メジャーリングロー゛ルで、被検材搬送に伴なう移動
量を検出する。
パルスジェネレータは、前記メジヤーリングロールに係
合しており、被検材移動量を電気信号に変換するものて
ある。前記パルスジェネレータの出力信号は、増巾器２
０を介して、前記ΛＮＤ回路２１および定距離カウンタ
２２に加えられるが、その波形は、第５図ｂに示してあ
る。定距離カウンタ２２は、前記基準長さΔ１に相当す
るパルス数を数え、この値に達すると、ワンツヨツトパ
ルス発生器２３に信号を与える。ワンツヨツトパルス発
生器２３で、例えば矩形パルスに成形された信号は、ゲ
ート回路１３，２５および遅延タイマ１６，２８に加え
られる。さて、前記ＡＮＤ回路２１には、前述のとおり
、増巾器２０およびゲートレベル波形成形器１１からの
信号（それぞれ第５図Ｂ，ｃに示されている）が入力す
るから、このＡＮＤ回路２１の出力は、第５図ｄのよう
になる。
合しており、被検材移動量を電気信号に変換するものて
ある。前記パルスジェネレータの出力信号は、増巾器２
０を介して、前記ΛＮＤ回路２１および定距離カウンタ
２２に加えられるが、その波形は、第５図ｂに示してあ
る。定距離カウンタ２２は、前記基準長さΔ１に相当す
るパルス数を数え、この値に達すると、ワンツヨツトパ
ルス発生器２３に信号を与える。ワンツヨツトパルス発
生器２３で、例えば矩形パルスに成形された信号は、ゲ
ート回路１３，２５および遅延タイマ１６，２８に加え
られる。さて、前記ＡＮＤ回路２１には、前述のとおり
、増巾器２０およびゲートレベル波形成形器１１からの
信号（それぞれ第５図Ｂ，ｃに示されている）が入力す
るから、このＡＮＤ回路２１の出力は、第５図ｄのよう
になる。
ここでは、論理積ｂをとつて疵長に比例するパルス数だ
け出力しているのが示されている。このパルス信号は、
疵長カウンタ２４に加えられ、基準長さに相当する時間
の間だけカウントされる。基準長さに相当する時間が経
過すると、前記ワンツヨツトパルス発生器１２３よりパ
ルスが送られ、ゲート回路２５のゲートを開く。すると
、前記疵長カウンタでカウントされた値がバッファメモ
リ２６へ送られ、さらにＤ／Ａ変換器２７、増巾器２９
を介して演算装置３０へ入力される。また、前記ワンツ
ヨツトパル，ス発生器２３からのパルスは、遅延タイマ
２８て、例えば２００ｍｓｅｃ程度遅延された後、疵長
カウンタ２４へ加えられ、疵長カウンタ２４をリセット
する。こうして、ある区間の疵長が求められる。同様に
して、疵個数が求められる。
け出力しているのが示されている。このパルス信号は、
疵長カウンタ２４に加えられ、基準長さに相当する時間
の間だけカウントされる。基準長さに相当する時間が経
過すると、前記ワンツヨツトパルス発生器１２３よりパ
ルスが送られ、ゲート回路２５のゲートを開く。すると
、前記疵長カウンタでカウントされた値がバッファメモ
リ２６へ送られ、さらにＤ／Ａ変換器２７、増巾器２９
を介して演算装置３０へ入力される。また、前記ワンツ
ヨツトパル，ス発生器２３からのパルスは、遅延タイマ
２８て、例えば２００ｍｓｅｃ程度遅延された後、疵長
カウンタ２４へ加えられ、疵長カウンタ２４をリセット
する。こうして、ある区間の疵長が求められる。同様に
して、疵個数が求められる。
前述のとおり、疵個数カウンタ１２には、ゲートレベル
波形成形器１１からの信号が加えられ、ここでカウント
した疵個数は、基準長さの探傷が終了すると、前記ワン
ツヨツトパルス発生器２３からのパルスにより、ゲート
回路１３のゲートが開き、バッフアメモニ月４に記憶さ
れる。その直後に、疵個数カウンタ１２は、遅延タイマ
１６を介して加えられたパルス信号によつてリセットさ
れる。前記バッファメモ１月４の情報は、Ｄ／Ａ変換器
１５、増巾器１７を介して演算装置３０へ入力される。
第７図は、演算方法の一例を説明する図てある。増巾器
１７からの疵個数信号は、比較器３２〜３４へ加えられ
、この実施例では３段階の設定レベルＬ，，Ｍ，，Ｈ，
に対する分類が行なわれる。 ′同様に、増巾器２９か
らの疵長信号は、比較器３５〜３７へ加えられ、３段階
の設定レベルＬ。，隅，Ｈ。に対する分類が行なわれる
。各比較器の出力は、例えばその設定レベルより入力信
号が大きい場合は出力有り、小さい場合には出力なしと
ιなるようにする。比較回路３２〜３７からのそれぞ
れの出力は、信号処理回路３８に備えた論理回路に入力
される。この論理回路の出力は、例えば第８図に示され
たように行なわれ、疵個数あるいは疵長のどちらかにウ
ェイトをおいた評価を行なえるようにする。あるいは、
上述の実施例とは異なる方法、例えば比較器３２〜３４
の出力と比較器３５〜３７の出力とにそれぞれ異なる係
数を定めて乗算し、これを加え合わせ、さらに設定値と
比較し分類することも好適である。
波形成形器１１からの信号が加えられ、ここでカウント
した疵個数は、基準長さの探傷が終了すると、前記ワン
ツヨツトパルス発生器２３からのパルスにより、ゲート
回路１３のゲートが開き、バッフアメモニ月４に記憶さ
れる。その直後に、疵個数カウンタ１２は、遅延タイマ
１６を介して加えられたパルス信号によつてリセットさ
れる。前記バッファメモ１月４の情報は、Ｄ／Ａ変換器
１５、増巾器１７を介して演算装置３０へ入力される。
第７図は、演算方法の一例を説明する図てある。増巾器
１７からの疵個数信号は、比較器３２〜３４へ加えられ
、この実施例では３段階の設定レベルＬ，，Ｍ，，Ｈ，
に対する分類が行なわれる。 ′同様に、増巾器２９か
らの疵長信号は、比較器３５〜３７へ加えられ、３段階
の設定レベルＬ。，隅，Ｈ。に対する分類が行なわれる
。各比較器の出力は、例えばその設定レベルより入力信
号が大きい場合は出力有り、小さい場合には出力なしと
ιなるようにする。比較回路３２〜３７からのそれぞ
れの出力は、信号処理回路３８に備えた論理回路に入力
される。この論理回路の出力は、例えば第８図に示され
たように行なわれ、疵個数あるいは疵長のどちらかにウ
ェイトをおいた評価を行なえるようにする。あるいは、
上述の実施例とは異なる方法、例えば比較器３２〜３４
の出力と比較器３５〜３７の出力とにそれぞれ異なる係
数を定めて乗算し、これを加え合わせ、さらに設定値と
比較し分類することも好適である。
また、比較器３２〜３４の出力、比較器３５〜３７の出
力の代わりに、それぞれ増巾器１７及び２９からの出力
信号を加えても良い。上述の実施例では、疵個数および
疵長に関する情報をアナログ信号として演算装置３０へ
入力したが、前記疵個数カウンタ１２および疵長カウン
タ２４として、例えば２進カウンタを用いるなどしてデ
ジタル信号を演算装置３０へ入力する方式をとつても良
い。
力の代わりに、それぞれ増巾器１７及び２９からの出力
信号を加えても良い。上述の実施例では、疵個数および
疵長に関する情報をアナログ信号として演算装置３０へ
入力したが、前記疵個数カウンタ１２および疵長カウン
タ２４として、例えば２進カウンタを用いるなどしてデ
ジタル信号を演算装置３０へ入力する方式をとつても良
い。
要するに、あるゲートＧｉ（ｉ＝１，２，・・・・・・
６）の、ある基準長さ区間Δ１ｉ（ｉ＝１，２，・・・
・・・ｎ）に相当する評価単位面積内の疵個数及び疵長
を検出し、この情報を演算装置３０て処理した結果が、
被検材の実際の疵状況と正しい相関をもつような演算処
理を行なうことができる方法ならば、いずれの方法も本
発明を実施するに好適であると云える。
６）の、ある基準長さ区間Δ１ｉ（ｉ＝１，２，・・・
・・・ｎ）に相当する評価単位面積内の疵個数及び疵長
を検出し、この情報を演算装置３０て処理した結果が、
被検材の実際の疵状況と正しい相関をもつような演算処
理を行なうことができる方法ならば、いずれの方法も本
発明を実施するに好適であると云える。
さて、演算装置３０で各評価面積ごとに演算した結果は
、演算装置３０の出力信号であり、表示装置３１に加え
られる。
、演算装置３０の出力信号であり、表示装置３１に加え
られる。
表示装置３１は、例えば高速度マルチプレクサーを備え
ており、演算装置３０からの入力信号を各評価面積ごと
にサンプリングし、これをディスプレイするものである
。また、演算装置３０は、各評価面積ごとの演算結果を
記憶しておき、被検材全面に対する疵パターンを算出す
る。そして、予め定めた条件と比較して、例えは被検材
全面の疵状況、被検材中央部の疵状況等を判定し、被検
材の良否判定および全面スカーフ指令といつた後工程処
理を定める。この判定は、例えばプリンター４０を介し
て出力する。上述の説明のとおり、本発明の装置によれ
ば、ク表面波法超音波探傷方式での被検材評価がオンラ
イン方式で可能であり、かつ評価精度が極めて良好にな
る。
ており、演算装置３０からの入力信号を各評価面積ごと
にサンプリングし、これをディスプレイするものである
。また、演算装置３０は、各評価面積ごとの演算結果を
記憶しておき、被検材全面に対する疵パターンを算出す
る。そして、予め定めた条件と比較して、例えは被検材
全面の疵状況、被検材中央部の疵状況等を判定し、被検
材の良否判定および全面スカーフ指令といつた後工程処
理を定める。この判定は、例えばプリンター４０を介し
て出力する。上述の説明のとおり、本発明の装置によれ
ば、ク表面波法超音波探傷方式での被検材評価がオンラ
イン方式で可能であり、かつ評価精度が極めて良好にな
る。
第１図は本発明の実施例を示す概略平面図、第２図は被
検材の疵状況の一例を示す概略平面図、第３図は被検材
と探触子との相対運動を行なわない場合の反射波形の一
例を示すグラフ、第４図および第５図ａは、本発明装置
によるアナログ出力の一例を示すグラフ、第５図ｂは本
発明の実施例装置の増巾器２０からの出力を示すグラフ
、第５図ｃは同様にゲートレベル波形成形器１１からの
出力を示すグラフ、第５図ｄはＡＮＤ回路２１の出力を
示すグラフ、第６図は本発明による疵評価装置の実施例
を説明するブロック図、第７図は本発明の演算装置３０
の変形例を示す図、第８図は信号処理装置の論理判断を
説明する図である。 １：被検材、２：探触子、３：疵、４：入射波、５：反
射波、６：アナログ出力、１０：探傷装置、１１：ゲー
トレベル波形成形器、１２：疵個数カウンタ、１３：ゲ
ート回路、１４：バツフアメモリ、１５：Ｄ／Ａ変換器
、１６：遅延タイマ、１７：増巾器、１８：メジヤーリ
ングロール、１９：パルスジエネレータ、２０：増巾器
、２１：ＡＮＤ回路、２２：定距離カウンタ、２３：ワ
ンツヨツトパルス発生器、２４疵長カウンタ、２５：ゲ
ート回路、２６：バツフアメモリ、．２７：Ｄ／Ａ変換
器、２８：遅延タイマ、２９：増巾器、３０：演算装置
、３１：表示装置、３２〜３７：比較器、３８：信号処
理回路、４０：プリンター、Ｇ，，Ｇ２，・・・・・・
Ｇ６：ゲート巾、Δ１：基準長さ。
検材の疵状況の一例を示す概略平面図、第３図は被検材
と探触子との相対運動を行なわない場合の反射波形の一
例を示すグラフ、第４図および第５図ａは、本発明装置
によるアナログ出力の一例を示すグラフ、第５図ｂは本
発明の実施例装置の増巾器２０からの出力を示すグラフ
、第５図ｃは同様にゲートレベル波形成形器１１からの
出力を示すグラフ、第５図ｄはＡＮＤ回路２１の出力を
示すグラフ、第６図は本発明による疵評価装置の実施例
を説明するブロック図、第７図は本発明の演算装置３０
の変形例を示す図、第８図は信号処理装置の論理判断を
説明する図である。 １：被検材、２：探触子、３：疵、４：入射波、５：反
射波、６：アナログ出力、１０：探傷装置、１１：ゲー
トレベル波形成形器、１２：疵個数カウンタ、１３：ゲ
ート回路、１４：バツフアメモリ、１５：Ｄ／Ａ変換器
、１６：遅延タイマ、１７：増巾器、１８：メジヤーリ
ングロール、１９：パルスジエネレータ、２０：増巾器
、２１：ＡＮＤ回路、２２：定距離カウンタ、２３：ワ
ンツヨツトパルス発生器、２４疵長カウンタ、２５：ゲ
ート回路、２６：バツフアメモリ、．２７：Ｄ／Ａ変換
器、２８：遅延タイマ、２９：増巾器、３０：演算装置
、３１：表示装置、３２〜３７：比較器、３８：信号処
理回路、４０：プリンター、Ｇ，，Ｇ２，・・・・・・
Ｇ６：ゲート巾、Δ１：基準長さ。
Claims (1)
- １ 探触子と被検材とを相対運動させて被検材全面を評
価する表面波法超音波探傷装置において：探触子で検知
した信号と設定レベルとを比較し、さらに、この信号波
形を形成するゲートレベル波形成形器と；被検材と探触
子との相対的な移動量を検知し、電気信号に変換する移
動量検出回路と；基準長さ信号を発生する基準信号発生
器と；前記ゲートレベル波形成形回路から信号を受けて
疵個数をカウントする疵個数計数回路と；前記ゲートレ
ベル波形成形回路と前記移動量検出回路との論理積信号
を受けて疵長をカウントする疵長計数回路と；前記疵個
数計数回路および疵長計数回路から信号を受けて疵評価
値を算出する演算装置と；前記演算装置からの信号を出
力する出力装置と；を備えており、超音波進行方向およ
びこれと直交する方向のそれぞれについて規定のゲート
巾および基準長さに区分してなる被検材の各評価面積ご
とに疵評価値を算出し、さらにこれに基づいて被検材全
面について疵評価を行なうことを特徴とする、表面波法
超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52006373A JPS6048700B2 (ja) | 1977-01-25 | 1977-01-25 | 表面波法超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52006373A JPS6048700B2 (ja) | 1977-01-25 | 1977-01-25 | 表面波法超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5392186A JPS5392186A (en) | 1978-08-12 |
| JPS6048700B2 true JPS6048700B2 (ja) | 1985-10-29 |
Family
ID=11636561
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52006373A Expired JPS6048700B2 (ja) | 1977-01-25 | 1977-01-25 | 表面波法超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6048700B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58103661A (ja) * | 1981-12-16 | 1983-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | 探傷デ−タ信号処理装置 |
| JP5372875B2 (ja) * | 2010-09-10 | 2013-12-18 | 日立Ｇｅニュークリア・エナジー株式会社 | アレイ探触子を用いた超音波探傷方法及び装置 |
-
1977
- 1977-01-25 JP JP52006373A patent/JPS6048700B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5392186A (en) | 1978-08-12 |
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