JPS6049844B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
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- JPS6049844B2 JPS6049844B2 JP52099306A JP9930677A JPS6049844B2 JP S6049844 B2 JPS6049844 B2 JP S6049844B2 JP 52099306 A JP52099306 A JP 52099306A JP 9930677 A JP9930677 A JP 9930677A JP S6049844 B2 JPS6049844 B2 JP S6049844B2
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- Japan
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- wavelength
- data
- measurement
- output
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- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、各種の分光学的測定に利用される分光光
度計に関する。
度計に関する。
まず、本発明に到達する直接の背景から説明する。
医学生物学の分野では、臨床上あるいは研究J上しばし
ば分光学的測定法が利用される。例えば光吸収を測定し
て血液中の微量成分を同定したり光散乱を測定して細胞
内微少器官の動態を追跡したりすることが行なわれてい
る。さらに最近では、ファイバ●オプティックスの発達
により、測定光を直接生体組織に導き、生きたままで生
体組織の代謝動態を追跡することも行なわれている。こ
のような生体組織の代謝の監視を行なうには、組織の吸
収スペクトル特性を得たり、特定波長の吸光度の時間経
過を追跡したり、また、2波長吸収測光としてよく知ら
れている特定2波長における吸光度の差の時間経過を迫
跡したり、組織のある状態と別の状態(例えば、細胞内
呼吸代謝系の酸化状態と還元状態)の吸収スペクトルの
差スペクトルを得る等、様々なモードで分光学的測定を
行なうことが非常に有効で、ぜひ必要なことである。こ
の発明は、上記のような各種のモードの分光学的測定を
任意に行なうことができる、すなわち多目的に使用する
ことができる分光光度計を提供すべくなされたものであ
る。ところで、従来は各種の測定態様に適応するように
各種の形式の分光光度計が商品化されている。
ば分光学的測定法が利用される。例えば光吸収を測定し
て血液中の微量成分を同定したり光散乱を測定して細胞
内微少器官の動態を追跡したりすることが行なわれてい
る。さらに最近では、ファイバ●オプティックスの発達
により、測定光を直接生体組織に導き、生きたままで生
体組織の代謝動態を追跡することも行なわれている。こ
のような生体組織の代謝の監視を行なうには、組織の吸
収スペクトル特性を得たり、特定波長の吸光度の時間経
過を追跡したり、また、2波長吸収測光としてよく知ら
れている特定2波長における吸光度の差の時間経過を迫
跡したり、組織のある状態と別の状態(例えば、細胞内
呼吸代謝系の酸化状態と還元状態)の吸収スペクトルの
差スペクトルを得る等、様々なモードで分光学的測定を
行なうことが非常に有効で、ぜひ必要なことである。こ
の発明は、上記のような各種のモードの分光学的測定を
任意に行なうことができる、すなわち多目的に使用する
ことができる分光光度計を提供すべくなされたものであ
る。ところで、従来は各種の測定態様に適応するように
各種の形式の分光光度計が商品化されている。
周知のように最も基本的なものは、光源からの光のうち
ある特定の波長の光のみを単色器によつて選択して、そ
の光を被測定物に照射するとともに、被測定物からの光
を光電子増倍管等の光検知器て受光し、その出力を増幅
し、記録計に経時的に描かせるものである。また、単色
器を2系統備え、異なる2種の波長による測定を交互に
行ない、両者の出力を演算し、両波長の差吸収を記録計
に経時的に描かせるもので、2波長分光光度計と称され
ているものがある。さらに、被測定物の吸収波長スペク
トル特性を得るためのもので、自記分光光度計と呼ばれ
ているものは、単色器に波!長走査機構を設けて単色計
の出力波長を自動的に変化させ、光検知器,増幅器の出
力信号をX−Y記録計のY軸入力に、上記波長走査機構
の波長送り情報をX軸入力にそれぞれ印加することによ
り、スペクトル特性を描かせるように構成されて3いる
。また、高速波長走査法として知られているラピッドス
キャン分光光度計と呼ばれているものは、1例をあげれ
ば、被測定物に白色光を照射して被測定物からの光を分
光器に導入し、この分光器の出射スリット上(分光され
た各波長の光が分4散されて結像する)にフォトダイオ
ードアレイ等のイメージセンサを配置し、このイメージ
センサの各受光点の出力(各波長に対応する)を電気的
な高速走査によつて取り出し、これを増幅してメモリス
コープ等の応答の速い表示装置に出力し、スペクトル特
性を描かせるものである。前述のように、被測定物によ
り、またどのような情報を得たいかにより必要な測定系
が異なつてくるのであるが、上記の従来の各測定装置は
、それぞれある特定の測定態様に対応し、その測定に便
宜ならしめるように構成されたものである。
ある特定の波長の光のみを単色器によつて選択して、そ
の光を被測定物に照射するとともに、被測定物からの光
を光電子増倍管等の光検知器て受光し、その出力を増幅
し、記録計に経時的に描かせるものである。また、単色
器を2系統備え、異なる2種の波長による測定を交互に
行ない、両者の出力を演算し、両波長の差吸収を記録計
に経時的に描かせるもので、2波長分光光度計と称され
ているものがある。さらに、被測定物の吸収波長スペク
トル特性を得るためのもので、自記分光光度計と呼ばれ
ているものは、単色器に波!長走査機構を設けて単色計
の出力波長を自動的に変化させ、光検知器,増幅器の出
力信号をX−Y記録計のY軸入力に、上記波長走査機構
の波長送り情報をX軸入力にそれぞれ印加することによ
り、スペクトル特性を描かせるように構成されて3いる
。また、高速波長走査法として知られているラピッドス
キャン分光光度計と呼ばれているものは、1例をあげれ
ば、被測定物に白色光を照射して被測定物からの光を分
光器に導入し、この分光器の出射スリット上(分光され
た各波長の光が分4散されて結像する)にフォトダイオ
ードアレイ等のイメージセンサを配置し、このイメージ
センサの各受光点の出力(各波長に対応する)を電気的
な高速走査によつて取り出し、これを増幅してメモリス
コープ等の応答の速い表示装置に出力し、スペクトル特
性を描かせるものである。前述のように、被測定物によ
り、またどのような情報を得たいかにより必要な測定系
が異なつてくるのであるが、上記の従来の各測定装置は
、それぞれある特定の測定態様に対応し、その測定に便
宜ならしめるように構成されたものである。
しかし、本発明者らが直接の測定対象としている生体組
織についての光測定を考えた場合、あるフ時必要なのは
吸光度の時間経過であり、またある時欲しいのは組織の
吸収波長スペクトル情報であつたりする。さらに、生体
組織のように複雑に入り込んだ多成分系では、一連の代
謝反応に関与する可能性があるとして、測定しておくべ
き吸収デ門−タの波長範囲も非常に広いものとなる。そ
こで本発明により提供しようとする分光光度計は、単一
の光学系を用いて一度に広い波長域の測定データを取得
し、そのデータを必要な形に整理,加工して出力するよ
うにした装置てある。すなわち本発明に係る分光光度計
は、被測定物に光を照射してこの被測定物よりの測定光
を受光し、波長走査を繰返して各波長毎の受光レベルに
対応したアナログ信号を出力する光学走査装置と、この
光学走査装置のアナログ信号出力をデジタル信号に変換
するA−D変換器と、このA−D変換器から出力される
とともに、各波長λ1〜λmに対応させた状態で、かつ
各動作周期x1〜Xn毎にそれぞれブ罎ンク化した状態
の測定データを記憶する記憶装置と、測定内容を設定す
るための設定手段と、この設定手段による設定内容に基
づき、上記記憶装置から必要な測定データを読み出すと
ともに、必要によりその測定データを選択して所定の演
算を施すデータ選択演算手段と、このデータ選択演算手
段によつて選択演算された測定データを出力するための
出力装置とから構成されるものである。以下、この発明
の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
織についての光測定を考えた場合、あるフ時必要なのは
吸光度の時間経過であり、またある時欲しいのは組織の
吸収波長スペクトル情報であつたりする。さらに、生体
組織のように複雑に入り込んだ多成分系では、一連の代
謝反応に関与する可能性があるとして、測定しておくべ
き吸収デ門−タの波長範囲も非常に広いものとなる。そ
こで本発明により提供しようとする分光光度計は、単一
の光学系を用いて一度に広い波長域の測定データを取得
し、そのデータを必要な形に整理,加工して出力するよ
うにした装置てある。すなわち本発明に係る分光光度計
は、被測定物に光を照射してこの被測定物よりの測定光
を受光し、波長走査を繰返して各波長毎の受光レベルに
対応したアナログ信号を出力する光学走査装置と、この
光学走査装置のアナログ信号出力をデジタル信号に変換
するA−D変換器と、このA−D変換器から出力される
とともに、各波長λ1〜λmに対応させた状態で、かつ
各動作周期x1〜Xn毎にそれぞれブ罎ンク化した状態
の測定データを記憶する記憶装置と、測定内容を設定す
るための設定手段と、この設定手段による設定内容に基
づき、上記記憶装置から必要な測定データを読み出すと
ともに、必要によりその測定データを選択して所定の演
算を施すデータ選択演算手段と、このデータ選択演算手
段によつて選択演算された測定データを出力するための
出力装置とから構成されるものである。以下、この発明
の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明に係る分光光度計の全体のブロック図で
ある。
ある。
符号Aで示すA部は、本装置が動作するのに必要なデー
タを入力するための操作部てある。B部は本装置の光学
系の部分であり、被測定物はこの部分に設置される。C
部は本装置の電気回路系を示し、B部で得られた光信号
はこのC部において電気信号に変換されるとともに、必
要な処理が加えられてアナログ信号として出力される。
D部はC部の出力であるアナログ信号をデジタル信号に
変換するA−D変換部、E部はD部の出力であるデジタ
ル信号を波長に対応させて記5憶する記憶部、F部はE
部に記憶されたデータを必要な形に加工するための演算
回路、G部は必要な形に整理,加工された最終的なデー
タを出力する出力部である。これら以外の部分は、上記
の各要部にデータを転送するのに必要な制御を行なうj
デジタル制御部である(これをH部とする)。各構成部
分の細部の動作説明に入る前に本装置の動作サイクルの
概略を説明する。光学系(B部)の1回の波長走査に対
応する一連の動作サイクルは3つの期間に分けられる。
第1番目の期間Iは、光学系(B部),電気回路系(C
部),A−D変換器D−1によつて1回の波長走査毎に
得られたデジタル信号の測定データ(これを原始データ
と呼ぶことにする)を、上記記憶部(E部)の高速記憶
回路E−1 (一時記憶用)に波長に対応5させて書込
む期間てある。第2番目の期間■は、第1期間1で上記
高速記憶回路E−1に記憶された1走査分の原始データ
を、記憶部(E部)に別個に設けられた大容量記憶装置
E−2(固定記憶用で、磁気テープ記録装置等を用いる
)に転送して書込む期間である(なお、これによつて高
速記憶回路E−1の記憶データが消失するものではない
)。第3番目の期間■は、高速記憶回路E−1に記憶さ
れた原始データのうち必要なデータを読出し、場合によ
つてはそのデータに必要な演算を施し、この選択,演算
されたデータ(これを整理データと呼ふことにする)を
出力部(C部)て出力する期間である。以上の3つの期
間の各動作により、本装置の1回の波長走査に伴う1サ
イクルの動作か完了し(以下、動作周期と呼ふ)、この
動作が高速で繰返される。また本装置ては、光学系(B
部)における実際の測定に並行して上述の動作が行なわ
れるリアルタイムモードと呼ぶべき動作モードの他に、
再生モードとも呼ぶべき動作モードがある。
タを入力するための操作部てある。B部は本装置の光学
系の部分であり、被測定物はこの部分に設置される。C
部は本装置の電気回路系を示し、B部で得られた光信号
はこのC部において電気信号に変換されるとともに、必
要な処理が加えられてアナログ信号として出力される。
D部はC部の出力であるアナログ信号をデジタル信号に
変換するA−D変換部、E部はD部の出力であるデジタ
ル信号を波長に対応させて記5憶する記憶部、F部はE
部に記憶されたデータを必要な形に加工するための演算
回路、G部は必要な形に整理,加工された最終的なデー
タを出力する出力部である。これら以外の部分は、上記
の各要部にデータを転送するのに必要な制御を行なうj
デジタル制御部である(これをH部とする)。各構成部
分の細部の動作説明に入る前に本装置の動作サイクルの
概略を説明する。光学系(B部)の1回の波長走査に対
応する一連の動作サイクルは3つの期間に分けられる。
第1番目の期間Iは、光学系(B部),電気回路系(C
部),A−D変換器D−1によつて1回の波長走査毎に
得られたデジタル信号の測定データ(これを原始データ
と呼ぶことにする)を、上記記憶部(E部)の高速記憶
回路E−1 (一時記憶用)に波長に対応5させて書込
む期間てある。第2番目の期間■は、第1期間1で上記
高速記憶回路E−1に記憶された1走査分の原始データ
を、記憶部(E部)に別個に設けられた大容量記憶装置
E−2(固定記憶用で、磁気テープ記録装置等を用いる
)に転送して書込む期間である(なお、これによつて高
速記憶回路E−1の記憶データが消失するものではない
)。第3番目の期間■は、高速記憶回路E−1に記憶さ
れた原始データのうち必要なデータを読出し、場合によ
つてはそのデータに必要な演算を施し、この選択,演算
されたデータ(これを整理データと呼ふことにする)を
出力部(C部)て出力する期間である。以上の3つの期
間の各動作により、本装置の1回の波長走査に伴う1サ
イクルの動作か完了し(以下、動作周期と呼ふ)、この
動作が高速で繰返される。また本装置ては、光学系(B
部)における実際の測定に並行して上述の動作が行なわ
れるリアルタイムモードと呼ぶべき動作モードの他に、
再生モードとも呼ぶべき動作モードがある。
ごの再生モードは、一連の必要な測定が完了した後に、
上記大容量記憶装置E−2に記録した原始データを再ひ
読出し、これを整理,加工して任意の整理データを得、
出力部(G部)て出力するものてある。なお、A部の操
作盤A−1の詳細を示す第2図において、符号2で示す
出力モード切換スイッチが、上記リアルタイムモードと
再生モードを選択するスイッチである。再生モードの詳
細については最後に説明する。次に、上記光学系(B部
)の詳細について説明する。
上記大容量記憶装置E−2に記録した原始データを再ひ
読出し、これを整理,加工して任意の整理データを得、
出力部(G部)て出力するものてある。なお、A部の操
作盤A−1の詳細を示す第2図において、符号2で示す
出力モード切換スイッチが、上記リアルタイムモードと
再生モードを選択するスイッチである。再生モードの詳
細については最後に説明する。次に、上記光学系(B部
)の詳細について説明する。
第1図において、B−1は光源であり、必要となる光量
,安定性等を考慮してキセノンランプやハロゲンランプ
等が使用される。B−2は分光器であつて、本装置ては
回折格子を使用した分光器を用いており、配置はツエル
ニー・ターナー型てある。B−3は分光器B−2の出力
波長を走査する波長走査機構、B−4は波長走査機構B
−3に附随して設けられた波長読取機構、B−5は分光
器B−2の出力光を被測定物に導くとともに被測定物か
ら測定光を導出する測定部てある。上記の波長走査機構
B−3および波長読取機構B−4の一例について第3図
〜第5図に示す。本装置の波長走査は、ツエルニー・タ
ーナー型に配置された回折格子を、この回折格子をその
刻線方向と垂直な平面で切断した場合の、その切断面の
中心を通り、かつ刻線方向に平行な軸の回りに回転振動
させることにより行なう。第3図において、43は上記
回転振動の中心軸となるトーシヨンバーである。すなわ
ち、回折格子41は、回折格子保持具に適切に保持され
、この保持具に回折格子41の中心となるように固着さ
れたトーシヨンバー43によつて支持される。そして、
上記回折格子保持具は、電磁駆動機構によりトーシヨン
ノバー43の共振周波数て矢印のごとく回転振動する。
これによつて、分光器B−2の出力波長が一定の波長域
を高速て繰返し変化するのてある。また第3図において
、上記回折格子41の裏面には回折格子41の回折面と
平行に凹面鏡42が7固着されている。波長読取桟構用
の光源47より放射された光は、集光レンズ46て集め
られ、波長読取用パタン45を通過する。この波長読取
用パタン45は第4図に示すような模様をもつたもので
、充分に薄いステンレス板にフオトエッチン9グ等によ
り製作したものである。第A図の模様のうち、白地の部
分は光を通過させる部分てあり、斜線の部分は光を遮断
する部分てある。この波長読取用パタン45を通過した
光は、上記の凹面鏡42に照射され、これによつて第3
図の仮想平面A面上に結像するように集められる。上記
A面の像はレンズ44により拡大され、B面に上記パタ
ン45の拡大像が結像される。
,安定性等を考慮してキセノンランプやハロゲンランプ
等が使用される。B−2は分光器であつて、本装置ては
回折格子を使用した分光器を用いており、配置はツエル
ニー・ターナー型てある。B−3は分光器B−2の出力
波長を走査する波長走査機構、B−4は波長走査機構B
−3に附随して設けられた波長読取機構、B−5は分光
器B−2の出力光を被測定物に導くとともに被測定物か
ら測定光を導出する測定部てある。上記の波長走査機構
B−3および波長読取機構B−4の一例について第3図
〜第5図に示す。本装置の波長走査は、ツエルニー・タ
ーナー型に配置された回折格子を、この回折格子をその
刻線方向と垂直な平面で切断した場合の、その切断面の
中心を通り、かつ刻線方向に平行な軸の回りに回転振動
させることにより行なう。第3図において、43は上記
回転振動の中心軸となるトーシヨンバーである。すなわ
ち、回折格子41は、回折格子保持具に適切に保持され
、この保持具に回折格子41の中心となるように固着さ
れたトーシヨンバー43によつて支持される。そして、
上記回折格子保持具は、電磁駆動機構によりトーシヨン
ノバー43の共振周波数て矢印のごとく回転振動する。
これによつて、分光器B−2の出力波長が一定の波長域
を高速て繰返し変化するのてある。また第3図において
、上記回折格子41の裏面には回折格子41の回折面と
平行に凹面鏡42が7固着されている。波長読取桟構用
の光源47より放射された光は、集光レンズ46て集め
られ、波長読取用パタン45を通過する。この波長読取
用パタン45は第4図に示すような模様をもつたもので
、充分に薄いステンレス板にフオトエッチン9グ等によ
り製作したものである。第A図の模様のうち、白地の部
分は光を通過させる部分てあり、斜線の部分は光を遮断
する部分てある。この波長読取用パタン45を通過した
光は、上記の凹面鏡42に照射され、これによつて第3
図の仮想平面A面上に結像するように集められる。上記
A面の像はレンズ44により拡大され、B面に上記パタ
ン45の拡大像が結像される。
B面上には第3図の紙面に垂直な方向にフォトトランジ
スタ等の4個の受光器48a,48b,48c,48d
が配設されている。この4個の受光器48a〜48dは
、第4図に示すように、上記パタン45の4列の模様に
それぞれ対応させて配置してあり、各受光器48a〜4
8dの出力が、第1図に示す波長信号回路H−2内のア
ップダウンカウンタの入力となる。さて、回折格子41
の回転振動につれて凹面鏡42が回転振動すると、B面
に結像されたパタン45の像も振動し、第4図における
受光器48a〜48dに対してパタン45の像が相対的
に左右に移動することとなる。
スタ等の4個の受光器48a,48b,48c,48d
が配設されている。この4個の受光器48a〜48dは
、第4図に示すように、上記パタン45の4列の模様に
それぞれ対応させて配置してあり、各受光器48a〜4
8dの出力が、第1図に示す波長信号回路H−2内のア
ップダウンカウンタの入力となる。さて、回折格子41
の回転振動につれて凹面鏡42が回転振動すると、B面
に結像されたパタン45の像も振動し、第4図における
受光器48a〜48dに対してパタン45の像が相対的
に左右に移動することとなる。
第4図に示す模様のパタン45の像が受光器48a〜4
8dを横切ることにより、各受光器48a〜48dに入
射する光量が変化し、これに従つてその出力レベルは上
下する。この各受光器48a〜48dの出力信号を入力
とする上記波長信号回路H−2では、第5図の表に従つ
て波長信号回路H−2内のアップダウンカウンタを動作
させる。第5図において、1↑ョは受光器の出力信号が
低レベルから高レベルに変化する状態を示し1↓ョは上
記出力信号が高レベルから低レベルに変化する状態を示
し、また、RHiョは上記出力信号が高レベルである状
態を示し、1カョは上記出力信号が低レベルである状態
を示す。さらに1※ョは受光器の出力信号のレベルがい
ずれであつても良いことを示す。そして、この表に示す
各受光器48a〜48cの出力の状態に応じて、上記ア
ップダウンカウンタがカウントアップあるいはカウント
ダウンされる。すなわち第4図に従つて説明すれば、パ
タン45が右から左へ移動するときは、上記アツプダウ
ンカウン5夕はパタン45の模様の1ピッチ毎に1づつ
カウントアップされ、逆に左から右へ移動するときは、
1づつカウントダウンされる。なお、第5図のRset
Jというのは、この状態で波長信号回路H−2の出力が
波長走査の初期値に設定されるこ4とを意味する。上記
の構成により、第3図の回折格子41が回転振動して波
長走査が行なわれるのに伴つて、波長信号回路H−2は
その波長に対応したデジタル信号(波長信号と呼ぶ)を
出力する。
8dを横切ることにより、各受光器48a〜48dに入
射する光量が変化し、これに従つてその出力レベルは上
下する。この各受光器48a〜48dの出力信号を入力
とする上記波長信号回路H−2では、第5図の表に従つ
て波長信号回路H−2内のアップダウンカウンタを動作
させる。第5図において、1↑ョは受光器の出力信号が
低レベルから高レベルに変化する状態を示し1↓ョは上
記出力信号が高レベルから低レベルに変化する状態を示
し、また、RHiョは上記出力信号が高レベルである状
態を示し、1カョは上記出力信号が低レベルである状態
を示す。さらに1※ョは受光器の出力信号のレベルがい
ずれであつても良いことを示す。そして、この表に示す
各受光器48a〜48cの出力の状態に応じて、上記ア
ップダウンカウンタがカウントアップあるいはカウント
ダウンされる。すなわち第4図に従つて説明すれば、パ
タン45が右から左へ移動するときは、上記アツプダウ
ンカウン5夕はパタン45の模様の1ピッチ毎に1づつ
カウントアップされ、逆に左から右へ移動するときは、
1づつカウントダウンされる。なお、第5図のRset
Jというのは、この状態で波長信号回路H−2の出力が
波長走査の初期値に設定されるこ4とを意味する。上記
の構成により、第3図の回折格子41が回転振動して波
長走査が行なわれるのに伴つて、波長信号回路H−2は
その波長に対応したデジタル信号(波長信号と呼ぶ)を
出力する。
本装置においては、上記波長信号の最小ビットは波長変
化にして1nmに相当する。また本装置の波長走査域は
350nm〜700nmである。また、上記測定部B−
5の具体例について第6図に基づき説明する。
化にして1nmに相当する。また本装置の波長走査域は
350nm〜700nmである。また、上記測定部B−
5の具体例について第6図に基づき説明する。
第6図において、分光器B−2の出力光はビームスプリ
ッタ52によつて二分され、一方の光は光ファイバ54
を通つて測定対象物試料56に照射され、他方の光はミ
ラー573により進路を変えられ光ファイバ55を通つ
て測定対象物試料56に対する標準試料57に照射され
る。測定対象物試料56は生体臓器等であり、これに対
する標準試料57は、測定対象物側と相まつていわゆる
ダブルビームを構成して、光・源変動等の影響を除去す
るととともに、両光路の光量のレベルを合せるためのも
のであり、例えば酸化マグネシュウムの白色散乱板等が
用いられる。各試料56,57を通つた光は、それぞれ
再び光ファイバ54,55で集められ、上記電気回・路
系(C部)の光検出器58,59(光電子増倍管等)に
それぞれ受光される。第1図に示すC部における光検出
器C−1は、上述のダブルビームに対応する2系統の光
検出器58,59に相当する。
ッタ52によつて二分され、一方の光は光ファイバ54
を通つて測定対象物試料56に照射され、他方の光はミ
ラー573により進路を変えられ光ファイバ55を通つ
て測定対象物試料56に対する標準試料57に照射され
る。測定対象物試料56は生体臓器等であり、これに対
する標準試料57は、測定対象物側と相まつていわゆる
ダブルビームを構成して、光・源変動等の影響を除去す
るととともに、両光路の光量のレベルを合せるためのも
のであり、例えば酸化マグネシュウムの白色散乱板等が
用いられる。各試料56,57を通つた光は、それぞれ
再び光ファイバ54,55で集められ、上記電気回・路
系(C部)の光検出器58,59(光電子増倍管等)に
それぞれ受光される。第1図に示すC部における光検出
器C−1は、上述のダブルビームに対応する2系統の光
検出器58,59に相当する。
この光検出器C−1の出力はそれぞれ増幅器C−2によ
り増幅され、吸光度を算出するためにそれぞれ対数変換
器C−3を通つて対数変換される。この対数変換器C−
3の2系統の出力は差動増幅器C−4に入力され、これ
により、上記標準試料57に対する測定対象物試料56
の吸光度が求められ、このアナログ信号出力がA−D変
換器D−1によつてデジタル信号に変換される。次に、
上部A−D変換器D−1から出力される測定データを上
記高速記憶回路E−1に書き込むまでの動作(すなわち
上記期間1の動作)について説明する。
り増幅され、吸光度を算出するためにそれぞれ対数変換
器C−3を通つて対数変換される。この対数変換器C−
3の2系統の出力は差動増幅器C−4に入力され、これ
により、上記標準試料57に対する測定対象物試料56
の吸光度が求められ、このアナログ信号出力がA−D変
換器D−1によつてデジタル信号に変換される。次に、
上部A−D変換器D−1から出力される測定データを上
記高速記憶回路E−1に書き込むまでの動作(すなわち
上記期間1の動作)について説明する。
第2図に示す操作盤A−1において、4は測定の開始を
指示するスタートスイッチ、5は測定の終了を指示する
ストップスイッチであつて、まず、上記出力モード切換
スイッチ2をリアルタイムモードにしてスタートスイッ
チ4を0Nにする。
指示するスタートスイッチ、5は測定の終了を指示する
ストップスイッチであつて、まず、上記出力モード切換
スイッチ2をリアルタイムモードにしてスタートスイッ
チ4を0Nにする。
すると、波長走査機構B−3が動作し、分光器B−2内
の回折格子が回転振動して波長走査が行なわれるととも
に、分光器B−2の出射スリントから出射する光の波長
に対応した波長読取機構B−4の出力信号により、波長
信号回路H−2の出力が決定される。波長信号回路H−
2から出力される波長信号は9ビットのデジタル信号で
、この波長信号はゲートH−3を通つてアドレスバスA
DRに乗せられる。このアドレスバスADR上のデータ
は波長信号回路H−2よりの読込み指令信号S4のタイ
ミングで、制御信号回路群H−1に読込まれる。また、
上記波長信号が1ビットづつ変化するに応じて、すなわ
ち分光器B−2の出力波長が1nm変化するに応じて、
制御信号回路群H−1はA一D変換器D−1に変換開始
指令信号S2を送出する。
の回折格子が回転振動して波長走査が行なわれるととも
に、分光器B−2の出射スリントから出射する光の波長
に対応した波長読取機構B−4の出力信号により、波長
信号回路H−2の出力が決定される。波長信号回路H−
2から出力される波長信号は9ビットのデジタル信号で
、この波長信号はゲートH−3を通つてアドレスバスA
DRに乗せられる。このアドレスバスADR上のデータ
は波長信号回路H−2よりの読込み指令信号S4のタイ
ミングで、制御信号回路群H−1に読込まれる。また、
上記波長信号が1ビットづつ変化するに応じて、すなわ
ち分光器B−2の出力波長が1nm変化するに応じて、
制御信号回路群H−1はA一D変換器D−1に変換開始
指令信号S2を送出する。
これを受けてA−D変換器D−1によつて高速て変換が
行なわれ、これが終了すると変換終了信号S3を制御信
号回路群H−1へ送出する。この信号S3を受けて制御
信号回路群H−1は、信号亀によりゲートH−10を開
いて、デジタル変換された測光データをデータバスDA
TAに乗せ、また、信号S6によりゲートH−4を開く
とともに書込み指令信号S24に送つて、高速記憶回路
E−1に上記測光データを書込む。この際、高速記憶回
路E−1に対するアドレス指定は、先に波長信号回路H
−2より制御信号回路群H−1に送り込まれた波長信号
に基づいてなされ、上記測定データは、その測光データ
が得られたときの分光器B−2の出力波長に対応した位
置に書込まれる。この高速記憶回路E−1はランダム・
アクセス型の半導体メモリ(RAM)て構成されていて
、上記の各波長における測光データは12ビットからな
るとともにアドレスも13ビットからなり、1慟作周期
分つまり16回の波長走査分のデータが格納できる。す
なわち、制御信号回路群H−1は、波長信号回路H−2
よりの波長走査カウント信号S7を受けて波長信号回路
H−2からの9ビットの波長信号に順次累加させるビッ
トを付加し、高速記憶回路E−1に対する13ビットの
アドレス情報を提供する。そして、高速記憶回路E−1
に記憶されたあるデータは、1慟作周期の間だけこの記
憶回路E−1に留めることができる。したがつて本装置
では、波長走査が繰返されることによつて次々と得られ
る原始データは、第7図の表に示すように、各波長λ1
〜λ、に対応させた状態で、また各動作周期X1〜Xn
毎にそれぞれブロック化した状態で順次高速記憶回路E
−1に書込まれることになる。
行なわれ、これが終了すると変換終了信号S3を制御信
号回路群H−1へ送出する。この信号S3を受けて制御
信号回路群H−1は、信号亀によりゲートH−10を開
いて、デジタル変換された測光データをデータバスDA
TAに乗せ、また、信号S6によりゲートH−4を開く
とともに書込み指令信号S24に送つて、高速記憶回路
E−1に上記測光データを書込む。この際、高速記憶回
路E−1に対するアドレス指定は、先に波長信号回路H
−2より制御信号回路群H−1に送り込まれた波長信号
に基づいてなされ、上記測定データは、その測光データ
が得られたときの分光器B−2の出力波長に対応した位
置に書込まれる。この高速記憶回路E−1はランダム・
アクセス型の半導体メモリ(RAM)て構成されていて
、上記の各波長における測光データは12ビットからな
るとともにアドレスも13ビットからなり、1慟作周期
分つまり16回の波長走査分のデータが格納できる。す
なわち、制御信号回路群H−1は、波長信号回路H−2
よりの波長走査カウント信号S7を受けて波長信号回路
H−2からの9ビットの波長信号に順次累加させるビッ
トを付加し、高速記憶回路E−1に対する13ビットの
アドレス情報を提供する。そして、高速記憶回路E−1
に記憶されたあるデータは、1慟作周期の間だけこの記
憶回路E−1に留めることができる。したがつて本装置
では、波長走査が繰返されることによつて次々と得られ
る原始データは、第7図の表に示すように、各波長λ1
〜λ、に対応させた状態で、また各動作周期X1〜Xn
毎にそれぞれブロック化した状態で順次高速記憶回路E
−1に書込まれることになる。
ところで、1回の波長走査によつて得られたデータを高
速記憶回路E−1に書込む動作が終了すると、第2番目
の期間■の動作に移る。
速記憶回路E−1に書込む動作が終了すると、第2番目
の期間■の動作に移る。
すなわち、高速記憶回路E−1に書込んだばかりの1走
査分のデータを、大容量記憶装置E−2に転送する動作
である。まず、制御信号回路群H−1は波長走査カウン
ト信号を受けて、1回の波長走査の終了を検知すると、
信号S6,S8によりゲートH一4,H−9を開き、転
送開始指令信号S9を大容量記憶装置E−2に送り、同
時に制御信号回路群H−1よりアドレスバスADRにア
ドレス指令を送り、データバスDATAを介して高速記
憶回路E−1のデータを大容量記憶装置E−2へ転送す
る。なお大容量記憶装置E−2では、上記の転送データ
とともに、このデータが得られた動作周期番号に対応す
るラベルが記録される。この際のラベル番号は、第2図
の表示盤A−1における表示器15に4桁の数字で表示
される。このようにして、1走査分のデータの大容量記
憶装置E−2への転送が終ると、この記憶装置E−2は
転送完了信号SlOを制御信号回路群H−1へ送り、こ
れによつて本装置は第3番目の期間■の動作へ移行する
。期間■では、前述のように高速記憶回路E−1に記憶
された原始データから、適宜に選択,演算された整理デ
ータを得て出力部(G部)に送出するのであるが、これ
には事前に、どのように整ノ理,加工した整理データを
得るのかを(これを測定モードと呼ふ)、操作盤A−1
によつて設定しておかなければならない。
査分のデータを、大容量記憶装置E−2に転送する動作
である。まず、制御信号回路群H−1は波長走査カウン
ト信号を受けて、1回の波長走査の終了を検知すると、
信号S6,S8によりゲートH一4,H−9を開き、転
送開始指令信号S9を大容量記憶装置E−2に送り、同
時に制御信号回路群H−1よりアドレスバスADRにア
ドレス指令を送り、データバスDATAを介して高速記
憶回路E−1のデータを大容量記憶装置E−2へ転送す
る。なお大容量記憶装置E−2では、上記の転送データ
とともに、このデータが得られた動作周期番号に対応す
るラベルが記録される。この際のラベル番号は、第2図
の表示盤A−1における表示器15に4桁の数字で表示
される。このようにして、1走査分のデータの大容量記
憶装置E−2への転送が終ると、この記憶装置E−2は
転送完了信号SlOを制御信号回路群H−1へ送り、こ
れによつて本装置は第3番目の期間■の動作へ移行する
。期間■では、前述のように高速記憶回路E−1に記憶
された原始データから、適宜に選択,演算された整理デ
ータを得て出力部(G部)に送出するのであるが、これ
には事前に、どのように整ノ理,加工した整理データを
得るのかを(これを測定モードと呼ふ)、操作盤A−1
によつて設定しておかなければならない。
そこで、本装置における各測定モードのそれぞれについ
て説明する。
て説明する。
測定モードは基本的に次の7(イ),(口),(ハ)の
3つに分けられ、この3つの測定モードの選択は、第2
図に示す操作盤A−1における測定モード切換スイッチ
1によつて行なう。(イ)第1の測定モードは、指定し
た特定波長についての吸光度の時間経過による変動を観
察するものである。すなわち、1回の波長走査によりλ
1からλmまで1nm毎の波長に対応した原始データが
得られるが、このうち指定した特定波長についてのデー
タのみを選択し、そのデータを出力部(G部)における
記録計G−1に供給し、これにその時間経過を描かせる
のである。この際の波長の指定は、第2図に示す波長設
定スイッチ8〜13によつて行なう。この6個の波長設
定スイッチ8〜13はそれぞれに波長を設定できるデジ
タルスイッチであつて、本装置では、この波長設定スイ
ッチ8〜13に設定した6種の波長についてのそれぞれ
のデータを、多ペン型である上記記録計計G−1で出力
させることができる。この測定モード(イ)の動作を詳
細に説明する。
3つに分けられ、この3つの測定モードの選択は、第2
図に示す操作盤A−1における測定モード切換スイッチ
1によつて行なう。(イ)第1の測定モードは、指定し
た特定波長についての吸光度の時間経過による変動を観
察するものである。すなわち、1回の波長走査によりλ
1からλmまで1nm毎の波長に対応した原始データが
得られるが、このうち指定した特定波長についてのデー
タのみを選択し、そのデータを出力部(G部)における
記録計G−1に供給し、これにその時間経過を描かせる
のである。この際の波長の指定は、第2図に示す波長設
定スイッチ8〜13によつて行なう。この6個の波長設
定スイッチ8〜13はそれぞれに波長を設定できるデジ
タルスイッチであつて、本装置では、この波長設定スイ
ッチ8〜13に設定した6種の波長についてのそれぞれ
のデータを、多ペン型である上記記録計計G−1で出力
させることができる。この測定モード(イ)の動作を詳
細に説明する。
まず操作盤A−1に設定した内容は信号S1により制御
信号回路H−1に伝えられる。そして、前述のように期
間1および期間■の動作が終了すると、制御信号回路H
−1は、上記の波長設定スイッチに設定された波長のア
ドレス情報をアドレスバスADRに乗せ、同時に信号S
6を発してゲートH−4を開くとともに読出し指令信号
S2Oを送つて、高速記憶回路E−1中の指定された波
長に対応したデータをデータバスDATMに送出する。
信号回路H−1に伝えられる。そして、前述のように期
間1および期間■の動作が終了すると、制御信号回路H
−1は、上記の波長設定スイッチに設定された波長のア
ドレス情報をアドレスバスADRに乗せ、同時に信号S
6を発してゲートH−4を開くとともに読出し指令信号
S2Oを送つて、高速記憶回路E−1中の指定された波
長に対応したデータをデータバスDATMに送出する。
また同時に、信号Sllによ2りゲートH−14を開き
、データバスDATA上のデータをD−A変換器H−1
9へ供給し、そのデータをアナログ信号に変換して記録
計G一1への入力とする。本装置においては、6つの異
なる設定波長に対応して6つのD−A変換2器H−19
が用意されている。このため、上記のデータ出力サイク
ルを期間■の動作状態において6回繰返すことになる。
このようにして、第1の測定モード(イ)においては、
記録計G−1を時間送りすることにより吸光度データの
時間3(変化が6つの異なる波長について記録できる。
(ロ)第2の測定モードは、波長スペクトル測定ともい
うべきもので、出力部(G部)に1回の波長走査データ
を各波長における吸光度の関数として表示するものであ
る。したがつて本測定モ3jードでは上述の波長の設定
は不要である。この測定モード(口)の動作を詳細に説
明する。
、データバスDATA上のデータをD−A変換器H−1
9へ供給し、そのデータをアナログ信号に変換して記録
計G一1への入力とする。本装置においては、6つの異
なる設定波長に対応して6つのD−A変換2器H−19
が用意されている。このため、上記のデータ出力サイク
ルを期間■の動作状態において6回繰返すことになる。
このようにして、第1の測定モード(イ)においては、
記録計G−1を時間送りすることにより吸光度データの
時間3(変化が6つの異なる波長について記録できる。
(ロ)第2の測定モードは、波長スペクトル測定ともい
うべきもので、出力部(G部)に1回の波長走査データ
を各波長における吸光度の関数として表示するものであ
る。したがつて本測定モ3jードでは上述の波長の設定
は不要である。この測定モード(口)の動作を詳細に説
明する。
前述の期間1および期間■の動作が終了し、期間■の動
作状態に入ると、制御信号回路群H−1は、波長走査域
の最初の波長λ1のデータの4C格納番地に対応するア
ドレス情報をアドレスバスADRに乗せ、同時に信号S
6によりゲートH−4を開くとともに読出し指令信号S
2Oを送出して、高速記憶回路E−1中の指定されたデ
ータをデータバスDATAに乗せる。この状態で信号S
l6,Sl7を発してゲートH−5およびゲートH−6
を開く。斯くして、データバスDATA上の吸光度デー
タはD−A変換器H一11によつてアナログ信号に変換
され、メモリスコープG−3のY軸入力となる。
作状態に入ると、制御信号回路群H−1は、波長走査域
の最初の波長λ1のデータの4C格納番地に対応するア
ドレス情報をアドレスバスADRに乗せ、同時に信号S
6によりゲートH−4を開くとともに読出し指令信号S
2Oを送出して、高速記憶回路E−1中の指定されたデ
ータをデータバスDATAに乗せる。この状態で信号S
l6,Sl7を発してゲートH−5およびゲートH−6
を開く。斯くして、データバスDATA上の吸光度デー
タはD−A変換器H一11によつてアナログ信号に変換
され、メモリスコープG−3のY軸入力となる。
またアドレスバス.ADR上のデータは、減算器等から
なる論理回路H−12で適当な大きさの数値に整値され
、D−A変換器H−13の入力となる。このD−A変換
器H−13のアナログ信号出力は、メモリスコープG−
3のX軸入力となつて、メモリスコープG−3の水平軸
を駆動する。この一連の動作が完了すると制御信号回路
群H−1は、アドレス情報を1ビット歩進し、上記の一
連の動作を行なう。
なる論理回路H−12で適当な大きさの数値に整値され
、D−A変換器H−13の入力となる。このD−A変換
器H−13のアナログ信号出力は、メモリスコープG−
3のX軸入力となつて、メモリスコープG−3の水平軸
を駆動する。この一連の動作が完了すると制御信号回路
群H−1は、アドレス情報を1ビット歩進し、上記の一
連の動作を行なう。
このようにして1nmづつの波長走査域の最終波長λm
にいたるまで、1nmづつの波長送りで各波長の吸光度
データがメモリスコープG−3のY軸に供給され、この
メモリスコープG−3に波長スペクトル特性が描かれる
。(ハ)第3の測定モードは、2波長吸収測定モードと
もいうべきものて、指定した2種の波長の吸光度差が出
力され、その時間経過が記録できる。
にいたるまで、1nmづつの波長送りで各波長の吸光度
データがメモリスコープG−3のY軸に供給され、この
メモリスコープG−3に波長スペクトル特性が描かれる
。(ハ)第3の測定モードは、2波長吸収測定モードと
もいうべきものて、指定した2種の波長の吸光度差が出
力され、その時間経過が記録できる。
この測定モード(ハ)では、ます操作盤A−1の波長設
定スイッチ8〜13により、差吸収を求めるべき2波長
の指定を行なう。この装置では3組の2波長を設定する
ことがてきる。スイッチ8と9,スイッチ10と11,
スイッチ12と13に、それぞれ2波長差吸収を測定す
べき1組となる2種の波長を設定する。例えば、スイッ
チ8と9にそれぞれ波長λaとλbを設定すれは、2波
長差吸光度D(λa)−D(λb)が出力されるのであ
る。この測定モード(ハ)の動作を詳細に説明する。
定スイッチ8〜13により、差吸収を求めるべき2波長
の指定を行なう。この装置では3組の2波長を設定する
ことがてきる。スイッチ8と9,スイッチ10と11,
スイッチ12と13に、それぞれ2波長差吸収を測定す
べき1組となる2種の波長を設定する。例えば、スイッ
チ8と9にそれぞれ波長λaとλbを設定すれは、2波
長差吸光度D(λa)−D(λb)が出力されるのであ
る。この測定モード(ハ)の動作を詳細に説明する。
前述の期間1および期間■の動作が終了し、期間■の動
作状態に入ると、制御信号回路群H一1は、まず波長設
定スイッチ8に設定された波長に対応したアドレト情報
をアドレスバスADRに乗せ、同時に信号S6によりゲ
ートH−4を開くとともに読出し指令信号S9を送出し
て、高速記憶回路E−1中の指定された波長のデータを
データバスDATAに乗せる。
作状態に入ると、制御信号回路群H一1は、まず波長設
定スイッチ8に設定された波長に対応したアドレト情報
をアドレスバスADRに乗せ、同時に信号S6によりゲ
ートH−4を開くとともに読出し指令信号S9を送出し
て、高速記憶回路E−1中の指定された波長のデータを
データバスDATAに乗せる。
この状態で、信号Sl9によりゲートH−7を開き、演
算回路群F−1に読込み指令信号S22を送り、これに
よりデータバスDATA上のデータは演算回路群F−1
内のレジスタに格納される。以上の動作が完了すると、
制御信号回路群H−1は、次に波長設定スイッチ9に設
定された波長!に対応したアドレト情報をアドレスバス
ADRに乗せ、上記と同様に、信号S6でゲートH−4
を開くとともに読出し指令信号S2Oを送出して、高速
記憶回路E−1中の指定された波長データをデータバス
DATAに乗せる。この状態1で、信号Sl9によりゲ
ートH−7を開くとともに読込み指令信号S22を送出
し、データバスDATA上のデータを演算回路群F−1
内のレジスタに格納する。以上で波長設定スイッチ8お
よび9に設定した波長のデータが、それぞれ−演算回路
群F−1内のレジスタに格納された。上記演算回路群F
−1は、一時記憶用のレジスタaと、加算器、減算器、
割算器からなる演算論理回路bと、バツフアゲートcよ
りなる。前述までの動作により演算回路群F−1のレジ
,スタaに格納された2種の波長についての2つのデー
タは、演算論理回路bの減算器によつて減算され、その
結果(差データ)はバツフアゲートcに一時記憶される
。この直後に、制御信号回路群H−1は、信号ぉを発し
て上記バツフアゲートc内のデータをデータバスDAT
A上に導出するとともに、信号Sl。によりゲートH−
14を開き、そのデータをD−A変換器H−19に入力
する。そして、D−A変換器H−19によつてアナログ
信号に変換された上記演算結果が記録計G−1の入力と
なる。上述のように、本装置ては3組の2波長差吸光度
が出力されるようになつている。
算回路群F−1に読込み指令信号S22を送り、これに
よりデータバスDATA上のデータは演算回路群F−1
内のレジスタに格納される。以上の動作が完了すると、
制御信号回路群H−1は、次に波長設定スイッチ9に設
定された波長!に対応したアドレト情報をアドレスバス
ADRに乗せ、上記と同様に、信号S6でゲートH−4
を開くとともに読出し指令信号S2Oを送出して、高速
記憶回路E−1中の指定された波長データをデータバス
DATAに乗せる。この状態1で、信号Sl9によりゲ
ートH−7を開くとともに読込み指令信号S22を送出
し、データバスDATA上のデータを演算回路群F−1
内のレジスタに格納する。以上で波長設定スイッチ8お
よび9に設定した波長のデータが、それぞれ−演算回路
群F−1内のレジスタに格納された。上記演算回路群F
−1は、一時記憶用のレジスタaと、加算器、減算器、
割算器からなる演算論理回路bと、バツフアゲートcよ
りなる。前述までの動作により演算回路群F−1のレジ
,スタaに格納された2種の波長についての2つのデー
タは、演算論理回路bの減算器によつて減算され、その
結果(差データ)はバツフアゲートcに一時記憶される
。この直後に、制御信号回路群H−1は、信号ぉを発し
て上記バツフアゲートc内のデータをデータバスDAT
A上に導出するとともに、信号Sl。によりゲートH−
14を開き、そのデータをD−A変換器H−19に入力
する。そして、D−A変換器H−19によつてアナログ
信号に変換された上記演算結果が記録計G−1の入力と
なる。上述のように、本装置ては3組の2波長差吸光度
が出力されるようになつている。
すなわち制御信号回路群H−1は、次に、波長設定スイ
ッチ10と11に設定された1組の波長について上記と
同様な一連の制御を行ない、得られた演算結果を記録計
G−1の他の入力とし、さらに次に、波長設定スイッチ
12と13に設定された1組の波長について同様な制御
を行なう。斯くして、記録計G−1を時間送りすること
により、3組の2波長差吸光度の時間経過が描かれるの
てある。以上3つの測定モード(イ),(口),(ハ)
の動作説明は、第2図に示す操作盤A−1における出力
モードスイッチ2がリアルタイムモードに設定され、ま
た、平均回数指定スイッチ6がRlJに設定されている
場合の動作てある。
ッチ10と11に設定された1組の波長について上記と
同様な一連の制御を行ない、得られた演算結果を記録計
G−1の他の入力とし、さらに次に、波長設定スイッチ
12と13に設定された1組の波長について同様な制御
を行なう。斯くして、記録計G−1を時間送りすること
により、3組の2波長差吸光度の時間経過が描かれるの
てある。以上3つの測定モード(イ),(口),(ハ)
の動作説明は、第2図に示す操作盤A−1における出力
モードスイッチ2がリアルタイムモードに設定され、ま
た、平均回数指定スイッチ6がRlJに設定されている
場合の動作てある。
次に、上記の平均回数指定スイッチ6について説明する
。
。
本装置においては、前記各モード(イ),(口),(ハ
)の動作説明のように、1回の波長走査によつて得られ
たデータそれのみに基づいて、期間■で所定の整理デー
タを出力する動作態様の他に、各回の波長走査によつて
次々に得られるデータを、その複数回分について加算平
均し、その平均データに基づいて、各モード(イ),(
C7),(ハ)の所定の整理データを出力する、平均動
作と呼ふ一\き動作態様がある。その際、何回の波長走
査分のデータを加算平均するのかを、上記平均回数指定
スイッチ6に設定するのである。このスイッチ6をR2
J以上に設定すれば、平均動作が行なわれることになり
、その場合は期間■の動作は前記とは多少異なつてくる
。(イ)まず、測定モード(イ)て平均動作を行なう場
合について説明する。
)の動作説明のように、1回の波長走査によつて得られ
たデータそれのみに基づいて、期間■で所定の整理デー
タを出力する動作態様の他に、各回の波長走査によつて
次々に得られるデータを、その複数回分について加算平
均し、その平均データに基づいて、各モード(イ),(
C7),(ハ)の所定の整理データを出力する、平均動
作と呼ふ一\き動作態様がある。その際、何回の波長走
査分のデータを加算平均するのかを、上記平均回数指定
スイッチ6に設定するのである。このスイッチ6をR2
J以上に設定すれば、平均動作が行なわれることになり
、その場合は期間■の動作は前記とは多少異なつてくる
。(イ)まず、測定モード(イ)て平均動作を行なう場
合について説明する。
ここで、平均回数指定スイッチ6を53ョに設定したと
する。この測定モード(イ)の前述の動作ては、1動作
周期毎に、その動作周期で得られたデータのうち波長設
定スイッチ8〜13て指定された波長のデータが、高速
記憶回路E−1から読出されて記録計G一1に入力され
た。ところが平均動作では、ある回の動作周期の期間■
の動作状態に入ると、まノ ず、その回の動作周期で得
られたデータと、その前の2回の動作周期で得られたデ
ータの合計3周期分のデータのうち波長設定スイッチで
指定された波長(λaとする)のデータが、制御信号回
路群H−1の制御の下に、高速記憶回路″E−1からデ
ータバスDATAに順番に読出され、ゲートH−7を通
つて演算回路群F−1のレジスタに順次読込まれる。こ
の演算回路群F−1に読込まれた3動作周期分のデータ
を、D(λA,xb−2),D(λA,xb−1),D
(入θA,xb)とすると、演算回路群F−1によつて
このデータの加算平均が演算される。
する。この測定モード(イ)の前述の動作ては、1動作
周期毎に、その動作周期で得られたデータのうち波長設
定スイッチ8〜13て指定された波長のデータが、高速
記憶回路E−1から読出されて記録計G一1に入力され
た。ところが平均動作では、ある回の動作周期の期間■
の動作状態に入ると、まノ ず、その回の動作周期で得
られたデータと、その前の2回の動作周期で得られたデ
ータの合計3周期分のデータのうち波長設定スイッチで
指定された波長(λaとする)のデータが、制御信号回
路群H−1の制御の下に、高速記憶回路″E−1からデ
ータバスDATAに順番に読出され、ゲートH−7を通
つて演算回路群F−1のレジスタに順次読込まれる。こ
の演算回路群F−1に読込まれた3動作周期分のデータ
を、D(λA,xb−2),D(λA,xb−1),D
(入θA,xb)とすると、演算回路群F−1によつて
このデータの加算平均が演算される。
この演算結果は、制御信号回路群H−1の制御の下に、
演算回路群F−1からデータバスDATAに導出され、
さらにゲートH−14からD−A変換器H−19へ導入
され、このD−A変換器H−19のアナログ信号出力が
記録計G−1の入力となる。斯くして、指定された波長
のデータが3周期分づつ加算平均され、その平均データ
に基づいて記録計G一1により吸光度の時間経過が描か
れるのである。なお、平均回数指定スイッチ6は最高R
l6ョまで指定することができる。
演算回路群F−1からデータバスDATAに導出され、
さらにゲートH−14からD−A変換器H−19へ導入
され、このD−A変換器H−19のアナログ信号出力が
記録計G−1の入力となる。斯くして、指定された波長
のデータが3周期分づつ加算平均され、その平均データ
に基づいて記録計G一1により吸光度の時間経過が描か
れるのである。なお、平均回数指定スイッチ6は最高R
l6ョまで指定することができる。
(口)″ 次に、測定モード(ロ)で平均動作を行なう
楊合について説明する。
楊合について説明する。
この場合は、前記(口)で説明したように、アドレスバ
スADR上の波長に対応するアドレト情報が、ゲートH
−6,論理回路H−12,D−A変換器H−13を介し
てメモリスコープG−3のX軸入力となり、データバス
DATA上の上記波長についての測定データがゲートH
−5,D−A変換器H−11を介してメモリスコープG
−3のY軸入力になるのであるが、ここでメモリスコー
プG−3のY軸入力は、平均回数指定スイッチ6て指定
された複数動作周期分の各波長における測定データの加
算平均データとなる。そのための制御は、前記(イ)″
の説明からも明かなように、まずゲートH−5を閉じた
状態で、高速記憶回路E−1から指定された複数動作周
期分の特定波長につ、いてのデータをデータバスDAT
Aに読出し、これを演算回路群F−1に格納する。そし
て演算回路群F−1によつて上記各データを加算平均す
る演算が行なわれ、その結果を再びデータバスDATA
に導出するとともに、上記ゲートH−5を開いてデータ
バスDATA上のデータをメモリスコープG−3のY入
力として取り込むことになる。(ハ)″ 測定モード(
ハ)で平滑動作を行なう場合について説明する。前記(
ハ)の動作では、1組の波長3設定スイッチで指定され
る2波長についてのデータを高速記憶回路E−1から演
算回路群F−1に順次取り込み、その差を演算するので
ある。しかしこの場合は、1組の2波長のうち一方の波
長についてのデータを記憶回路E−1か4ら演算回路群
F−1に取り込む際に、平滑回数指定スイッチ6に設定
された複数動作周期分のデータを取り込み、その加算平
均を演算して一時記憶する。また、他方の波長について
のデータに関しても同様で、指定された複数動作周期分
のデータを演算回路群F−1に取り込み、その加算平均
を演算する。そして、この2波長についての平均データ
の差を演算し、その結果を演算回路群F−1から記録計
G−1へ入力することになる。最後に、前記の再生モー
ドについて説明する。この再生モードは、まず大容量記
憶装置E−2に記録したデータのうち指定する部分を再
生し、1フ動作周期分のデータ(すなわち1ブロックの
データ)づつ高速記憶回路E−1に順次書込み、これと
並行して前記の期間■の出力動作を行ない、任意に整理
,加工した整理データを出力する。大容量記憶装置E−
2から読出すべきデータの・先頭ブロックを指定するに
は、第2図に示す操作盤A−1のテンキー14を使用す
る。記憶装置E一2に記憶される各ブロックのデータに
は、前述のようにラベルが付けられており、指定する先
頭ブロックのラベルの番号をテンキー14により10゛
進数コードで入力し、データ入力スイッチ3(第2図)
を押すことにより、先頭ブロックの指定がなされる。そ
こでスタートスイッチ4を押すと、制御信号回路群1]
−1は、大容量記憶装置E−2に信号を送り、指定され
た先頭ブロックを探査する。指定された先頭ブロックを
見い出せは、その先頭ブロックのデータをゲートH−8
およびゲートH−4を介して高速記憶回路E−1に転送
し、上記期間■の出力動作を行なう。さらに、次の1ブ
ロックのデータを大容量記憶装置E−2から高速記憶回
路E−1に転送して、期間■の出力動作を行なう、とい
う動作をストップスイッチ5が押されるまで繰返すので
ある。この再生モードにおける期間■の出力動作は、勿
論、前記測定モード(イ),(口),(ハ)あるいは(
イ)″,(ロ)″,(ハ)″のいずれの態様でも行なう
ことができる。
スADR上の波長に対応するアドレト情報が、ゲートH
−6,論理回路H−12,D−A変換器H−13を介し
てメモリスコープG−3のX軸入力となり、データバス
DATA上の上記波長についての測定データがゲートH
−5,D−A変換器H−11を介してメモリスコープG
−3のY軸入力になるのであるが、ここでメモリスコー
プG−3のY軸入力は、平均回数指定スイッチ6て指定
された複数動作周期分の各波長における測定データの加
算平均データとなる。そのための制御は、前記(イ)″
の説明からも明かなように、まずゲートH−5を閉じた
状態で、高速記憶回路E−1から指定された複数動作周
期分の特定波長につ、いてのデータをデータバスDAT
Aに読出し、これを演算回路群F−1に格納する。そし
て演算回路群F−1によつて上記各データを加算平均す
る演算が行なわれ、その結果を再びデータバスDATA
に導出するとともに、上記ゲートH−5を開いてデータ
バスDATA上のデータをメモリスコープG−3のY入
力として取り込むことになる。(ハ)″ 測定モード(
ハ)で平滑動作を行なう場合について説明する。前記(
ハ)の動作では、1組の波長3設定スイッチで指定され
る2波長についてのデータを高速記憶回路E−1から演
算回路群F−1に順次取り込み、その差を演算するので
ある。しかしこの場合は、1組の2波長のうち一方の波
長についてのデータを記憶回路E−1か4ら演算回路群
F−1に取り込む際に、平滑回数指定スイッチ6に設定
された複数動作周期分のデータを取り込み、その加算平
均を演算して一時記憶する。また、他方の波長について
のデータに関しても同様で、指定された複数動作周期分
のデータを演算回路群F−1に取り込み、その加算平均
を演算する。そして、この2波長についての平均データ
の差を演算し、その結果を演算回路群F−1から記録計
G−1へ入力することになる。最後に、前記の再生モー
ドについて説明する。この再生モードは、まず大容量記
憶装置E−2に記録したデータのうち指定する部分を再
生し、1フ動作周期分のデータ(すなわち1ブロックの
データ)づつ高速記憶回路E−1に順次書込み、これと
並行して前記の期間■の出力動作を行ない、任意に整理
,加工した整理データを出力する。大容量記憶装置E−
2から読出すべきデータの・先頭ブロックを指定するに
は、第2図に示す操作盤A−1のテンキー14を使用す
る。記憶装置E一2に記憶される各ブロックのデータに
は、前述のようにラベルが付けられており、指定する先
頭ブロックのラベルの番号をテンキー14により10゛
進数コードで入力し、データ入力スイッチ3(第2図)
を押すことにより、先頭ブロックの指定がなされる。そ
こでスタートスイッチ4を押すと、制御信号回路群1]
−1は、大容量記憶装置E−2に信号を送り、指定され
た先頭ブロックを探査する。指定された先頭ブロックを
見い出せは、その先頭ブロックのデータをゲートH−8
およびゲートH−4を介して高速記憶回路E−1に転送
し、上記期間■の出力動作を行なう。さらに、次の1ブ
ロックのデータを大容量記憶装置E−2から高速記憶回
路E−1に転送して、期間■の出力動作を行なう、とい
う動作をストップスイッチ5が押されるまで繰返すので
ある。この再生モードにおける期間■の出力動作は、勿
論、前記測定モード(イ),(口),(ハ)あるいは(
イ)″,(ロ)″,(ハ)″のいずれの態様でも行なう
ことができる。
なお、波長スペクトル特性を出力する(口)あるいは(
口)″の測定モードの場合、データ再生の時間的な問題
と応答速度の点で、出力機器としては上記メモリスコー
プG−3に変えて、これと並列に接続されたX−Y記録
計G−2が用いられる。また、第2図の操作盤A−1に
示す出力間隔指定スイッチ7は、上記再生モードの場合
に任意に使用される。上記の再生モードの動作説明は、
この出力間隔指定スイッチ7を01ョに設定した場合の
ものであつて、この場合は前述のように、大容量記憶装
置E−2から1動作周期分の原始データが読出される毎
に、指定されたモードの期間■の出力動作が実行される
。しかし、この出力間隔指定スイッチ7を2以上RNョ
に設定すると、期間■の出力動作は、大容量記憶装置E
−2からN動作周期分の原始データが読出される毎に、
1回だけ期間■の出力動作が実行される。すなわち、N
動作周期の間隔で原始データがサンプリングされて、そ
のサンプリングされた1動作周期分の原始データに基づ
く整理データが出力部(G部)に出力され、サンプリン
グされない原始データの読出し時には期間■の出力動作
は不実行となる。これにより、比較的長い時間尺度でデ
ータの時間経過が出力される。以上で本装置の各動作態
様について説明した。
口)″の測定モードの場合、データ再生の時間的な問題
と応答速度の点で、出力機器としては上記メモリスコー
プG−3に変えて、これと並列に接続されたX−Y記録
計G−2が用いられる。また、第2図の操作盤A−1に
示す出力間隔指定スイッチ7は、上記再生モードの場合
に任意に使用される。上記の再生モードの動作説明は、
この出力間隔指定スイッチ7を01ョに設定した場合の
ものであつて、この場合は前述のように、大容量記憶装
置E−2から1動作周期分の原始データが読出される毎
に、指定されたモードの期間■の出力動作が実行される
。しかし、この出力間隔指定スイッチ7を2以上RNョ
に設定すると、期間■の出力動作は、大容量記憶装置E
−2からN動作周期分の原始データが読出される毎に、
1回だけ期間■の出力動作が実行される。すなわち、N
動作周期の間隔で原始データがサンプリングされて、そ
のサンプリングされた1動作周期分の原始データに基づ
く整理データが出力部(G部)に出力され、サンプリン
グされない原始データの読出し時には期間■の出力動作
は不実行となる。これにより、比較的長い時間尺度でデ
ータの時間経過が出力される。以上で本装置の各動作態
様について説明した。
なお、以上の実施例においては、光学系(B部)での波
長走査は、電磁力を用いて機械的に回折格子を回転振動
させることにより行なつているが、本発明はこれに限定
されるものではなく、前述したように、被測定物に白色
光を照射して被測定物からの光を分光器で分光し、この
分光器の出射面にイメージセンサを配置し、電気的に波
長走査を行なうように構成しても良く、その場合は第3
図〜第5図で説明したような波長読取りのための技術は
必要ない。また、本装置における測定モードすなわち原
始データの整理,加工のし方は、実施例て説明したもの
に限定されず、例えば、ある動作周期ての波長スペクト
ル特性と他の動作周期ての波長スペクトル特性の差特性
を演算して出力する等、必要な演算,制御機能を持たせ
ることにより、様々なデータの整理,加工を行なうこと
ができる。以上詳細に説明したように、本発明に係る分
光光度計は、単一の光学系を用いて一度に広い波長域の
測定データを取得して、各波長λ1〜λmに対応させた
状態で、かつ各動作周期x1〜Xn毎にそれぞれブロッ
ク化した状態で記憶するとともに、そのデータを必要な
形に整理,加工して選択出力するようにしたので、ある
波長についての吸光度の時間経過、波長スペクトル特性
、特定2波長における吸光度の差の時間経過等、各種の
測定モードを同一の装置で単に設定内容を切換えるだけ
で実行することがてきるのである。
長走査は、電磁力を用いて機械的に回折格子を回転振動
させることにより行なつているが、本発明はこれに限定
されるものではなく、前述したように、被測定物に白色
光を照射して被測定物からの光を分光器で分光し、この
分光器の出射面にイメージセンサを配置し、電気的に波
長走査を行なうように構成しても良く、その場合は第3
図〜第5図で説明したような波長読取りのための技術は
必要ない。また、本装置における測定モードすなわち原
始データの整理,加工のし方は、実施例て説明したもの
に限定されず、例えば、ある動作周期ての波長スペクト
ル特性と他の動作周期ての波長スペクトル特性の差特性
を演算して出力する等、必要な演算,制御機能を持たせ
ることにより、様々なデータの整理,加工を行なうこと
ができる。以上詳細に説明したように、本発明に係る分
光光度計は、単一の光学系を用いて一度に広い波長域の
測定データを取得して、各波長λ1〜λmに対応させた
状態で、かつ各動作周期x1〜Xn毎にそれぞれブロッ
ク化した状態で記憶するとともに、そのデータを必要な
形に整理,加工して選択出力するようにしたので、ある
波長についての吸光度の時間経過、波長スペクトル特性
、特定2波長における吸光度の差の時間経過等、各種の
測定モードを同一の装置で単に設定内容を切換えるだけ
で実行することがてきるのである。
すなわち、1度の測定により非常に多くの整理,加工さ
れた測定データを得ることができるので、従来のように
測定目的によつて各種の装置で測定を繰返す必要がなく
、各種の目的の測定を1台の本発明装置によつて行なう
ことができる。したがつて、前述lした生体組織の代謝
動態の監視に極めて適した装置となる。
れた測定データを得ることができるので、従来のように
測定目的によつて各種の装置で測定を繰返す必要がなく
、各種の目的の測定を1台の本発明装置によつて行なう
ことができる。したがつて、前述lした生体組織の代謝
動態の監視に極めて適した装置となる。
第1図は本発明に係る分光光度計の全体のブロック図、
第2図は操作盤の説明図、第3図,第47図および第5
図は波長走査機構および波長読取機構の説明図、第6図
は光学系測定部の説明図、第7図は取得データの説明図
である。 A・・・・・・操作部、B・・・・・・光学系、C・・
・・・・電気回路系、D・・・・・・A−D変換器、E
・・・・・・記憶部、F・・・・ク演算部、G・・・・
・・出力部、H・・・・・・制御部。
第2図は操作盤の説明図、第3図,第47図および第5
図は波長走査機構および波長読取機構の説明図、第6図
は光学系測定部の説明図、第7図は取得データの説明図
である。 A・・・・・・操作部、B・・・・・・光学系、C・・
・・・・電気回路系、D・・・・・・A−D変換器、E
・・・・・・記憶部、F・・・・ク演算部、G・・・・
・・出力部、H・・・・・・制御部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被測定物に光を照射してこの測定物よりの測定光を
受光し、波長走査を繰り返して各波長毎の受光レベルに
対応したアナログ信号を出力する光学走査装置と、この
光学装置のアナログ信号出力をデジタル信号に変換する
A−D変換器と、このA−D変換器から出力されるとと
もに各波長λ_1〜λmに対応させた状態で、かつ各動
作周期X_1〜Xn毎にそれぞれブロック化した状態の
測定データを記憶する記憶装置と、測定内容を設定する
ための測定内容設定手段と、この測定内容設定手段によ
る設定内容に基づき、上記記憶装置から必要な測定デー
タを読み出すとともに、必要によりその測定データを選
択して所定の演算を施すデータ選択演算手段と、このデ
ータ選択演算手段によつて選択演算された測定データを
出力するための出力装置とからなる分光光度計。 2 上記測定内容設定手段により所定の設定を行なうと
、上記選択演算手段により、上記記憶装置に記憶された
測定データのうち指定した特定波長についての測定デー
タが読み出され、上記出力装置に供給される特許請求の
範囲第1項記載の分光光度計。 3 上記測定内容設定手段により所定の設定を行なうと
、上記選択演算手段により、上記記憶装置に記憶された
各波長についての測定データが読み出されて、波長に対
応させて上記出力装置に供給され、この出力装置により
波長スペクトル特性が出力される特許請求の範囲第1項
記載の分光光度計。 4 上記測定内容設定手段により所定の設定を行なうと
、上記選択演算手段により、上記記憶装置に記憶された
測定データのうち指定した2種の特定波長についての測
定データが読み出されるとともに、その2波長について
の測定データの差が演算され、その演算結果が上記出力
装置に供給される特許請求の範囲第1項記載の分光光度
計。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52099306A JPS6049844B2 (ja) | 1977-08-19 | 1977-08-19 | 分光光度計 |
| US05/933,574 US4568186A (en) | 1977-08-19 | 1978-08-14 | Operator selectable multiple mode spectrophotometer |
| DE2836294A DE2836294C2 (de) | 1977-08-19 | 1978-08-18 | Spektralphotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52099306A JPS6049844B2 (ja) | 1977-08-19 | 1977-08-19 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5433083A JPS5433083A (en) | 1979-03-10 |
| JPS6049844B2 true JPS6049844B2 (ja) | 1985-11-05 |
Family
ID=14243935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52099306A Expired JPS6049844B2 (ja) | 1977-08-19 | 1977-08-19 | 分光光度計 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4568186A (ja) |
| JP (1) | JPS6049844B2 (ja) |
| DE (1) | DE2836294C2 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5642117A (en) * | 1979-09-17 | 1981-04-20 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer for wide range of wavelength |
| DE3008345C2 (de) * | 1980-03-05 | 1983-11-17 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Spektralphotometer zur Bestimmung der Konzentration eines gesuchten Bestandteils einer Probe |
| JPS60333A (ja) * | 1983-06-16 | 1985-01-05 | Hitachi Ltd | 原子吸光分光光度計 |
| JPS6052727A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-03-26 | Jeol Ltd | スペクトル処理方法 |
| JPS60100727A (ja) * | 1983-11-07 | 1985-06-04 | Shimadzu Corp | 分光分析装置 |
| JPH0723895B2 (ja) * | 1984-02-13 | 1995-03-15 | オリンパス光学工業株式会社 | 自動分析装置の試薬量管理方法 |
| JPS6165344U (ja) * | 1984-10-02 | 1986-05-06 | ||
| US4678917A (en) * | 1985-02-19 | 1987-07-07 | The Perkin-Elmer Corporation | Instantaneous reading multichannel polychromatic spectrophotometer method and apparatus |
| US5175697A (en) * | 1986-06-02 | 1992-12-29 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Spectrophotometer for accurately measuring light intensity in a specific wavelength region |
| JPS63145926A (ja) * | 1986-12-10 | 1988-06-18 | Hoya Corp | カラ−センサ |
| JPS6342353Y2 (ja) * | 1987-08-05 | 1988-11-07 | ||
| ES2041801T3 (es) * | 1987-08-18 | 1993-12-01 | Bp Oil International Limited | Metodo para la determinacion directa de propiedades fisicas de productos hidrocarbonados. |
| EP0304232B1 (en) * | 1987-08-18 | 1996-12-27 | Bp Oil International Limited | Method for the direct determination of physical properties of hydrocarbon products |
| JPH0823559B2 (ja) * | 1990-03-13 | 1996-03-06 | 三共株式会社 | 酵素免疫測定装置における検量線の設定方法 |
| US5299138A (en) * | 1991-08-09 | 1994-03-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Desk top spectrum analyzer |
| WO1994003791A1 (en) * | 1992-07-31 | 1994-02-17 | Molecular Devices Corporation | Metabolic monitoring of cells in a microplate reader |
| US5766875A (en) * | 1993-07-30 | 1998-06-16 | Molecular Devices Corporation | Metabolic monitoring of cells in a microplate reader |
| HUP0104057A2 (hu) * | 2001-10-02 | 2003-06-28 | MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet | Mérési elrendezés és eljárás félvezető szeletek és más tükörjellegű felületek érintésmentes, gyors kvantitatív topográfiai vizsgálatára |
| US8487979B2 (en) * | 2008-11-26 | 2013-07-16 | Honeywell International Inc. | Signal spectra detection system |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1077501A (en) * | 1964-02-04 | 1967-08-02 | Nat Res Dev | Scanning spectrophotometer |
| NL7212387A (ja) * | 1972-09-13 | 1974-03-15 | ||
| US3874799A (en) * | 1973-06-01 | 1975-04-01 | Color Control Inc | Method and apparatus for color spectrophotometry |
| FR2257900B1 (ja) * | 1973-09-20 | 1976-05-14 | France Etat | |
| JPS5214636B2 (ja) * | 1973-11-05 | 1977-04-22 | ||
| US3973849A (en) * | 1975-06-16 | 1976-08-10 | International Business Machines Corporation | Self-calibratable spectrum analyzer |
| JPS5342790A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-18 | Akimitsu Wada | Simultaneous photometry system for multiidimensional measurement of living substance |
| US4093991A (en) * | 1977-01-26 | 1978-06-06 | Hunter Associates Laboratory, Inc. | Spectrophotometer-digital data processing system for appearance measurements providing fast and accurate standardization, ease of use for different appearance measurements and fast response |
-
1977
- 1977-08-19 JP JP52099306A patent/JPS6049844B2/ja not_active Expired
-
1978
- 1978-08-14 US US05/933,574 patent/US4568186A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-08-18 DE DE2836294A patent/DE2836294C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2836294C2 (de) | 1984-07-12 |
| US4568186A (en) | 1986-02-04 |
| JPS5433083A (en) | 1979-03-10 |
| DE2836294A1 (de) | 1979-03-01 |
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