JPS6049855B2 - マイクロ波放射計 - Google Patents
マイクロ波放射計Info
- Publication number
- JPS6049855B2 JPS6049855B2 JP55171652A JP17165280A JPS6049855B2 JP S6049855 B2 JPS6049855 B2 JP S6049855B2 JP 55171652 A JP55171652 A JP 55171652A JP 17165280 A JP17165280 A JP 17165280A JP S6049855 B2 JPS6049855 B2 JP S6049855B2
- Authority
- JP
- Japan
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- microwave radiometer
- noise
- microwave
- temperature
- resolution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/006—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using measurement of the effect of a material on microwaves or longer electromagnetic waves, e.g. measuring temperature via microwaves emitted by the object
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はマイクロ波放射計の改良に関するものである
。
。
従来、物体から放射されるマイクロ波雑音電波を受信し
て物体の輝度温度を観測するマイクロ波放射計としては
第１図に示すようなものがある。
て物体の輝度温度を観測するマイクロ波放射計としては
第１図に示すようなものがある。
第１図において１はアンテナ、２は低雑音受信機、３は
積分器である。物体から放射されるマイクロ波雑音電波
はアンテナ１により受信される。
積分器である。物体から放射されるマイクロ波雑音電波
はアンテナ１により受信される。
この受信電波は低雑音受信機２によつて増巾、検波され
た後、さらに積分器３によつて積分された最終の出力信
号となるが、この出力信号はアンテナビーム幅の範囲内
の観測対象物の平均輝度温度を表わしている。この場合
、このマイクロ波放射計の最小受信感度を表す温度分解
能ΔＴは次式で与えられる。第１式においてには低雑音
受信機２の構成によつて決める定数、ＴＡはアンテナ１
で受信されたマイクロ波雑音電波のアンテナ温度、ＴＲ
は低雑音受信機２の受信機雑音温度、Ｂは低雑音受信機
２の帯域幅。
た後、さらに積分器３によつて積分された最終の出力信
号となるが、この出力信号はアンテナビーム幅の範囲内
の観測対象物の平均輝度温度を表わしている。この場合
、このマイクロ波放射計の最小受信感度を表す温度分解
能ΔＴは次式で与えられる。第１式においてには低雑音
受信機２の構成によつて決める定数、ＴＡはアンテナ１
で受信されたマイクロ波雑音電波のアンテナ温度、ＴＲ
は低雑音受信機２の受信機雑音温度、Ｂは低雑音受信機
２の帯域幅。
Ｔは積分器３の積分時間である。
第１式から明らかなように積分時間を大きくとればこの
マイクロ波放射計の温度分解能ΔＴを小さくすることが
できる。しかし、この種のマイクロ波放射計をたとえは
人工衛星に搭載して使用する場合、積分時間丁を大きく
とるということは、第２図に示すようにアンテナ１のビ
ーム幅に対応して決める地表のフットプリントが大きく
なり、フットプリントが大きくなるということはこのマ
イクロ波放射計の距離分解能が劣化することを意味して
いる。したがつてこの従来のマイクロ波放射計において
は、温度分解能を高くしようと思えは距離分解能が劣化
し、距離分解を高くしようと思えは距離分解能が劣化す
るという欠点があつた。そこてこの発明においては複数
台の低雑音受信機を設けることにより、上述の従来の欠
点を除去するようにしたものてある。
マイクロ波放射計の温度分解能ΔＴを小さくすることが
できる。しかし、この種のマイクロ波放射計をたとえは
人工衛星に搭載して使用する場合、積分時間丁を大きく
とるということは、第２図に示すようにアンテナ１のビ
ーム幅に対応して決める地表のフットプリントが大きく
なり、フットプリントが大きくなるということはこのマ
イクロ波放射計の距離分解能が劣化することを意味して
いる。したがつてこの従来のマイクロ波放射計において
は、温度分解能を高くしようと思えは距離分解能が劣化
し、距離分解を高くしようと思えは距離分解能が劣化す
るという欠点があつた。そこてこの発明においては複数
台の低雑音受信機を設けることにより、上述の従来の欠
点を除去するようにしたものてある。
以下図面によりこの発明の一実施例について説明する。
第３図において１ａ〜１ｎはアンテナ、２ａ〜２ｎは低
雑音受信機、３ａ〜３ｎは積分器、４は信号処理器てあ
る。物体から放射されるマイクロ波雑音電波はアンテナ
１ａから１ｎまでの合計Ｎ個のアンテナにより受信され
る。
雑音受信機、３ａ〜３ｎは積分器、４は信号処理器てあ
る。物体から放射されるマイクロ波雑音電波はアンテナ
１ａから１ｎまでの合計Ｎ個のアンテナにより受信され
る。
それぞれのアンテナで受信された電波はそれぞれのアン
テナに接続された低雑音受信機２ａ〜２ｎによつて増幅
、検波された後、さらに積分器３ａ〜３ｎによつて積分
される。これら積分された信号は信号処理器３内で合成
され、最終の出力信号となる。アンテナ１ａ〜１ｎおよ
び低雑音受信機２ａ〜２ｎはそれぞれ互いに同一の性能
を有するものとし、また積分器３ａ〜３ｎの各種分時間
は同一でτとするとこの場合のマイクロ波放射計の温度
分解能ΔＴは次式て表わすことができる。第（２）式に
おいてＮは低雑音受信機等の台数を表わしており、その
他の記号の意味するところは第（１）式と同じてある。
テナに接続された低雑音受信機２ａ〜２ｎによつて増幅
、検波された後、さらに積分器３ａ〜３ｎによつて積分
される。これら積分された信号は信号処理器３内で合成
され、最終の出力信号となる。アンテナ１ａ〜１ｎおよ
び低雑音受信機２ａ〜２ｎはそれぞれ互いに同一の性能
を有するものとし、また積分器３ａ〜３ｎの各種分時間
は同一でτとするとこの場合のマイクロ波放射計の温度
分解能ΔＴは次式て表わすことができる。第（２）式に
おいてＮは低雑音受信機等の台数を表わしており、その
他の記号の意味するところは第（１）式と同じてある。
したがつて、たとえばこの発明のマイクロ波放射計を人
工衛星に搭載し、かつそれぞれのアンテナのビームが同
一地点を照射するようにアンテナの方向を調整しておく
ものとすると、従来のマイクロ波放射計に比べ各積分器
の積分時間は１／Ｎに減らすことができるので地表のフ
ットプリントは第４図に示すように小さいものとなり、
その結果高い距離分解能が得られる。
工衛星に搭載し、かつそれぞれのアンテナのビームが同
一地点を照射するようにアンテナの方向を調整しておく
ものとすると、従来のマイクロ波放射計に比べ各積分器
の積分時間は１／Ｎに減らすことができるので地表のフ
ットプリントは第４図に示すように小さいものとなり、
その結果高い距離分解能が得られる。
また各積分器の積分時間は短かくとも、それらを合成す
ることによつて見かけ上の積分時間は長くすることがて
きるので、高い温度分解能を得ることができる。以上述
べたようにこの発明のマイクロ波放射計によれば、温度
分解能を劣化させることなく高い距離分解能が得られる
利点を有する。
ることによつて見かけ上の積分時間は長くすることがて
きるので、高い温度分解能を得ることができる。以上述
べたようにこの発明のマイクロ波放射計によれば、温度
分解能を劣化させることなく高い距離分解能が得られる
利点を有する。
第１図および第２図は従来のマイクロ波放射計を説明す
るための図、第３図および第４図はこの発明のマイクロ
波放射計を説明するための図てあり、１はアンテナ２は
低雑音受信機、３は積分器、４は信号処理器である。 なお図中同一あるいは相当部分には同一符号を付して示
してある。
るための図、第３図および第４図はこの発明のマイクロ
波放射計を説明するための図てあり、１はアンテナ２は
低雑音受信機、３は積分器、４は信号処理器である。 なお図中同一あるいは相当部分には同一符号を付して示
してある。
Claims (1)
- １ 物体から放射されるマイクロ波雑音電波を受信して
物体の輝度温度を観測するマイクロ波放射計においてマ
イクロ波放射計の温度分解能および距離分解能を向上さ
せる目的のために使用周波数帯および使用偏波が同一な
低雑音受信機を複数台設けたことを特徴とするマイクロ
波放射計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55171652A JPS6049855B2 (ja) | 1980-12-05 | 1980-12-05 | マイクロ波放射計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55171652A JPS6049855B2 (ja) | 1980-12-05 | 1980-12-05 | マイクロ波放射計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5796225A JPS5796225A (en) | 1982-06-15 |
| JPS6049855B2 true JPS6049855B2 (ja) | 1985-11-05 |
Family
ID=15927176
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55171652A Expired JPS6049855B2 (ja) | 1980-12-05 | 1980-12-05 | マイクロ波放射計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6049855B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2507897B2 (ja) * | 1990-05-08 | 1996-06-19 | 工業技術院長 | 電波放射計による物体の結像方法 |
| GB0104203D0 (en) | 2001-02-21 | 2001-04-11 | Secr Defence | Calibrating radiometers |
| JP5308970B2 (ja) * | 2009-09-04 | 2013-10-09 | スタンレー電気株式会社 | 半導体成長装置 |
-
1980
- 1980-12-05 JP JP55171652A patent/JPS6049855B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5796225A (en) | 1982-06-15 |
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