JPS6050310B2 - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
- Publication number
- JPS6050310B2 JPS6050310B2 JP1476379A JP1476379A JPS6050310B2 JP S6050310 B2 JPS6050310 B2 JP S6050310B2 JP 1476379 A JP1476379 A JP 1476379A JP 1476379 A JP1476379 A JP 1476379A JP S6050310 B2 JPS6050310 B2 JP S6050310B2
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- JP
- Japan
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- radiation
- measuring device
- function
- intensity
- measurement
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はバックグランド (以下B、G、と記す)信
号と測定対象信号とを分離計測する放射線測定装置に関
するものである。
号と測定対象信号とを分離計測する放射線測定装置に関
するものである。
微弱放射線の測定をする場合にB、G、信号を除去する
必要がある。
必要がある。
従来は測定対象てある放射線源の有無の各場合につき測
定し、この測定結果の差をとることにより、B、G、計
数を除去する自明の方法をとつていた。しカルながら、
インライン式放射線モニタなどの例のように測定サンプ
ルを取除くことが困難な実例が多く、このような場合に
対して適切な測定方法はなく、測定値をそのまま信号測
定値であると判断せざるをえなかつた。
定し、この測定結果の差をとることにより、B、G、計
数を除去する自明の方法をとつていた。しカルながら、
インライン式放射線モニタなどの例のように測定サンプ
ルを取除くことが困難な実例が多く、このような場合に
対して適切な測定方法はなく、測定値をそのまま信号測
定値であると判断せざるをえなかつた。
この発明はこのような従来の欠点を解消すべくなされた
もので、B、G、信号除去を容易かつ正確に行いうる放
射線測定装置を提供することを目的としている。ノ 以
下この発明の一実施例を図によつて説明する。
もので、B、G、信号除去を容易かつ正確に行いうる放
射線測定装置を提供することを目的としている。ノ 以
下この発明の一実施例を図によつて説明する。
第1図において、1は線源であつて測定すべき対象、2
は線源1に起因する放射線を時間的に変化させるための
変調装置、3は変調された放射線を検出するための放射
線検出器、4は放射容易;出器3からの信号を増幅、波
高弁別、パルス数の計数をするなどの必要な機能を備え
た計測回路、5は計測回路4からの信号を処理しB、G
、信号と有効信号とを分離して出力する弁別手段を構成
するB.G.除去機能部である。変調装置2は線源1か
らの放射線のうち検出器3に致る部分の強度をA・f(
t)のごとく、変調させるものである。
は線源1に起因する放射線を時間的に変化させるための
変調装置、3は変調された放射線を検出するための放射
線検出器、4は放射容易;出器3からの信号を増幅、波
高弁別、パルス数の計数をするなどの必要な機能を備え
た計測回路、5は計測回路4からの信号を処理しB、G
、信号と有効信号とを分離して出力する弁別手段を構成
するB.G.除去機能部である。変調装置2は線源1か
らの放射線のうち検出器3に致る部分の強度をA・f(
t)のごとく、変調させるものである。
ここにAは線源1の強度に比例する放射線強度、f(t
)は時間的に変化する任意の関数である。f(t)は、
必ずしもその必要はないが、周期関数る選ぶのが一般的
であるから、以下周期関数として説明する。第2図は第
1図に示したものの動作を説明するための説明図で、縦
軸は検出放射線強度、横軸は時間をそれぞれ示す。
)は時間的に変化する任意の関数である。f(t)は、
必ずしもその必要はないが、周期関数る選ぶのが一般的
であるから、以下周期関数として説明する。第2図は第
1図に示したものの動作を説明するための説明図で、縦
軸は検出放射線強度、横軸は時間をそれぞれ示す。
同図において、曲線CはB.Gルベルおよび変調信号A
−f(t)の和で示される合成関数b+A−f(t)を
表わす理論曲線である。点Qは1周期内をm分割した時
間に対する1番目の測定点であつてその放射線強度の測
定値はd1である。点Qなどは曲線Cの近傍に統計法則
に従つて分布するものである。計測回路4からの出力は
点Qにように電圧またはパルの到来ひん度を時間的に変
化させて観測される。
−f(t)の和で示される合成関数b+A−f(t)を
表わす理論曲線である。点Qは1周期内をm分割した時
間に対する1番目の測定点であつてその放射線強度の測
定値はd1である。点Qなどは曲線Cの近傍に統計法則
に従つて分布するものである。計測回路4からの出力は
点Qにように電圧またはパルの到来ひん度を時間的に変
化させて観測される。
B.G.除去部5においては、アナログまたはディジタ
ルまたは両者を混合した手法によつて以下の演算処理を
行い、B.G.信号および測定対象放射線強度を出力と
するものてある。
ルまたは両者を混合した手法によつて以下の演算処理を
行い、B.G.信号および測定対象放射線強度を出力と
するものてある。
すなわち、点Qのごとく時系列的に変化しつつノ観測さ
れる測定点群に適合するようにb+A−f(t)なる合
成関数を最小二乗法により決定するものであり、以下に
示すように、決定された定数bおよびAがそれぞれB.
G.および測定対象放射線強度に比例した量に相当する
。
れる測定点群に適合するようにb+A−f(t)なる合
成関数を最小二乗法により決定するものであり、以下に
示すように、決定された定数bおよびAがそれぞれB.
G.および測定対象放射線強度に比例した量に相当する
。
Fiを分割点1に相当する時刻Tiにおけるf(t)の
値とする。
値とする。
すなわちDiに適合するようにb+A−f(t)に最小
二乗法を適用する。
二乗法を適用する。
ここで、Xをとおく。
またΣはTを表わしている。(3),(4)を変形して
ここでΣFi=1に規格化し連立方程式(5),(6)
をA,bについて解くとがえられる。
をA,bについて解くとがえられる。
ここで、A−Fiは信号成分であるが、
”となり、Aは1周期内の信号成分の計数の合計値に対
応している。
応している。
(bは時間インクリメント内のB.G.計数値をあたえ
る。)このことは、Aが総計数ΣDiから推定B.G.
の合計計数m−bを差し引いたものであることが以下の
計算により確かめられることからも明らかである。
る。)このことは、Aが総計数ΣDiから推定B.G.
の合計計数m−bを差し引いたものであることが以下の
計算により確かめられることからも明らかである。
すなわち、このように理論曲線b+Af(t)をフイツ
トさせることにより、信号成分とB.G.計数を完全に
分離測定することが出来る。上記Aの値と測定対象放射
線源強度との関係は検出系の検出効率、変調関数f(t
)などから一意的に対応づけられることは明らかであり
、計算または実験的にその比例係数を決定することがで
きる。
トさせることにより、信号成分とB.G.計数を完全に
分離測定することが出来る。上記Aの値と測定対象放射
線源強度との関係は検出系の検出効率、変調関数f(t
)などから一意的に対応づけられることは明らかであり
、計算または実験的にその比例係数を決定することがで
きる。
以上一般的な変調関数について説明したが、一具体例と
しての場合、すなわち第3図に示すような場合について
検討してみる。
しての場合、すなわち第3図に示すような場合について
検討してみる。
この場合には(7)式よりとなり、これはi=1からi
=nまでの計数の緩和(すなわち一定時間の(信号+B
.G.)の総計数に相当するもの)から引続く同一長さ
時間内のB.G.計数値を引いたものに相当する。すな
わちこの発明の結果は従来から行われている計数法と全
く同じ結果をもたらすことを示し、理論的に追求しうる
検出感度の限界値を得られることを示す。第4図はこの
発明をβ線ガスモニタに適用した場合の一実施例を示す
。
=nまでの計数の緩和(すなわち一定時間の(信号+B
.G.)の総計数に相当するもの)から引続く同一長さ
時間内のB.G.計数値を引いたものに相当する。すな
わちこの発明の結果は従来から行われている計数法と全
く同じ結果をもたらすことを示し、理論的に追求しうる
検出感度の限界値を得られることを示す。第4図はこの
発明をβ線ガスモニタに適用した場合の一実施例を示す
。
第5図は第4図に示した例における放射線強度変調装置
の主要部の具体例を示す図で、第6図は第5図に示され
る変調装置を用いた場合の関数f(t)の説明図である
。
の主要部の具体例を示す図で、第6図は第5図に示され
る変調装置を用いた場合の関数f(t)の説明図である
。
第4図及び第5図において、1は測定対象線源であるガ
ス状の被測定対象、21,22,23は放射線強度変調
装置2を構成する構成要素て、21はモータからなる駆
動部、22は駆動部、23はセクターで駆動軸22を通
じて駆動部21により回転される。
ス状の被測定対象、21,22,23は放射線強度変調
装置2を構成する構成要素て、21はモータからなる駆
動部、22は駆動部、23はセクターで駆動軸22を通
じて駆動部21により回転される。
31はβ線検出用プラスチックシンチレータ、32は光
電子増倍管で、これら31プラスチックシンチレータ、
32光電子増倍管により検出部3が構成される。
電子増倍管で、これら31プラスチックシンチレータ、
32光電子増倍管により検出部3が構成される。
41はガスサンプル流入口、42はサンプル流出口、4
3はガスサンプラー兼しやへい容器である。
3はガスサンプラー兼しやへい容器である。
さて、以下にこのように構成された装置における変調の
様子と関数f(t)をどのように選ぶことが可能である
かとをのべる。
様子と関数f(t)をどのように選ぶことが可能である
かとをのべる。
第5図はセフター23およびプラスチックシンチレータ
31部分を二重矢印aより見た図であつて、この場合に
はセクタ23とプラスチックシンチレータ31とが重合
しない配位にある。
31部分を二重矢印aより見た図であつて、この場合に
はセクタ23とプラスチックシンチレータ31とが重合
しない配位にある。
尚、関数f(t)を正しく設定出来るようにプラスチッ
クシンチレータ31は中心角0なる扇形状に形成され、
又、セクター23はその主要部が半円形に形成されてい
る。第6図はセクター23が定速で回転することにより
、検出器3に致る放射線が変調される様子を縦軸に検出
放射線強度をとり、横軸に時間をとつて示している。
クシンチレータ31は中心角0なる扇形状に形成され、
又、セクター23はその主要部が半円形に形成されてい
る。第6図はセクター23が定速で回転することにより
、検出器3に致る放射線が変調される様子を縦軸に検出
放射線強度をとり、横軸に時間をとつて示している。
同図において、L1はBGレベル計数部分、L2は信号
成分であつて線源1のうち、セクター23の上方で且つ
プラスチックシンチレータ31の下方に位置する部分の
ガス状の被測定物12よりの放射線によるものでセクタ
ー23の回転により影響を受けない部分、Lは同じくセ
クター23の下方に位置する部分のガス状の被測定物1
1からの信号成分であつてセクター23により断続され
る部分である。この説明から明らかなように、関数f(
ω・t)は次のようになることは容易に示される。ここ
でpは台形の傾斜部を示す定数、COは第6図)のしの
部分の計数率を示す。
成分であつて線源1のうち、セクター23の上方で且つ
プラスチックシンチレータ31の下方に位置する部分の
ガス状の被測定物12よりの放射線によるものでセクタ
ー23の回転により影響を受けない部分、Lは同じくセ
クター23の下方に位置する部分のガス状の被測定物1
1からの信号成分であつてセクター23により断続され
る部分である。この説明から明らかなように、関数f(
ω・t)は次のようになることは容易に示される。ここ
でpは台形の傾斜部を示す定数、COは第6図)のしの
部分の計数率を示す。
またkは定数でΣFi(ω◆Ti)=1となるように決
定されるものである。
定されるものである。
以上に示したようにセクター23の回転により実現可能
な変調によつてえられる変調関数を用い5て、BG除去
機能部5により式(7),(8)を用いて演算処理する
ことにより、前記A,bを求めることができる。
な変調によつてえられる変調関数を用い5て、BG除去
機能部5により式(7),(8)を用いて演算処理する
ことにより、前記A,bを求めることができる。
この例にみたように変調関数Fi(t)はノのように定
数部分FOをふくむ部分変調でもよい。
数部分FOをふくむ部分変調でもよい。
第7図はガスミニタの他の実施例を示す。第8図は第7
図に示す実施例の場合の変調の様子を示す説明図である
。第8図において縦軸は放射線検出強度を、横軸は時間
をそれぞれ表わしている。第7図において、24は三方
弁で、この三方弁24を切り換え操作することにより被
測定ガス配管26からのガスと放射線ガスをふくまない
ガス配管27からのガスとを時間的に選択して、しやへ
い容器43内に流すことにより被測定物1の線源濃度を
変調することができる。25は前記三方弁24を制御す
るための制御装置で、三方弁24及び制御装置25およ
び関連配管26,27をもつて線源強度変調装置を構成
する。
図に示す実施例の場合の変調の様子を示す説明図である
。第8図において縦軸は放射線検出強度を、横軸は時間
をそれぞれ表わしている。第7図において、24は三方
弁で、この三方弁24を切り換え操作することにより被
測定ガス配管26からのガスと放射線ガスをふくまない
ガス配管27からのガスとを時間的に選択して、しやへ
い容器43内に流すことにより被測定物1の線源濃度を
変調することができる。25は前記三方弁24を制御す
るための制御装置で、三方弁24及び制御装置25およ
び関連配管26,27をもつて線源強度変調装置を構成
する。
このように構成されたものの変調の動作について説明す
ると、第8図において時刻0に三方弁24は切りがわり
配管26からのガスを導きはじめ、時刻t1そ配管26
を閉じ配管27を開いてガスの導入状態を時刻T2でさ
らに逆転させ、以後この操作を交互にくりかえすものと
する。
ると、第8図において時刻0に三方弁24は切りがわり
配管26からのガスを導きはじめ、時刻t1そ配管26
を閉じ配管27を開いてガスの導入状態を時刻T2でさ
らに逆転させ、以後この操作を交互にくりかえすものと
する。
この場合サンプラー43内のガスの放射性物質濃度は一
次遅れの応答を示すことは容易に理解される。
次遅れの応答を示すことは容易に理解される。
従つて、この場合の変調関数f(t)は、とすればよい
。ここにτは第7図に示される系によつて定められる時
定数である。この例に見るごとく三方弁24の簡単なオ
ンオフの切換え制御により変調を実現することができる
。尚、実施例のように、計測回路4からの計測結果に適
合する合成関数を最小二乗法により決定すれば統計法則
に則つた合理的な結果が得られる。
。ここにτは第7図に示される系によつて定められる時
定数である。この例に見るごとく三方弁24の簡単なオ
ンオフの切換え制御により変調を実現することができる
。尚、実施例のように、計測回路4からの計測結果に適
合する合成関数を最小二乗法により決定すれば統計法則
に則つた合理的な結果が得られる。
以上のように、この発明によれば、計測対象線源からの
強度を任意の関数形で変調し、前記任意の関数に比例係
数を乗じたものと定数との和から合成関数をこの変調を
受けた放射線についての計測結果に適合させ、前記合成
関数の比例係数と定数とを決定する演算処理を行うよう
に放射線計測)定装置を構成したので連続的に÷と測定
対象信号とを分離して測定することが可能となり、各種
放射モニタなどに応用した場合、測定感度を著るしく向
上させることができる。
強度を任意の関数形で変調し、前記任意の関数に比例係
数を乗じたものと定数との和から合成関数をこの変調を
受けた放射線についての計測結果に適合させ、前記合成
関数の比例係数と定数とを決定する演算処理を行うよう
に放射線計測)定装置を構成したので連続的に÷と測定
対象信号とを分離して測定することが可能となり、各種
放射モニタなどに応用した場合、測定感度を著るしく向
上させることができる。
第1図はこの発明による放射線検出装置の一実施例を示
すブロック図、第2図は第1図に示した実施例の動作を
示すための説明図、第3図は第2図の実施例の説明図、
第4図はこの発明の第3の実施例を示す構成図、第5図
は第4図に示したものの部分図、第6図は第4図に示し
たものの動作を説明するための説明図、第7図はこの発
明の第4の実施例に示す構成図、第8図は第7図に示し
たものの動作を説明するための説明図である。
すブロック図、第2図は第1図に示した実施例の動作を
示すための説明図、第3図は第2図の実施例の説明図、
第4図はこの発明の第3の実施例を示す構成図、第5図
は第4図に示したものの部分図、第6図は第4図に示し
たものの動作を説明するための説明図、第7図はこの発
明の第4の実施例に示す構成図、第8図は第7図に示し
たものの動作を説明するための説明図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 線源からの放射線の強度を任意の関数形に従つて時
間的に変調する線源強度変調手段、この線源強度変調手
段により変調された放射線を検出しその検出結果を出力
する放射線検出手段、この放射線検出手段の検出結果に
基いて放射線の強度を計測しその計測結果を出力する計
測手段、前記任意の関数に比例係数を乗じたものと前記
任意の関数に依存しない定数との和からなる合成関数を
前記計測手段からの時系列的な計測結果に適合させる演
算処理を行ない、前記合成関数の比例係数と定数とを決
定することにより計測対象信号レベルとバックグランド
レベルとを弁別して出力する弁別手段を備えた放射線測
定装置。 2 弁別手段は合成関数の比例係数と係数とを最小二乗
法により決定することを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の放射線測定装置。 3 線源強度変調手段は測定対象線源と放射線検出手段
との間に回転自在に設けられた放射線吸収材からなるセ
クタにより構成されてなることを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項に記載の放射線測定装置。 4 線源強度変調手段は、ガス状測定対象と放射能を含
まないガスとを選択的に検出手段側に導く切換弁からな
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項に
記載の放射線測定装置。 5 放射線の強度を変調する関数形は周期関数であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第4項のい
ずれかに記載の放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1476379A JPS6050310B2 (ja) | 1979-02-12 | 1979-02-12 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1476379A JPS6050310B2 (ja) | 1979-02-12 | 1979-02-12 | 放射線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55107969A JPS55107969A (en) | 1980-08-19 |
| JPS6050310B2 true JPS6050310B2 (ja) | 1985-11-07 |
Family
ID=11870106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1476379A Expired JPS6050310B2 (ja) | 1979-02-12 | 1979-02-12 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6050310B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55125467A (en) * | 1979-03-22 | 1980-09-27 | Eiichi Arai | Method and device for monitoring feeble radiant ray |
| JPS57136988U (ja) * | 1981-02-19 | 1982-08-26 | ||
| GB9922754D0 (en) * | 1999-09-27 | 1999-11-24 | British Nuclear Fuels Plc | Improvements in and relating to methods and apparatus for investigating emissions |
-
1979
- 1979-02-12 JP JP1476379A patent/JPS6050310B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55107969A (en) | 1980-08-19 |
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