JPH0426073B2 - - Google Patents
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- JPH0426073B2 JPH0426073B2 JP22069983A JP22069983A JPH0426073B2 JP H0426073 B2 JPH0426073 B2 JP H0426073B2 JP 22069983 A JP22069983 A JP 22069983A JP 22069983 A JP22069983 A JP 22069983A JP H0426073 B2 JPH0426073 B2 JP H0426073B2
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- JP
- Japan
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- measurement
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- contamination
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 170
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 72
- 238000011109 contamination Methods 0.000 claims description 49
- 238000011410 subtraction method Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N carbonyl sulfide Chemical compound O=C=S JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012857 radioactive material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/167—Measuring radioactive content of objects, e.g. contamination
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は汚染放射線量測定装置のバツクグラウ
ンド減算方法、特に汚染放射線量計数器にて計数
された全放射線量からバツクグラウンド放射線量
を減算して被検体の正味の汚染放射線量を測定す
る汚染放射線量測定装置のバツクグラウンド減算
方法に関する。
ンド減算方法、特に汚染放射線量計数器にて計数
された全放射線量からバツクグラウンド放射線量
を減算して被検体の正味の汚染放射線量を測定す
る汚染放射線量測定装置のバツクグラウンド減算
方法に関する。
放射性物質による被検体の汚染放射線量を測定
する汚染放射線量測定装置が周知であり、この装
置は放射性物質を取り扱う病院、研究所、実験室
等で働く作業者の手、足、衣服等の汚染放射線量
測定用として、更には他の被検体表面の汚染放射
線量測定用として広く使用されている。
する汚染放射線量測定装置が周知であり、この装
置は放射性物質を取り扱う病院、研究所、実験室
等で働く作業者の手、足、衣服等の汚染放射線量
測定用として、更には他の被検体表面の汚染放射
線量測定用として広く使用されている。
そして、放射能汚染はプラスチツクシンチレー
タ、GM管、ガスフローカウンタ等の放射線検出
器にて検出され、検出された放射線量を汚染放射
線量計数器にて計数することにより、汚染放射線
量の測定が行われる。
タ、GM管、ガスフローカウンタ等の放射線検出
器にて検出され、検出された放射線量を汚染放射
線量計数器にて計数することにより、汚染放射線
量の測定が行われる。
しかしながら、測定装置の周辺には汚染放射線
のほかに宇宙線等のバツクグラウンド放射線が存
在し、このため、被検体の正味の汚染放射線量を
測定するためには、汚染放射線量計数器にて計数
された全放射線量からバツクグラウンド放射線量
を減算する必要がある。
のほかに宇宙線等のバツクグラウンド放射線が存
在し、このため、被検体の正味の汚染放射線量を
測定するためには、汚染放射線量計数器にて計数
された全放射線量からバツクグラウンド放射線量
を減算する必要がある。
このようなバツクグラウンド減算方法として、
従来、汚染放射線量測定前に予め汚染放射線量計
数器にてバツクグラウンド放射線量を計数してお
き、測定時に汚染放射線量計数器にて計数された
全放射線量から測定前に得たバツクグラウンド放
射線量を減算する方法が行われていた。
従来、汚染放射線量測定前に予め汚染放射線量計
数器にてバツクグラウンド放射線量を計数してお
き、測定時に汚染放射線量計数器にて計数された
全放射線量から測定前に得たバツクグラウンド放
射線量を減算する方法が行われていた。
上記の方法では、バツクグラウンド放射線量の
測定時間を長く取ることが可能でああるため、バ
ツクグラウンド放射線量の減算による統計的バラ
ツキが少ないという利点を有している。
測定時間を長く取ることが可能でああるため、バ
ツクグラウンド放射線量の減算による統計的バラ
ツキが少ないという利点を有している。
しかしながら、上記の方法においては、測定開
始前と測定時においてバツクグラウンド放射線量
が変動しないことを前提としているので、前記測
定開始前後においてバツクグラウンド放射線量が
何らかの原因で変動すれば、測定誤差が大きくな
るという欠点を有し、特に一度バツクグラウンド
放射線量を計数した後、多数の測定を行う場合に
は、測定時からかなり離れた時点でのバツクグラ
ウンド放射線量を減算することになるので、測定
誤差の発生が多くなるという問題があつた。
始前と測定時においてバツクグラウンド放射線量
が変動しないことを前提としているので、前記測
定開始前後においてバツクグラウンド放射線量が
何らかの原因で変動すれば、測定誤差が大きくな
るという欠点を有し、特に一度バツクグラウンド
放射線量を計数した後、多数の測定を行う場合に
は、測定時からかなり離れた時点でのバツクグラ
ウンド放射線量を減算することになるので、測定
誤差の発生が多くなるという問題があつた。
従来、他のバツクグラウンド減算方法として、
放射線検出器のほかにバツクグラウンド放射線の
検出を専用とするバツクグラウンド検出器を設
け、汚染放射線量計数器で計数された全放射線量
から測定時にバツクグラウンド放射線量計数器に
て計数されたバツクグラウンド放射線量を減算す
ることが行われていた。
放射線検出器のほかにバツクグラウンド放射線の
検出を専用とするバツクグラウンド検出器を設
け、汚染放射線量計数器で計数された全放射線量
から測定時にバツクグラウンド放射線量計数器に
て計数されたバツクグラウンド放射線量を減算す
ることが行われていた。
しかしながら、上記の方法においては、両検出
器が近接配置されている場合はともかく、例え
ば、衣服の汚染放射線量測定等のように、移動可
能な放射線検出器を使用すると、両検出器間の距
離が遠くなる場合が生じ、必ずしも正確な測定を
行うことができないという欠点があつた。
器が近接配置されている場合はともかく、例え
ば、衣服の汚染放射線量測定等のように、移動可
能な放射線検出器を使用すると、両検出器間の距
離が遠くなる場合が生じ、必ずしも正確な測定を
行うことができないという欠点があつた。
また上記の方法においては、コスト等の点から
バツクグラウンド検出器として放射線検出器と同
種の検出器が使用されるのが一般的であり、この
ため、バツクグラウンド検出器が被検体の汚染放
射線をも検出する場合が生じ、測定誤差が大きく
なるという欠点があつた。
バツクグラウンド検出器として放射線検出器と同
種の検出器が使用されるのが一般的であり、この
ため、バツクグラウンド検出器が被検体の汚染放
射線をも検出する場合が生じ、測定誤差が大きく
なるという欠点があつた。
本発明は前述した従来の課題に鑑みなされたも
のであり、その目的は、測定開始前後においてバ
ツクグラウンド放射線量が変動した場合であつて
も、汚染放射線量を正確に測定することができる
汚染放射線量測定装置のバツクグラウンド減算方
法を提供することにある。
のであり、その目的は、測定開始前後においてバ
ツクグラウンド放射線量が変動した場合であつて
も、汚染放射線量を正確に測定することができる
汚染放射線量測定装置のバツクグラウンド減算方
法を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は汚染放射
線量計数器にて計数された全放射線量からバツク
グラウンド放射線量を減算して正味の汚染放射線
量を測定する汚染放射線量測定装置のバツクグラ
ウンド減算方法において、前記汚染放射線量計数
器により、汚染放射線量測定前の測定前自己バツ
クグラウンド放射線量を計数すると共に、測定時
の全放射線量を計数し、別に設けたバツクグラウ
ンド放射線量計数器により、前記汚染放射線量計
数器による全放射線量測定開始前における測定前
基準バツクグラウンド放射線量を計数すると共
に、測定時における測定時基準バツクグラウンド
放射線量を計数し、演算回路により、前記測定前
基準バツクグラウンド放射線量と測定時基準バツ
クグラウンド放射線量の変動率を演算し、この変
動率が予め設定された許容範囲内にある場合に
は、前記測定時の全放射線量から測定前自己バツ
クグラウンド放射線量をそのまま減算し、前記変
動率が前記許容範囲を超える場合には、前記測定
時の全放射線量から測定前自己バツクグラウンド
放射線量に前記変動率を掛けて得た補正放射線量
を減算することを特徴とする。
線量計数器にて計数された全放射線量からバツク
グラウンド放射線量を減算して正味の汚染放射線
量を測定する汚染放射線量測定装置のバツクグラ
ウンド減算方法において、前記汚染放射線量計数
器により、汚染放射線量測定前の測定前自己バツ
クグラウンド放射線量を計数すると共に、測定時
の全放射線量を計数し、別に設けたバツクグラウ
ンド放射線量計数器により、前記汚染放射線量計
数器による全放射線量測定開始前における測定前
基準バツクグラウンド放射線量を計数すると共
に、測定時における測定時基準バツクグラウンド
放射線量を計数し、演算回路により、前記測定前
基準バツクグラウンド放射線量と測定時基準バツ
クグラウンド放射線量の変動率を演算し、この変
動率が予め設定された許容範囲内にある場合に
は、前記測定時の全放射線量から測定前自己バツ
クグラウンド放射線量をそのまま減算し、前記変
動率が前記許容範囲を超える場合には、前記測定
時の全放射線量から測定前自己バツクグラウンド
放射線量に前記変動率を掛けて得た補正放射線量
を減算することを特徴とする。
以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説
明する。
明する。
図には、本発明に係るバツクグラウンド減算方
法に好適な汚染放射線量測定装置の回路構成が示
されている。
法に好適な汚染放射線量測定装置の回路構成が示
されている。
本実施例装置は汚染放射線量測定前の測定前自
己バツクグラウンド放射線及び測定時の全放射線
をそれぞれ検出する放射線検出器10a〜10e
を有している。本実施例においては、これらの放
射線検出器10として保守の点で優れたプラスチ
ツクシンチレータが使用され、それぞれ手、足、
衣服に対応して配置されている。
己バツクグラウンド放射線及び測定時の全放射線
をそれぞれ検出する放射線検出器10a〜10e
を有している。本実施例においては、これらの放
射線検出器10として保守の点で優れたプラスチ
ツクシンチレータが使用され、それぞれ手、足、
衣服に対応して配置されている。
また、測定開始前及び測定時における基準バツ
クグラウンド放射線(この放射線は必ずしもバツ
クグラウンド放射線のみから成るものではなく、
被検体からの漏れ汚染放射線も含まれる)を検出
するために、前記各放射線検出器10a〜10e
とは別に1つのバツクグラウンド検出器12が配
置され、本実施例においては、このバツクグラウ
ンド検出器12として前記放射線検出器10と同
様なプラスチツクシンチレータが使用されてい
る。
クグラウンド放射線(この放射線は必ずしもバツ
クグラウンド放射線のみから成るものではなく、
被検体からの漏れ汚染放射線も含まれる)を検出
するために、前記各放射線検出器10a〜10e
とは別に1つのバツクグラウンド検出器12が配
置され、本実施例においては、このバツクグラウ
ンド検出器12として前記放射線検出器10と同
様なプラスチツクシンチレータが使用されてい
る。
そして、前記各検出器10,12は放射線量に
応じた光を発生し、これらの光は、それぞれ光電
子増倍管(図示せず)により光量に比例した電気
パルス信号に変換され、これらのパルス信号は増
幅回路14a〜14fを介してそれぞれ汚染放射
線量計数器16a〜16e、バツクグラウンド放
射線量計数器18へ供給される。そして、各汚染
放射線量計数器16a〜16eは汚染放射線量測
定前の測定前自己バツクグラウンド放射線量及び
測定時の全放射線量をそれぞれ計数し、またバツ
クグラウンド放射線量計数器18は前記測定開始
前及び測定時における測定前基準バツクグラウン
ド放射線量及び測定時基準バツクグラウンド放射
線量をそれぞれ計数する。
応じた光を発生し、これらの光は、それぞれ光電
子増倍管(図示せず)により光量に比例した電気
パルス信号に変換され、これらのパルス信号は増
幅回路14a〜14fを介してそれぞれ汚染放射
線量計数器16a〜16e、バツクグラウンド放
射線量計数器18へ供給される。そして、各汚染
放射線量計数器16a〜16eは汚染放射線量測
定前の測定前自己バツクグラウンド放射線量及び
測定時の全放射線量をそれぞれ計数し、またバツ
クグラウンド放射線量計数器18は前記測定開始
前及び測定時における測定前基準バツクグラウン
ド放射線量及び測定時基準バツクグラウンド放射
線量をそれぞれ計数する。
前記各計数器16,18にてそれぞれ計数され
た放射線量は演算回路20に供給され、この演算
回路20は前記測定開始前及び測定時における基
準バツクグラウンド放射線量の変動率を演算し、
変動率に応じたバツクグラウンド減算を行い、減
算結果である被検体の正味の汚染放射線量が表示
装置22に表示される。
た放射線量は演算回路20に供給され、この演算
回路20は前記測定開始前及び測定時における基
準バツクグラウンド放射線量の変動率を演算し、
変動率に応じたバツクグラウンド減算を行い、減
算結果である被検体の正味の汚染放射線量が表示
装置22に表示される。
本発明のバツクグラウンド減算方法に好適な汚
染放射線量測定装置は以上のような構成から成
り、以下にバツクグラウンド減算方法について説
明する。
染放射線量測定装置は以上のような構成から成
り、以下にバツクグラウンド減算方法について説
明する。
まず前記汚染放射線量計数器16により汚染放
射線量測定前の測定前自己バツクグラウンド放射
線量及び測定時の全放射線量をそれぞれ計数し、
またバツクグラウンド放射線量計数器18により
測定開始前及び測定時における基準バツクグラウ
ンド放射線量をそれぞれ計数する。
射線量測定前の測定前自己バツクグラウンド放射
線量及び測定時の全放射線量をそれぞれ計数し、
またバツクグラウンド放射線量計数器18により
測定開始前及び測定時における基準バツクグラウ
ンド放射線量をそれぞれ計数する。
そして、演算回路20はバツクグラウンド放射
線量計数器18にて計数された測定開始前及び測
定時における基準バツクグラウンド放射線量に基
づいて、前記測定開始前及び測定時における基準
バツクグラウンド放射線量の変動率を演算する。
前記変動の有無の判断には各種の方法が考えられ
るが、本実施例においては、変動率が予め設定さ
れた許容範囲内にある場合、すなわち、下記の式
を満足する場合には、基準バツクグラウンド放射
線量が変動していないものと判断し、一方、前記
変動率が前記許容範囲を超える場合、すなわち、
下記の式を満足しない場合には、基準バツクグラ
ウンド放射線量が変動しているものと判断する。
線量計数器18にて計数された測定開始前及び測
定時における基準バツクグラウンド放射線量に基
づいて、前記測定開始前及び測定時における基準
バツクグラウンド放射線量の変動率を演算する。
前記変動の有無の判断には各種の方法が考えられ
るが、本実施例においては、変動率が予め設定さ
れた許容範囲内にある場合、すなわち、下記の式
を満足する場合には、基準バツクグラウンド放射
線量が変動していないものと判断し、一方、前記
変動率が前記許容範囲を超える場合、すなわち、
下記の式を満足しない場合には、基準バツクグラ
ウンド放射線量が変動しているものと判断する。
(基準バツクグラウンド放射線量の変動の有無
の判断式) |Nb−Bb×T/600|≦2√ ただし、Nbは測定時におけるバツクグラウン
ド放射線計数器18による基準バツクグラウンド
放射線量、Bbは測定開始前10分間におけるバツ
クグラウンド放射線計数器18による基準バツク
グラウンド放射線量、Tは汚染放射線量測定時間
(秒)である。なお、基準バツクグラウンド放射
線量は10分間の計数値であるため、T/600をBb
に乗算することにより、Nbとの時間的な整合を
とつている。また、許容量を2√としたのは、
一般的な計測値の変動範囲はその値の平方根で表
すことが多く、この場合はこれに余裕分として2
を乗算した範囲が実験結果より好ましいと判断さ
れたからである。
の判断式) |Nb−Bb×T/600|≦2√ ただし、Nbは測定時におけるバツクグラウン
ド放射線計数器18による基準バツクグラウンド
放射線量、Bbは測定開始前10分間におけるバツ
クグラウンド放射線計数器18による基準バツク
グラウンド放射線量、Tは汚染放射線量測定時間
(秒)である。なお、基準バツクグラウンド放射
線量は10分間の計数値であるため、T/600をBb
に乗算することにより、Nbとの時間的な整合を
とつている。また、許容量を2√としたのは、
一般的な計測値の変動範囲はその値の平方根で表
すことが多く、この場合はこれに余裕分として2
を乗算した範囲が実験結果より好ましいと判断さ
れたからである。
そして、前記基準バツクグラウンド放射線量が
変動していないものと判断された場合には、正味
のバツクグラウンド放射線量も変動していないも
のとみなされ、この場合には、測定時の全放射線
量から測定開始前の測定前自己バツクグラウンド
放射線量をそのまま減算して被検体の正味の汚染
放射線量が測定される。
変動していないものと判断された場合には、正味
のバツクグラウンド放射線量も変動していないも
のとみなされ、この場合には、測定時の全放射線
量から測定開始前の測定前自己バツクグラウンド
放射線量をそのまま減算して被検体の正味の汚染
放射線量が測定される。
すなわち、被検体の正味の汚染放射線量をNo
とすれば No=N−B×T/600 で表わされる。
とすれば No=N−B×T/600 で表わされる。
ただし、Nは汚染放射線計数器16における測
定時の全放射線量、Bは汚染放射線計数器16に
おける測定前10分間のバツクグラウンド放射線
量、Tは汚染放射線量測定時間(秒)である。
定時の全放射線量、Bは汚染放射線計数器16に
おける測定前10分間のバツクグラウンド放射線
量、Tは汚染放射線量測定時間(秒)である。
一方、基準バツクグラウンド放射線量が変動し
ているものと判断された場合には、正味のバツク
グラウンド放射線量も変動しているものとみなさ
れ、この場合には、測定時の全放射線量から測定
開始前の放射線検出器10により得たバツクグラ
ウンド放射線量に変動率を掛けた相当バツクグラ
ウンド放射線量を減算して、被検体の正味の汚染
放射線量が測定される。
ているものと判断された場合には、正味のバツク
グラウンド放射線量も変動しているものとみなさ
れ、この場合には、測定時の全放射線量から測定
開始前の放射線検出器10により得たバツクグラ
ウンド放射線量に変動率を掛けた相当バツクグラ
ウンド放射線量を減算して、被検体の正味の汚染
放射線量が測定される。
すなわち、被検体の正味の汚染放射線量Noは、
No=N−B×T/600×Nb/Bb×T/600=N−B×Nb/
Bb で表わされる。
Bb で表わされる。
このように本実施例においては、基準バツクグ
ラウンド放射線量の変動率の演算に基づいて正味
のバツクグラウンド放射線量の変動の有無を判断
し、この変動の有無に応じたバツクグラウンド放
射線量を減算するように構成されているので、た
とえ測定開始前及び測定時においてバツクグラウ
ンド放射線量が変動した場合にあつても、汚染放
射線量を正確に測定することができる。
ラウンド放射線量の変動率の演算に基づいて正味
のバツクグラウンド放射線量の変動の有無を判断
し、この変動の有無に応じたバツクグラウンド放
射線量を減算するように構成されているので、た
とえ測定開始前及び測定時においてバツクグラウ
ンド放射線量が変動した場合にあつても、汚染放
射線量を正確に測定することができる。
以上説明した実施例においては、手、足、衣服
の表面汚染放射線量測定装置に適用した場合であ
るが、全身表面汚染放射線量測定装置に適用する
ことも可能である。
の表面汚染放射線量測定装置に適用した場合であ
るが、全身表面汚染放射線量測定装置に適用する
ことも可能である。
以上説明したように、本発明によれば、汚染放
射線量測定開始前後における基準バツクグラウン
ド放射線量を演算回路により演算し、その変動の
有無及び変動率に応じてバツクグラウンド放射線
量の減算が行われるので、測定開始前及び測定時
においてバツクグラウンド放射線量が変動した場
合であつても、汚染放射線量を正確に測定するこ
とができる。
射線量測定開始前後における基準バツクグラウン
ド放射線量を演算回路により演算し、その変動の
有無及び変動率に応じてバツクグラウンド放射線
量の減算が行われるので、測定開始前及び測定時
においてバツクグラウンド放射線量が変動した場
合であつても、汚染放射線量を正確に測定するこ
とができる。
図は本発明に係るバツクグラウンド減算方法に
好適な汚染放射線量測定装置の回路構成図であ
る。 10a〜10e…放射線検出器、12…バツク
グラウンド検出器、16a〜16e…汚染放射線
量計数器、18…バツクグラウンド放射線量計数
器、20…演算回路。
好適な汚染放射線量測定装置の回路構成図であ
る。 10a〜10e…放射線検出器、12…バツク
グラウンド検出器、16a〜16e…汚染放射線
量計数器、18…バツクグラウンド放射線量計数
器、20…演算回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 汚染放射線量計数器にて計数された全放射線
量からバツクグラウンド放射線量を減算して正味
の汚染放射線量を測定する汚染放射線量測定装置
のバツクグラウンド減算方法において、 前記汚染放射線量計数器により、汚染放射線量
測定前の測定前自己バツクグラウンド放射線量を
計数すると共に、測定時の全放射線量を計数し、 別に設けたバツクグラウンド放射線量計数器に
より、前記汚染放射線量計数器による全放射線量
測定開始前における測定前基準バツクグラウンド
放射線量を計数すると共に、測定時における測定
時基準バツクグラウンド放射線量を計数し、 演算回路により、前記測定前基準バツクグラウ
ンド放射線量と測定時基準バツクグラウンド放射
線量の変動率を演算し、 この変動率が予め設定された許容範囲内にある
場合には、前記測定時の全放射線量から測定前自
己バツクグラウンド放射線量をそのまま減算し、 前記変動率が前記許容範囲を超える場合には、
前記測定時の全放射線量から測定前自己バツクグ
ラウンド放射線量に前記変動率を掛けて得た補正
放射線量を減算することを特徴とする汚染放射線
量測定装置のバツクグラウンド減算方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22069983A JPS60113173A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 汚染放射線量測定装置のバツクグラウンド減算方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22069983A JPS60113173A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 汚染放射線量測定装置のバツクグラウンド減算方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60113173A JPS60113173A (ja) | 1985-06-19 |
| JPH0426073B2 true JPH0426073B2 (ja) | 1992-05-06 |
Family
ID=16755101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22069983A Granted JPS60113173A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 汚染放射線量測定装置のバツクグラウンド減算方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60113173A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9054391B2 (en) | 2010-03-31 | 2015-06-09 | Namics Corporation | Lithium ion secondary battery and method for producing same |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP4828962B2 (ja) * | 2006-02-24 | 2011-11-30 | 株式会社東芝 | 放射能検査方法および装置 |
| EP3646066B1 (en) * | 2017-06-30 | 2025-09-03 | Lantern Unmanned Autonomous Systems LLC | Unmanned autonomous container inspection |
-
1983
- 1983-11-25 JP JP22069983A patent/JPS60113173A/ja active Granted
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US9054391B2 (en) | 2010-03-31 | 2015-06-09 | Namics Corporation | Lithium ion secondary battery and method for producing same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60113173A (ja) | 1985-06-19 |
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