JPS6050417A - 工業計器自動試験装置 - Google Patents
工業計器自動試験装置Info
- Publication number
- JPS6050417A JPS6050417A JP15875283A JP15875283A JPS6050417A JP S6050417 A JPS6050417 A JP S6050417A JP 15875283 A JP15875283 A JP 15875283A JP 15875283 A JP15875283 A JP 15875283A JP S6050417 A JPS6050417 A JP S6050417A
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- G—PHYSICS
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- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は計測分野で使用される工業１器の自動試験装
置、特に被試験計器に入力する試験入力信号に特徴を有
゛する工業計器自動試験装置に関する。
置、特に被試験計器に入力する試験入力信号に特徴を有
゛する工業計器自動試験装置に関する。
（ロ）従来技術
工業バ１器には、電気信号あるいは空気圧信号のいずれ
かを入力・出力信号とするものや電気信号を入力信号、
空気圧信号を出力信号とするもの、さらにその逆のもの
等がある。従来、これらの、に業計器の直線性精度を測
定するのに、外部から例えばその計器のスパンの０％、
２５％、５０％、７５％、１００％に相当する信号を入
力し、それに対応した出力信号値を測定し、その値から
精度をｒｔｌ算していた。この外部から与える信号は、
ゴー動切替か、第１図に示すよ・うに一定時間（ｔｌ）
ずつ与えるか、あるいは被試験計器の出力をチェックし
、出力が安定したら、被試験ｎｉ器のデータをサンプリ
ングし、次の試験値を被試験１器に入力する等の方法で
与えられていた。しかしながら、これらの試験信号はい
ずれも例えば０％、２５％・・・１００％といった一定
の値をある時間与えるものであるため、例えばｍＶ変換
器とがアイソレータといった時定数の長い一次遅れの入
力をもつ計器の場合、どうしても１つのデータを与える
時間幅が長くなり、迅速な測定ができないという欠点が
あった。すなわち時定数をＴとすると、ステップ応答に
対して定常値の９９％、９９．９％、９９．９９％にな
る時間はそれぞれ４．６ Ｔ、６．９Ｔ、９．２Ｔとな
り、例時定数Ｔを１秒、計器の精度を０．５％とすると
、９９．９％のレー・ルに達するには６．９秒もの時間
を要した。
かを入力・出力信号とするものや電気信号を入力信号、
空気圧信号を出力信号とするもの、さらにその逆のもの
等がある。従来、これらの、に業計器の直線性精度を測
定するのに、外部から例えばその計器のスパンの０％、
２５％、５０％、７５％、１００％に相当する信号を入
力し、それに対応した出力信号値を測定し、その値から
精度をｒｔｌ算していた。この外部から与える信号は、
ゴー動切替か、第１図に示すよ・うに一定時間（ｔｌ）
ずつ与えるか、あるいは被試験計器の出力をチェックし
、出力が安定したら、被試験ｎｉ器のデータをサンプリ
ングし、次の試験値を被試験１器に入力する等の方法で
与えられていた。しかしながら、これらの試験信号はい
ずれも例えば０％、２５％・・・１００％といった一定
の値をある時間与えるものであるため、例えばｍＶ変換
器とがアイソレータといった時定数の長い一次遅れの入
力をもつ計器の場合、どうしても１つのデータを与える
時間幅が長くなり、迅速な測定ができないという欠点が
あった。すなわち時定数をＴとすると、ステップ応答に
対して定常値の９９％、９９．９％、９９．９９％にな
る時間はそれぞれ４．６ Ｔ、６．９Ｔ、９．２Ｔとな
り、例時定数Ｔを１秒、計器の精度を０．５％とすると
、９９．９％のレー・ルに達するには６．９秒もの時間
を要した。
（ハ）目的
この発明の目的は、上記に鑑み、出来るだけ短時間で出
力が安定し、測定が迅速に行える工業計器自動試験装置
を提供することである。
力が安定し、測定が迅速に行える工業計器自動試験装置
を提供することである。
（ニ）構成
上記目的を達成するために、この発明の工業計器自動試
験装置は、試験信号を被試験計器に入力する当初の一定
時間、本来試験信号として加える値よりも大なる値で発
生ずるようにし、被試験計器の出力が、早期に所定値と
なるようにしている。
験装置は、試験信号を被試験計器に入力する当初の一定
時間、本来試験信号として加える値よりも大なる値で発
生ずるようにし、被試験計器の出力が、早期に所定値と
なるようにしている。
すなわら、この発明の工業計器自動試験装置は、被試験
計器に入力するため試験信号を出力する信号発生部と、
前記被試験計器の出力信号を受けて試験測定を行う測定
部と、種々の被試験ム；器の異なる遅れ時定数に対応し
て、所定の試験入力信号Ｅｉより大きい値ＫＥｉと、そ
の値を出力する時間゛Ｆを含む波形パターンを予め記憶
する波形リスト記憶手段と、前記被試験計器の遅れ時定
数を入力する手段と、入力された被試験計器の遅れ時定
数に応答して前記波形リスト記憶手段より、対応する前
記ＫＥｉ値、及び時間Ｔを導出する手段とを備え、前記
信号発生部より測定開始′■゛時間はＫＥｉの信号を出
力し、Ｔ時間後はＥ ｉの信男を発生ずるようにしてい
る。
計器に入力するため試験信号を出力する信号発生部と、
前記被試験計器の出力信号を受けて試験測定を行う測定
部と、種々の被試験ム；器の異なる遅れ時定数に対応し
て、所定の試験入力信号Ｅｉより大きい値ＫＥｉと、そ
の値を出力する時間゛Ｆを含む波形パターンを予め記憶
する波形リスト記憶手段と、前記被試験計器の遅れ時定
数を入力する手段と、入力された被試験計器の遅れ時定
数に応答して前記波形リスト記憶手段より、対応する前
記ＫＥｉ値、及び時間Ｔを導出する手段とを備え、前記
信号発生部より測定開始′■゛時間はＫＥｉの信号を出
力し、Ｔ時間後はＥ ｉの信男を発生ずるようにしてい
る。
（ホ）実施例
以下、実施例により、この発明をさらに１ｉＴｉ細に説
明する。
明する。
第２図は実施例の工業計器自動試験装置を用いて、被試
験計器を試験する場合の概略接続図を示し、自動試験装
置１より試験信号ＥＴが被試験計器２に入力され、この
試験入力信号ＥＩに応答して被試験計器２より出力信号
ＥＯが導出され、自動試験装置１に取込まれて測定され
る状態を示している。
験計器を試験する場合の概略接続図を示し、自動試験装
置１より試験信号ＥＴが被試験計器２に入力され、この
試験入力信号ＥＩに応答して被試験計器２より出力信号
ＥＯが導出され、自動試験装置１に取込まれて測定され
る状態を示している。
第３図は、この発明の１実施例を示す工業計器自動試験
装置のブロック図である。同図において、１１は被試験
計器の出力信号（たとえば電気信号）ＥＯを受ける測定
部であり、この電気信号ＥＯはＡ／Ｄ変換器１２でアナ
ログ信号からデジタル信号に変換され、Ｉ１０インタフ
ェース１３を経て、ＣＰＵ （マイクロプロセツサ）１
４に取込まれるようになっている。１５はＣＰＵ１４用
のプログラム、ｌ＆述する波形リスト等を記憶するメモ
リである。１１は被試験計器に入力する試験信号ＥＩを
発生ずる信号発生部である。信号発生部１１よゲ出力さ
れる試験信号Ｅｌは電気信号又は空気圧信号であり、Ｃ
ＰＵ１４よりデジタル信号で出力され、Ｉ１０インタフ
ェースＩ３を経て、Ｄ ／ Ａ変換器１６でアナログ信
号に変換され、信号発生部１７に加えられる信号に対応
するものである。
装置のブロック図である。同図において、１１は被試験
計器の出力信号（たとえば電気信号）ＥＯを受ける測定
部であり、この電気信号ＥＯはＡ／Ｄ変換器１２でアナ
ログ信号からデジタル信号に変換され、Ｉ１０インタフ
ェース１３を経て、ＣＰＵ （マイクロプロセツサ）１
４に取込まれるようになっている。１５はＣＰＵ１４用
のプログラム、ｌ＆述する波形リスト等を記憶するメモ
リである。１１は被試験計器に入力する試験信号ＥＩを
発生ずる信号発生部である。信号発生部１１よゲ出力さ
れる試験信号Ｅｌは電気信号又は空気圧信号であり、Ｃ
ＰＵ１４よりデジタル信号で出力され、Ｉ１０インタフ
ェースＩ３を経て、Ｄ ／ Ａ変換器１６でアナログ信
号に変換され、信号発生部１７に加えられる信号に対応
するものである。
この試験信号Ｅｌの波形は第４図に示すように、立上が
りｌ＆Ｔ１は本来的な試験信号Ｅ】のに信のＫＥｉであ
り、その後は所定値Ｅｉの倍力である。
りｌ＆Ｔ１は本来的な試験信号Ｅ】のに信のＫＥｉであ
り、その後は所定値Ｅｉの倍力である。
上記Ｋ及びＴＩは、被試験計器の遅れ時定数によって決
まるものであり、各種の時定数に対応するＫ及び１゛１
の値が波形リストとじて、予めメモリ１５に記憶されて
いる。１８は測定信号あるいは発生信号を表示する表示
部、１９は同しく測定信号あるいは発生信号をプリント
アウト である。２０は設定部であって、測定部、発生部の電気
信号、空気圧信号の種別等を設定するキーの他、被試験
１器の時定数が既知であればごれを指定する既知指定キ
ー、及びその時定数を人力するためのキーを備えている
。
まるものであり、各種の時定数に対応するＫ及び１゛１
の値が波形リストとじて、予めメモリ１５に記憶されて
いる。１８は測定信号あるいは発生信号を表示する表示
部、１９は同しく測定信号あるいは発生信号をプリント
アウト である。２０は設定部であって、測定部、発生部の電気
信号、空気圧信号の種別等を設定するキーの他、被試験
１器の時定数が既知であればごれを指定する既知指定キ
ー、及びその時定数を人力するためのキーを備えている
。
ＣＰＵＩ ４ば、メモリ１５に記憶されるプ１′１グラ
ムにしたがい、試験入力信号の発生、測定信号の取込等
、一連の試験測定のための処理を実行ｊ゛る。
ムにしたがい、試験入力信号の発生、測定信号の取込等
、一連の試験測定のための処理を実行ｊ゛る。
次に、以」二のように構成される］−業計器自動試験装
置の試験測定処理動作を第５図に示すフローチャートを
参照して説明する。なお被試験計器としてｍＶ変換器を
例にとることとする。ｍＶ変換器の時定数が既知の場合
は、測定者は設定部２０で時定数既知の指定と時定数の
設定を行う。時定数が未知の場合は既知指定の設定を行
わない。
置の試験測定処理動作を第５図に示すフローチャートを
参照して説明する。なお被試験計器としてｍＶ変換器を
例にとることとする。ｍＶ変換器の時定数が既知の場合
は、測定者は設定部２０で時定数既知の指定と時定数の
設定を行う。時定数が未知の場合は既知指定の設定を行
わない。
動作がスタ〜）・すると、まずステップＳ Ｔ １で被
試験計器、すなわちｍＶ変換器の時定数が既知か否か判
定する。設定部２０で既知指定がなされていないと、こ
の’Ｉ′ｌＪ定はＮｏとなり、続いてステップＳＴ２で
被試験計器に一定の大きさの信号、例えば１００％の信
号〔第６図（ａ）参照〕を入力する。そして、この入力
波形に応答する被試験体の出力波形〔第６図（ｂ）参照
〕をモニタする（ステップ５Ｔ３）。このモニタにより
、被試験計器の時定数を算出する。そして次のステップ
ＳＴ４に移る。
試験計器、すなわちｍＶ変換器の時定数が既知か否か判
定する。設定部２０で既知指定がなされていないと、こ
の’Ｉ′ｌＪ定はＮｏとなり、続いてステップＳＴ２で
被試験計器に一定の大きさの信号、例えば１００％の信
号〔第６図（ａ）参照〕を入力する。そして、この入力
波形に応答する被試験体の出力波形〔第６図（ｂ）参照
〕をモニタする（ステップ５Ｔ３）。このモニタにより
、被試験計器の時定数を算出する。そして次のステップ
ＳＴ４に移る。
ステップＳＴＩで、時定数が既知の場合は、ステップＳ
Ｔ２、ＳＴ３の処理は不要であり、直ちにステップＳＴ
４に移る。ステップＳＴ４では、設定入力されたあるい
は波形入力で算出された時定数に基づき、メモリ１５の
波形リストを参照し、最適の試験入力信号波形を抽出す
る。ごの試験入力信号波形は、第６図（ｃ）の通りであ
るが、この信号波形の高さｈ及び幅ｔｗは、−次遅れの
時定数に対応することになる。この試験入力信号が第６
図（ｃ）に示す波形で被試験計器に入力されると、その
出力波形は第６図（ｄ）に示す波形となり、早期に所定
レベルに達するので、この出力値の安定により、最後に
目的とする直線性の測定を実行する（ステップ５Ｔ５）
。
Ｔ２、ＳＴ３の処理は不要であり、直ちにステップＳＴ
４に移る。ステップＳＴ４では、設定入力されたあるい
は波形入力で算出された時定数に基づき、メモリ１５の
波形リストを参照し、最適の試験入力信号波形を抽出す
る。ごの試験入力信号波形は、第６図（ｃ）の通りであ
るが、この信号波形の高さｈ及び幅ｔｗは、−次遅れの
時定数に対応することになる。この試験入力信号が第６
図（ｃ）に示す波形で被試験計器に入力されると、その
出力波形は第６図（ｄ）に示す波形となり、早期に所定
レベルに達するので、この出力値の安定により、最後に
目的とする直線性の測定を実行する（ステップ５Ｔ５）
。
ここで、入力波形Ｅｌの決定方法の１例を第４図を参照
して説明する。
して説明する。
第４図のように、波形立上がりから時間′１゛１経過後
まで所定の入力値に対しα％大きな信号を入力し、出力
の立」二がりを速め、定常値の手前で所定の入力Ｅｊに
戻すと、この場合の出力ＥＯはＥＯ＝ＫＥｉ （１−ｅ
−〒）４−ｆＥｉ−ＫＥｉ−工！ Ｊ」ｒ （１−ｅ”）ｌ （１−ｅ 丁 ） で表せる。
まで所定の入力値に対しα％大きな信号を入力し、出力
の立」二がりを速め、定常値の手前で所定の入力Ｅｊに
戻すと、この場合の出力ＥＯはＥＯ＝ＫＥｉ （１−ｅ
−〒）４−ｆＥｉ−ＫＥｉ−工！ Ｊ」ｒ （１−ｅ”）ｌ （１−ｅ 丁 ） で表せる。
今、例えば入力ＫＥｉの信号をＴ１時間与えて、出力波
形の立上がりを速め、時間Ｔ１の時点で出力値Ｅａが定
常値の９９％となるようにし、そのＴＩ＝Ｔとすれば、
すなわち時間Ｔ１を時定数Ｔと等しくすれば、 Ｋ （１−Ｇ−’） ＝０．９９ 、−、に＝１．６ となる。また最終値が定常値の９９．９％に達した時に
測定を行うものとすると ０．９９Ｅｉ＋ （１−０，９９）Ｅｉ＝１」１ （１−ｅ Ｔ ） −０，９９９Ｅｉ これを解いて（但しＴＩ＝’Ｆ） ｔ ＝ ３ｔ３ Ｔ このｔは出力値が定常値の９９９％に達するまでの時間
を示し、ステップ入力で同じ出力を得るに要する時間６
，９Ｔに比べて約２である（第４図のＥＯ：入力波形Ｅ
■に対する応答、ＥＳＳニステップ力ｔこ対する応答を
参照）。
形の立上がりを速め、時間Ｔ１の時点で出力値Ｅａが定
常値の９９％となるようにし、そのＴＩ＝Ｔとすれば、
すなわち時間Ｔ１を時定数Ｔと等しくすれば、 Ｋ （１−Ｇ−’） ＝０．９９ 、−、に＝１．６ となる。また最終値が定常値の９９．９％に達した時に
測定を行うものとすると ０．９９Ｅｉ＋ （１−０，９９）Ｅｉ＝１」１ （１−ｅ Ｔ ） −０，９９９Ｅｉ これを解いて（但しＴＩ＝’Ｆ） ｔ ＝ ３ｔ３ Ｔ このｔは出力値が定常値の９９９％に達するまでの時間
を示し、ステップ入力で同じ出力を得るに要する時間６
，９Ｔに比べて約２である（第４図のＥＯ：入力波形Ｅ
■に対する応答、ＥＳＳニステップ力ｔこ対する応答を
参照）。
以上より、被試験計器の時定数が既知であれば、」二記
試験入力信４ＥｙのＫ及びＴ１が決定できるから、時定
数Ｔ″に対応して、最も立」二がりを速くするＫ及びＴ
１を予めめておき、これをリストとして珂己憶しておけ
ばよい。
試験入力信４ＥｙのＫ及びＴ１が決定できるから、時定
数Ｔ″に対応して、最も立」二がりを速くするＫ及びＴ
１を予めめておき、これをリストとして珂己憶しておけ
ばよい。
（へ）効果
この発明の工業計器自動試験装置によれば、被試験計器
に入力する試験信号を、立上がり時の所定時間Ｔ１だけ
所定値Ｅｉよりも大なる値ＫＥｉとし、所定時間Ｔ１経
過後は、試験のための所定値Ｅｉとするものであるから
、被試験計器が一次遅れ時定数を持つものであっても出
力波形を速く立上がらせることができ、所要の測定を迅
速に行うことができる。
に入力する試験信号を、立上がり時の所定時間Ｔ１だけ
所定値Ｅｉよりも大なる値ＫＥｉとし、所定時間Ｔ１経
過後は、試験のための所定値Ｅｉとするものであるから
、被試験計器が一次遅れ時定数を持つものであっても出
力波形を速く立上がらせることができ、所要の測定を迅
速に行うことができる。
第１図は従来の工業計器の直線性を測定する場合の入力
波形の１例を示す図、第２図はこの発明の実施例の工業
計器自動試験装置の使用時の接続状態を示す概略図、第
３図はこの発明の１実施例を示す］工業計器自動試験装
置のブロック図、第４図は同１ゴ動試験装置より出力さ
れる試験入力信号及びその出力応答波形を示す図、第５
図は同自動試験装置の制御ジローチャー１・、第６図は
同自動試験装置を用いて被試験計器を試験する場合の動
作を説明するだめの被試験計器の入出力波形図である。 １１：測定部、 １１ＣＰ［Ｊ、 １５：メモリ、 １７：信号発生部、 ２０：設定部 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士 中 利 茂 信 第１図 第２図 第５図・ 第６図
波形の１例を示す図、第２図はこの発明の実施例の工業
計器自動試験装置の使用時の接続状態を示す概略図、第
３図はこの発明の１実施例を示す］工業計器自動試験装
置のブロック図、第４図は同１ゴ動試験装置より出力さ
れる試験入力信号及びその出力応答波形を示す図、第５
図は同自動試験装置の制御ジローチャー１・、第６図は
同自動試験装置を用いて被試験計器を試験する場合の動
作を説明するだめの被試験計器の入出力波形図である。 １１：測定部、 １１ＣＰ［Ｊ、 １５：メモリ、 １７：信号発生部、 ２０：設定部 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士 中 利 茂 信 第１図 第２図 第５図・ 第６図
Claims (1)
- （１）被試験計器に入力するため試験信号を出力する信
号発生部と、前記被試験計器の出力信号を受けて試験測
定を行う測定部と、種々の被試験計器の異なる遅れ時定
数に対応して、所定の試験入力信号Ｅｉより大きい値Ｋ
Ｅｉと、その値を出力する時間Ｔを含む波形パターンを
予め記憶する波形リスト記憶手段と、前記被試験計器の
遅れ時定数を入力する手段と、入力された被試験１器の
遅れ時定数に応答して前記波形リスト記憶手段より、対
応する前記ＫＥｉ値、及び時間Ｔを導出する手段とを備
え、前記信号先住部より測定開始７時間はＫＥｉの信号
を出力し、Ｔ時間後はＥｉの信号を発生するようにした
ことを特徴とする工業計器自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15875283A JPS6050417A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 工業計器自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15875283A JPS6050417A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 工業計器自動試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6050417A true JPS6050417A (ja) | 1985-03-20 |
Family
ID=15678556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15875283A Pending JPS6050417A (ja) | 1983-08-30 | 1983-08-30 | 工業計器自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6050417A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63205513A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-25 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 誤差補正方式 |
| JPH0372221A (ja) * | 1989-08-11 | 1991-03-27 | Nagano Technical Service:Kk | 異常診断装置 |
-
1983
- 1983-08-30 JP JP15875283A patent/JPS6050417A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63205513A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-25 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 誤差補正方式 |
| JPH0372221A (ja) * | 1989-08-11 | 1991-03-27 | Nagano Technical Service:Kk | 異常診断装置 |
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