JPS6076609A - 測定値処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 不発明はｈ１劃制御技術において比較的ゆっくりと最終
足常値へ近すいて行く物理量を早く測定する測定値処理
装置に関するものである。

一般に、指数関数的に収束するような物理量を測定する
場合は、その最終値を測定するには時間がかかる。従来
このような最終値の予測技術はあま９例がないが、測定
値の変化が一足値以下になったことを表示し現在の測定
値が最終値に近すいた事を示す例がある。この場合測定
値の収束が遅い場合最終予想値を得るまでに長い時間全
必要とする欠点があった。

本発明の目的は、測定値が指数関数的に最終値へ近ずく
ような場合に、測定開始直後から最終値の推定をして短
時間に最終値をめられるようにした測定値処理方式全提
供することにある。

本発明の測定値処理装置は、ある物理量を一足時間毎Ｋ
　ｍ１１足し少くとも３個の測定値’１０　ｍ　Ｉｌ、
　Ｉｌ寓を得る測定手段と、この測定手段の測定値から
次の計算値Ｔ 全演算する演算手段と、この演η１手段により計算され
た演算値Ｔｉ表示する表示手段と全含み構成される。

本発明は、定常値へ収束しつつある物理量が指数関数的
に収束すると仮定し、現在の測定値より最終定常値を予
測計算するものであるが、さらに測定値のと力万奮−足
時間（△ｔとする）間隔とツーる事により３点のみの測
定値（Ｔｏ、Ｔｔ＊Ｔｚとする）を用いて最終足常予想
値（１′とする〕を以下の簡単な式で予測計算できるよ
うにしたものである拳 この（１）式は、時冗数τとした時、任意時間ｔにおけ
る測定値′１゛ｔの式 ％式％（２） から導かれるが測定値の時足数τや時間間隔△ｔに無関
係で３点の測定値のみで表わされる。

次に本発明の実施例を図面全参照して説明する一第１図
は両足値の収束状態の例をグラスで表わしたものである
。第２図はτ＝１分、Ｔ＝１の場合の両足数値列全計算
により３桁までめたもの纂２図の数値列Ｌカ最終値Ｔｉ
計算してみると次のようになる。

これら２）、３）の例から測定値の変化がゆるくなれば
時間間隔を広げて予測値の精度を上げることができるこ
とが判明する・ 第３図は不発明の実施例のプロ、り図である。

この実施例は、所足時間△ｔ＠ｙｃクロック発生部４か
ら人力されるタイミングに従って、測定部１で物理量Ｔ
の測定値’ｌ’　ｓ　’ｌ’ｌ　ｓ　’ｒ、を測定し、
これら測定値を演算回路２において（１）式の演算を行
いこの演算結果を数値表示部３に表示させるものである
。

本発明は、以上説明したように、−足時間間隔で３点の
データを両足するだけで測定値の最終定常値の予測計算
をすることができ、＝略１１１がわかれば良いようなυ
（１１足目的では両足時間を大幅に短縮することができ
る・この効果は測定値の収束が遅い程著しい。

【図面の簡単な説明】

ｉｆ図は最終定常値Ｔへ指数関数的に収束するめる測定
値のグラフ、第２図は第１図においてτ＝１分、Ｔ＝１
．△ｔ　＝　０．１分としたときの測定値を示す図、第
３図は不発明の実施例のブロック図である１図において
。 １・・・・・・測定部、２・・・・・・演算回路、３・
・・・・・表示部、４・・・・・・クロック発生部、で
ある。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ある物理量を一足時間毎に測定し少くとも３個の測定値
   ＴｏＩ　Ｔ１　、Ｔ２　を得る測定手段と、この測定手
   段の測定値から次の計算値Ｔ ｔ−違算する演算手段と、この演算手段によフ計算され
   た演算値Ｔを表示する表示手段とを含む測定値処理装置
   。