JPS605221B2 - 加工片の自動位置合せ方法とその装置 - Google Patents
加工片の自動位置合せ方法とその装置Info
- Publication number
- JPS605221B2 JPS605221B2 JP53068738A JP6873878A JPS605221B2 JP S605221 B2 JPS605221 B2 JP S605221B2 JP 53068738 A JP53068738 A JP 53068738A JP 6873878 A JP6873878 A JP 6873878A JP S605221 B2 JPS605221 B2 JP S605221B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- signal
- workpiece
- alignment
- mark
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/304—Controlling tubes by information coming from the objects or from the beam, e.g. correction signals
- H01J37/3045—Object or beam position registration
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発顔は少くとも一つの標識を備えた加工片例えば集
積回路を構成する半導体ゥェーハの表面を一つの線に沿
って粒子ビームで線走査し、ビームが標識に到達したと
き発生する信号により調整装置を制御して標識位置の規
定位置よりの偏差に比例する調整信号を作りこれを走査
場またはマスクに相対的に加工片の位置を補正する装置
の制御に使用することにより自動的に加工片の位置合せ
を行なう方法に関するものである。
積回路を構成する半導体ゥェーハの表面を一つの線に沿
って粒子ビームで線走査し、ビームが標識に到達したと
き発生する信号により調整装置を制御して標識位置の規
定位置よりの偏差に比例する調整信号を作りこれを走査
場またはマスクに相対的に加工片の位置を補正する装置
の制御に使用することにより自動的に加工片の位置合せ
を行なう方法に関するものである。
半導体加工片(ウェーハ)上に粒子線リングラフィによ
って構造を作る際には加工片を構造形成用の粒子ビーム
またはマスクに相対的に位置合せする必要がある。
って構造を作る際には加工片を構造形成用の粒子ビーム
またはマスクに相対的に位置合せする必要がある。
これは特に多重蝕刻法により多数の構造を正しく重ねて
作る場合重要である。構造が微細化するにつれて位置整
合精度に対する要求が高度になる。主として機械操作に
よって行われる製造過程では自動位置合せ法が特に重視
される。標識をつけた加工片を集東された電子ビームに
より個々の走査線に沿って走査し自動的に位置合せする
方法は米国特許第364470ぴ号明細書により公知で
ある。
作る場合重要である。構造が微細化するにつれて位置整
合精度に対する要求が高度になる。主として機械操作に
よって行われる製造過程では自動位置合せ法が特に重視
される。標識をつけた加工片を集東された電子ビームに
より個々の走査線に沿って走査し自動的に位置合せする
方法は米国特許第364470ぴ号明細書により公知で
ある。
この方法は電子ビームと加工片表面の間の相互作用によ
って発生した信号例えば二次電子を記録し信号処理電子
回路例えばしきい値判別回路により位置合せ信号に変換
する。この位置合せ信号と加工片上の標識の座標とを電
子ビームの偏向パラメータ(例えば偏向電圧または電流
)を通して一意的に対応させることにより計算機を使用
して走査線上の標識の位置求められる。これを規定位置
と比較することにより規定位置からの偏差に比例する調
整信号が作られ、適当な補正要素例えば補助偏向系の制
御に使用される。上記の方法では調整量を計算機で求め
なければならないから高度の電子技術が必要となる外調
整信号が走査ビームの一走査運動後直ちに得られず計算
機による計算が終了したとき始めて供給されらるという
欠点がある。
って発生した信号例えば二次電子を記録し信号処理電子
回路例えばしきい値判別回路により位置合せ信号に変換
する。この位置合せ信号と加工片上の標識の座標とを電
子ビームの偏向パラメータ(例えば偏向電圧または電流
)を通して一意的に対応させることにより計算機を使用
して走査線上の標識の位置求められる。これを規定位置
と比較することにより規定位置からの偏差に比例する調
整信号が作られ、適当な補正要素例えば補助偏向系の制
御に使用される。上記の方法では調整量を計算機で求め
なければならないから高度の電子技術が必要となる外調
整信号が走査ビームの一走査運動後直ちに得られず計算
機による計算が終了したとき始めて供給されらるという
欠点がある。
別の自動位置合せ方式においては細い電子ビームゾンデ
を使用して正方形標識を正弦波形の路に沿って走査する
。
を使用して正方形標識を正弦波形の路に沿って走査する
。
この走査路はゾンデが標識を離れる点が正半波にもある
ように選ぶ。標識とそれ以外の工作片部分からの二次電
子放出が材料の差異に塞いて異るから位置合せ信号には
標識とその周囲との境界で飛躍が生ずる。従って一つの
正弦波路を通過する間に二つの信号飛躍点がありそれら
はゾンデが正方形標識を離れる点に対応する。正半波と
負半波においての信号の飛躍中は走査場に相対的の標識
の位置合せ状態の尺度となる。整合状態ではこれら二つ
の飛躍中は等大である。この位置合せ操作を自動化する
には両半波中に発生した信号を差動増幅器に導きそこで
これらの信号の整流された値の差を作る。このようにし
て得られた直流電圧を調整信号として使用し標識の位置
合せを行なう。この方法は電子技術の点では前述のもの
より簡単であるが、外部からの障害に対して極めて敏感
である。調整信号は実際上位層合せ信号の積分によって
得られるから例えば標識または工作片の表面の不純物に
基くかあるいは走査電子ビームの変動に基〈位置合せ信
号の変動から大きな影響を受ける。位置合せ信号の理想
形からの偏差は常に調整信号にいくらかの影響を及ぼし
整合誤差の原因となる。更にこの方法では正弦波路走査
のため調整信号と位置外れの間に比例関係が成立しない
。従って電子ビームゾンデの進行方向に垂直な方向にお
いての位置合せには多数回の走査が必要となる。この発
明の目的は冒頭に挙げた自動位置合せ方法において高度
の電子技術を必要とすることなく各走査運動の終了毎に
直に、位置外れに比例しその上位暦合せ信号の強度の変
動に敏感でない調整信号を作ることができるようにする
ことである。
ように選ぶ。標識とそれ以外の工作片部分からの二次電
子放出が材料の差異に塞いて異るから位置合せ信号には
標識とその周囲との境界で飛躍が生ずる。従って一つの
正弦波路を通過する間に二つの信号飛躍点がありそれら
はゾンデが正方形標識を離れる点に対応する。正半波と
負半波においての信号の飛躍中は走査場に相対的の標識
の位置合せ状態の尺度となる。整合状態ではこれら二つ
の飛躍中は等大である。この位置合せ操作を自動化する
には両半波中に発生した信号を差動増幅器に導きそこで
これらの信号の整流された値の差を作る。このようにし
て得られた直流電圧を調整信号として使用し標識の位置
合せを行なう。この方法は電子技術の点では前述のもの
より簡単であるが、外部からの障害に対して極めて敏感
である。調整信号は実際上位層合せ信号の積分によって
得られるから例えば標識または工作片の表面の不純物に
基くかあるいは走査電子ビームの変動に基〈位置合せ信
号の変動から大きな影響を受ける。位置合せ信号の理想
形からの偏差は常に調整信号にいくらかの影響を及ぼし
整合誤差の原因となる。更にこの方法では正弦波路走査
のため調整信号と位置外れの間に比例関係が成立しない
。従って電子ビームゾンデの進行方向に垂直な方向にお
いての位置合せには多数回の走査が必要となる。この発
明の目的は冒頭に挙げた自動位置合せ方法において高度
の電子技術を必要とすることなく各走査運動の終了毎に
直に、位置外れに比例しその上位暦合せ信号の強度の変
動に敏感でない調整信号を作ることができるようにする
ことである。
この目的は工作片を走査ビームによって交互に向きを逆
にして等しい速度で走査し、その往路では走査線の起点
から標識に到達するまで正の参照直流電圧を積分器に加
え、復路においては走査線の終点から標識に到達するま
で往路と大きさが等しい負の参照電圧をこの積分器に加
え、走査ビームの一往復運動の終了毎に積分器の出力信
号を調整信号として位置補正に使用することによって達
成される。この発明によ方法においては正しい標識位置
は走査線の中央である。
にして等しい速度で走査し、その往路では走査線の起点
から標識に到達するまで正の参照直流電圧を積分器に加
え、復路においては走査線の終点から標識に到達するま
で往路と大きさが等しい負の参照電圧をこの積分器に加
え、走査ビームの一往復運動の終了毎に積分器の出力信
号を調整信号として位置補正に使用することによって達
成される。この発明によ方法においては正しい標識位置
は走査線の中央である。
この場合標識および走査線が加工片の中央にある必要は
ない。標識はむしろ加工片上のデバイスの形成に関係の
ない緑端部に置く方がよい。この場合位置合せのために
はビーム偏向系に一定の大きさの付加励起を加えて標識
区域に移し、そこで標識上を一つの線に沿って二つの向
きに等しい速度で移動させる。この場合走査線の長さは
ビーム描画装置において同じ向きに行われる描画ビーム
の走査場の拡がりよりも錘に短くすることができる。こ
の発明による方法の基本的な観念は標識と走査線の両端
の間の距離を測定して位置合せを行なうことである。
ない。標識はむしろ加工片上のデバイスの形成に関係の
ない緑端部に置く方がよい。この場合位置合せのために
はビーム偏向系に一定の大きさの付加励起を加えて標識
区域に移し、そこで標識上を一つの線に沿って二つの向
きに等しい速度で移動させる。この場合走査線の長さは
ビーム描画装置において同じ向きに行われる描画ビーム
の走査場の拡がりよりも錘に短くすることができる。こ
の発明による方法の基本的な観念は標識と走査線の両端
の間の距離を測定して位置合せを行なうことである。
標識が整合していればこれらの二つの距離は互に等しい
。位置外れの場合両距離の差は標識の規定位置からの偏
差の2倍に等しい。この関係を明にするため第la図と
第lb図に走査ビームとそれによる位置合せ信号の時間
経過を示す。第la図において1は標識2を含む工作片
区域であり、その中は標識上を動く走査ビームの走査線
の長さに等しい。標識2は点破線で示した区域1の中心
線から6だけ右にずれている。走査ビーム3は時亥Ut
,に区域1の左の緑端から出発し、時亥舷2まで右向き
に動き、時刻t3までに同じ道を通って出発点に戻る。
図では見易くするため往路と復路を別にしてあるが実際
は一致する。この走査ビームの往復運動とそれによって
形成される位置信号を一つの時間方向に書き表わすこと
により第lb図が得られる。第la図の右半分にある標
識に対して往路の位置合せ信号は時間軸上中央より右に
あり、復路ではこの関係が逆になって時間軸中央より左
に位置合せ信号が表われる。往路と復路において出発か
らこれらの信号に達するまでの距離(時間軸上の)の差
28は走査線に関しての位置合せ状態の尺度となる。本
来の空間的あるいは時間的の間隔測定は一定の参照電圧
を積分することによって行われる。この積分は走査線の
起点に始まり標識への到達で終る。これによって得られ
た積分値は続く往路中保持される。復路では走査線の終
点から標識の到達まで等しい大きさの負の参照電圧を積
分し、その積分値を走査運動の終りまで蓄積する。この
値はその符号と共に走査線中央からの標識の偏差の尺度
となり直接調整信号として使用することができる。この
調整信号は位置外れの線型関数である。調整信号の形成
に一定の参照電圧を使用することにより位置合せ信号の
乱れが位置合せに対する障害となることはない。
。位置外れの場合両距離の差は標識の規定位置からの偏
差の2倍に等しい。この関係を明にするため第la図と
第lb図に走査ビームとそれによる位置合せ信号の時間
経過を示す。第la図において1は標識2を含む工作片
区域であり、その中は標識上を動く走査ビームの走査線
の長さに等しい。標識2は点破線で示した区域1の中心
線から6だけ右にずれている。走査ビーム3は時亥Ut
,に区域1の左の緑端から出発し、時亥舷2まで右向き
に動き、時刻t3までに同じ道を通って出発点に戻る。
図では見易くするため往路と復路を別にしてあるが実際
は一致する。この走査ビームの往復運動とそれによって
形成される位置信号を一つの時間方向に書き表わすこと
により第lb図が得られる。第la図の右半分にある標
識に対して往路の位置合せ信号は時間軸上中央より右に
あり、復路ではこの関係が逆になって時間軸中央より左
に位置合せ信号が表われる。往路と復路において出発か
らこれらの信号に達するまでの距離(時間軸上の)の差
28は走査線に関しての位置合せ状態の尺度となる。本
来の空間的あるいは時間的の間隔測定は一定の参照電圧
を積分することによって行われる。この積分は走査線の
起点に始まり標識への到達で終る。これによって得られ
た積分値は続く往路中保持される。復路では走査線の終
点から標識の到達まで等しい大きさの負の参照電圧を積
分し、その積分値を走査運動の終りまで蓄積する。この
値はその符号と共に走査線中央からの標識の偏差の尺度
となり直接調整信号として使用することができる。この
調整信号は位置外れの線型関数である。調整信号の形成
に一定の参照電圧を使用することにより位置合せ信号の
乱れが位置合せに対する障害となることはない。
この発明の一つの有利な展開として標識を走査したとき
に生ずる信号から矩形の位置合せ信号を作りその中をト
リガしきい値の設定値に関係させ、標識への到達は矩形
位置合せ信号の側線によって表示するようにしてもよい
。
に生ずる信号から矩形の位置合せ信号を作りその中をト
リガしきい値の設定値に関係させ、標識への到達は矩形
位置合せ信号の側線によって表示するようにしてもよい
。
この場合積分の終点として位置合せ信号の飛躍によって
示される標識縁端だけが使用され、それによって位置合
せ信号から調整信号に及ぼされる有害な影響を更に低下
させることができる。第2a図乃至第2f図に示した時
間経過グラフによりこの発明の方法の可能性を更に詳細
に説明する。第2a図は第1図に示した標識に対して一
つの往復運動において作られる位置合せ信号のグラフで
ある。標識上を通過するときの位置合せ信号の形状(ベ
ル形)は走査ビームが点状に絞られていないである大き
さの断面積を持っていることによるものである。破線6
は設定されたトリガしきし、値でありその位置合せ信号
曲線との交点は第2b図に示すように成形された矩形位
置合せ信号の飛躍点を決定する。第2c図乃至第2f図
は四種類の互に異る間隔(または時間差)測定を示す。
第2c図では積分が走査ビームの往路の出発と共に始ま
り成形された位置合せ信号の立上り側線に達したとき終
る。第2d図では積分の終りが成形位置合せ信号の降下
側線に達したときになっている。これらの積分値はそれ
以後の往路運動中そのまま保持される。走査線の終点に
おいて復路運動が始まると大きさの等しい負の参照電圧
の積分が立上り側線(第2c図の場合)または降下側線
(第2d図の場合)に達するまで続けられる。最終的に
得られた積分値は走査運動の終りまで蓄積され、その後
直接調整信号として使用することができる。積分を成形
位置合せ信号の側線から開始して往路または復路の終点
で終らせることも可能である。
示される標識縁端だけが使用され、それによって位置合
せ信号から調整信号に及ぼされる有害な影響を更に低下
させることができる。第2a図乃至第2f図に示した時
間経過グラフによりこの発明の方法の可能性を更に詳細
に説明する。第2a図は第1図に示した標識に対して一
つの往復運動において作られる位置合せ信号のグラフで
ある。標識上を通過するときの位置合せ信号の形状(ベ
ル形)は走査ビームが点状に絞られていないである大き
さの断面積を持っていることによるものである。破線6
は設定されたトリガしきし、値でありその位置合せ信号
曲線との交点は第2b図に示すように成形された矩形位
置合せ信号の飛躍点を決定する。第2c図乃至第2f図
は四種類の互に異る間隔(または時間差)測定を示す。
第2c図では積分が走査ビームの往路の出発と共に始ま
り成形された位置合せ信号の立上り側線に達したとき終
る。第2d図では積分の終りが成形位置合せ信号の降下
側線に達したときになっている。これらの積分値はそれ
以後の往路運動中そのまま保持される。走査線の終点に
おいて復路運動が始まると大きさの等しい負の参照電圧
の積分が立上り側線(第2c図の場合)または降下側線
(第2d図の場合)に達するまで続けられる。最終的に
得られた積分値は走査運動の終りまで蓄積され、その後
直接調整信号として使用することができる。積分を成形
位置合せ信号の側線から開始して往路または復路の終点
で終らせることも可能である。
この情況を第2e図、第2f図に示してある。例えば電
流の変動またはドリフト現象に基いて生ずる位置合せ信
号の変動に対して調整信号の不惑性を更に高めるために
は上記の実施形態においてトリガしきし、値を標識信号
の最大値の部分値として規定し走査ビームの一走査運動
毎にその値を更新するのが有効である。
流の変動またはドリフト現象に基いて生ずる位置合せ信
号の変動に対して調整信号の不惑性を更に高めるために
は上記の実施形態においてトリガしきし、値を標識信号
の最大値の部分値として規定し走査ビームの一走査運動
毎にその値を更新するのが有効である。
これは例えば尖頭値検出器を使用して実施することがで
きる。最初の走査運動に際して位置合せ信号の最大値を
決定しトリガしきい値をこの最大値の一つの部分値に固
定する。続く運動においてはトリガしきし、値はその前
の運動に関連させて定める。この発明の基本とする目的
は加工片を交互に逆向きに等間隔のステップでディジタ
ル走査し、走査区域の最初において常に一つのアップ・
ダウン・カウンタを起動させて標識に達するまでの走査
ステップ数を往路においては上向きにカウントし復路で
は下向きにカウントし、一往復後のカウンタの最終値を
D−A変換器を通して位置補正用の調整信号として使用
することによっても達成することができる。
きる。最初の走査運動に際して位置合せ信号の最大値を
決定しトリガしきい値をこの最大値の一つの部分値に固
定する。続く運動においてはトリガしきし、値はその前
の運動に関連させて定める。この発明の基本とする目的
は加工片を交互に逆向きに等間隔のステップでディジタ
ル走査し、走査区域の最初において常に一つのアップ・
ダウン・カウンタを起動させて標識に達するまでの走査
ステップ数を往路においては上向きにカウントし復路で
は下向きにカウントし、一往復後のカウンタの最終値を
D−A変換器を通して位置補正用の調整信号として使用
することによっても達成することができる。
この方式によれば走査ビームの偏向は三角波段信号によ
って行われビームは等間隔ステップで加工片を走査する
。各往復運動の開始と共にカウンタが起動しステップを
標識に到達するまでカウントする。往路と復路において
のステップ数の差が走査線の中点(規定位置)からの標
識の外れの2倍に対応する。往路と復路において互に逆
向きにカウントするアップ・ダウン・カゥンタは終値と
して直接両ステップ数の差を与え、これは調整信号とし
てD−A変換器を通して位置補正系に導くことができる
。この発明の方法の実施に適した装置としては走査ビー
ム用の偏向系と矩形波発生装置を制御する三角波発振器
、矩形波発振器から二つのスイッチを介して制御されて
積分器に接続することができる等大で互に逆極性の二つ
の直流電圧源、同じく矩形波発振器によって制御されビ
ームの往復走査運動毎に順次に短時間二つの別のスイッ
チを閉結して積分器出力端を位置補正用の蓄積形調整器
に接続し続いて積分器を短絡し三角波発振器の新しい動
作を開始させる二つの直列接続一安定マルチパイプレー
タ、前層増幅器とコンパレータを通して二安定マルチパ
イプレータ制御用の信号に変換される標識信号を記録す
るための検出器から構成されているものを挙げることが
できる。
って行われビームは等間隔ステップで加工片を走査する
。各往復運動の開始と共にカウンタが起動しステップを
標識に到達するまでカウントする。往路と復路において
のステップ数の差が走査線の中点(規定位置)からの標
識の外れの2倍に対応する。往路と復路において互に逆
向きにカウントするアップ・ダウン・カゥンタは終値と
して直接両ステップ数の差を与え、これは調整信号とし
てD−A変換器を通して位置補正系に導くことができる
。この発明の方法の実施に適した装置としては走査ビー
ム用の偏向系と矩形波発生装置を制御する三角波発振器
、矩形波発振器から二つのスイッチを介して制御されて
積分器に接続することができる等大で互に逆極性の二つ
の直流電圧源、同じく矩形波発振器によって制御されビ
ームの往復走査運動毎に順次に短時間二つの別のスイッ
チを閉結して積分器出力端を位置補正用の蓄積形調整器
に接続し続いて積分器を短絡し三角波発振器の新しい動
作を開始させる二つの直列接続一安定マルチパイプレー
タ、前層増幅器とコンパレータを通して二安定マルチパ
イプレータ制御用の信号に変換される標識信号を記録す
るための検出器から構成されているものを挙げることが
できる。
ディジタル方式によりステップ走査をする場合には一方
ではD一A変換器を通して走査ビームのステップ偏向系
を制御すると同時に他方では矩形波発振器を制御するデ
ィジタル発振器、矩形波発振器によりカウントの向きと
その開始時を制御されるアップ・ダウン・カウンタ、走
査ビームの一往復毎に短時間一つのスイッチを閉結して
カウント最終値を位置補正用調整器に伝えその後カウン
タを零に戻しディジタル発振器の新しい発振を開始させ
る制御ユニットおよび標識信号を記録する検出器から構
成された装置がこの発明による方法の実施に有利である
。
ではD一A変換器を通して走査ビームのステップ偏向系
を制御すると同時に他方では矩形波発振器を制御するデ
ィジタル発振器、矩形波発振器によりカウントの向きと
その開始時を制御されるアップ・ダウン・カウンタ、走
査ビームの一往復毎に短時間一つのスイッチを閉結して
カウント最終値を位置補正用調整器に伝えその後カウン
タを零に戻しディジタル発振器の新しい発振を開始させ
る制御ユニットおよび標識信号を記録する検出器から構
成された装置がこの発明による方法の実施に有利である
。
標識信号は前層増幅器とコンパレー夕を通してカウンタ
停止信号に変換される。上記の装置に対して、矩形波発
振器から二安定マルチパイプレータと四つのスイッチを
通して制御され交互に検出器と分圧器とに接続される二
つのコンデンサおよび一安定マルチパイプレータから二
つの−安定マルチパイプレータを介して制御されてこれ
らのコンデンサを短絡する二つのスイッチを設けること
により改良することができる。
停止信号に変換される。上記の装置に対して、矩形波発
振器から二安定マルチパイプレータと四つのスイッチを
通して制御され交互に検出器と分圧器とに接続される二
つのコンデンサおよび一安定マルチパイプレータから二
つの−安定マルチパイプレータを介して制御されてこれ
らのコンデンサを短絡する二つのスイッチを設けること
により改良することができる。
この改良形ではコンパレータのトリガしきし、値は固定
比較電圧と分圧器によって予め与えられるのではなくビ
ームの各往復運動において位置合せ信号の最大値の部分
値として刻々に決定される。この発明による方法は粒子
ビーム描画装置、粒子ビームマイクロ投影装置、粒子ビ
ーム陰影投射装置等に対して有効である。陰影投射装置
の場合走査線の長さはマスクの位置合せ用の通孔の大き
さによって決定される。実施例によってこの発明を更に
詳細に説明する。
比較電圧と分圧器によって予め与えられるのではなくビ
ームの各往復運動において位置合せ信号の最大値の部分
値として刻々に決定される。この発明による方法は粒子
ビーム描画装置、粒子ビームマイクロ投影装置、粒子ビ
ーム陰影投射装置等に対して有効である。陰影投射装置
の場合走査線の長さはマスクの位置合せ用の通孔の大き
さによって決定される。実施例によってこの発明を更に
詳細に説明する。
この発明による自動位置合せ方法を実施する装置の回路
構成を第3図に示す。
構成を第3図に示す。
工作片を走査する粒子ビームの偏向系8は磁気偏向系と
して示されているがこれは静電偏向系であってもよい。
偏向系8は三角波発振器9によって制御され走査ビーム
は工作片54を等速度で往復走査する。三角波発振器9
は同時に矩形波発振器10を制御し三角波の降下線に対
して矩形波が高い電圧状態にありその他の時間では低電
圧例えば零電圧状態にある。矩形波発振器1川ま二つの
二安定マルチパイプレータ(フリツブ・フロツプ)11
と12を制御し、フリップフロップ11‘ま三角波の上
昇線の間スイッチSIを朗緒して正の参照電圧URを測
定積分器15に接続し、積分器はスイッチSIが開結さ
れている間この参照電圧を積分する。検出器20は例え
ば二次電子検出器であり走査中工作片から放出される二
次電子を記録する。検出器信号は前層増幅器21で増幅
されてコンパレ−夕22に導かれる。このコンパレータ
において信号が定電圧源から分圧器を通して引き出され
る可調整比較直流電圧と比較される。信号電圧この比較
電圧より高いとコンパレータはトリガとして信号を送り
出しフリップ・フロップ11を初期位置に戻す。これに
よってスイッチSIが開かれ正の参照電圧URの積分操
作が終る。三角波の下降線期間則ち走査ビームの復路で
はスイッチS2が閉結され負の参照電圧−URが積分器
’5に接続される。この参照電圧も増幅された検出器信
号がコンパレータのトリガしきい値を越えている間積分
される。その間に達成された積分値は走査ビームの往復
運動の終りまで保持される。往復運動の終りにおいて矩
形波発振器は低電圧発生状態に戻り一安定マルチパイプ
レータ13を接続しそれを通して時間7・の間スイッチ
S3とS4を開結する。これにより積分器15の出力端
はスイッチS4を通して調整増幅器16に接続されると
同時にスイッチS3を通してコンデンサ18に接続され
る。調整増幅器16の出力端Aは加工片を走査場または
マスクに相対的に精確な位置に調整する補正系に導かれ
る。コンデンサ18上に設定された電圧値は増幅器17
を通して測定器19に導かれ実際の位置外れの大きさが
指示される。時間7,後一安定マルチパイプレータ13
は初期状態に戻り一安定マルチパイプレータ14を接続
するから積分器15に並列に置かれたスイッチS5が時
間丁2の間閉結され積分器15を零に戻す。その時に既
にスイッチS3とS4が開かれているから調整器16の
設定値および指示計器19の指示値は変化しない。積分
器15の復帰と同時に三角波発振器9は新しい発振を開
始する。コンパレータ22のトリガしきし、値は最も簡
単な場合可調整分圧器23と一定の比較電圧Uvによっ
て定めることができるスイッチS6によって分圧器23
を自動レベル整合回路25に接続しそれから位置合せ信
号の最大値に等しい比較電圧を引き出してよい。
して示されているがこれは静電偏向系であってもよい。
偏向系8は三角波発振器9によって制御され走査ビーム
は工作片54を等速度で往復走査する。三角波発振器9
は同時に矩形波発振器10を制御し三角波の降下線に対
して矩形波が高い電圧状態にありその他の時間では低電
圧例えば零電圧状態にある。矩形波発振器1川ま二つの
二安定マルチパイプレータ(フリツブ・フロツプ)11
と12を制御し、フリップフロップ11‘ま三角波の上
昇線の間スイッチSIを朗緒して正の参照電圧URを測
定積分器15に接続し、積分器はスイッチSIが開結さ
れている間この参照電圧を積分する。検出器20は例え
ば二次電子検出器であり走査中工作片から放出される二
次電子を記録する。検出器信号は前層増幅器21で増幅
されてコンパレ−夕22に導かれる。このコンパレータ
において信号が定電圧源から分圧器を通して引き出され
る可調整比較直流電圧と比較される。信号電圧この比較
電圧より高いとコンパレータはトリガとして信号を送り
出しフリップ・フロップ11を初期位置に戻す。これに
よってスイッチSIが開かれ正の参照電圧URの積分操
作が終る。三角波の下降線期間則ち走査ビームの復路で
はスイッチS2が閉結され負の参照電圧−URが積分器
’5に接続される。この参照電圧も増幅された検出器信
号がコンパレータのトリガしきい値を越えている間積分
される。その間に達成された積分値は走査ビームの往復
運動の終りまで保持される。往復運動の終りにおいて矩
形波発振器は低電圧発生状態に戻り一安定マルチパイプ
レータ13を接続しそれを通して時間7・の間スイッチ
S3とS4を開結する。これにより積分器15の出力端
はスイッチS4を通して調整増幅器16に接続されると
同時にスイッチS3を通してコンデンサ18に接続され
る。調整増幅器16の出力端Aは加工片を走査場または
マスクに相対的に精確な位置に調整する補正系に導かれ
る。コンデンサ18上に設定された電圧値は増幅器17
を通して測定器19に導かれ実際の位置外れの大きさが
指示される。時間7,後一安定マルチパイプレータ13
は初期状態に戻り一安定マルチパイプレータ14を接続
するから積分器15に並列に置かれたスイッチS5が時
間丁2の間閉結され積分器15を零に戻す。その時に既
にスイッチS3とS4が開かれているから調整器16の
設定値および指示計器19の指示値は変化しない。積分
器15の復帰と同時に三角波発振器9は新しい発振を開
始する。コンパレータ22のトリガしきし、値は最も簡
単な場合可調整分圧器23と一定の比較電圧Uvによっ
て定めることができるスイッチS6によって分圧器23
を自動レベル整合回路25に接続しそれから位置合せ信
号の最大値に等しい比較電圧を引き出してよい。
自動レベル整合回路25は予め増幅された検出器信号に
より増幅器27,28を通してコンデンサ29,30を
充電する同一構成の一つの並列枝線から成る。このコン
デンサ電圧が比較電圧となる。矩形波発振器1川こよっ
て制御されるフリップ・フロツプ31は四つのスイッチ
S7乃至SIOを制御して走査ビームの一往復運動毎に
交互に一方のコンデンサを充電し、他方のコンデンサの
電圧が比較電圧とに使用されるようにする。例えば一往
復運動中スイッチS7とSIOが閉じられ、スイッチS
8とS9が開かれてるようにする。フリップ・フロツプ
31は更に一安定マルチパイプレータ32と33を制御
し、それを通して短い時間73の間スイッチSIIまた
はSI2を閉じる。これによってこれらのスイッチに並
列に接続された互に対応するコンデンサ29,30が新
しい往復運動によって充電される前に放電する。この自
動レベル整合回路25によりトリガしきし、値は各往復
運動毎にその前の往復運動中の位置合せ信号の最大値の
一つの部分値とに設定されるから位置合せ操作は全体と
して走査ビームの強度の変動または増幅回路のドリフト
現象の影響を受けないようになる。
より増幅器27,28を通してコンデンサ29,30を
充電する同一構成の一つの並列枝線から成る。このコン
デンサ電圧が比較電圧となる。矩形波発振器1川こよっ
て制御されるフリップ・フロツプ31は四つのスイッチ
S7乃至SIOを制御して走査ビームの一往復運動毎に
交互に一方のコンデンサを充電し、他方のコンデンサの
電圧が比較電圧とに使用されるようにする。例えば一往
復運動中スイッチS7とSIOが閉じられ、スイッチS
8とS9が開かれてるようにする。フリップ・フロツプ
31は更に一安定マルチパイプレータ32と33を制御
し、それを通して短い時間73の間スイッチSIIまた
はSI2を閉じる。これによってこれらのスイッチに並
列に接続された互に対応するコンデンサ29,30が新
しい往復運動によって充電される前に放電する。この自
動レベル整合回路25によりトリガしきし、値は各往復
運動毎にその前の往復運動中の位置合せ信号の最大値の
一つの部分値とに設定されるから位置合せ操作は全体と
して走査ビームの強度の変動または増幅回路のドリフト
現象の影響を受けないようになる。
第3図の回路の作用を更に明確にするため第3図のaか
ら1までの符号で示された点の電圧の時間経過を第4図
に示す。
ら1までの符号で示された点の電圧の時間経過を第4図
に示す。
この図では各電圧の時間的の対応だけが重視され電圧の
大きさは任意のスケールで示されている。フリツプ・フ
ロツプ11と12の出力端電圧の変化を示すcとdの破
線部分はこの過渡部分が位置外れの大きさによって異つ
た時刻に起り得ることを現わしている。第5図は加工片
をディジタル走査する自動位置合せ装置のブロック接続
図である。
大きさは任意のスケールで示されている。フリツプ・フ
ロツプ11と12の出力端電圧の変化を示すcとdの破
線部分はこの過渡部分が位置外れの大きさによって異つ
た時刻に起り得ることを現わしている。第5図は加工片
をディジタル走査する自動位置合せ装置のブロック接続
図である。
第3図の装置と対応する部分は同じ符号で示されている
。ディジタルに発振器40とディジタルD−A変換器4
1により偏向系8は走査ビームをスツブ式に偏向するよ
うに制御される。同時に矩形波発振器10もディジタル
発振器401こより制御される。矩形波発振器10はそ
の出力波の上昇部と降下部においてアップ・ダウン・カ
ウンタ42を動作させるが走査ビームの往復運動の往路
郎ち矩形波の立上り時には走査ステップ数を上向きにカ
ウント(加算)し、復路艮Dち矩形波の降下時にはそれ
を下向きにカウント(減算)する。検出器20、前暦増
幅器21およびトリガしきし、値が比較電圧Uvと分圧
器23によって決定されるコンパレータ22によりカウ
ンタ42は対応する標識信号に到達する度に停止する。
一往復が終る毎に制御ユニット43はスイッチS3とS
4を閉結してカウンタの終値を蓄積調整器44と蓄積ユ
ニット45に送り込む。一往復毎のカウンタ終値は標識
の規定位置からの偏差の2倍に対応するからこの値を直
接調整信号として使用することができる。従って蓄積調
整器44の出力端は○−A変換器46を通して直接補正
系57に接続されている。この補正系は図示の場合粒子
ビームに対する補助的の磁気偏向系であるがこれ以外の
補正系の使用も可能である。蓄積ユニット45からは信
号が指示装置47に送られる。終値を送り出した後カウ
ンタ42は制御ユニット43により零に戻され、同時に
ディジタル発振器40が次の走査運動を開始させる。第
6図はこの発明による位置合せ方法を電子ビーム描画装
置に応用するときの回路構成を示す。電子ビーム描画装
置は簡略化して示してあるが電子源51例えば熱陰極ま
たは冷陰極放出型の陰極と電子源から放出された電子を
加工片上に集東するレンズ52から成る。加工片例えば
半導体ゥヱーハ54は表面に標識55を備える。偏向系
52の作用で電子ビーム54はウェーハ54表面を一つ
の線に沿って両方の向きに動く。偏向系8としては磁気
偏向コイルの代りに静電偏向系を使用してもよい。第二
の方向の偏向のために図に示されていない第二の偏向系
が必要である。三角波発振器9により偏向系8の外矩形
波発振器10も制御されスイッチ56を通して一つの走
査向きでは正の参照電圧URを、他方の走査向きでは負
の参照電圧−URを積分器15に与える。矩形波発振器
1川ままた積分器15に起動信号を与える。積分器15
の停止信号はトリガとしてのコンパレータ22から与え
られる。コンパレータ22において検出器20から取り
出され前暦増幅器21で増幅された位置合せ信号が可調
整定電圧と比較される。一往復毎に積分器15の積分値
が蓄積調整器16に送られ別の偏向系57を制御して位
置補正を行なう。例えば最初の往復運動で位置外れが完
全に除去されず、第二の往復運動後において積分器15
に漣零とは異る積分値が残っている場合にはこの値が蓄
積調整器16中で第一の積分値に加え合される。この合
算積分値が補正量を決定する。この経過は要求された整
合状態に達するまで繰り返される。これにより一つの方
向においての位置合せが完了する。
。ディジタルに発振器40とディジタルD−A変換器4
1により偏向系8は走査ビームをスツブ式に偏向するよ
うに制御される。同時に矩形波発振器10もディジタル
発振器401こより制御される。矩形波発振器10はそ
の出力波の上昇部と降下部においてアップ・ダウン・カ
ウンタ42を動作させるが走査ビームの往復運動の往路
郎ち矩形波の立上り時には走査ステップ数を上向きにカ
ウント(加算)し、復路艮Dち矩形波の降下時にはそれ
を下向きにカウント(減算)する。検出器20、前暦増
幅器21およびトリガしきし、値が比較電圧Uvと分圧
器23によって決定されるコンパレータ22によりカウ
ンタ42は対応する標識信号に到達する度に停止する。
一往復が終る毎に制御ユニット43はスイッチS3とS
4を閉結してカウンタの終値を蓄積調整器44と蓄積ユ
ニット45に送り込む。一往復毎のカウンタ終値は標識
の規定位置からの偏差の2倍に対応するからこの値を直
接調整信号として使用することができる。従って蓄積調
整器44の出力端は○−A変換器46を通して直接補正
系57に接続されている。この補正系は図示の場合粒子
ビームに対する補助的の磁気偏向系であるがこれ以外の
補正系の使用も可能である。蓄積ユニット45からは信
号が指示装置47に送られる。終値を送り出した後カウ
ンタ42は制御ユニット43により零に戻され、同時に
ディジタル発振器40が次の走査運動を開始させる。第
6図はこの発明による位置合せ方法を電子ビーム描画装
置に応用するときの回路構成を示す。電子ビーム描画装
置は簡略化して示してあるが電子源51例えば熱陰極ま
たは冷陰極放出型の陰極と電子源から放出された電子を
加工片上に集東するレンズ52から成る。加工片例えば
半導体ゥヱーハ54は表面に標識55を備える。偏向系
52の作用で電子ビーム54はウェーハ54表面を一つ
の線に沿って両方の向きに動く。偏向系8としては磁気
偏向コイルの代りに静電偏向系を使用してもよい。第二
の方向の偏向のために図に示されていない第二の偏向系
が必要である。三角波発振器9により偏向系8の外矩形
波発振器10も制御されスイッチ56を通して一つの走
査向きでは正の参照電圧URを、他方の走査向きでは負
の参照電圧−URを積分器15に与える。矩形波発振器
1川ままた積分器15に起動信号を与える。積分器15
の停止信号はトリガとしてのコンパレータ22から与え
られる。コンパレータ22において検出器20から取り
出され前暦増幅器21で増幅された位置合せ信号が可調
整定電圧と比較される。一往復毎に積分器15の積分値
が蓄積調整器16に送られ別の偏向系57を制御して位
置補正を行なう。例えば最初の往復運動で位置外れが完
全に除去されず、第二の往復運動後において積分器15
に漣零とは異る積分値が残っている場合にはこの値が蓄
積調整器16中で第一の積分値に加え合される。この合
算積分値が補正量を決定する。この経過は要求された整
合状態に達するまで繰り返される。これにより一つの方
向においての位置合せが完了する。
続いて更に一つの方向例えば第一の方向に対して垂直の
方向においての位置合せが同様に実施されなければなら
ない。正確な角位置合せのためには場合によって更に第
三の方向においての別の位置合せが必要となる。電子ビ
ーム陰影投射装置においての位置合せ過程を第7図によ
って説明する。
方向においての位置合せが同様に実施されなければなら
ない。正確な角位置合せのためには場合によって更に第
三の方向においての別の位置合せが必要となる。電子ビ
ーム陰影投射装置においての位置合せ過程を第7図によ
って説明する。
この場合加工片がマスクに対して位置合せされる。第6
図と対応する部分は同じ番号で示されているから51は
電子源、52はしンズ系である。投影マスク6川ま加工
片54の直上にありマスク60を加工片54上に1:1
に投射するためしンズ52は電子源から来た電子がほぼ
平行東としてレンズを出るように励起する。この平行ビ
ームによりマスクを全面的に照射し、加工片上に陰影投
射する。マスクと加工片の相対的位置合せのためには電
子東53が加工片上に焦点を結ぶようにレンズ52を励
起する。三角波発振器9によって制御される偏向系8を
使用して電子ビームを加工片およびマスク上を線走査す
るように動かす。三角波発振器9は更に矩形波発振器1
0を制御してスイッチ56を操作する。この場合位置合
せ信号として加工片を流れる電流が使用され前層増幅器
21を通して同時に一つのトリガ61と62に導かれる
。電子ビーム描画装置の場合積分器の起動は矩形波発振
器によって行われたが、この場合にはトリガ61によっ
て行われ、その停止はトリガ62による。これによって
積分は走査ビームの往路または復路の開始時に始まらず
、標識60の位置合せ通孔の縁に達したとき始まる。ビ
ームが通孔の緑に達したとき始めてビームがマスクを通
過し加工片54に当ってトリガ61のトリガしきし、値
を越える試料電流信号を作り積分器15を起動させる。
この試料電流信号は標識に達するまではほぼ一定の低い
値にとどまり、標識に達したとき上昇してトリガ62の
トリガしきし、値をも越え、それによって積分器15が
再び停止する。積分器の出力信号はここでも蓄積調整器
16に与えられる。この場合加工片54をマスク6川こ
相対的に位置合せしなければならないから位置合せに際
してはそれらの中の一方を移動させる。従って調整器1
6は加工片54の移動用の移動台駆動ユニット63を制
御する。第7図の回路の信号の時間曲線を第9図に示す
。aは試料電流信号であり位置合せ通孔緑端への到達と
標識への到達が明に認められる。破線はトリガしきい値
を示すものである。bはaの信号から形成された位置合
せ信号であり、cは可能な積分範囲を示す。電子ビーム
マイクロ投影装置に対する位置合せ操作を第8図につい
て説明する。
図と対応する部分は同じ番号で示されているから51は
電子源、52はしンズ系である。投影マスク6川ま加工
片54の直上にありマスク60を加工片54上に1:1
に投射するためしンズ52は電子源から来た電子がほぼ
平行東としてレンズを出るように励起する。この平行ビ
ームによりマスクを全面的に照射し、加工片上に陰影投
射する。マスクと加工片の相対的位置合せのためには電
子東53が加工片上に焦点を結ぶようにレンズ52を励
起する。三角波発振器9によって制御される偏向系8を
使用して電子ビームを加工片およびマスク上を線走査す
るように動かす。三角波発振器9は更に矩形波発振器1
0を制御してスイッチ56を操作する。この場合位置合
せ信号として加工片を流れる電流が使用され前層増幅器
21を通して同時に一つのトリガ61と62に導かれる
。電子ビーム描画装置の場合積分器の起動は矩形波発振
器によって行われたが、この場合にはトリガ61によっ
て行われ、その停止はトリガ62による。これによって
積分は走査ビームの往路または復路の開始時に始まらず
、標識60の位置合せ通孔の縁に達したとき始まる。ビ
ームが通孔の緑に達したとき始めてビームがマスクを通
過し加工片54に当ってトリガ61のトリガしきし、値
を越える試料電流信号を作り積分器15を起動させる。
この試料電流信号は標識に達するまではほぼ一定の低い
値にとどまり、標識に達したとき上昇してトリガ62の
トリガしきし、値をも越え、それによって積分器15が
再び停止する。積分器の出力信号はここでも蓄積調整器
16に与えられる。この場合加工片54をマスク6川こ
相対的に位置合せしなければならないから位置合せに際
してはそれらの中の一方を移動させる。従って調整器1
6は加工片54の移動用の移動台駆動ユニット63を制
御する。第7図の回路の信号の時間曲線を第9図に示す
。aは試料電流信号であり位置合せ通孔緑端への到達と
標識への到達が明に認められる。破線はトリガしきい値
を示すものである。bはaの信号から形成された位置合
せ信号であり、cは可能な積分範囲を示す。電子ビーム
マイクロ投影装置に対する位置合せ操作を第8図につい
て説明する。
第7図の装置と同様にこの場合もマスクに相対的に加工
片の位置合せが行われるがマスク60と加工片54の間
に技像レンズ系65が置かれている点が異っている。マ
スクと加工片の相対的位置合せは第6図の場合と同様に
実施されるが、ここでは点状のゾンデではなくマスクの
標識66を通して成形された走査ゾンデが使用される点
だけが異っている。単一のマスク標識66の代りに多数
のマスク標識を同時に使用してもよい。位置合せ信号と
しては加工片から放出される電子貝0ち二次電子または
後方散乱電子が使用されるがこの場合にも試料電流を位
置合せ信号として使用することが可能である。上記の実
施例においては、位置合せに電子ビームが使用されてい
るが、電子ビーム以外の粒子ビームを使用してもよい。
光を使用する位置合せに対してもこの発明の方法は有効
である。光ビームを使用する場合走査ビームの偏向は例
えば回転鏡によることができる。実施例に示したような
自動位置合せに際して位置合せ過程をモニタによって監
視し、障害が起ったとき手動操作に切換えることも可能
である。
片の位置合せが行われるがマスク60と加工片54の間
に技像レンズ系65が置かれている点が異っている。マ
スクと加工片の相対的位置合せは第6図の場合と同様に
実施されるが、ここでは点状のゾンデではなくマスクの
標識66を通して成形された走査ゾンデが使用される点
だけが異っている。単一のマスク標識66の代りに多数
のマスク標識を同時に使用してもよい。位置合せ信号と
しては加工片から放出される電子貝0ち二次電子または
後方散乱電子が使用されるがこの場合にも試料電流を位
置合せ信号として使用することが可能である。上記の実
施例においては、位置合せに電子ビームが使用されてい
るが、電子ビーム以外の粒子ビームを使用してもよい。
光を使用する位置合せに対してもこの発明の方法は有効
である。光ビームを使用する場合走査ビームの偏向は例
えば回転鏡によることができる。実施例に示したような
自動位置合せに際して位置合せ過程をモニタによって監
視し、障害が起ったとき手動操作に切換えることも可能
である。
この場合モニタの描画ビームを走査ビームの両方の運動
方向に対してそれぞれ一回走査ビームに対して一定の位
相関係を保って同じ方向に動かし、位置合せ信号の強度
をそれに垂直の方向にとる。これによって第lb図に示
したような二つの位置合せ信号が画かれる。正確な整合
状態ではこれらの一つの信号が重り合う。
方向に対してそれぞれ一回走査ビームに対して一定の位
相関係を保って同じ方向に動かし、位置合せ信号の強度
をそれに垂直の方向にとる。これによって第lb図に示
したような二つの位置合せ信号が画かれる。正確な整合
状態ではこれらの一つの信号が重り合う。
第1図は位置合せに際しての走査ビームの動きとそれに
対応する位置合せ信号の時間経過曲線、第2図は走査ビ
ームの往復運動に際して発生する位置合せ信号曲線を示
し、第3図はこの発明の方法をアナログ走査式に実施す
る装置の一例、第4図は第3図の装置の種々の点におい
ての電圧の時間曲線、第5図はステップ走査によりこの
発明の方法を実施する装置の一例、第6図乃至第8図は
この発明の三つの異る応用例のブロック接続図、第9図
は電子ビーム陰影技像装置に応用したときの信号時間曲
線を示す。 第6図乃至第8図において53は位置合せ用の走査電子
ビーム、52はビーム集東用のレンズ系、54は加工片
、55は標識、8は偏向系、9は三角波発振器、101
ま矩形波発振器、15は積分器、16は調整器、22は
コンパレータ、56はスイッチである。〃り.ナQ ‘ね.仏 〃9.2 ‘ね.3 ‘ね.5 Ff9.4 打り.6 打9.7 Fi9.8 〃○.9
対応する位置合せ信号の時間経過曲線、第2図は走査ビ
ームの往復運動に際して発生する位置合せ信号曲線を示
し、第3図はこの発明の方法をアナログ走査式に実施す
る装置の一例、第4図は第3図の装置の種々の点におい
ての電圧の時間曲線、第5図はステップ走査によりこの
発明の方法を実施する装置の一例、第6図乃至第8図は
この発明の三つの異る応用例のブロック接続図、第9図
は電子ビーム陰影技像装置に応用したときの信号時間曲
線を示す。 第6図乃至第8図において53は位置合せ用の走査電子
ビーム、52はビーム集東用のレンズ系、54は加工片
、55は標識、8は偏向系、9は三角波発振器、101
ま矩形波発振器、15は積分器、16は調整器、22は
コンパレータ、56はスイッチである。〃り.ナQ ‘ね.仏 〃9.2 ‘ね.3 ‘ね.5 Ff9.4 打り.6 打9.7 Fi9.8 〃○.9
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 少なくとも一つの標識を備える加工片をビームによ
り一つの線に沿って線走査し、ビームが標識に到達した
ときに発生する信号により一つの装置を制御して標識位
置の規定位置よりの偏差に比例する信号を作り、この信
号によって加工片の位置を走査場またはマスクに相対的
に補正する装置を制御する方法において、加工片を走査
ビームにより交互に向きを逆にして等しい速度で往復走
査し、往路では走査線の起点から標識到達までの正の参
照直流電圧を積分器に加え、復路では走査線の終点から
標識到達まで往路と同じ大きさの負の参照電圧を積分器
に加え、走査ビームの一往復運動の終子毎に積分器の出
力信号を位置補正用の調整信号として使用することを特
徴とする走査場またはマスクに対する加工片の自動位置
合せ方法。 2 標識信号から巾がトリガしきい値の設定値に関係す
る矩形の位置合せ信号を作り出し、標識到達を矩形位置
合せ信号の側線によって表示することを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の方法。 3 少くとも一つの標識を備える加工片をビームにより
一つの線に沿って線走査し、ビームが標識に到達したと
きに発生する信号により一つの装置を制御して標識位置
の規定位置よりの偏差に比例する信号を作り、この信号
によって加工片の位置を走査場またはマスクに相対的に
補正する装置を制御する方法において、加工片を走査ビ
ームにより交互に向きを逆にして等間隔ステツプで走査
し、走査線の起点と終点において常にアツプダウン・カ
ウンタを起動させて往路では標識到達までステツプ数を
上向きに加え合せ複路では標識到達までステツプ数を下
向きに加え合せること、一回の往復走査が終った後カウ
ンタの終値をD−A変換器を通して位置補正用の調整信
号として使用することを特徴とする走査場またはマスク
に対する加工片の自動位置合せ方法。 4 標式信号から巾がトリガしきい値の設定値に関係す
る矩形の位置合せ信号を作り出し、標識到達を矩形位置
合せ信号の側線によって表示することを特徴とする特許
請求の範囲第3項記載の方法。 5 トリガしきい値を標識信号の最大値の部分値と定め
、このしきい値をビームの一走査運動毎に更新すること
を特徴とする特許請求の範囲第4項記載の方法。 6 粒子線描画装置に対して使用することを特徴とする
特許請求の範囲第3項乃至第5項のいずれかに記載の方
法。 7 走査線の長さがマスクの補正用通孔の大きさによっ
て決定される粒子線陰影投射装置に対して使用すること
を特徴とする特許請求の範囲第3項乃至第5項のいずれ
かに記載の方法。 8 粒子線マイクロ投射装置に対して使用するとを特徴
とする特許請求の範囲第3項乃至第5項のいずれかに記
載の方法。 9 走査ビーム偏向系と一つの矩形波発振器10を制御
する三角波発振器と、矩形波発振器により二つの二安定
マルチバイブレータ11,12と二つのスイツチを介し
て制御されて積分器に加えられる等大で互に逆極性の二
つの直流電圧源と、同じく矩形波発振器により制御され
てビームの走査運動毎に二つのスイツチS4,S5を順
次に閉結してまず積分器出力端を位置補正用調整器に接
続し次に積分器を短絡して三角波発振器の新しい動作を
開始させる二つの直列に接続された一安定マルチバイブ
レータ13,14と前記増幅器とコンパレータを介して
二安定マルチバイブレータ11,12制御用の信号に変
換される標識信号を記録する検出器とを備えることを特
徴とする走査場またはマスクに対する加工片の自動位置
合せ装置。 10 矩形波発振器により二安定フリツプフロツプと四
つのスイツチS7乃至S10を介して制御されてビーム
の一走査運動中検出器20またはその一端がコンパレー
タに接続された分圧器23に接続される二つのコンデン
サおよび二安定フリツプフロツプ31から二つの一安定
マルチバイブレータ32,33を介して制御され二つの
コンデンサを短絡する二つのスイツチS11,S12が
設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第9項
記載の装置。 11 D−A変換器を介して走査ビーム偏向系を制御す
ると同時に矩形波発振器を制御するデイジタル発振器と
、計数方向と計数開始が矩形波発生器によって制御され
る走査ステツプ計数用アツプダウン・カウンタと、ビー
ムの一往復走査運動毎に短時間スイツチを閉結して計数
値を位置補正用としてD−A変換器を介して著積形調整
器44に伝えてスイツチの閉結時間の終了後カウンタを
零に戻しデイジタル発振器の新な動作を開始させる制御
ユニツト43と、前置増幅器とコンパレータを介してカ
ウンタの停止信号に変換される標識信号を記録する検出
器とを備えることを特徴とする走査場またはマスクに対
する加工片の自動位置合せ装置。 12 矩形波発振器により二安定フリツプフロツプと四
つのスイツチ(S7乃至S10)を介して制御されてビ
ームの一走査運動中検出器20またはその一端コンパレ
ータに持続された分圧器23に接続される二つのコンデ
ンサおよび二安定フリツプフロツプ31から二つの一安
定マルチバイブレータ32,33を介して制御され二つ
のコンデンサを短絡する二つのスイツチS11,S12
が設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第1
1項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2726173.0 | 1977-06-08 | ||
| DE2726173A DE2726173C2 (de) | 1977-06-08 | 1977-06-08 | Verfahren und Schaltung zur automatischen Positionierung eines Werkstückes relativ zu einem Abtastfeld bzw. zu einer Maske, sowie Verwendung des Verfahrens |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS544574A JPS544574A (en) | 1979-01-13 |
| JPS605221B2 true JPS605221B2 (ja) | 1985-02-08 |
Family
ID=6011170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53068738A Expired JPS605221B2 (ja) | 1977-06-08 | 1978-06-07 | 加工片の自動位置合せ方法とその装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4219719A (ja) |
| JP (1) | JPS605221B2 (ja) |
| DE (1) | DE2726173C2 (ja) |
| FR (1) | FR2394115B1 (ja) |
| NL (1) | NL7805320A (ja) |
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-
1977
- 1977-06-08 DE DE2726173A patent/DE2726173C2/de not_active Expired
-
1978
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- 1978-06-06 US US05/912,982 patent/US4219719A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-06-07 JP JP53068738A patent/JPS605221B2/ja not_active Expired
Also Published As
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| US4219719A (en) | 1980-08-26 |
| DE2726173C2 (de) | 1982-05-27 |
| FR2394115A1 (fr) | 1979-01-05 |
| JPS544574A (en) | 1979-01-13 |
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