JPS6059143U - シングルビ−ム型赤外線分析計 - Google Patents

シングルビ−ム型赤外線分析計

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Publication number
JPS6059143U
JPS6059143U JP15090183U JP15090183U JPS6059143U JP S6059143 U JPS6059143 U JP S6059143U JP 15090183 U JP15090183 U JP 15090183U JP 15090183 U JP15090183 U JP 15090183U JP S6059143 U JPS6059143 U JP S6059143U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared analyzer
beam infrared
single beam
detector
cell
Prior art date
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Pending
Application number
JP15090183U
Other languages
English (en)
Inventor
隆雄 今木
重之 秋山
研一 渡辺
Original Assignee
株式会社　堀場製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社　堀場製作所 filed Critical 株式会社　堀場製作所
Priority to JP15090183U priority Critical patent/JPS6059143U/ja
Publication of JPS6059143U publication Critical patent/JPS6059143U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１、第２図は夫々従来のシングルビーム型赤外線分析
計を示す図、第３図は本考案の一実施例としてのシング
ルビーム型赤外線分析計を示す図、第４図は封入ガス濃
度（ガス圧）を変化した場合における測定成分出力と干
渉成分出力の変化を示す図である。 １０．１１・・・・・・光ｔ１２，１３・・・・・・セ
ル、１４、　１５−−−−−−検出器、１４ａｔ　　１
４ｂｔ　　１５ａｔ１５ｂ・・・・・・受光室。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 光源、セル、検出器を直列に配置したシングルビーム型
    赤外線分析計において、試料ガスと基準ガスとを交互に
    切換えてセルに導入することによってゼロドリフトの補
    償を行なうと共に、検出器として２つの受光室をもつも
    のを用い、両受光室を光路に直列に並べて設け、各受光
    室の大きさ又゛　　はガス圧の大きさを調整することに
    よって干渉影響の補償を行なうようにしたことを特徴と
    するシングルビーム型赤外線分析計。
JP15090183U 1983-09-28 1983-09-28 シングルビ−ム型赤外線分析計 Pending JPS6059143U (ja)

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JP15090183U JPS6059143U (ja) 1983-09-28 1983-09-28 シングルビ−ム型赤外線分析計

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JP15090183U JPS6059143U (ja) 1983-09-28 1983-09-28 シングルビ−ム型赤外線分析計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6059143U true JPS6059143U (ja) 1985-04-24

Family

ID=30334558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15090183U Pending JPS6059143U (ja) 1983-09-28 1983-09-28 シングルビ−ム型赤外線分析計

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JP (1) JPS6059143U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03115840A (ja) * 1988-12-01 1991-05-16 Jan Czekajewski 試料と流体媒質の特定成分との相互作用の速度を測定する方法及び装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5217074B2 (ja) * 1972-04-25 1977-05-13

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5217074B2 (ja) * 1972-04-25 1977-05-13

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03115840A (ja) * 1988-12-01 1991-05-16 Jan Czekajewski 試料と流体媒質の特定成分との相互作用の速度を測定する方法及び装置

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