JPS6059534B2 - 電気接続子試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は接触保持クリップがどの程度しつかりと絶縁体
穴に固定されているかを測定する装置、特に電気接続子
の係合度を試験する装置に関するものである。

ＢＯｇｕｒｓｋｙ（第３６０５２３４号）はクリップ接
続子内の接点をつかんて接点にけん引力を加える試験器
具を開示している。

ＪＯｈｎｓＯｎ（第３１１００９３号）、Ｂａｃｈｍａ
ｎ（第３１１２１４？）およびＡＪｌｈａｌｔおよびそ
の他の者へのＩＴＴ特許（第３６７６９１２号）は同様
のレリーズスリーブ機構を示している。

ＳＦｅｍｍＯｎｓｅｔａｌ（第３５６４９１１号）およ
びＷｅｓｔ（第３９４５２４８号）はけん引力を加える
ことによる電気装置の試験を提案している。

Ｄｕｎｌａｐおよびその他の者（第３７７７５５７号）
および０ｐｐｅｎｈｅＩｍｅｒ（第４０００６４４号は
変位および力測定装置を含む試験装置を開示している。

本発明によれは穴を有する絶縁体、および絶縁体に対し
穴の内側に固定された電気接触保持クリップを含む電気
接続子部品の分離に対する抵抗力を調査する装置が提供
され、前記装置は、絶縁体５を定位置に保つために働か
せ得る開放可能装置、前記クリップにかみ合わせる装置
、前記かみあわせ装置をある方向にけん引して前記クリ
ップを前記絶縁体の穴からはずそうとする装置てあつて
一端を前記かみ合わせ装置に接続したばねを含んでＪｌ
，）る張力装置、該張力装置の所望動作に応答して試験
結果を出力する電気回路装置を含んでいる。本発明の一
つの実施例においてはクリップの変位を惑知するために
応力変形応答装置が使用されている。
３１９７０年２月１０日に公布さ
れた米国特許第３４９４９９８号に開示されている接触
保持アッセンブリは第１図のクリップおよびそのまわり
に示されているものと類似した構造を有している。引き
抜き検査装置は試験針３４を挿入して歯３４５および３
６とかみ合わせてから（第２図）制御された引つ込める
力を加える。

この力は絶えず監視され、あらかじめ設定した値におい
て機械の位置測定を行なわせる。この力は第２のあらか
じめ設定した値に連するまで増大し続ける。機械の位置
が再び測定され、第１と第２のあらかじめ設定した力の
間の位晋における差の値を求めてクリップ取り付けの安
全性を測定する。機械の動きがあらかじめ設定した限界
を超えれば検査を止めて警報を発するために用いること
のできる電気リレー信号が得られる。検査のこの部分が
完了した後引つ込める力は除去され、レリーズスリーブ
３７は下けおろされて歯３５および３６を試験針３４か
フら解放した後針３４を引つ込める。スリーブ３７は試
験針の肩部３８の直径と同じかまたはわずかに大きい直
径を有する。このことはます試験針３４にかかる上方へ
引つ込める力を放してからレリーズスリーブ３７を試験
針３４の・下方へ移動させてスリーブ３７の底か肩部３
８の上に載るようにすることによつて歯３５および３６
から引つ込めることを可能にする。これは歯３５および
３６を後ろへ押して試験針３４をはずすので試験針を引
つ込めることができるようになる。ここに記述する本発
明の実施例においては移動は空気シリンダの拡張および
収縮から導かれる。

これは必要とされる直線運動を提供しまたはおよび速度
の制御を容易にする。第１図は機械的構成部分の概略図
てある。

絶縁体６２は除去可能な拘束装置６２および６６により
押えつけられている。

支持構造３９はすベリ装置上を上下に移動することがで
きる。

支持構造３９はその本体が固定されている空気シリンダ
４０によつて駆動される。線形差動変圧器４１および空
気シリンダ４０の本体は互いに対して固定されている。
シリンダ４０，４２および４３のためにバルブ４『，４
２″および４３″が設けられる。シリンダ４３は支持構
造に対して固定されている。空気シリンダ４０のピスト
ン（図には示されていない）は瞬間的に伸ばされて支持
構造３９を下方へ移動させて試験針３４を歯３５および
３６とかみ合わせる。

（第２図）試験針３４および円板４５は空気シリンダ４
０のピストンに対して固定されたアーム４４との接触に
よつて支持構造３９に沿つて下方へ移動される。それか
ら空気シリンダのピストンは引つ込めらて試験針３４お
よび円板か自由に上方へ移動できるように放置する。そ
の後空気シリンダ４２を収縮させる。空気シリンダ４２
のピストンは荷重セル４７を通してばね４６をひつばる
。はね４６は試験針３４に絶えす増大する上向きの力を
働かせて歯３５および３６から引き抜こうとする（第２
図）。同時に第１図の線形差動変圧器４１は試験針３４
の円板４５を押しつけて試験針３４の位置に比例する電
気出力信号を提供する。荷重セル４７は針３４に加えら
れる力に比例する電気信号を増幅器５０（第３図）に提
供する。

この力がサイズ２２の接点に対しては１．４ｋ９ほどの
あらかじめ設定された値に達するとしきい値検出器４８
はサンプルアンドホールド回路４９に、加えられる力が
１．４ｋ９のあらかじめ設定された値に等しい時の差動
変圧器の出力電圧に等しい一定の値において線形差動変
圧器出力電圧の値をサンプリングさせまたホールドさせ
る。試験針３４に加えられる力はサイズ２２の接点に対
しては４．５ｋ９ほどのもう１つのあらかじめ設定され
た値に達するまで増大し続ける。

この値に達するともう１つのしきい値検出器５１がもう
１つのサンプルアンドホールド回路５２を働らかせ、ま
た回路４９の出力を増幅器５４の出力から減する（符号
変換増幅器５０を通して得られる回路４９の負の出力を
加える）減算回路５５の出力をサンプルおよびホールド
させる。回路５２の出力はマルフアンクシヨンを表示す
る使用装置５８（ランプ）を操作するしきい値検出器お
よび！Ｊｌｌ電器５７へ送られる。

荷重セル４７の出力を増幅するために増幅器５９が設け
られる。

線形差動変圧器４１の出力を増幅するために増幅器５４
か設けられる。そうすると回路５２の出力は１．４ｋ９
と４．５ｋ９の力Ｃｒ）間て試験針３４の移動に比例す
る。

しきい値検出器５６は所望の変位置において受入れおよ
び拒絶するようにあらかじめ調節することができる。良
いクリップについてこれほ最大０．１瓢のオーグーでよ
い。４．５ｋ９の力に達した時に空気シリンダ４２のピ
ストンを仲ばすような１つの信号をしきい値検出器５１
からとり出して空気シリンダ４２の空気バルブ４２″へ
送ることができる。

これは歯３５および３６の負荷をはずす。空気シリンダ
４２が伸びると空気シリンダ４３が働いて動作バー６０
を下へ動かすことによつてレリーズスリーブ３７を試験
針の肩部まで下げて歯３５および３６をはすす。

歯３５および３６がはずれるとばね６３および６４（第
１図）が支持構造および試験針３４を第２図のかみ合わ
ない位置に戻す。すると空気シリンダ４３が収縮して装
置を次のクリップ試験の用意ができた状態に戻す。

本発明によれば上記の如く絶縁体の穴の内側に固定され
た電気接触保持クリップ等の電気接触子部品の絶縁体か
らの分離に対する抵抗力を電気的に自動的に試験する装
置が提供され、かかる試験、測定を容易にする。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に従つて作成した装置の概略阿図、第２
図は絶縁穴内の電気接続保持クリップとかみ合わせた張
力装置の断面図、第３図は不完全なりリップ据え付けを
信号で知らせる装置のブロック線図である。 参照番号の説明３３・・・・クリップ、３４・・・試験
針、３５，３６・・・・・・歯、３７・・・・・レリー
ズスリーブ、３８・・・・・・試験針肩部、３９・ ・
・支持構造、４０，４２，４３・・・・・・空気シリン
ダ、４１・・・・・・線形差動変圧器、４４・・・・・
・アーム、４５・・・・・・円板、４６・・・・・・ば
ね、４７・・・・・・荷重セル、４８，５５１・・・・
・化きい値検出器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 穴を有する絶縁体、および絶縁体に対し穴の内側に
   固定された電気接触保持クリップを含む電気接続子部品
   の分離に対する抵抗力を試験する電気接続子試験装置で
   あつて、絶縁体を定位置に保つために働かせ得る開放可
   能装置、前記クリップにかみ合わせる装置、前記かみ合
   わせ置をある方向にけん引して前記クリップを前記絶縁
   体の穴からはずそうとする装置であつて一端を前記かみ
   合わせ装置に接続したばねを含んでいる装置、前記ばね
   のもう一方の端に接続されて前記クリップに対するバネ
   の張力の応力の第１のあらかじめ定められた関数として
   電気出力信号を作成する第１のアナログ装置、および前
   記第１のアナログ装置から接続された利用装置を含み、
   前記クリツプへの張力変形の関数である電気出力信号を
   作成するための第２のアナログ装置、前記第１および第
   ２のアナログ装置から接続されて前記電気出力信号の第
   ２のあらかじめ定められた関数に従つて前記利用装置を
   駆動するための第３のアナログ装置を有し、前記第１の
   アナログ装置は前記応力に直接に比例する出力信号を作
   成し、前記第２のアナログ装置は前記変形に直接に比例
   する出力信号を作成し、前記第３のアナログ装置は前記
   第１のアナログ装置から接続した第１および第２のしき
   い値検出器を含み、前記第１および第２のしきい値検出
   器は各々第１および第２の出力を有し、第１のサンプル
   アンドホールド回路、アナログ減算器および第２のサン
   プルアンドホールド回路が前記第２のアナログ装置から
   前記利用装置へこの順序で連続して接続され、前記利用
   装置は前記第１および第２のサンプルアンドホールド回
   路をリセットするために前記第２のサンプルアンドホー
   ルド回路の出力から接続され、前記減算器も前記第２の
   アナログ装置の出力と前記第１のサンプルアンドホール
   ド回路の出力の間の差に直接に比例する出力信号を作成
   するために前記第２のアナログ装置の出力から接続され
   、前記第１のしきい値検出器は前記第２のしきい値検出
   器よりも小さいしきい値レベルを有して成つた前記電気
   接続子試験装置。 ２ 特許請求の範囲第１項の装置であつて、前記第２の
   サンプルアンドホールド回路は第３のしきい値検出器を
   介して前記利用装置に接続されている電気接続子試験装
   置。