JPS6059633B2 - 硬貨デ−タ測定方法 - Google Patents
硬貨デ−タ測定方法Info
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- JPS6059633B2 JPS6059633B2 JP12636980A JP12636980A JPS6059633B2 JP S6059633 B2 JPS6059633 B2 JP S6059633B2 JP 12636980 A JP12636980 A JP 12636980A JP 12636980 A JP12636980 A JP 12636980A JP S6059633 B2 JPS6059633 B2 JP S6059633B2
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 23
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Phase Differences (AREA)
- Testing Of Coins (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は、硬貨識別装置における硬貨データ測定方法に
関し、特に発振磁界中において測定硬貨内に生じる渦電
流によつて誘起される磁束を検出し、発振側と検出側と
の間の信号位相差を硬貨データとして測定する方法に関
する。
関し、特に発振磁界中において測定硬貨内に生じる渦電
流によつて誘起される磁束を検出し、発振側と検出側と
の間の信号位相差を硬貨データとして測定する方法に関
する。
（ロ）従来の技術
発振磁界中に硬貨を置き発振側と検出側との信号位相差
により硬貨データを測定する方法としては、特開昭４９
−９５６９４号公報に開示されている技術がある。
により硬貨データを測定する方法としては、特開昭４９
−９５６９４号公報に開示されている技術がある。
これは測定硬貨を挾み発振コイルと検出コイルとを対向
配置して、両コイルの信号位相差を測定するものて第１
図で説明する。発振コイルの信号ａを所定の信号レベル
Ｌにより矩形波ａ’に変換し且つ硬貨の通過による検出
コイルの信号をを矩形波を’に変換して、矩形波ａ’と
矩形波を’の反転波形との論理積ｃをとる。この信号ｃ
が硬貨によつて生じる位相差硬貨であり、硬貨ｃの１つ
とクロックパルスｄとの論理積を取つて硬貨ｃの発生期
間内で生じるクロックパルスｅを計数することて位相差
の値を測定するものである。このク頭ノクパルスの計数
処理は、位相差情報ｃを必らず１つ含む或る一定の位相
差測定期間を設定し、その期間内てカウンタを作動し行
なう。←→ 発明が解決しようとする問題点ところが発
振コイルの信号ａの周期が回路部品のバラツキまたは温
度変化により増減すると、それに伴つて波形ｅの間隔も
増減して第２図及び第３図に示す不具合が生じる。
配置して、両コイルの信号位相差を測定するものて第１
図で説明する。発振コイルの信号ａを所定の信号レベル
Ｌにより矩形波ａ’に変換し且つ硬貨の通過による検出
コイルの信号をを矩形波を’に変換して、矩形波ａ’と
矩形波を’の反転波形との論理積ｃをとる。この信号ｃ
が硬貨によつて生じる位相差硬貨であり、硬貨ｃの１つ
とクロックパルスｄとの論理積を取つて硬貨ｃの発生期
間内で生じるクロックパルスｅを計数することて位相差
の値を測定するものである。このク頭ノクパルスの計数
処理は、位相差情報ｃを必らず１つ含む或る一定の位相
差測定期間を設定し、その期間内てカウンタを作動し行
なう。←→ 発明が解決しようとする問題点ところが発
振コイルの信号ａの周期が回路部品のバラツキまたは温
度変化により増減すると、それに伴つて波形ｅの間隔も
増減して第２図及び第３図に示す不具合が生じる。
即ち、波形ｅの間隔が第２図に示すように短くなると、
次の周期の位相差も同じ測定期間ｆて検出されて２通り
の位相”差情報を取込むために実際より大きな値を検出
し、また第３図に示すように長くなると測定期間ｆで一
つの位相差情報の一部しか取込ます実際より小さな値を
検出することになる。上記点より本発明は、測定期間て
確実に一つの位相差情報を検出可能な硬貨データ測定方
法を提供するものてある。
次の周期の位相差も同じ測定期間ｆて検出されて２通り
の位相”差情報を取込むために実際より大きな値を検出
し、また第３図に示すように長くなると測定期間ｆで一
つの位相差情報の一部しか取込ます実際より小さな値を
検出することになる。上記点より本発明は、測定期間て
確実に一つの位相差情報を検出可能な硬貨データ測定方
法を提供するものてある。
（： 問題点を解決するための手段
本発明は、所定の発振周波数にて発振磁界を形成する発
振コイル及び発振磁界中における測定硬貨内に生じる渦
電流によつて誘起される磁束を検出する検出コイルを備
え、発振磁界に関連する基準信号と検出コイルの検出信
号との同一周期における位相差信号を取出し、該位相差
信号期間内て発振周波数より十分高い周波数のクロック
パルスをカウンタにて計数することで硬貨データを測定
するものであつて、許容誤差範囲内における発振周波数
の最大変動周期以上て、且つ最小変動周期のＩゐ倍以下
の位相差測定期間を設定し、基準信号または検出信号が
所定の信号レベルと交わる時点から位相差測定期間を開
始するものである。
振コイル及び発振磁界中における測定硬貨内に生じる渦
電流によつて誘起される磁束を検出する検出コイルを備
え、発振磁界に関連する基準信号と検出コイルの検出信
号との同一周期における位相差信号を取出し、該位相差
信号期間内て発振周波数より十分高い周波数のクロック
パルスをカウンタにて計数することで硬貨データを測定
するものであつて、許容誤差範囲内における発振周波数
の最大変動周期以上て、且つ最小変動周期のＩゐ倍以下
の位相差測定期間を設定し、基準信号または検出信号が
所定の信号レベルと交わる時点から位相差測定期間を開
始するものである。
（ホ）作用上記測定方法によると、許容誤差範囲内で発
振周波数が変動しても位相差信号期間内では１つの位相
差信号しか検出されない。
振周波数が変動しても位相差信号期間内では１つの位相
差信号しか検出されない。
（へ）実施例
本発明では、先す発振コイルを含む発振回路の許容誤差
範囲を設定しなければならない。
範囲を設定しなければならない。
発振回路は構成部品のバラツキ或いは温度変化にて周波
数が変動するが、本例ては許容誤差範囲内を±２０％に
設定し、変動してもこの範囲で治まるように回路上設計
する。許容誤差範囲をこのように±２０％内に抑えるの
は比較的容易てあり、また±２０％以上変動すると、磁
束の硬貨への侵透度が異なり予定の硬貨データを測定す
るのは困難となるためにこの範囲は妥当といえる。そし
て位相差信号ｃを検出する場合に第１図て説明すると、
発振コイルの信号ａが信号レベルＬと交わるＴ。点とＴ
１点の間（即ち１．５周期）に位相差測定期間を設定す
るが、本発明ては次の条件て設定する。即ち、信号ａの
−２０％の変動に対して位相差測定期間の上限は信号ａ
の最小変動周期の１．５倍以下に設定し、信号ａの＋２
０％の変動に対して位相差測定期間の下限は信号ａの最
大変動周期以上に設定する。このような設定により、信
号ａが−２０％変動しても１つの位相差測定期間て隣合
う周期の２通りの位相差信号が検出されることがなく、
また信号ａが２０％変動しても位相差測定期間で１つの
位相差信号の一部しか検出されないということがない。
例えば信号ａの基準周期が１ｍｓであると許容誤差範囲
を±２０％に設定した場合、その変動周期は０．８ｎ１
Ｓから１．２ｒＴ１Ｓの範囲てある。したがつて位相差
測定期間の上限は最小変動周期０．８ｒｎｓ（７）１．
５倍以下、即ち１．２ｍｓ以下で、その下限は最大変動
周期１．２ｒｎｓ以上となる。したがつて本例による位
相差測定期間はＴ。点から１．２ｍｓの期間となる。ま
た位相差測定期間は検出コイルの信号ｂが信号レベルＬ
と交わる点から開始してもよい。第４図は具体的な回路
構成を示しており、１０は発振器１２に接続されて所定
の発振磁界を誘起する発振コイル、１１は発振磁界によ
つて測定硬貨内に生じる渦電流によつて誘起される磁束
を検出する検出コイルで、発振コイル１０及び検出コイ
ル１１の電圧等の信号位相差により硬貨データを測定す
るものである。
数が変動するが、本例ては許容誤差範囲内を±２０％に
設定し、変動してもこの範囲で治まるように回路上設計
する。許容誤差範囲をこのように±２０％内に抑えるの
は比較的容易てあり、また±２０％以上変動すると、磁
束の硬貨への侵透度が異なり予定の硬貨データを測定す
るのは困難となるためにこの範囲は妥当といえる。そし
て位相差信号ｃを検出する場合に第１図て説明すると、
発振コイルの信号ａが信号レベルＬと交わるＴ。点とＴ
１点の間（即ち１．５周期）に位相差測定期間を設定す
るが、本発明ては次の条件て設定する。即ち、信号ａの
−２０％の変動に対して位相差測定期間の上限は信号ａ
の最小変動周期の１．５倍以下に設定し、信号ａの＋２
０％の変動に対して位相差測定期間の下限は信号ａの最
大変動周期以上に設定する。このような設定により、信
号ａが−２０％変動しても１つの位相差測定期間て隣合
う周期の２通りの位相差信号が検出されることがなく、
また信号ａが２０％変動しても位相差測定期間で１つの
位相差信号の一部しか検出されないということがない。
例えば信号ａの基準周期が１ｍｓであると許容誤差範囲
を±２０％に設定した場合、その変動周期は０．８ｎ１
Ｓから１．２ｒＴ１Ｓの範囲てある。したがつて位相差
測定期間の上限は最小変動周期０．８ｒｎｓ（７）１．
５倍以下、即ち１．２ｍｓ以下で、その下限は最大変動
周期１．２ｒｎｓ以上となる。したがつて本例による位
相差測定期間はＴ。点から１．２ｍｓの期間となる。ま
た位相差測定期間は検出コイルの信号ｂが信号レベルＬ
と交わる点から開始してもよい。第４図は具体的な回路
構成を示しており、１０は発振器１２に接続されて所定
の発振磁界を誘起する発振コイル、１１は発振磁界によ
つて測定硬貨内に生じる渦電流によつて誘起される磁束
を検出する検出コイルで、発振コイル１０及び検出コイ
ル１１の電圧等の信号位相差により硬貨データを測定す
るものである。
そして１は（＋）入力端に発振コイル側の信号ａが入力
し（−）入力端に所定レベルの基準信号が入力するコン
パレータ、２は（＋）入力端に検出コイル側の信号ｂが
入力し（−）入力端に基準信号が入力するコンパレータ
で、夫々信号ａ及び信号ｂを基準信号レベルと比較して
矩形波ａ″と矩形波ｂ″に変換する。そして３は一方の
入力端がコンパレータ１に接続され且つ他方の入力端が
インバータ４を通してコンパレータ２に接続されるＡＮ
Ｄゲート、５はクロックパルスｄを発生するパルス発生
器、６は一方の入力端がＭ巾ゲート３に接続され且つ他
方の入力端がパルス発生器５に接続されるＮ巾ゲートで
ある。また７は硬貨データ測定信号が入力している状態
でコンパレータ１の出力の立下がりを検出すると、リセ
ット信号と一定期間（本例では１．２ｒｒ１ｓ）に亘り
計数許容信号を出力する計数制御装置、８は一方には計
数許容信号が入力し、且つ他方の入力端は．ＡＮＤゲー
ト６と接続されるＡＮＤゲート、９はリセット端子Ｒに
リセット信号が入力するよう計数制御装置７に接続され
且つ計数人力端子ＣＬがＡＮＤゲート８に接続される計
数装置てある。斯る構成て硬貨が投入されるとコンパレ
ータ１及びコンパレータ２は矩形波ａ″ｂ″を夫々出力
し、，ＡＮＤゲート３は位相差情報に相当する巾のパル
スを逐次発生し、更にＡＮＤゲート６はこのパルスが生
じる度にこの発生期間内でパルス発生器５”よりのクロ
ックパルスを出力する。
し（−）入力端に所定レベルの基準信号が入力するコン
パレータ、２は（＋）入力端に検出コイル側の信号ｂが
入力し（−）入力端に基準信号が入力するコンパレータ
で、夫々信号ａ及び信号ｂを基準信号レベルと比較して
矩形波ａ″と矩形波ｂ″に変換する。そして３は一方の
入力端がコンパレータ１に接続され且つ他方の入力端が
インバータ４を通してコンパレータ２に接続されるＡＮ
Ｄゲート、５はクロックパルスｄを発生するパルス発生
器、６は一方の入力端がＭ巾ゲート３に接続され且つ他
方の入力端がパルス発生器５に接続されるＮ巾ゲートで
ある。また７は硬貨データ測定信号が入力している状態
でコンパレータ１の出力の立下がりを検出すると、リセ
ット信号と一定期間（本例では１．２ｒｒ１ｓ）に亘り
計数許容信号を出力する計数制御装置、８は一方には計
数許容信号が入力し、且つ他方の入力端は．ＡＮＤゲー
ト６と接続されるＡＮＤゲート、９はリセット端子Ｒに
リセット信号が入力するよう計数制御装置７に接続され
且つ計数人力端子ＣＬがＡＮＤゲート８に接続される計
数装置てある。斯る構成て硬貨が投入されるとコンパレ
ータ１及びコンパレータ２は矩形波ａ″ｂ″を夫々出力
し、，ＡＮＤゲート３は位相差情報に相当する巾のパル
スを逐次発生し、更にＡＮＤゲート６はこのパルスが生
じる度にこの発生期間内でパルス発生器５”よりのクロ
ックパルスを出力する。
この状態で自動販売機の硬貨処理制御部（図示せす）よ
り硬貨データ測定信号が導入されると、計数制御装置７
はコンパレータ１の出力の立下がりにより計数装置９に
リセット信号を出力し、且つＡＮＤゲート８へー定期間
計数許容信号を出力する。したがつて計数装置９は計数
許容信号の発生中即ち位相差測定期間内にＡｒＳＪＤゲ
ー１・８より出力されるクロックパルスを計数して硬貨
データを測定する。そして前記硬貨処理制御部は計数装
置９による硬貨データに基づき硬貨の適正或いは有無を
判定する。上記の如く本発明はその実施例に依ると、発
振回路を±２０％までしか変動しないように構成して、
コンパレータ１の出力の立下がりＴ。
り硬貨データ測定信号が導入されると、計数制御装置７
はコンパレータ１の出力の立下がりにより計数装置９に
リセット信号を出力し、且つＡＮＤゲート８へー定期間
計数許容信号を出力する。したがつて計数装置９は計数
許容信号の発生中即ち位相差測定期間内にＡｒＳＪＤゲ
ー１・８より出力されるクロックパルスを計数して硬貨
データを測定する。そして前記硬貨処理制御部は計数装
置９による硬貨データに基づき硬貨の適正或いは有無を
判定する。上記の如く本発明はその実施例に依ると、発
振回路を±２０％までしか変動しないように構成して、
コンパレータ１の出力の立下がりＴ。
から１．２ｎ１ｓの期間で計数動作を行うものである。
したがつて１ｍｓ周期の基本数が１．２ｒＴ１Ｓに最大
変動しても，ＡＮＤゲート３の出力波形はＴ。から０．
６１Ｔ］Ｓて発生するために、１．２１Ｔ１Ｓ期間内て
確実に１つの位相差情報を測定することができる。また
１ｍｓ周期の基本波が０．８ｍ１ｓに最小変動してもＡ
ＮＤゲート３の出力波形はＴ。から０．４ｍｓ・１．２
ｒＴ１Ｓ・・・・で発生するが、１．２ｒＴ１Ｓ期間内
では０．４ｍｓで生じた位相差情報しか測定せず正確な
硬貨データが測定される。そして計数装置９はＡＮＤゲ
ート８より位相差情報が出力される以前に計数許容信号
にて計数状態となつているために、位相差情報の入力で
確実に計数できる。（ト）発明の効果 本発明に依ると、許容誤差範囲内における基準波形周期
の変動分を考慮した所定の位相差測定期間を定め、この
期間を基準波或いは検出波が所定レベルと交わつたとき
に開始することで、同一測定期間内では一つの位相差情
報しか測定しないため正確な硬貨データを得ることがで
きる。
したがつて１ｍｓ周期の基本数が１．２ｒＴ１Ｓに最大
変動しても，ＡＮＤゲート３の出力波形はＴ。から０．
６１Ｔ］Ｓて発生するために、１．２１Ｔ１Ｓ期間内て
確実に１つの位相差情報を測定することができる。また
１ｍｓ周期の基本波が０．８ｍ１ｓに最小変動してもＡ
ＮＤゲート３の出力波形はＴ。から０．４ｍｓ・１．２
ｒＴ１Ｓ・・・・で発生するが、１．２ｒＴ１Ｓ期間内
では０．４ｍｓで生じた位相差情報しか測定せず正確な
硬貨データが測定される。そして計数装置９はＡＮＤゲ
ート８より位相差情報が出力される以前に計数許容信号
にて計数状態となつているために、位相差情報の入力で
確実に計数できる。（ト）発明の効果 本発明に依ると、許容誤差範囲内における基準波形周期
の変動分を考慮した所定の位相差測定期間を定め、この
期間を基準波或いは検出波が所定レベルと交わつたとき
に開始することで、同一測定期間内では一つの位相差情
報しか測定しないため正確な硬貨データを得ることがで
きる。
第１図は位相差測定の動作波形図、第２図及ひ第３図は
従来の位相差測定で起こり得る誤動作を示す波形図、第
４図は本発明に依る回路図である。 １●●●●●コンパレータ、２１●◆●コンパレータ、
７・・・計数制御装置、９・・・・・・計数装置、１０
・・・・・・発振コイル、１１●●●●●●検出コイル
。
従来の位相差測定で起こり得る誤動作を示す波形図、第
４図は本発明に依る回路図である。 １●●●●●コンパレータ、２１●◆●コンパレータ、
７・・・計数制御装置、９・・・・・・計数装置、１０
・・・・・・発振コイル、１１●●●●●●検出コイル
。
Claims (1)
- １ 所定の発振周波数にて発振磁界を形成する発振コイ
ル及び該発振磁界中における測定硬貨内に生じる渦電流
によつて誘起される磁束を検出する検出コイルを備え、
前記発振磁界に関連する基準信号と前記検出コイルの検
出信号との同一周期における位相差信号を取出し、該位
相差信号期間内で前記発振周波数より十分高い周波数の
クロックパルスをカウンタにて計数することで硬貨デー
タを測定するものであつて、許容誤差範囲内における前
記発振周波数の最大変動周期以上で、且つ最小変動周期
の１．５倍以下の位相差測定期間を設定し、前記基準信
号または前記検出信号が所定の信号レベルと交わる時点
から前記位相差測定期間を開始することを特徴とした硬
貨データ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12636980A JPS6059633B2 (ja) | 1980-09-10 | 1980-09-10 | 硬貨デ−タ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12636980A JPS6059633B2 (ja) | 1980-09-10 | 1980-09-10 | 硬貨デ−タ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5750092A JPS5750092A (en) | 1982-03-24 |
| JPS6059633B2 true JPS6059633B2 (ja) | 1985-12-26 |
Family
ID=14933470
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12636980A Expired JPS6059633B2 (ja) | 1980-09-10 | 1980-09-10 | 硬貨デ−タ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6059633B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59178025A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-09 | Hitachi Ltd | 位相同期装置 |
-
1980
- 1980-09-10 JP JP12636980A patent/JPS6059633B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5750092A (en) | 1982-03-24 |
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