JPS6061190A - 光学式選択的金属被膜除去装置 - Google Patents
光学式選択的金属被膜除去装置Info
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- JPS6061190A JPS6061190A JP59168920A JP16892084A JPS6061190A JP S6061190 A JPS6061190 A JP S6061190A JP 59168920 A JP59168920 A JP 59168920A JP 16892084 A JP16892084 A JP 16892084A JP S6061190 A JPS6061190 A JP S6061190A
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- beams
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/067—Dividing the beam into multiple beams, e.g. multi-focusing
- B23K26/0676—Dividing the beam into multiple beams, e.g. multi-focusing into dependently operating sub-beams, e.g. an array of spots with fixed spatial relationship or for performing simultaneously identical operations
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/067—Dividing the beam into multiple beams, e.g. multi-focusing
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- Mechanical Engineering (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は防電性基材上に保持さ扛る金属被膜−7−
全選択的に除去するために光学エネルギを加える装置に
関する。一般に、と\に開示される様な装置は、/91
3 年り月/3日出願の米国特許出願番号第475.5
70号に開示さnる型式の容量性装置を製造するため、
19t3年3月lS日出願の米国特許出願番号第475
.569号の方法によって金属被膜を更に処理する目的
のために該被膜全保持する[マイラー1(登録商標)の
様な誘電性材料に平行な細路を形成するのに使用さ扛る
。上記両特許出願は本特許出願人が出願したものである
。
関する。一般に、と\に開示される様な装置は、/91
3 年り月/3日出願の米国特許出願番号第475.5
70号に開示さnる型式の容量性装置を製造するため、
19t3年3月lS日出願の米国特許出願番号第475
.569号の方法によって金属被膜を更に処理する目的
のために該被膜全保持する[マイラー1(登録商標)の
様な誘電性材料に平行な細路を形成するのに使用さ扛る
。上記両特許出願は本特許出願人が出願したものである
。
又、「マイラー」はイー、アイ、デュポン7ドウ、ヌム
ール、アンド、カンパニーのi録商sである。こ\に開
示される本発明の様な装置の使用は容量性装置の製造費
を著しい節約をする。
ール、アンド、カンパニーのi録商sである。こ\に開
示される本発明の様な装置の使用は容量性装置の製造費
を著しい節約をする。
この容量性装置は、市場で実際上の商品品目である様に
発展し、従って、と牡等の容量性装置の販売は甚しく価
格に依って左右される。従って、製造費の節約はこれ等
の容量性装置での利ざやに甚しい影響を及ぼすことなく
市場での競争に対処ないし打克つ様に価格を調節するた
めに容量性装置製造者に融通性全提供できる。
発展し、従って、と牡等の容量性装置の販売は甚しく価
格に依って左右される。従って、製造費の節約はこれ等
の容量性装置での利ざやに甚しい影響を及ぼすことなく
市場での競争に対処ないし打克つ様に価格を調節するた
めに容量性装置製造者に融通性全提供できる。
本発明は容量性装置を製造するため、多重細路付き基材
の一層の処理に特に好適なパターンにおいてマイラー(
登録商標)の様な基材上に複数の材料がない細路を形成
するため該基材から材料、特に金属被膜全除去する装置
である。
の一層の処理に特に好適なパターンにおいてマイラー(
登録商標)の様な基材上に複数の材料がない細路を形成
するため該基材から材料、特に金属被膜全除去する装置
である。
レーザー型光学装置は産業において基材から材料を焼き
とるのに長年使用された。しかしながら、単一のレーザ
ー型光学エネルギ源を使用してはソ均等が幅で、方向が
はソ平行に材料を除去して多重細路全形成する事は、こ
\に開示した装置による様に本特許出願人に依って車面
かつ簡単に達成することは公知でない。
とるのに長年使用された。しかしながら、単一のレーザ
ー型光学エネルギ源を使用してはソ均等が幅で、方向が
はソ平行に材料を除去して多重細路全形成する事は、こ
\に開示した装置による様に本特許出願人に依って車面
かつ簡単に達成することは公知でない。
本発明は、非偏光の一次光学ビームヶ生じるレーザーの
様な光学エネルギ源と、ベクトルP方向に偏光された第
1分割ビームとベクトルS方向に偏光された第2分割ビ
ームとに該光学ビーム全分割する第1偏光分割装置とを
備える装置である。次に、これ等の各ビームは、4’j
0位−ター 相遅延装置と、次の偏光分割装置とを介して送られる。
様な光学エネルギ源と、ベクトルP方向に偏光された第
1分割ビームとベクトルS方向に偏光された第2分割ビ
ームとに該光学ビーム全分割する第1偏光分割装置とを
備える装置である。次に、これ等の各ビームは、4’j
0位−ター 相遅延装置と、次の偏光分割装置とを介して送られる。
該qs 0位相遅延装置は各分割ビームに関連する次の
ビーム分割装置の軸に対して轄0に方向づけら扛た光を
生じる如く轄0だけ第1分割ビームのベクトルPおよび
第2分割ビームのベクトルs2偏移する。従って、各人
のビーム分割装置から観測すれば夫々の位相遅延装置全
通過する以前の分割ビームのベクトルPまたはベクトル
Sの大きさの1/ρにはソ等しい(光学的損失全無視し
て)ベクトルPおよびベクトルsl各分割ビームに於て
効果的に認める。
ビーム分割装置の軸に対して轄0に方向づけら扛た光を
生じる如く轄0だけ第1分割ビームのベクトルPおよび
第2分割ビームのベクトルs2偏移する。従って、各人
のビーム分割装置から観測すれば夫々の位相遅延装置全
通過する以前の分割ビームのベクトルPまたはベクトル
Sの大きさの1/ρにはソ等しい(光学的損失全無視し
て)ベクトルPおよびベクトルsl各分割ビームに於て
効果的に認める。
夫々の各分割ビームによって遭遇さ扛る次の偏光分割装
置は各分割ビームがベクトルP方向の次の分割ビームと
、ベクトルS方向の次の分割ビームとに次いで分割され
る如く方向づけら扛、これ等の次のベクトルPおよびベ
クトルSの大きさは、ダS0位相遅延装置を通過する以
前のベクトルptたはベクトルSの大きさの1〃にはソ
等しい(また、光学的損失を無視する)。反射装置は所
定の次の分割ビームに間押され、標10− 的基材に衝突する作用ビームを形成する如く総ての次の
分割ビームの反射を更に可能にする方向へこれ等の所定
のビームを方向づけ、該基材は作用ビームを通過する際
に材料を除去さ扛て細路を形成する様にとn等の作用ビ
ームを横切って移送さ牡る。特別に構成さnるレンズは
、各作用ビームがはソ楕円形のパターンで基材上に集中
可能な如く各作用ビームに関連し、該楕円の長軸は作用
ビーム全通過して移送される際の基材の運動方向にはソ
整合する。この楕円形のパターンと、該パターンの長軸
の方向とはビーム全通過する基材の移送の一層早い速度
と、レーザー型光学的エネルギ源の所与のパルス率に対
する一層大きなパターンの重なりとを与える。従って、
こnに依り基材が作用ビームを横切って通過する際に基
材から目的とする材料を効果的に除去した細路を作る事
ができる。
置は各分割ビームがベクトルP方向の次の分割ビームと
、ベクトルS方向の次の分割ビームとに次いで分割され
る如く方向づけら扛、これ等の次のベクトルPおよびベ
クトルSの大きさは、ダS0位相遅延装置を通過する以
前のベクトルptたはベクトルSの大きさの1〃にはソ
等しい(また、光学的損失を無視する)。反射装置は所
定の次の分割ビームに間押され、標10− 的基材に衝突する作用ビームを形成する如く総ての次の
分割ビームの反射を更に可能にする方向へこれ等の所定
のビームを方向づけ、該基材は作用ビームを通過する際
に材料を除去さ扛て細路を形成する様にとn等の作用ビ
ームを横切って移送さ牡る。特別に構成さnるレンズは
、各作用ビームがはソ楕円形のパターンで基材上に集中
可能な如く各作用ビームに関連し、該楕円の長軸は作用
ビーム全通過して移送される際の基材の運動方向にはソ
整合する。この楕円形のパターンと、該パターンの長軸
の方向とはビーム全通過する基材の移送の一層早い速度
と、レーザー型光学的エネルギ源の所与のパルス率に対
する一層大きなパターンの重なりとを与える。従って、
こnに依り基材が作用ビームを横切って通過する際に基
材から目的とする材料を効果的に除去した細路を作る事
ができる。
従って、本発明の一つの目的は、基材から材料を除去し
て多重細路を形成するのに単一の光、学的エネルギ源を
使用可能な光学式選択的金属−//− 被膜除去装置を提供することである。
て多重細路を形成するのに単一の光、学的エネルギ源を
使用可能な光学式選択的金属−//− 被膜除去装置を提供することである。
本発明の別の目的は、光学的エネルギのビームを横切っ
て移動する基材に、はソ等しいエネルギ強さの光学的エ
ネルギの多重ビームk 加よる単一の光学的エネルギ源
を有する光学式選択的金属被膜除去装置を提供すること
である。
て移動する基材に、はソ等しいエネルギ強さの光学的エ
ネルギの多重ビームk 加よる単一の光学的エネルギ源
を有する光学式選択的金属被膜除去装置を提供すること
である。
本発明の更に別の目的は、光学源の所与のパルス率に対
し光学ビームの配列を通過する基材の早い移送速度に適
応すると共に、横方向に移動する基材に衝突する各光学
ビームに関連する連続的な材料のない細路を与える光学
式選択的金属被膜除去装[’を提供することである。
し光学ビームの配列を通過する基材の早い移送速度に適
応すると共に、横方向に移動する基材に衝突する各光学
ビームに関連する連続的な材料のない細路を与える光学
式選択的金属被膜除去装[’を提供することである。
本発明の別の目的および特徴は、本発明の好適実施例ケ
示す添付図面を参照する下記の説明によって明瞭になる
。
示す添付図面を参照する下記の説明によって明瞭になる
。
第1図は光学式選択的金属被膜除去装置IOの好適実施
例の図式的に示した斜視図である。第1図に示される部
分は、非偏光の一次光学ピーム/ダを出す光学的エネル
ギ源lコを有する。第1分割装置16は一次光学ビーム
/I11偏光し、−次光学ビーム/4’を第1誘導ビー
ム/ざと、第2誘導ビーム、20とに分割する。誘導ビ
ーム7g、20は偏光され、例えば、第1図に示す如く
第1誘導ビーム/lはベクトルP方向に偏光してもよく
、第2誘導ビーム20は、ベクトルS方向に偏光しても
よい。位相遅延装置22、Jは誘導ビーム路7g。
例の図式的に示した斜視図である。第1図に示される部
分は、非偏光の一次光学ピーム/ダを出す光学的エネル
ギ源lコを有する。第1分割装置16は一次光学ビーム
/I11偏光し、−次光学ビーム/4’を第1誘導ビー
ム/ざと、第2誘導ビーム、20とに分割する。誘導ビ
ーム7g、20は偏光され、例えば、第1図に示す如く
第1誘導ビーム/lはベクトルP方向に偏光してもよく
、第2誘導ビーム20は、ベクトルS方向に偏光しても
よい。位相遅延装置22、Jは誘導ビーム路7g。
Jに位置している。位相遅延装置2コは誘導ビーム/g
のベクトルP方向fQk0遅らせ、従って、誘導ビーム
/lは遅延されたビームス6として位相遅延装置22ヲ
通過した後、ベクトルP′とベクトルS′との和の方向
を有して次の分割装置2gに入る。このとき、ベクトル
P′とベクトルS′との和の大きさはベクトルPのt
/1/iに等しい(光学要素の効率の悪さによる損失を
無視する)。次のビーム分割装置2tは位相遅延光学ビ
ーム2乙全分割して次の誘導偏光ビーム30,32にす
る。次の誘導ビーム30はベクトルB1方向に偏光され
、次のビーム32は、ベクトルB1方向に偏光さnる。
のベクトルP方向fQk0遅らせ、従って、誘導ビーム
/lは遅延されたビームス6として位相遅延装置22ヲ
通過した後、ベクトルP′とベクトルS′との和の方向
を有して次の分割装置2gに入る。このとき、ベクトル
P′とベクトルS′との和の大きさはベクトルPのt
/1/iに等しい(光学要素の効率の悪さによる損失を
無視する)。次のビーム分割装置2tは位相遅延光学ビ
ーム2乙全分割して次の誘導偏光ビーム30,32にす
る。次の誘導ビーム30はベクトルB1方向に偏光され
、次のビーム32は、ベクトルB1方向に偏光さnる。
ベクトルP′の大きさはベクトルのS′大きさに等しく
、ベクトルB1方向するビーム3oは次の誘導13− ビーム3コに平行な36の様な方向へ反射器3’lから
反射される。ベクトルSを有する誘導ビーム〃は位相遅
延装置2ダを通過し、ダθの様に150遅延される。従
って、第2の次の分割装置3gから観測す牡ばベクトル
Plとベクトルf31 との和を有する如く遅延さnた
ピームダ0を効果的に観察し、ベクトルPlとベクトル
Blとの和の大きさはベクトルSの大きさのツρ には
ソ等しい(光学要素による損失を無視する)。こうして
、第2の次の分割装置3gは遅延されたピームダθを次
の誘導偏光ビームlI2、’IQに分割する。次の誘導
ビーム侵はベクトルB1方向に偏光され、次の誘導ビー
ム仰はベクトルB1方向に偏光される。
、ベクトルB1方向するビーム3oは次の誘導13− ビーム3コに平行な36の様な方向へ反射器3’lから
反射される。ベクトルSを有する誘導ビーム〃は位相遅
延装置2ダを通過し、ダθの様に150遅延される。従
って、第2の次の分割装置3gから観測す牡ばベクトル
Plとベクトルf31 との和を有する如く遅延さnた
ピームダ0を効果的に観察し、ベクトルPlとベクトル
Blとの和の大きさはベクトルSの大きさのツρ には
ソ等しい(光学要素による損失を無視する)。こうして
、第2の次の分割装置3gは遅延されたピームダθを次
の誘導偏光ビームlI2、’IQに分割する。次の誘導
ビーム侵はベクトルB1方向に偏光され、次の誘導ビー
ム仰はベクトルB1方向に偏光される。
次の誘導ビームUは何の様に次の誘導ビーム侵に平行な
方向へ方向づけられる如く反射器4’Aで反射される。
方向へ方向づけられる如く反射器4’Aで反射される。
大きさにおいてベクトルSがベクトルPに等しいため、
ビーム36.3コ、Q1ダgのエネルギ密度の大きさは
、総て等しい(ベクトルPの1/I″2、ベクトルSの
1/72)。従って、ビーム36.3コ、lI2、グg
に存在するエネルギ密度は−lダー 等しい。
ビーム36.3コ、Q1ダgのエネルギ密度の大きさは
、総て等しい(ベクトルPの1/I″2、ベクトルSの
1/72)。従って、ビーム36.3コ、lI2、グg
に存在するエネルギ密度は−lダー 等しい。
ビーム31..32、侵、何はビーム集中組立体3.2
に収容さ扛る反射器50によって反射され、基材j乙に
衝突する作用ビーム3に、 33、uX弘?vl−形成
する如く夫々レンズ組立体脛によって集中さ扛る。基材
j6は矢印srの方向へ作用ビーム3!;、33、lI
3、ψ?を横切って移動する。基材j6は金属被膜の様
な材料をその上側60に付着され、それ自体はマイラー
(登録商標)の様な誘電性材料で作らnる。各作用ビー
ム3r1.7.l、413.4t9は、基材3tf横切
って横に喰違い、従って、基材j6が作用ビーム35.
33.113、IIqヲ横切ッテ矢印srテ示す方向へ
移動する際、複数の金属のない領域のはソ平行な細路が
基材36の上面60に形成さ扛る。
に収容さ扛る反射器50によって反射され、基材j乙に
衝突する作用ビーム3に、 33、uX弘?vl−形成
する如く夫々レンズ組立体脛によって集中さ扛る。基材
j6は矢印srの方向へ作用ビーム3!;、33、lI
3、ψ?を横切って移動する。基材j6は金属被膜の様
な材料をその上側60に付着され、それ自体はマイラー
(登録商標)の様な誘電性材料で作らnる。各作用ビー
ム3r1.7.l、413.4t9は、基材3tf横切
って横に喰違い、従って、基材j6が作用ビーム35.
33.113、IIqヲ横切ッテ矢印srテ示す方向へ
移動する際、複数の金属のない領域のはソ平行な細路が
基材36の上面60に形成さ扛る。
第1図では、作用ビーム3よは金属のない細路62を形
成し、作用ビーム33は同様な細路μを形成し、作用ビ
ームlI3は同様な細路tt全形成し、作用ビームゲタ
は同様な細路trヲ形成する。また、第1図の装置はそ
の種々な光学要素に衝突するエネルギの強さが拡散さn
1従って種々な光学−/S− 要素が夫々の光ビームで衝突さnる際に熱またはその他
の劣化誘起現象をあまり発生しない様に、−次光学ビー
ム/ダが光学的エネルギ源/:l’i用る際に該ビーム
/lI’ii広げるビームエキスパンダ70を備えてい
る。作用ビーム3に、 33.4’、?、ダtは夫々ビ
ーム集中組立体4.2のレンズ組立体評によって基材s
tの上面ωに集中さnる。レンズ組立体Sは、はソ楕円
形のパターンで基材stの上面ωに作用ビーム33.3
3、lIj、4t9の各々を集中する如く形成さ扛る複
合の円柱レンズおよび球面レンズからなる複合レンズで
アシ、楕円形くくター/の長軸は、第1図の矢印srに
よって示される基材stの移動方向には輩整合する。作
用ビーム集中パターンの伸長の目的は、基材j乙の運動
軸に沿う一層大きいパターン長さにわたって光学エネル
ギを広げることである。パターン長さのこの伸長は光学
的エネルギを広げることである。パターン長さのこの伸
長は光学的エネルギ源12がレーザーの様な脈動する光
学的エネルギ源であるとき、光学的エネルギ源/2の所
与のパルス率に対して作用ビーム35.33.11.?
、lIqを通過する基材j乙の可能な進行速度を増大す
る。
成し、作用ビーム33は同様な細路μを形成し、作用ビ
ームlI3は同様な細路tt全形成し、作用ビームゲタ
は同様な細路trヲ形成する。また、第1図の装置はそ
の種々な光学要素に衝突するエネルギの強さが拡散さn
1従って種々な光学−/S− 要素が夫々の光ビームで衝突さnる際に熱またはその他
の劣化誘起現象をあまり発生しない様に、−次光学ビー
ム/ダが光学的エネルギ源/:l’i用る際に該ビーム
/lI’ii広げるビームエキスパンダ70を備えてい
る。作用ビーム3に、 33.4’、?、ダtは夫々ビ
ーム集中組立体4.2のレンズ組立体評によって基材s
tの上面ωに集中さnる。レンズ組立体Sは、はソ楕円
形のパターンで基材stの上面ωに作用ビーム33.3
3、lIj、4t9の各々を集中する如く形成さ扛る複
合の円柱レンズおよび球面レンズからなる複合レンズで
アシ、楕円形くくター/の長軸は、第1図の矢印srに
よって示される基材stの移動方向には輩整合する。作
用ビーム集中パターンの伸長の目的は、基材j乙の運動
軸に沿う一層大きいパターン長さにわたって光学エネル
ギを広げることである。パターン長さのこの伸長は光学
的エネルギを広げることである。パターン長さのこの伸
長は光学的エネルギ源12がレーザーの様な脈動する光
学的エネルギ源であるとき、光学的エネルギ源/2の所
与のパルス率に対して作用ビーム35.33.11.?
、lIqを通過する基材j乙の可能な進行速度を増大す
る。
従って、光学的エネルギ源/コの所与のパルス率に対し
、作用ビーム3k、33、lIj、lIq全通過する基
材S6の運動方向でのパターン長さの増大は、作用ビー
ム?通過する基材j乙の一層大きな進行速度と、該速度
における各パルスに対する金属なし楕円の重なQの一層
大きい比率と全許容する。一層高いパルス率は基材の進
行速度を更に増大する別の方法と思わnるが、一層高い
ノくルス率は、基材九の上面60の単なる金属被膜除去
よりもむしろ基材自身j乙の実際の燃焼音生じることが
判明し、従って、パルス率の増大は受入扛可能な別法で
はない。
、作用ビーム3k、33、lIj、lIq全通過する基
材S6の運動方向でのパターン長さの増大は、作用ビー
ム?通過する基材j乙の一層大きな進行速度と、該速度
における各パルスに対する金属なし楕円の重なQの一層
大きい比率と全許容する。一層高いパルス率は基材の進
行速度を更に増大する別の方法と思わnるが、一層高い
ノくルス率は、基材九の上面60の単なる金属被膜除去
よりもむしろ基材自身j乙の実際の燃焼音生じることが
判明し、従って、パルス率の増大は受入扛可能な別法で
はない。
第2図は本発明の装置ケ図式的な立面図で示す。本発明
の開示の理解ケ容易にするため、同様な要素には同一の
符号ケ付した。第2図では光学的エネルギ源/コはビー
ムエキスパンダ70f介し一次光学ビームlり全発生す
る。−次光学ビームlダは、第1分割装置16に依って
分割さn第一/7− 1誘導ビーム/1と、第2誘導ビーム〃とになる。
の開示の理解ケ容易にするため、同様な要素には同一の
符号ケ付した。第2図では光学的エネルギ源/コはビー
ムエキスパンダ70f介し一次光学ビームlり全発生す
る。−次光学ビームlダは、第1分割装置16に依って
分割さn第一/7− 1誘導ビーム/1と、第2誘導ビーム〃とになる。
第1誘導ビーム/lは第1位相遅延装置コ2を通過し、
遅延されたビーム26會形成する如<1I5c1位相を
遅延さ扛る。遅延さ詐たビーム26は第1の次の分割装
置−gで分割されて偏光さ扛、ベクトルS方向を有する
次の誘導ビーム30とベクトルS′方向を有する次の誘
導ビーム32とになる。ベクトルS′方向を有する次の
誘導ビーム32が第2図の紙面の手前に垂直に移動する
ビームであるため、ビーム32は第2図では明白でない
。ベクトルS方向全有する次の誘導ビーム3θは第1図
に一層明瞭に示す如くビーム36の形状で第2図の紙面
の手前に垂直方向に反射器、?lIで反射さnる。
遅延されたビーム26會形成する如<1I5c1位相を
遅延さ扛る。遅延さ詐たビーム26は第1の次の分割装
置−gで分割されて偏光さ扛、ベクトルS方向を有する
次の誘導ビーム30とベクトルS′方向を有する次の誘
導ビーム32とになる。ベクトルS′方向を有する次の
誘導ビーム32が第2図の紙面の手前に垂直に移動する
ビームであるため、ビーム32は第2図では明白でない
。ベクトルS方向全有する次の誘導ビーム3θは第1図
に一層明瞭に示す如くビーム36の形状で第2図の紙面
の手前に垂直方向に反射器、?lIで反射さnる。
ビーム3コ、36はビーム集中組立体4.2の反射器S
Oに遭遇し、作用ビーム3k、33の形態で基材j乙に
向って下方に反射さ扛る。ベクトルS方向を有する第2
誘導ビームJは第2位相遅延装置ulI’ii通過し、
遅延されたビームqo’g(形成する。遅延さnたピー
ムダθは第2の次の分割装置3gで分割さ扛、ベクトル
B1方向全有する次の誘導ビーム−7g− 4t2(第2図の紙面に於て手前に垂直の方向へ移動す
る)と、ベクトルS方向全有する次の誘導ビーム4(4
(とになる。ベクトルS方向を有する次の誘導ビームU
は第1図に一層明瞭に示す如く反射器’IAで反射され
第2図の紙面に於て手前に垂直方向に次の誘導ビームR
i形成する。
Oに遭遇し、作用ビーム3k、33の形態で基材j乙に
向って下方に反射さ扛る。ベクトルS方向を有する第2
誘導ビームJは第2位相遅延装置ulI’ii通過し、
遅延されたビームqo’g(形成する。遅延さnたピー
ムダθは第2の次の分割装置3gで分割さ扛、ベクトル
B1方向全有する次の誘導ビーム−7g− 4t2(第2図の紙面に於て手前に垂直の方向へ移動す
る)と、ベクトルS方向全有する次の誘導ビーム4(4
(とになる。ベクトルS方向を有する次の誘導ビームU
は第1図に一層明瞭に示す如く反射器’IAで反射され
第2図の紙面に於て手前に垂直方向に次の誘導ビームR
i形成する。
ベクトルS方向を有する次の誘導ビーム侵およびベクト
ルS方向全有する次の誘導ピームダgはビーム集中組立
体jt、2の反射器50に遭遇し、作用ビーム113、
II9の形態で基材j乙に向って反射される。作用ビー
ム、3!;、33、’/−3、’19はレンズ組立体j
≠によって基材j6に集中さnる。基材j6は供給側ロ
ール72から供給側アイドラ74t、73上全通過して
ドラム7tへ供給され、ドラム7tは第2図に矢印sr
で示さ扛る方向ぺ(ロ)転する。ドラム76が回転する
際、基材j6は巻取し側アイドラ♂θ、と/を経て巻取
りローラπへ移さ扛る。従って、基材jtは第1図に関
して説明した様に、はソ平行な金属のない領域が基材j
6の上面60に形成さ扛る如く作用ビームB、 、?、
?、lIj、’itを横切って移−19− 動する。
ルS方向全有する次の誘導ピームダgはビーム集中組立
体jt、2の反射器50に遭遇し、作用ビーム113、
II9の形態で基材j乙に向って反射される。作用ビー
ム、3!;、33、’/−3、’19はレンズ組立体j
≠によって基材j6に集中さnる。基材j6は供給側ロ
ール72から供給側アイドラ74t、73上全通過して
ドラム7tへ供給され、ドラム7tは第2図に矢印sr
で示さ扛る方向ぺ(ロ)転する。ドラム76が回転する
際、基材j6は巻取し側アイドラ♂θ、と/を経て巻取
りローラπへ移さ扛る。従って、基材jtは第1図に関
して説明した様に、はソ平行な金属のない領域が基材j
6の上面60に形成さ扛る如く作用ビームB、 、?、
?、lIj、’itを横切って移−19− 動する。
本発明の好適実施例ではビーム集中組立体jコの各々は
反射器30と、レンズ組立体j4tとを有するユニット
状組立体である。各ビーム集中組立体j2は金属のない
領域の細路の間隔が基材見の上面60ヲ横切って調節可
能な如く個々にドラム7乙の軸方向に対して調節可能で
ある。その上、本発明の好適実施例では、所与のビーム
集中組立体j2に対する夫々の作用ビームが基材j乙の
上面ωに衝突する個所に隣接して個々の排気装置(図示
せず)を設け、各ビーム集中組立体32と関連させる。
反射器30と、レンズ組立体j4tとを有するユニット
状組立体である。各ビーム集中組立体j2は金属のない
領域の細路の間隔が基材見の上面60ヲ横切って調節可
能な如く個々にドラム7乙の軸方向に対して調節可能で
ある。その上、本発明の好適実施例では、所与のビーム
集中組立体j2に対する夫々の作用ビームが基材j乙の
上面ωに衝突する個所に隣接して個々の排気装置(図示
せず)を設け、各ビーム集中組立体32と関連させる。
該6排気組立体は基材stの上面600金属被膜と、夫
々の作用ビームとの相互作用圧よって生じる任意の破片
を除去する如く作用する。従って、夫々のレンズ組立体
j≠に該破片が集積するのが防止さnると共に、破片が
もうもうと立ちこめるのも防止さnlこnにより、基材
36の上面60へ夫々の作用ビームが集中するのが阻害
さnない。夫々の排気組立体の各々は夫々のビーム集中
組立体j2と共に個々にドラム7乙の軸方向に関して調
節可能である。
々の作用ビームとの相互作用圧よって生じる任意の破片
を除去する如く作用する。従って、夫々のレンズ組立体
j≠に該破片が集積するのが防止さnると共に、破片が
もうもうと立ちこめるのも防止さnlこnにより、基材
36の上面60へ夫々の作用ビームが集中するのが阻害
さnない。夫々の排気組立体の各々は夫々のビーム集中
組立体j2と共に個々にドラム7乙の軸方向に関して調
節可能である。
等しい強さの4つの作用ビームを生じる本発明の好適実
施例をこ\に詳細に説明したが、次の誘導ビームの継続
する発生が、等しい強さの多数の作用ビームを発現する
のに適当な位相遅延装置、分割装置および反射装置の継
続発生要素の同様な光学的配置を使用する同様な装置で
発現可能なことは、当該技術の専門家に容易に明白であ
る。
施例をこ\に詳細に説明したが、次の誘導ビームの継続
する発生が、等しい強さの多数の作用ビームを発現する
のに適当な位相遅延装置、分割装置および反射装置の継
続発生要素の同様な光学的配置を使用する同様な装置で
発現可能なことは、当該技術の専門家に容易に明白であ
る。
尚、図および特定の例は本発明の好適実施例を示すが、
こ扛は例示のためであり、本発明の装置はこれに限定さ
扛ず特許請求の範囲に記載の技術思想に則り設計を変更
して実施することができる。
こ扛は例示のためであり、本発明の装置はこれに限定さ
扛ず特許請求の範囲に記載の技術思想に則り設計を変更
して実施することができる。
第1図は本発明の好適実施例の図式的な斜視図、第2図
は同上の実施例の図式的な立面図で、図中、IOは光学
式選択的金属被膜除去装置、1.2は光エネルギ源、l
りは一次光学ビーム、/ルは第1分割装置、1g、 M
は第1、第2誘導ビーム、21− 22.21Iは位相遅延装置、2g、3gは次の分割装
置、3013コ、亭コ、グダは次の誘導偏光ビーム、3
3.3左、lI3、lIqは作用ビーム、3’l、 l
I&は反射器、j2はビーム集中組立体、j4tはレン
ズ組立体、36は基材、Ω、μ、J4Suは金属なし細
路、70はビームニーキスパンダ、 74はドラムを示
す。 特許出願人
は同上の実施例の図式的な立面図で、図中、IOは光学
式選択的金属被膜除去装置、1.2は光エネルギ源、l
りは一次光学ビーム、/ルは第1分割装置、1g、 M
は第1、第2誘導ビーム、21− 22.21Iは位相遅延装置、2g、3gは次の分割装
置、3013コ、亭コ、グダは次の誘導偏光ビーム、3
3.3左、lI3、lIqは作用ビーム、3’l、 l
I&は反射器、j2はビーム集中組立体、j4tはレン
ズ組立体、36は基材、Ω、μ、J4Suは金属なし細
路、70はビームニーキスパンダ、 74はドラムを示
す。 特許出願人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) 基材上に保持さnる材料を選択的に除去するた
めに光学的エネルギを加える除去装置において、 一次ビームの光学的エネルギを発生する光学的発生装置
と、該−次ビームを複数の誘導ビームに分割する分割装
置と、前記基材に衝突する複数の作用ビーム全形成する
ために該複数の誘導ビームの各々を再度方向づける再方
向づけ装置と、該複数の作用ビームの各々を該基材上に
集中する集中装置と、該複数の作用ビームによって該基
材から連続的に材料の除去上行うために該複数の作用ビ
ームを横切って該基材を移送する移送装置とを備えた除
去装置。 (2、特許請求の範囲(1)の除去装置において、前記
複数の作用ビームの各々がはソ等しい強さを有する態様
で前記複数の誘導ビームの所定のビームのベクトル方向
を偏移する位相遅延装置を備える除去装置。 (3)特許請求の範囲(2)の除去装置において、前記
光学的発生装置と基材との間の前記除去装置の要素上の
エネルギ集中が低減する如く前記−次ビームを拡散する
ビームエキスパンダ装置を備える除去装置。 (4) 特許請求の範囲(3)の除去装置において、前
記集中装置が、はソ楕円形のパターンで前記複数の作用
ビームの各々を前記基材上に集中する如く構成さnるレ
ンズ装置を有し、はy楕円形の該パターンの長軸が、該
基材の前記移送方向にはソ整合する除去装置。 (5)特許請求の範囲(4)の除去装置において、前記
集中が阻害さ扛ない様に、除去さ扛た材料を排除する如
く前記基材に隣接する排気装置金偏える除去装置。 (6)基材上に保持される金属膜を選択的に除去−3− して細路とするために光学的エネルギを加える除去装置
において、 一次ビーム路に一次ビームを発生する光学的発生装置と
、該−次ビーム路にはソ同心状の拡張ビーム路に拡張さ
れ九ビームを生じる如く該−次ビームを拡散する該−次
ビーム路のビームエキスパンダ装置と、該拡張ビームを
複数の誘導ビームに分割する分割装置と、前記基材に衝
突する複数の作用ビームを形成するために該複数の誘導
ビームの各々を再度方向づける反射装置と、該作用ビー
ムを横切って該基材全移送する移送装置と、該複数の作
用ビームの各々を該基材上に集中する集中装置とを備え
、該集中装置ははソ楕円形のパターンで該基材上に前記
複数の作用ビームの各々を集中する如く構成される複数
のレンズ装置を有し、該はソ楕円形のパターンの長袖が
該基材の前記移送方向にはソ整会する除去装置。 (7)特許請求の範囲(6)の除去装置において、前記
分割装置は複数のビームスプリッタを有し、前記反射装
置は複数の鏡を有する除去装置。 (8) 特許請求の範囲(6)の除去装置において、前
記複数の作用ビームの各々がはソ等しい強さを有する態
様において、前記複数の誘導ビームの所定のビームのベ
クトル方向’i偏移する位相遅延装置を備える除去装置
。 (9)特許請求の範囲(8)の除去装置において、前記
集中が阻害さrLない様に、除去さ扛た金属膜を排除す
る如く前記基材に隣接する排気装置を備える除去装置。 00 基材上に保持さnる材料の複数の細路を選択的に
除去する如く光学的エネルギを加える除去装置において
、 一次ビーム路に一次ビームを発生する光学的発生装置と
、該−次ビーム路にはソ同心状の拡張ビーム路に拡張ビ
ーム音生じる如く該−次ビーム全拡張する該−次ビーム
路のビームエキスパンダ装置と、第1誘導ビームおよび
j − 第2誘導ビームに該拡張ビームを分割する第1分割装置
と、該第1誘導ビームおよび第2誘導ビームを複数の次
の誘導ビームに分割するために、その少くとも1つが該
第1誘導ビームに関連し、その少くとも1つが該第2誘
導ビームに関連する複数の次の分割装置と、該第1誘導
ビーム、第2誘導ビームおよび複数の次の誘導ビームの
所定のビームのベクトル方向を偏移する複数の位相遅延
装置とを備え、該複数の位相遅延装置の第1装置は該第
1誘導ビームに配置され、該複数の位相遅延装置の第2
装置が、前記第2誘導ビームに配置さ扛、該複数の位相
遅延装置の他の装置は前記複数の次の分割装置の中間的
な継続するものである前記複数の次の誘導ビームのこれ
等に配置さn1更に、前記基材に衝突する複数の作用ビ
ームを形成する如く該複数の次の誘導ビームの所定のビ
ームを角度方向づける反射装置と、該複数の作用ビーム
を横切って該基材全移送する移送装置と、該複数の作用
−を− ビームの各々を該基材上に集中する集中装置とを備え、
該複数の作用ビームの各々がはソ等しい強さを有する態
様で、前記複数の位相遅延装置の各々が、夫々定置され
る除去装置。 αη 特許請求の範囲a1の除去装置において、前記集
中装置は前記複数の作用ビームの各々をはy楕円形のパ
ターンにおいて前記基材上に集中する如く構成されるレ
ンズ装置全盲し、該はソ楕円形のパターンの長軸は該基
材の前記移送方向にはソ整合する除去装置。 (ロ)特許請求の範囲01の除去装置において、前記集
中が阻害されない様に、除去された材料を排除する如く
前記基材に隣接する排気装置を備える除去装置。 01 %許請求の範囲α■の除去装置において、前記集
中が阻害されない様に、除去さ牡た材料を排除する如く
前記基材に隣接する排気装#金偏える除去装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US529304 | 1983-09-06 | ||
| US06/529,304 US4533813A (en) | 1983-09-06 | 1983-09-06 | Optical selective demetallization apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6061190A true JPS6061190A (ja) | 1985-04-08 |
Family
ID=24109350
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59168920A Pending JPS6061190A (ja) | 1983-09-06 | 1984-08-14 | 光学式選択的金属被膜除去装置 |
| JP1991072171U Pending JPH04104286U (ja) | 1983-09-06 | 1991-08-15 | 金属被膜の光学式除去装置 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991072171U Pending JPH04104286U (ja) | 1983-09-06 | 1991-08-15 | 金属被膜の光学式除去装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4533813A (ja) |
| EP (1) | EP0136780B1 (ja) |
| JP (2) | JPS6061190A (ja) |
| CA (1) | CA1239668A (ja) |
| DE (1) | DE3482246D1 (ja) |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0276078A1 (en) * | 1987-01-21 | 1988-07-27 | CMB Foodcan plc | Continuous seam welding |
| US4782208A (en) * | 1987-06-01 | 1988-11-01 | Withrow David A | Method and apparatus for slitting metal strips |
| EP0483827B1 (en) * | 1990-10-31 | 1997-01-02 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Apparatus for scanning drum inner face and method of scanning therefor |
| US5410123A (en) * | 1992-10-22 | 1995-04-25 | Rancourt; Yvon | Process and apparatus for welding annular bellows |
| US5055965A (en) * | 1990-12-26 | 1991-10-08 | Illinois Tool Works Inc. | Method and apparatus for making capacitive structure and laminate useful in making same |
| US5478983A (en) * | 1992-10-22 | 1995-12-26 | Rancourt; Yvon | Process and apparatus for welding or heat treating by laser |
| US5546281A (en) * | 1995-01-13 | 1996-08-13 | Methode Electronics, Inc. | Removable optoelectronic transceiver module with potting box |
| US5717533A (en) | 1995-01-13 | 1998-02-10 | Methode Electronics Inc. | Removable optoelectronic module |
| US6220878B1 (en) | 1995-10-04 | 2001-04-24 | Methode Electronics, Inc. | Optoelectronic module with grounding means |
| JP3159906B2 (ja) * | 1995-10-23 | 2001-04-23 | アルプス電気株式会社 | 液晶表示素子の製造方法 |
| DE19634190C2 (de) * | 1996-08-23 | 2002-01-31 | Baasel Carl Lasertech | Mehrkopf-Lasergravuranlage |
| US6059555A (en) * | 1996-09-04 | 2000-05-09 | International Business Machines Corporation | Optical apparatus for dual-beam laser texturing |
| US6179627B1 (en) | 1998-04-22 | 2001-01-30 | Stratos Lightwave, Inc. | High speed interface converter module |
| US6203333B1 (en) | 1998-04-22 | 2001-03-20 | Stratos Lightwave, Inc. | High speed interface converter module |
| US7090509B1 (en) | 1999-06-11 | 2006-08-15 | Stratos International, Inc. | Multi-port pluggable transceiver (MPPT) with multiple LC duplex optical receptacles |
| UA47198C2 (en) * | 2001-08-31 | 2004-06-15 | Yurii Vasyliovych Popadynets | Lightguide and the method of using the ligthguide |
| RU2229367C2 (ru) * | 2002-07-08 | 2004-05-27 | Юрий Васильевич Попадинец | Световод и способ его использования |
| US8122846B2 (en) * | 2005-10-26 | 2012-02-28 | Micronic Mydata AB | Platforms, apparatuses, systems and methods for processing and analyzing substrates |
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-
1983
- 1983-09-06 US US06/529,304 patent/US4533813A/en not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-06-14 CA CA000456600A patent/CA1239668A/en not_active Expired
- 1984-07-26 EP EP84305105A patent/EP0136780B1/en not_active Expired
- 1984-07-26 DE DE8484305105T patent/DE3482246D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1984-08-14 JP JP59168920A patent/JPS6061190A/ja active Pending
-
1991
- 1991-08-15 JP JP1991072171U patent/JPH04104286U/ja active Pending
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|---|---|---|---|---|
| JPS5794482A (en) * | 1980-12-05 | 1982-06-11 | Hitachi Ltd | Pattern forming device by laser |
| JPS589784A (ja) * | 1981-07-10 | 1983-01-20 | ハウニイ−ウエルケ・ケルベル・ウント・コンパニイ・コマンデイ−トゲゼルシヤフト | 移動する帯材にパ−フオレ−シヨンを付ける装置 |
Also Published As
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|---|---|
| EP0136780A3 (en) | 1987-04-01 |
| US4533813A (en) | 1985-08-06 |
| CA1239668A (en) | 1988-07-26 |
| EP0136780B1 (en) | 1990-05-16 |
| DE3482246D1 (de) | 1990-06-21 |
| JPH04104286U (ja) | 1992-09-08 |
| EP0136780A2 (en) | 1985-04-10 |
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