JPS6064207A - 光式距離測定装置 - Google Patents
光式距離測定装置Info
- Publication number
- JPS6064207A JPS6064207A JP58172473A JP17247383A JPS6064207A JP S6064207 A JPS6064207 A JP S6064207A JP 58172473 A JP58172473 A JP 58172473A JP 17247383 A JP17247383 A JP 17247383A JP S6064207 A JPS6064207 A JP S6064207A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- receiving part
- measured
- measuring device
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明に、投光部から誠測定物までの距離を非接触にて
６１１１定する光式距１４１１測定装゛置に関するもの
である。
６１１１定する光式距１４１１測定装゛置に関するもの
である。
従来例のＩ’ｉ１ｉ成とその間に＋、（ｉ点従来の光式
距副測定装置１′１°は、第１図に示すように投光部１
、投光ｉ’％Ｂ光軸２と所定の角度αをなす受光部４を
設け、ＪＪ、ｌ−先部１から投光された光の被測定物３
上での反射光を受光部４で受け、その受光位置により被
測定物３０投光部１からの距１ｉｌｌｌ全電気信号処理
回路部６を介して測定するもので［Ｆ］る。この光式距
離測定装置に、１ｌ（ｊ定に光を用いるため室内照明等
による外来光ノイズの影Ｓｔ受け、そのため前記外来光
ノイズの影響を除く目的で一般に投光部光源を所定の周
波数で変調させ、受光部で受光し電気信号に変換した後
に、フィルタにより信号成分と光ノイズ成分との分離ヲ
行い距離測定を行っていた。しかしこのような従来の装
置でに、反射光が微弱でさらに外来光ノイズが例えばア
ーク溶接中のアーク光等の強い光である場合、Ｓ／Ｎが
きわめて豊〈ｆｒ、す、フィルりだけでにｆ′Ｊ１号成
分と光ノイズとの分離が充分に行えず、よって正確な距
離４）１１定ができないという欠点ｔイ１していた。
距副測定装置１′１°は、第１図に示すように投光部１
、投光ｉ’％Ｂ光軸２と所定の角度αをなす受光部４を
設け、ＪＪ、ｌ−先部１から投光された光の被測定物３
上での反射光を受光部４で受け、その受光位置により被
測定物３０投光部１からの距１ｉｌｌｌ全電気信号処理
回路部６を介して測定するもので［Ｆ］る。この光式距
離測定装置に、１ｌ（ｊ定に光を用いるため室内照明等
による外来光ノイズの影Ｓｔ受け、そのため前記外来光
ノイズの影響を除く目的で一般に投光部光源を所定の周
波数で変調させ、受光部で受光し電気信号に変換した後
に、フィルタにより信号成分と光ノイズ成分との分離ヲ
行い距離測定を行っていた。しかしこのような従来の装
置でに、反射光が微弱でさらに外来光ノイズが例えばア
ーク溶接中のアーク光等の強い光である場合、Ｓ／Ｎが
きわめて豊〈ｆｒ、す、フィルりだけでにｆ′Ｊ１号成
分と光ノイズとの分離が充分に行えず、よって正確な距
離４）１１定ができないという欠点ｔイ１していた。
発明の目的
不発明に、前記従来の欠点を除去し夕１来光ノイズが投
ＩＪ＝Ｉル射光に比し大きい悪環境下での光式距鉾測定
を可能にすることを目的とする。
ＩＪ＝Ｉル射光に比し大きい悪環境下での光式距鉾測定
を可能にすることを目的とする。
発明の構成
この目的を達成するために本発明の光式距離測定装置に
、受光部集光レンズ前方で、かつ投光部光軸と受光部の
集光レンズ焦点を含む面に、スリット状孔を底部に有す
る筒状カバーを単イ」けたものである。
、受光部集光レンズ前方で、かつ投光部光軸と受光部の
集光レンズ焦点を含む面に、スリット状孔を底部に有す
る筒状カバーを単イ」けたものである。
この構成により受光部に入射するタト来光の光量に、被
測定物」二にＪｉ ｌＪ、ｌした反４．ｌ光量に比し著
しく減少するだめ、受光部のＳ／Ｎが向上し、外来光ノ
イズが多い聾環境下での距ｌ＋！１１１ｉ！ｌＩ定全可
能にするものである。
測定物」二にＪｉ ｌＪ、ｌした反４．ｌ光量に比し著
しく減少するだめ、受光部のＳ／Ｎが向上し、外来光ノ
イズが多い聾環境下での距ｌ＋！１１１ｉ！ｌＩ定全可
能にするものである。
実施例の説明
以下本発明の一実施例全図面の第２図〜第５図に沿って
説明する。
説明する。
第２図げ、本発明の光式距離測定装置の構成図である。
１に従来と同様の投光部で、半導体１．／ −ザや、赤
外線発光ダイオード等の光源とレンズを組合せ、平行光
の照射全行う。２，３．５は従来と同様の投光部１より
照ｑ、１される投光部の光軸、被測定物、電気信号処理
回路部、６は先攻Ｕ、１点、７げ受光部で、集光レンズ
８、受光素子９．６：１状カバー１０ から構成される
。第３図に筒状カバー１０のスリット状孔１１、集光レ
ンズ８、受光素子９、集光レンズ焦点１２の位置関係を
示す。
外線発光ダイオード等の光源とレンズを組合せ、平行光
の照射全行う。２，３．５は従来と同様の投光部１より
照ｑ、１される投光部の光軸、被測定物、電気信号処理
回路部、６は先攻Ｕ、１点、７げ受光部で、集光レンズ
８、受光素子９．６：１状カバー１０ から構成される
。第３図に筒状カバー１０のスリット状孔１１、集光レ
ンズ８、受光素子９、集光レンズ焦点１２の位置関係を
示す。
第４図において、１３に溶接１−−チ、１４げアーク点
、ｄに測定可能距離、ｈに測定距陣である。
、ｄに測定可能距離、ｈに測定距陣である。
第６図に、第４図の実験装置の下で、従来の光式距１Ｉ
ｌＩＩ′酵ｊ定装置と本実施例のスリット全設けた筒状
カバーをイマ１けた光式距離６１１１定装置のアーク溶
接アーク光下での距離測定能力の比較実験を行った結果
を示す。ａに本実施例のスリン１−（幅５ ｍｍ ）
ｆ、１設けた筒状カバー１０を有する光式距１ｆＳ１１
１ Ｍｉｌ＋定装置全装置測定を行った結果を示す晰性
曲線、ｂはスリットのない底部開］コの筒状カバー全取
イ、１け／ζ光式距回し測定装置を用い７Ｉｉ１１定を
行った結果ケ示す特性曲線、ａｉｄ従来の筒状カバーが
ない光式距離４（１ｊ定装置を用い測定を行った結果を
示す特性曲線である。また測定可能距１ｉＳＩｔｄに、
検出距副デークが±１％の誤差を生じ始める距離である
。実験条件として、測定圧）１１１ｈは１３０８とし、
筒状カバー１ｏを取付けだ光式距離測定装置の投光部１
から筒状カバー１０の下端１での長さｅは１００朋とし
た。
ｌＩＩ′酵ｊ定装置と本実施例のスリット全設けた筒状
カバーをイマ１けた光式距離６１１１定装置のアーク溶
接アーク光下での距離測定能力の比較実験を行った結果
を示す。ａに本実施例のスリン１−（幅５ ｍｍ ）
ｆ、１設けた筒状カバー１０を有する光式距１ｆＳ１１
１ Ｍｉｌ＋定装置全装置測定を行った結果を示す晰性
曲線、ｂはスリットのない底部開］コの筒状カバー全取
イ、１け／ζ光式距回し測定装置を用い７Ｉｉ１１定を
行った結果ケ示す特性曲線、ａｉｄ従来の筒状カバーが
ない光式距離４（１ｊ定装置を用い測定を行った結果を
示す特性曲線である。また測定可能距１ｉＳＩｔｄに、
検出距副デークが±１％の誤差を生じ始める距離である
。実験条件として、測定圧）１１１ｈは１３０８とし、
筒状カバー１ｏを取付けだ光式距離測定装置の投光部１
から筒状カバー１０の下端１での長さｅは１００朋とし
た。
第６図に示すように、本実施例の光式距離測定装置を用
いることにより、従来の光式距離測定装置と比軸し、測
定可能距＊ｔ〔ｄを少なくとも係に短縮することができ
る。
いることにより、従来の光式距離測定装置と比軸し、測
定可能距＊ｔ〔ｄを少なくとも係に短縮することができ
る。
発明の効果
以上のように本発明によれば、以下に示す効果を奏する
ものである。
ものである。
（１）外来光の受光量が少ないだめ、３７Ｍが向上し、
従来のものと比較し、アーク溶（＆現場等の悪条件下で
、高精度の距離測定が行える。
従来のものと比較し、アーク溶（＆現場等の悪条件下で
、高精度の距離測定が行える。
（２）受光部に筒状カバーを設けろことにより、悪条件
下、例えばアーク溶接中における測定において、スパッ
タ等の受光部集光レンズへの付着を軽減で、きる。
下、例えばアーク溶接中における測定において、スパッ
タ等の受光部集光レンズへの付着を軽減で、きる。
第１図は従来の光式距離測定装置の正面図、第２図は本
発明の一実施例における光式距離測定装置の正面図、第
３図は受光部、筒状力・（−スリット、集光レンズ、受
光素子、集光レンズ焦点の位置関係を示す説明図、第４
図は本発明の効果を検討するだめの実験装置の正面図、
第６図は従来例と本実施例との比較実数結果を示す！１
テ性図である。 １・・・・・・投光部、２・・・・受光部光軸、３・・
・・・被測定物、６・・・・・・電気信号処理回路部、
７−・・・・受光部、８・・・・集光レンズ、９・・・
・・受光素子、１０・・・・・筒状カバー、１１・・・
・・スリット。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図
発明の一実施例における光式距離測定装置の正面図、第
３図は受光部、筒状力・（−スリット、集光レンズ、受
光素子、集光レンズ焦点の位置関係を示す説明図、第４
図は本発明の効果を検討するだめの実験装置の正面図、
第６図は従来例と本実施例との比較実数結果を示す！１
テ性図である。 １・・・・・・投光部、２・・・・受光部光軸、３・・
・・・被測定物、６・・・・・・電気信号処理回路部、
７−・・・・受光部、８・・・・集光レンズ、９・・・
・・受光素子、１０・・・・・筒状カバー、１１・・・
・・スリット。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図
Claims (1)
- 被測定物に光を照射する投光部と、前記投光部の光軸と
所定の角度αをなし前記照射光の被測定物上でのグル１
光を受光し電気信号に変換する受光部とからなり、前記
受光部の集光レンズ前方で前記投光部光軸と前記受光部
レンズ焦点を含む面に、光を通すスリット状孔を底部に
有する筒状カバーを取付けた光式距ＩＡＩ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58172473A JPS6064207A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 光式距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58172473A JPS6064207A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 光式距離測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6064207A true JPS6064207A (ja) | 1985-04-12 |
Family
ID=15942635
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58172473A Pending JPS6064207A (ja) | 1983-09-19 | 1983-09-19 | 光式距離測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6064207A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0469708U (ja) * | 1990-10-29 | 1992-06-19 | ||
| JP2011106896A (ja) * | 2009-11-16 | 2011-06-02 | Mitsutoyo Corp | 非接触プローブ、及び測定機 |
-
1983
- 1983-09-19 JP JP58172473A patent/JPS6064207A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0469708U (ja) * | 1990-10-29 | 1992-06-19 | ||
| JP2011106896A (ja) * | 2009-11-16 | 2011-06-02 | Mitsutoyo Corp | 非接触プローブ、及び測定機 |
| US8704154B2 (en) | 2009-11-16 | 2014-04-22 | Mitutoyo Corporation | Non-contact probe with an optical filter and measuring machine including the same |
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