JPS606542B2 - 気密封着体の製造方法 - Google Patents
気密封着体の製造方法Info
- Publication number
- JPS606542B2 JPS606542B2 JP54078543A JP7854379A JPS606542B2 JP S606542 B2 JPS606542 B2 JP S606542B2 JP 54078543 A JP54078543 A JP 54078543A JP 7854379 A JP7854379 A JP 7854379A JP S606542 B2 JPS606542 B2 JP S606542B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eyelet
- glass
- eyelets
- manufacturing
- sealed body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W76/00—Containers; Fillings or auxiliary members therefor; Seals
- H10W76/10—Containers or parts thereof
- H10W76/12—Containers or parts thereof characterised by their shape
- H10W76/13—Containers comprising a conductive base serving as an interconnection
- H10W76/132—Containers comprising a conductive base serving as an interconnection having other interconnections through an insulated passage in the conductive base
Landscapes
- Joining Of Glass To Other Materials (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【1’この発明の利用分野
この発明は、表面に無電鱗ニッケルメッキ層を形成した
アイレットを用いて、アィレツト内に少なくともガラス
を気密に封着すると同時に、アィレットの外側に他の金
属部材をロウ付けする気密封着体の製造方法に関する。
アイレットを用いて、アィレツト内に少なくともガラス
を気密に封着すると同時に、アィレットの外側に他の金
属部材をロウ付けする気密封着体の製造方法に関する。
さらに詳細には、アィレツト内にガラスを介してリード
線を気密絶縁的に封着するとともに、アィレットの外側
に銅製のステム基板または放熱板をロウ付けする半導体
装置用ステムの製造方法に関する。‘2i 従来技術 大電力用のパワートランジスタ等の半導体装置用ステム
として第1図および第2図に示す構造のものがある。
線を気密絶縁的に封着するとともに、アィレットの外側
に銅製のステム基板または放熱板をロウ付けする半導体
装置用ステムの製造方法に関する。‘2i 従来技術 大電力用のパワートランジスタ等の半導体装置用ステム
として第1図および第2図に示す構造のものがある。
図において、1は鋼製のステム基板で、長手方向の両端
部に放熱フィン等に固着するための取付孔2,2と、溶
接リング固着用の環状溝3と、環状溝3内の偏心した位
置にアイレット競合用の透孔4,4とを有する。5,5
は前記透孔4,4に鉄合されロウ付けされている鉄製の
アイレツトで、アイレツト5,5内にはガラス6,6を
介してリード線7,7が気密絶縁的に封着されている。
部に放熱フィン等に固着するための取付孔2,2と、溶
接リング固着用の環状溝3と、環状溝3内の偏心した位
置にアイレット競合用の透孔4,4とを有する。5,5
は前記透孔4,4に鉄合されロウ付けされている鉄製の
アイレツトで、アイレツト5,5内にはガラス6,6を
介してリード線7,7が気密絶縁的に封着されている。
8は前記環状溝3にロウ付けされた鉄製の溶接リングで
ある。
ある。
従来、この種のステムは次のようにして製造されていた
。
。
まず、アィレット5内にガラス6を介してリード線7を
気密絶縁的に封着した気密様子を製造する。この気密端
子を透孔4,4に鉄合するとともに、環状溝3内に溶接
リング8を挿入し、各アィレット5,5の周囲および溶
接リング8の周囲に環状の銀ロウを配置し、全体を加熱
して各銀ロゥを溶融せしめて、各アィレット5,5をス
テム基板1にロゥ付けするとともに、溶接リング8を環
状溝3にロウ付けして製造していた。しかしながら、こ
のような製造方法では、気密端子を製造するためのガラ
ス封着用加熱工程と、銀ロゥ付けのためのロウ付け用加
熱工程とが必要になり、工程数が増大して加工費が高く
なるのみならず、ガラス封着用加熱工程とロウ付け用加
熱工程とは作業温度が異なっているので、別々の加熱炉
が必要で設備費も嵩むという問題点があった。そこで、
予めアィレット5,5の表面に厚さが20仏程度の無電
解ニッケルメッキ層を形成しておき、このアィレット5
,5を透孔4,4に鉄合し、下面側からかしめ加工して
仮固定したのち、グラフアィト製の封着治具を用いて、
アィレット5,5内にガラスタブレットを挿着し、さら
にこのガラスタブレットを貫通してリード線7,7を配
置し、また環状溝3内にも同様に表面に厚さが20仏程
度の無電解ニッケルメッキ層を形成した溶接リング8を
挿入配置し、全体を加熱することにより、前記ガラスタ
ブレットを溶融して、アィレット5,5にガラス6,6
を介してリード線7,7を気密絶縁的に封着するととも
に、アィレット5,5および溶接リング8の表面の無電
解ニッケルメッキ層を溶融して、アイレット5,5およ
び溶接リング8をステム基板1にロウ付けする方法が提
案されている。
気密絶縁的に封着した気密様子を製造する。この気密端
子を透孔4,4に鉄合するとともに、環状溝3内に溶接
リング8を挿入し、各アィレット5,5の周囲および溶
接リング8の周囲に環状の銀ロウを配置し、全体を加熱
して各銀ロゥを溶融せしめて、各アィレット5,5をス
テム基板1にロゥ付けするとともに、溶接リング8を環
状溝3にロウ付けして製造していた。しかしながら、こ
のような製造方法では、気密端子を製造するためのガラ
ス封着用加熱工程と、銀ロゥ付けのためのロウ付け用加
熱工程とが必要になり、工程数が増大して加工費が高く
なるのみならず、ガラス封着用加熱工程とロウ付け用加
熱工程とは作業温度が異なっているので、別々の加熱炉
が必要で設備費も嵩むという問題点があった。そこで、
予めアィレット5,5の表面に厚さが20仏程度の無電
解ニッケルメッキ層を形成しておき、このアィレット5
,5を透孔4,4に鉄合し、下面側からかしめ加工して
仮固定したのち、グラフアィト製の封着治具を用いて、
アィレット5,5内にガラスタブレットを挿着し、さら
にこのガラスタブレットを貫通してリード線7,7を配
置し、また環状溝3内にも同様に表面に厚さが20仏程
度の無電解ニッケルメッキ層を形成した溶接リング8を
挿入配置し、全体を加熱することにより、前記ガラスタ
ブレットを溶融して、アィレット5,5にガラス6,6
を介してリード線7,7を気密絶縁的に封着するととも
に、アィレット5,5および溶接リング8の表面の無電
解ニッケルメッキ層を溶融して、アイレット5,5およ
び溶接リング8をステム基板1にロウ付けする方法が提
案されている。
このような製造方法によれば、一回の加熱工程でガラス
封着とロウ付けとが同時に行なえるので、製造工数が著
しく削減できるとともに、設備費も安くなるという利点
を有する。
封着とロウ付けとが同時に行なえるので、製造工数が著
しく削減できるとともに、設備費も安くなるという利点
を有する。
しかしながら、このような方法によると、必然的に第3
図に示すように、アィレツト5とガラス6との封着界面
に無電解ニッケルメッキ層が溶接したリンを含むニッケ
ルロウ層9が介在されることになり、アィレット5とガ
ラス6との封着性が阻害され、気密性が劣化したり、封
着強度が弱いために耐衝撃試験でガラス6がアィレツト
5から脱落したりしやすいという新たな問題点に遭遇す
る。このような問題点を解決するためには、例えばアィ
レット5の外表面にのみ無電鱗ニッケルメッキ層を形成
することも考えられるが、部分メッキは非常に煩雑であ
り、前述の利点が相殺されてしまう。
図に示すように、アィレツト5とガラス6との封着界面
に無電解ニッケルメッキ層が溶接したリンを含むニッケ
ルロウ層9が介在されることになり、アィレット5とガ
ラス6との封着性が阻害され、気密性が劣化したり、封
着強度が弱いために耐衝撃試験でガラス6がアィレツト
5から脱落したりしやすいという新たな問題点に遭遇す
る。このような問題点を解決するためには、例えばアィ
レット5の外表面にのみ無電鱗ニッケルメッキ層を形成
することも考えられるが、部分メッキは非常に煩雑であ
り、前述の利点が相殺されてしまう。
【3’この発明の目的
従って、この発明の主な目的は、この種のァィレット内
に少なくともガラスを封着すると同時にアィレットの外
側に他の金属部材をロゥ付けする気密封着体の製造方法
において、部分メッキ法によることなく、アイレットの
内側のロウ層の厚さを十分に薄くできる気密封着体の製
造方法を提供することである。
に少なくともガラスを封着すると同時にアィレットの外
側に他の金属部材をロゥ付けする気密封着体の製造方法
において、部分メッキ法によることなく、アイレットの
内側のロウ層の厚さを十分に薄くできる気密封着体の製
造方法を提供することである。
‘4} この発明の総括的説明
この発明は、要約すると、ァィレットの内壁面に少なく
とも一つの段部を設けて全面に無電解ニッケルメッキ層
を形成し、従来と同様にガラス封着と。
とも一つの段部を設けて全面に無電解ニッケルメッキ層
を形成し、従来と同様にガラス封着と。
ウ付けと同時に実施することにより、前記無電藤ニッケ
ルメッキ層が溶融した際に、溶融したロウ材が表面張力
によって段部に凝集して残余部のロウ層の厚さが薄くな
ることを利用して、アィレツトとガラスとの封着性を改
善し、封着強度および耐衝撃性の向上を図ることを特徴
とする。{5ー 実施例この発明の上述の目的およびそ
の他の目的と特徴は、以下に図面を参照して行なう詳細
な説明から一層明らかとなろう。
ルメッキ層が溶融した際に、溶融したロウ材が表面張力
によって段部に凝集して残余部のロウ層の厚さが薄くな
ることを利用して、アィレツトとガラスとの封着性を改
善し、封着強度および耐衝撃性の向上を図ることを特徴
とする。{5ー 実施例この発明の上述の目的およびそ
の他の目的と特徴は、以下に図面を参照して行なう詳細
な説明から一層明らかとなろう。
第4図はこの発明の製造方法によって製造された第1の
実施例の半導体装置用ステムの平面図で、第5図は第4
図のV−V線に沿う縦断面図であり、さらに第6図は第
5図の要部拡大縦断面図である。
実施例の半導体装置用ステムの平面図で、第5図は第4
図のV−V線に沿う縦断面図であり、さらに第6図は第
5図の要部拡大縦断面図である。
この実施例の特徴は、鉄製のアィレット5,5と鉄製の
溶接リング8とを一体にプレス成型したアイレツト リ
ング10を用い、アイレツト5,5の下端内壁面に段部
51,51を形成したものである。他は第1図および第
2図と同様であるため、同一部分に同一参照符号を付し
て、その説明を省略する。次にその製造方法について説
明すると、まず、アィレット5,5と溶接リング8とが
一体となり、しかもァィレット5,5の下端内壁面に段
部51,51を有するアィレット リング10を製作し
、その表面に厚さが20払程度の無電鱗ニッケルメッキ
層を形成する。
溶接リング8とを一体にプレス成型したアイレツト リ
ング10を用い、アイレツト5,5の下端内壁面に段部
51,51を形成したものである。他は第1図および第
2図と同様であるため、同一部分に同一参照符号を付し
て、その説明を省略する。次にその製造方法について説
明すると、まず、アィレット5,5と溶接リング8とが
一体となり、しかもァィレット5,5の下端内壁面に段
部51,51を有するアィレット リング10を製作し
、その表面に厚さが20払程度の無電鱗ニッケルメッキ
層を形成する。
このアィレット リング10のァィレット5,5をステ
ム基板1の透孔4,4内に鉄合し、グラフアイト製の封
着拾具を用いて、アィレット5,5内に封着ガラスの微
粉末をプレス成型し競結してなるガラスタブレットを挿
入し、このガラスタブレットを貫通してリード線7,7
を挿通して、全体を中性または弱還元性雰囲気中で約1
000℃に加熱する。すると、ガラスタブレットが溶融
してアィレツト5,5にガラス6,6を介してリード線
7,7が気密絶縁的に封着されるとともに、アィレツト
リング10の表面の無電鱗ニッケルメッキ層が溶融し
たロウ材によってアィレット5,5および溶接リング8
がステム基板1に気密にロウ付けされる。ところで、ア
ィレット5,5の内壁面に段部51,51が形成されて
いると、その表面の無電鱗ニッケルメッキ層が溶融した
際、溶融ロウ材が表面張力によって段部51,51の隅
部に凝集する。このため、アィレット5,5の内壁面の
ロウ層91の厚さが外壁面のロウ層92よりも十分薄く
なり、アィレット5,5とガラス6,6との封着性が改
善されて、封着強度換言すれば耐衝撃性が向上する。な
お、この実施例のように、アィレット5,5と溶接リン
グ8とを一体にプレス成型すると、プレス成型の材料利
用率が向上するのみならず、部品点数が減少し、アィレ
ット5,5の透孔4,4への鉄合と溶接リング8との位
置決めが同時に行なえ、しかも、ステム基板1とアィレ
ツト5,5とのかしめ加工の省略も可能であるため組立
加工費も減少するで、原価低減も可能である。
ム基板1の透孔4,4内に鉄合し、グラフアイト製の封
着拾具を用いて、アィレット5,5内に封着ガラスの微
粉末をプレス成型し競結してなるガラスタブレットを挿
入し、このガラスタブレットを貫通してリード線7,7
を挿通して、全体を中性または弱還元性雰囲気中で約1
000℃に加熱する。すると、ガラスタブレットが溶融
してアィレツト5,5にガラス6,6を介してリード線
7,7が気密絶縁的に封着されるとともに、アィレツト
リング10の表面の無電鱗ニッケルメッキ層が溶融し
たロウ材によってアィレット5,5および溶接リング8
がステム基板1に気密にロウ付けされる。ところで、ア
ィレット5,5の内壁面に段部51,51が形成されて
いると、その表面の無電鱗ニッケルメッキ層が溶融した
際、溶融ロウ材が表面張力によって段部51,51の隅
部に凝集する。このため、アィレット5,5の内壁面の
ロウ層91の厚さが外壁面のロウ層92よりも十分薄く
なり、アィレット5,5とガラス6,6との封着性が改
善されて、封着強度換言すれば耐衝撃性が向上する。な
お、この実施例のように、アィレット5,5と溶接リン
グ8とを一体にプレス成型すると、プレス成型の材料利
用率が向上するのみならず、部品点数が減少し、アィレ
ット5,5の透孔4,4への鉄合と溶接リング8との位
置決めが同時に行なえ、しかも、ステム基板1とアィレ
ツト5,5とのかしめ加工の省略も可能であるため組立
加工費も減少するで、原価低減も可能である。
また、ァィレット5,5をステム基板1の透孔4,4に
舷合することによって、溶接リング8の位置決めが自動
的に行なえるので、第1図および第2図に示す溶接リン
グ8の位置決め用の環状溝3も不要になり、ステム基板
1のプレス型が簡単となり、さらに原価低減が可能であ
る。また、段部51,51は必ずしもアイレツト内壁面
と直角状のものでなくともよい。
舷合することによって、溶接リング8の位置決めが自動
的に行なえるので、第1図および第2図に示す溶接リン
グ8の位置決め用の環状溝3も不要になり、ステム基板
1のプレス型が簡単となり、さらに原価低減が可能であ
る。また、段部51,51は必ずしもアイレツト内壁面
と直角状のものでなくともよい。
次に具体的な実施例について説明する。
1 メッキ厚変動試験
第4図および第5図に示すように、アイレット5,5と
溶接リング8とが一体に成型された構成で、アィレット
5,5の外径が6.6側め、内径が3側◇で下端内壁面
に段部がなくこの発明によらないアイレツト リングと
、その下端内壁面に0.5豚の段部51,51を有する
この発明によるアイレツト リングとを用いて、内外表
面に所定厚さの無電解ニッケルメッキ層を形成し、先に
述べたと同一の方法によって半導体装置用ステムを製造
し、アイレツト5,5の内外面のロウ層91,92の厚
さを測定したところ次表の結果が得られた。
溶接リング8とが一体に成型された構成で、アィレット
5,5の外径が6.6側め、内径が3側◇で下端内壁面
に段部がなくこの発明によらないアイレツト リングと
、その下端内壁面に0.5豚の段部51,51を有する
この発明によるアイレツト リングとを用いて、内外表
面に所定厚さの無電解ニッケルメッキ層を形成し、先に
述べたと同一の方法によって半導体装置用ステムを製造
し、アイレツト5,5の内外面のロウ層91,92の厚
さを測定したところ次表の結果が得られた。
ここで、内壁面および外壁面とも初期の無電鱗ニッケル
メッキ厚に対して、封着およびロウ付け後のロウ層の厚
さが減少するのは、溶融したロウ材がアィレットの結晶
粒界に侵入する結果であり、また内壁面のロウ層の厚さ
が外壁面のロウ層より薄くなるのは、内壁面のロウ層は
溶融したガラスによって押圧され、かつアィレット5,
5とステム基板1との界面のロウ材に引き寄せられるた
めである。
メッキ厚に対して、封着およびロウ付け後のロウ層の厚
さが減少するのは、溶融したロウ材がアィレットの結晶
粒界に侵入する結果であり、また内壁面のロウ層の厚さ
が外壁面のロウ層より薄くなるのは、内壁面のロウ層は
溶融したガラスによって押圧され、かつアィレット5,
5とステム基板1との界面のロウ材に引き寄せられるた
めである。
気密性試験および耐衝撃試験
各無電鱗ニッケルメッキ層の厚さ毎に100個ずつの半
導体装置用ステムを製造し、気密性試験を行なったとこ
ろ、特に差は認められなかった。
導体装置用ステムを製造し、気密性試験を行なったとこ
ろ、特に差は認められなかった。
また、気密性試験を行なった後、リード線7の軸方向に
15夕のオモリをlmの高さから落下させて気密不良が
発生する回数をチェックし、気密不良発生率が50%を
越える回数を調べて耐衝撃性試験を行なったところ、次
表の結果が得られた。
15夕のオモリをlmの高さから落下させて気密不良が
発生する回数をチェックし、気密不良発生率が50%を
越える回数を調べて耐衝撃性試験を行なったところ、次
表の結果が得られた。
第7図はこの発明によって製造した他の実施例の半導体
袋贋用ステムの要部拡大縦断面図を示す。
袋贋用ステムの要部拡大縦断面図を示す。
この実施例の特徴は、アィレツト5,5の内壁面の高さ
方向の中心部に段部52,52を形成したものである。
この実施例の場合には、段部52,52上下両隅部で溶
融ロウ材の凝集が起り、アィレツト5,5の内壁面のロ
ウ層91の厚さがさらに薄くなり、より優れた効果が得
られる。第8図はこの発明によって製造されたさらに他
の実施例の半導体装置用ステムの縦断面図を示す。この
実施例は第1図および第2図に示す構成のステムにこの
発明を実施したもので、第6図と同様にアィレット5,
5の下端内壁面に段部51,51を形成したものである
。なお、この実施例においても、第7図と同様にアイレ
ツト5,5の高さ方向の中央部に段部52,52を形成
してもよい。第9図はこの発明によって製造されたさら
に他の実施例の半導体装置用ステムの平面図を示し、第
10図は第9図のX−X線に沿う縦断面図を示す。図に
おいて、11は鉄製のフランジで、長手方向の両端に放
熱フィン等への取付孔12,12と、中央部に放熱板隊
合用の丸孔13とを有する。14は銅製の放熱板で、前
記丸孔13に藤合されてロゥ付けされており、偏心した
位置にアィレット隊合用の透孔15,15を有する。
方向の中心部に段部52,52を形成したものである。
この実施例の場合には、段部52,52上下両隅部で溶
融ロウ材の凝集が起り、アィレツト5,5の内壁面のロ
ウ層91の厚さがさらに薄くなり、より優れた効果が得
られる。第8図はこの発明によって製造されたさらに他
の実施例の半導体装置用ステムの縦断面図を示す。この
実施例は第1図および第2図に示す構成のステムにこの
発明を実施したもので、第6図と同様にアィレット5,
5の下端内壁面に段部51,51を形成したものである
。なお、この実施例においても、第7図と同様にアイレ
ツト5,5の高さ方向の中央部に段部52,52を形成
してもよい。第9図はこの発明によって製造されたさら
に他の実施例の半導体装置用ステムの平面図を示し、第
10図は第9図のX−X線に沿う縦断面図を示す。図に
おいて、11は鉄製のフランジで、長手方向の両端に放
熱フィン等への取付孔12,12と、中央部に放熱板隊
合用の丸孔13とを有する。14は銅製の放熱板で、前
記丸孔13に藤合されてロゥ付けされており、偏心した
位置にアィレット隊合用の透孔15,15を有する。
16,16は前記透孔15,15に競合されてロウ付け
されている鉄製のアィレツトで、このアイレット16,
16内にガラス17,17を介してリード線18,18
が気密絶縁的に封着されている。
されている鉄製のアィレツトで、このアイレット16,
16内にガラス17,17を介してリード線18,18
が気密絶縁的に封着されている。
ここで、アィレット16,16の下端内壁面には、第5
図と同様に段部51,51が形成されている。次に、そ
の製造方法について説明する。
図と同様に段部51,51が形成されている。次に、そ
の製造方法について説明する。
まず、フランジ11およびアィレット16,16の表面
に厚さが20仏程度の無電鮫ニッケルメッキ層を形成し
、フランジー1の丸孔13に放熱板14を鉄合し、また
放熱板14の透孔15,15にアィレット16,16を
接合し、それぞれの鉄合部分をかしめ加工して仮固定し
たのち、グラフアイト製の封着袷具を用いて、アイレツ
ト16,16内にガラスタブレットを挿入し、ガラスタ
ブレットにリード線18,18を挿通して、前述と同一
条件で加熱する。すると、ガラスタブレットが溶融して
アイレツト16,16にガラス17,17を介してリー
ド線18,18が気密絶縁的に封着されるとともに、フ
ランジ11およびアイレツト16,16の表面の無電鱗
ニッケルメッキ層が溶融したリンを含むニッケルロウに
よって、フランジ量1と放熱板14とアィレット16,
16とが一体にロウ付けされる。この実施例においても
段部51,51が溶融したロウ材を凝集せしめることに
よって、前記と同様の効果が得られる。なお、上記実施
例はいずれも半導体装置用ステムについて説明したが、
他の気密封着体の製造にも適用できるものであり、特に
アィレット内にリード線を有しない透明ガラス板を気密
封着する気密窓等の製造にも適用できるものである。
に厚さが20仏程度の無電鮫ニッケルメッキ層を形成し
、フランジー1の丸孔13に放熱板14を鉄合し、また
放熱板14の透孔15,15にアィレット16,16を
接合し、それぞれの鉄合部分をかしめ加工して仮固定し
たのち、グラフアイト製の封着袷具を用いて、アイレツ
ト16,16内にガラスタブレットを挿入し、ガラスタ
ブレットにリード線18,18を挿通して、前述と同一
条件で加熱する。すると、ガラスタブレットが溶融して
アイレツト16,16にガラス17,17を介してリー
ド線18,18が気密絶縁的に封着されるとともに、フ
ランジ11およびアイレツト16,16の表面の無電鱗
ニッケルメッキ層が溶融したリンを含むニッケルロウに
よって、フランジ量1と放熱板14とアィレット16,
16とが一体にロウ付けされる。この実施例においても
段部51,51が溶融したロウ材を凝集せしめることに
よって、前記と同様の効果が得られる。なお、上記実施
例はいずれも半導体装置用ステムについて説明したが、
他の気密封着体の製造にも適用できるものであり、特に
アィレット内にリード線を有しない透明ガラス板を気密
封着する気密窓等の製造にも適用できるものである。
‘6’まとめ
この発明は以上のように、アィレツトの内壁面は少なく
とも一つの段部を形成し、表面に無電解ニッケルメッキ
層を形成して、アイレツト内に少なくともガラスを配置
し、アィレットの外側に他の金属部材を配置して加熱す
ることにより、アィレット内にガラスを封着すると同時
に、アィレツトの外側に他の金属部材をロウ付けするも
のであるから、前記無電解ニッケルメッキ層が溶融した
ロウ材が、段部の隅部に凝集されて、アィレツト内壁面
のロゥ層の厚さが薄くなるので、アィレットとガラスと
の封着強度が向上し、アイレツトとガラス間の耐衝撃性
が向上する。
とも一つの段部を形成し、表面に無電解ニッケルメッキ
層を形成して、アイレツト内に少なくともガラスを配置
し、アィレットの外側に他の金属部材を配置して加熱す
ることにより、アィレット内にガラスを封着すると同時
に、アィレツトの外側に他の金属部材をロウ付けするも
のであるから、前記無電解ニッケルメッキ層が溶融した
ロウ材が、段部の隅部に凝集されて、アィレツト内壁面
のロゥ層の厚さが薄くなるので、アィレットとガラスと
の封着強度が向上し、アイレツトとガラス間の耐衝撃性
が向上する。
また、アィレツトの外表面のみに部分メッキを施すもの
に比し、非常に作業性が良く、大量生産に好適するとい
う効果を奏する。
に比し、非常に作業性が良く、大量生産に好適するとい
う効果を奏する。
第1図は従来の半導体装置用ステムの平面図、第2図は
第1図のローロ線に沿う縦断面図、第3図はこの発明の
背景となる製造方法によって製造された半導体装置用ス
テムの要部拡大縦断面図、第4図はこの発明によって製
造された一実施例の半導体装置用ステムの平面図、第5
図は第4図のV−V線に沿う縦断面図、第6図は第5図
の姿部拡大縦断面図、第7図はこの発明によって製造さ
れた他の実施例の半導体装置用ステムの要部拡大縦断面
図、第8図はこの発明によって製造されたさらに他の半
導体装置用ステムの縦断面図、第9図はこの発明によっ
て製造されたさらに別の実施例の半導体装置用ステムの
平面図、第10図は第9図のX−X線に沿う縦断面図で
ある。 1,14…・・・他の金属部材(ステム基板、放熱板)
、5,16……アィレツト、51,52……段部、6,
17・・・…勢着ガラス、7,18…・・・リード線、
8…・・・溶接リング、91,92・…・・ロウ層、1
0……アィレツト・リング、11……フランジ。 弟′1幻 静zl一軒 弟3図 第4図 弟タ図 第ら図 紫7図 第8図 斧q図 弟′川幻
第1図のローロ線に沿う縦断面図、第3図はこの発明の
背景となる製造方法によって製造された半導体装置用ス
テムの要部拡大縦断面図、第4図はこの発明によって製
造された一実施例の半導体装置用ステムの平面図、第5
図は第4図のV−V線に沿う縦断面図、第6図は第5図
の姿部拡大縦断面図、第7図はこの発明によって製造さ
れた他の実施例の半導体装置用ステムの要部拡大縦断面
図、第8図はこの発明によって製造されたさらに他の半
導体装置用ステムの縦断面図、第9図はこの発明によっ
て製造されたさらに別の実施例の半導体装置用ステムの
平面図、第10図は第9図のX−X線に沿う縦断面図で
ある。 1,14…・・・他の金属部材(ステム基板、放熱板)
、5,16……アィレツト、51,52……段部、6,
17・・・…勢着ガラス、7,18…・・・リード線、
8…・・・溶接リング、91,92・…・・ロウ層、1
0……アィレツト・リング、11……フランジ。 弟′1幻 静zl一軒 弟3図 第4図 弟タ図 第ら図 紫7図 第8図 斧q図 弟′川幻
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 内壁面に少なくとも一つの段部を有するアイレツト
の表面に無電解ニツケルメツキ層を形成し、このアイレ
ツト内に少なくとも封着ガラスを配置するとともに、ア
イレツトの外側に他の金属部材を配置して加熱すること
により、前記封着ガラスを溶融させてアイレツトに封着
すると同時に、前記無電解ニツケルメツキ層を溶融させ
てアイレツトと他の金属部材とをロウ付けすることを特
徴とする気密封着体の製造方法。 2 前記封着ガラスがガラス微粉末をプレス成型したガ
ラスタブレツトであり、このガラスタブレツトを貫通し
てさらにリード線が配置される、特許請求の範囲第1項
に記載の気密封着体の製造方法。 3 前記アイレツトが鉄製で、前記他の金属部材が銅製
のステム基板であり、このステム基板にさらに鉄製の溶
接リングがロウ付けされる、特許請求の範囲第1項また
は第2項に記載の気密封着体の製造方法。 4 前記アイレツトと溶接リングとを一体に形成する、
特許請求の範囲第3項に記載の気密封着体の製造方法。 5 前記他の金属部材が銅製の放熱板であり、この放熱
板の外側にさらに鉄製のフランジがロウ付けされる、特
許請求の範囲第1項または第2項に記載の気密封着体の
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54078543A JPS606542B2 (ja) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | 気密封着体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP54078543A JPS606542B2 (ja) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | 気密封着体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS562660A JPS562660A (en) | 1981-01-12 |
| JPS606542B2 true JPS606542B2 (ja) | 1985-02-19 |
Family
ID=13664821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54078543A Expired JPS606542B2 (ja) | 1979-06-21 | 1979-06-21 | 気密封着体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS606542B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS614653U (ja) * | 1984-06-16 | 1986-01-11 | 弘憲 松吉 | 浴槽 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59117156U (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-07 | サンケン電気株式会社 | 絶縁物封止半導体装置 |
| CN108129037B (zh) * | 2017-12-25 | 2021-05-07 | 西安赛尔电子材料科技有限公司 | 一种钼-玻璃密封绝缘子封接方法 |
-
1979
- 1979-06-21 JP JP54078543A patent/JPS606542B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS614653U (ja) * | 1984-06-16 | 1986-01-11 | 弘憲 松吉 | 浴槽 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS562660A (en) | 1981-01-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO1995019644A1 (en) | Chamfered electronic package component | |
| EP0178170B1 (en) | Semiconductor device having a bonding wire and method for manufacturing it | |
| US3941916A (en) | Electronic circuit package and method of brazing | |
| JPS606542B2 (ja) | 気密封着体の製造方法 | |
| US3535099A (en) | Method of forming a hermetic enclosure for electronic devices | |
| JP3724028B2 (ja) | 金属製の容器体およびパッケージ | |
| JP2011222823A (ja) | 回路装置およびその製造方法 | |
| JPH065726A (ja) | 樹脂製中空パッケージを用いた半導体装置 | |
| JP3070929B2 (ja) | パッケージの組立方法とパッケージ | |
| CN115633477B (zh) | 一种具有低玻璃绝缘子应力的封装封盖及其应用和制备 | |
| JP2002261198A (ja) | 自動車用電子回路装置及びそのパッケージ製造方法 | |
| JPS5817644A (ja) | ステム | |
| JPS6038289Y2 (ja) | 気密端子 | |
| JPS59211252A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS5856428A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS5842764A (ja) | メツキ方法 | |
| JPS6317256Y2 (ja) | ||
| JP4688647B2 (ja) | 半導体装置とその製造方法 | |
| JPS6225899Y2 (ja) | ||
| JPH0629049A (ja) | 導線保持体 | |
| CN117718696A (zh) | 载人航天飞船模拟电路用管座封装外壳及其钎焊工艺 | |
| JPH0157063B2 (ja) | ||
| JPH0160947B2 (ja) | ||
| JPH0831480A (ja) | 気密端子 | |
| JPS6134960A (ja) | 半導体装置用ステムの製造方法 |