JPS6068543A - 原子質量の測定システム - Google Patents
原子質量の測定システムInfo
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- JPS6068543A JPS6068543A JP59026192A JP2619284A JPS6068543A JP S6068543 A JPS6068543 A JP S6068543A JP 59026192 A JP59026192 A JP 59026192A JP 2619284 A JP2619284 A JP 2619284A JP S6068543 A JPS6068543 A JP S6068543A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/317—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
- H01J37/3171—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation for ion implantation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は一般にはイオン注入装置、より限定して酉えは
、この棟の装置において用いられるべく選択されたイオ
ンビームの原子質量(atomic mass)を測定
するンステトに関する。
、この棟の装置において用いられるべく選択されたイオ
ンビームの原子質量(atomic mass)を測定
するンステトに関する。
半導体+4t’X片の製造に用いられるイオン注入(i
mplantation )装置においては、イオン分
離マグネットによって、選択されている粒子の質量を測
定し表示することができるならば有用である〇イオン分
離マグネットにおけるイオンビームのエネルギ(ビーム
エネルギ)は、通常のイオン注入装置においてならば、
測定されているシステムパラメータであり、分離された
粒子の質rtは、AMU=KB2/Vの式でめられる。
mplantation )装置においては、イオン分
離マグネットによって、選択されている粒子の質量を測
定し表示することができるならば有用である〇イオン分
離マグネットにおけるイオンビームのエネルギ(ビーム
エネルギ)は、通常のイオン注入装置においてならば、
測定されているシステムパラメータであり、分離された
粒子の質rtは、AMU=KB2/Vの式でめられる。
ただし、A、1vlLJ=原子質量ユニット、B−イオ
ン分離マグネットにおける磁界の強さ、■=ビームエネ
ルギ、そして1(はイオン分離マグネットの物理的特性
およびイオンの電荷に関係する比例定数である。
ン分離マグネットにおける磁界の強さ、■=ビームエネ
ルギ、そして1(はイオン分離マグネットの物理的特性
およびイオンの電荷に関係する比例定数である。
したがってAMυの測定を完結させるために必要な測定
は、磁界の強さの測定である。磁界の強さの測定を行い
うる検出の仕掛けや電気回路部分は、市販品の中でめら
れるが、これらは十分な精度をもたない0すなわち、イ
オン注入装置に応用する場合に必要とされる精度に対し
、その面線性か十分でない。
は、磁界の強さの測定である。磁界の強さの測定を行い
うる検出の仕掛けや電気回路部分は、市販品の中でめら
れるが、これらは十分な精度をもたない0すなわち、イ
オン注入装置に応用する場合に必要とされる精度に対し
、その面線性か十分でない。
それ故に本発明の目的は、イオン注入装置において発生
され分離されたイオンの質量を正確に測定する方法を提
供すること、より限定して言えば、イオンの質量を、前
記の関係を用いて算出するために必要な情報としての、
イオン注入装置のイオン分Q −’ 7” ;r、ノ1
−のfi文界の強さの、正確で信頼性ある4111定力
1去を提供−4−ることにある。
され分離されたイオンの質量を正確に測定する方法を提
供すること、より限定して言えば、イオンの質量を、前
記の関係を用いて算出するために必要な情報としての、
イオン注入装置のイオン分Q −’ 7” ;r、ノ1
−のfi文界の強さの、正確で信頼性ある4111定力
1去を提供−4−ることにある。
本%t jJ]のそのjl12の目的や利点については
、添付の図面を用いて説明する以降の記述から明らかと
なく)う。
、添付の図面を用いて説明する以降の記述から明らかと
なく)う。
41図にイオン注入装置10を示す。イオンは、イオン
抽出エイ、ルキの供給部]3からエネルギ供給をう(J
イこ、イオノ抽出の電極11によって、イオン発生;原
12から抽出される。抽出されたイオンは、加速、威圧
が印加されている分離前加速のカラム15かある場合、
これによって加速される0次い]ニイオノは、イオン分
離のマグオパノト14によって、1L路を変えられた後
、そのイオンビーム・に追加的工不ルキを付与するため
の分離後加速のカラ4/・16を通過せしめられる。イ
オンビーム17は・ヒれか1っ1−ノス糸]8を通り、
直列に並んだスキャンプレー ト20.21を経て、終
端部22に至るか、この終端部にはり一ケノト薄片24
が、支1寺7ノノバー 26に収められて取付けられて
いる。
抽出エイ、ルキの供給部]3からエネルギ供給をう(J
イこ、イオノ抽出の電極11によって、イオン発生;原
12から抽出される。抽出されたイオンは、加速、威圧
が印加されている分離前加速のカラム15かある場合、
これによって加速される0次い]ニイオノは、イオン分
離のマグオパノト14によって、1L路を変えられた後
、そのイオンビーム・に追加的工不ルキを付与するため
の分離後加速のカラ4/・16を通過せしめられる。イ
オンビーム17は・ヒれか1っ1−ノス糸]8を通り、
直列に並んだスキャンプレー ト20.21を経て、終
端部22に至るか、この終端部にはり一ケノト薄片24
が、支1寺7ノノバー 26に収められて取付けられて
いる。
ここで断っておきたいが、通常のイオン注入装置では、
分離前加速、分離後加速のいずれか】−〕あるいは両者
が行われている。分離前加速か行われている場合、イオ
ン分離マクネットにおけるヒームエネルギ■は、イオン
抽出電圧と分離油加速電圧との和を測定することによっ
てめられる。分離前加速が行われない場合には、ヒーム
エ不ルキ■かイオン抽出′亀圧を測定することによりめ
られる。分離後加速が行われるか否かによって、クーゲ
ット薄片24におけるヒームエネルギが影響されるが、
イオン分離マクネット14におけるヒームエネルギは影
響をうけない。す、降の説明においては便宜上、分離後
加速か行われていて、分離前加速は行われていないもの
きする。イオン注入装置10自体については広く知られ
ている故、ここてなお詳しく述べることはさし控える。
分離前加速、分離後加速のいずれか】−〕あるいは両者
が行われている。分離前加速か行われている場合、イオ
ン分離マクネットにおけるヒームエネルギ■は、イオン
抽出電圧と分離油加速電圧との和を測定することによっ
てめられる。分離前加速が行われない場合には、ヒーム
エ不ルキ■かイオン抽出′亀圧を測定することによりめ
られる。分離後加速が行われるか否かによって、クーゲ
ット薄片24におけるヒームエネルギが影響されるが、
イオン分離マクネット14におけるヒームエネルギは影
響をうけない。す、降の説明においては便宜上、分離後
加速か行われていて、分離前加速は行われていないもの
きする。イオン注入装置10自体については広く知られ
ている故、ここてなお詳しく述べることはさし控える。
第2図に、イオン注入装置10のイオノヒート17の中
の粒子の原子質量を測定するシステムのブロックダイヤ
クラムを示す。このシステムは本質的に、イオン分離マ
クネット14における磁界の強さを表わす信号を発生す
る2jのザブシステム281.イオン注入システムにお
けるヒームエネルギを表わす信号を発生する第2のサブ
システム30、および、これら2つの信号を組合わせて
、原子質量ユニットが直読できるようにする第3のザブ
システム32から成っている。
の粒子の原子質量を測定するシステムのブロックダイヤ
クラムを示す。このシステムは本質的に、イオン分離マ
クネット14における磁界の強さを表わす信号を発生す
る2jのザブシステム281.イオン注入システムにお
けるヒームエネルギを表わす信号を発生する第2のサブ
システム30、および、これら2つの信号を組合わせて
、原子質量ユニットが直読できるようにする第3のザブ
システム32から成っている。
イオン分離マク不ソ1−14における磁界の強さは、回
転コ・fル式のカラスメーター34で測定される。ずな
わぢ、発情コイル36が、イオン分離マクネットの磁界
の中で回転され、Bとωの積に比19すし/こ電圧を出
力する。たた゛し7ここで、Bは磁界の強さ、ωは屯源
′屯圧の角周波数である。
転コ・fル式のカラスメーター34で測定される。ずな
わぢ、発情コイル36が、イオン分離マクネットの磁界
の中で回転され、Bとωの積に比19すし/こ電圧を出
力する。たた゛し7ここで、Bは磁界の強さ、ωは屯源
′屯圧の角周波数である。
4二述から重要なこととして知られるのは、ガウス、メ
ーターの圧力か、コイルの回転角速度の変動に敏感に影
やゼされ4〕ことである。その結果として、原子質1し
ユニットの?)i’i定の場合、必要な精度をもつA−
市販のカラスメーターは、安定化された周波数の市び1
1で駆動される同期電動機を用いている。
ーターの圧力か、コイルの回転角速度の変動に敏感に影
やゼされ4〕ことである。その結果として、原子質1し
ユニットの?)i’i定の場合、必要な精度をもつA−
市販のカラスメーターは、安定化された周波数の市び1
1で駆動される同期電動機を用いている。
しかしながら、ここで問題にしている利用分野では、実
用的でないと考えられる高価で嵩の大きい計測装置が必
要とされている0″それ故tこここでは、商用電源で駆
動される同期電動機38を用いること、すなわちコイル
36を商用′−源局周波数決まってしまう速度で回転さ
せることさした。米国における商用電源周波数はかなり
安定しているが、短時間内での変動が、1%のオーター
に達することもあり、それによって実際の測定において
41−1する誤差は、容認できるものでない。さらに、
磁界の強さの変動や電動機における摩擦による回転角度
の変動(遅れ/進み)に起因して、出力′電圧の波形に
おいて、ωの高調波が含まれて来ることが考えられる〇 回転コイル36のような発信器の出力は一般に、全波整
流ののちp波され、J3の平均値に比例する直流電圧佐
が得られているか、実際問題として、ヂ波された直流電
圧ζこは、ωの高調波や低周波分(5ub−mul t
iples )を含むリップル、回路の、ノイズ、およ
び、平常時60Hzの商用′醒源周波数の変動の結果が
含まれて来る故、測定されたBの値は、それがθノのザ
イクルの中のどの時点てとられたかに従って変ることと
なる。
用的でないと考えられる高価で嵩の大きい計測装置が必
要とされている0″それ故tこここでは、商用電源で駆
動される同期電動機38を用いること、すなわちコイル
36を商用′−源局周波数決まってしまう速度で回転さ
せることさした。米国における商用電源周波数はかなり
安定しているが、短時間内での変動が、1%のオーター
に達することもあり、それによって実際の測定において
41−1する誤差は、容認できるものでない。さらに、
磁界の強さの変動や電動機における摩擦による回転角度
の変動(遅れ/進み)に起因して、出力′電圧の波形に
おいて、ωの高調波が含まれて来ることが考えられる〇 回転コイル36のような発信器の出力は一般に、全波整
流ののちp波され、J3の平均値に比例する直流電圧佐
が得られているか、実際問題として、ヂ波された直流電
圧ζこは、ωの高調波や低周波分(5ub−mul t
iples )を含むリップル、回路の、ノイズ、およ
び、平常時60Hzの商用′醒源周波数の変動の結果が
含まれて来る故、測定されたBの値は、それがθノのザ
イクルの中のどの時点てとられたかに従って変ることと
なる。
本発明によると回転コイルの出力は、電圧/周波数の変
換器によって、仏と瞬時的に比例関係にある周波数に変
換される。
換器によって、仏と瞬時的に比例関係にある周波数に変
換される。
第3図で示すように、刀の平均値はBの平均値を表わす
のではあるが、時刻tI+j2およびt3でとられた測
定値は、それぞれに異なるはずである。
のではあるが、時刻tI+j2およびt3でとられた測
定値は、それぞれに異なるはずである。
しかし、もし重圧/周波数変換器によって、4が、それ
と瞬時的に比例関係にある周波数に変換され、その周波
数の一す−イクル数が、第4図に示すように、2π/
04あるいは、それの整数倍の時間にわたって計数さQ
fr−ならば、その結果、得られるカウント数は、稀の
平均値、したがってBの平均値に比例することとなる。
と瞬時的に比例関係にある周波数に変換され、その周波
数の一す−イクル数が、第4図に示すように、2π/
04あるいは、それの整数倍の時間にわたって計数さQ
fr−ならば、その結果、得られるカウント数は、稀の
平均値、したがってBの平均値に比例することとなる。
カウンターのゲートの信号継続時間が、nX2π/ω(
n=1,2.3・・)であれは、波形の中に含まれる0
)の高調波、成分のすべてが平均化(averagin
g )される0この平均化は、1=0からt=nX2π
/ωまでの時間にわたっての数値積分(mathema
tical integral )を行うことと同様で
あって、この積分値は、ωの高調波成分のすべてに対し
て0となる。それ故、カウンターのゲートの信号継続時
間を電源周波数の14ノ−イクルの整数倍とするならば
、このカウンターのケートによる仕切りの動作は、ωの
変化あるいは差違に起因する発信器出力の変動に対して
、正確な補償をすることとなる。
n=1,2.3・・)であれは、波形の中に含まれる0
)の高調波、成分のすべてが平均化(averagin
g )される0この平均化は、1=0からt=nX2π
/ωまでの時間にわたっての数値積分(mathema
tical integral )を行うことと同様で
あって、この積分値は、ωの高調波成分のすべてに対し
て0となる。それ故、カウンターのゲートの信号継続時
間を電源周波数の14ノ−イクルの整数倍とするならば
、このカウンターのケートによる仕切りの動作は、ωの
変化あるいは差違に起因する発信器出力の変動に対して
、正確な補償をすることとなる。
ガウスメーターの出力はBωに比例し、得られる累計°
のカウント数はnX2π/ωに比例することになるから
、 累計カウント数=t−(−工王)W xBω)=’13
となり、測定システムはωの変動や差違に対して、正確
に補償され、ω/2πが50H,z 、 601−1z
、あるいはさらに異った周波数であっても、同じBの
測定値を生ずることとなる。
のカウント数はnX2π/ωに比例することになるから
、 累計カウント数=t−(−工王)W xBω)=’13
となり、測定システムはωの変動や差違に対して、正確
に補償され、ω/2πが50H,z 、 601−1z
、あるいはさらに異った周波数であっても、同じBの
測定値を生ずることとなる。
さらに、この測定システムでは、ωあるいはその高調波
と同期した周期的ノイズが排除され、また、非同期のノ
イズも、カウンターのケートの持続時間を長くすればす
るほど、効果的に排除される。計数式あるいは積分式の
データ変換による周期的ノイズ除去の機能については、
よく知られているが、そのような測定システムが、回転
コイルの発信器36の同期電動機による駆動において用
いられる場合に(ま、ノイズ除去が行われると同時ζこ
、コイルの回転速度の変動に対する補償も行われろ。さ
らにある利点は、結果としてまるデータがディジタルで
ある故に、AMUを算出するための馴算が容易であるこ
とにある。
と同期した周期的ノイズが排除され、また、非同期のノ
イズも、カウンターのケートの持続時間を長くすればす
るほど、効果的に排除される。計数式あるいは積分式の
データ変換による周期的ノイズ除去の機能については、
よく知られているが、そのような測定システムが、回転
コイルの発信器36の同期電動機による駆動において用
いられる場合に(ま、ノイズ除去が行われると同時ζこ
、コイルの回転速度の変動に対する補償も行われろ。さ
らにある利点は、結果としてまるデータがディジタルで
ある故に、AMUを算出するための馴算が容易であるこ
とにある。
犯2図は上述の概念に基づいて、AIIJUをめるため
の測定システムを示す。
の測定システムを示す。
回転コ・fル式のガウスメーター34の発信部36か、
イオン分離マクネット]4のエアギャップの中で、同期
電動機38によって回転される0ガウスメーターからの
出力・底圧〃は、増巾器40によって増巾され、全波整
流器42で整流された後、[]−パスフ/fルクー44
によってP波される。その結果、得られる出力電圧は、
第3図に示すような形のものとなるが、それが電圧/周
波数変換器46に入れられる。
イオン分離マクネット]4のエアギャップの中で、同期
電動機38によって回転される0ガウスメーターからの
出力・底圧〃は、増巾器40によって増巾され、全波整
流器42で整流された後、[]−パスフ/fルクー44
によってP波される。その結果、得られる出力電圧は、
第3図に示すような形のものとなるが、それが電圧/周
波数変換器46に入れられる。
ffi’l 定システムの中でさらにノイズを減少させ
るために、Bを表わす周波数信号f1は、光フアイバ式
信号伝送装置の発信器50および受信器52を経て、第
1のカウンター48に伝送される。しかし、ここで断っ
ておくが、特にノイズを減少させること、あるいは電圧
の縁、切ゆ植チイ刊−ψ′とか不必要な場合は、直接結
線で伝送することもてきる。
るために、Bを表わす周波数信号f1は、光フアイバ式
信号伝送装置の発信器50および受信器52を経て、第
1のカウンター48に伝送される。しかし、ここで断っ
ておくが、特にノイズを減少させること、あるいは電圧
の縁、切ゆ植チイ刊−ψ′とか不必要な場合は、直接結
線で伝送することもてきる。
磁界強さBを表わす周波数信号f、のだめの第1のカウ
ンター48は、前述のように、電源周波数の1サイクル
の整数倍の時間にわたって、高レベル(あるいは低レベ
ル)をもつ信号によってケート開閉される。すなわち、
カウンター48におけるゲート信号は、電源周波数の信
号を電源用波数の信号発生部54の点でとり、それをデ
イハイク(分周)回路56によってnX2で除して得ら
れているので、カウンター4.8に、nX2π/ωの継
続時間をもったケート開閉信号を送り、この時間内にお
ける平均の磁界強さ13に比例した出力信号を出さしめ
る。
ンター48は、前述のように、電源周波数の1サイクル
の整数倍の時間にわたって、高レベル(あるいは低レベ
ル)をもつ信号によってケート開閉される。すなわち、
カウンター48におけるゲート信号は、電源周波数の信
号を電源用波数の信号発生部54の点でとり、それをデ
イハイク(分周)回路56によってnX2で除して得ら
れているので、カウンター4.8に、nX2π/ωの継
続時間をもったケート開閉信号を送り、この時間内にお
ける平均の磁界強さ13に比例した出力信号を出さしめ
る。
八MIJの算出は最終的には、AMIj = KB2/
Vの関係から得られるのであるから、Bを表わす信号は
、ディンクルの自乗回路58に入力される。
Vの関係から得られるのであるから、Bを表わす信号は
、ディンクルの自乗回路58に入力される。
上述の1451係式により必要であるヒームエネルギ■
の信号は、イオン注入装置のイオン抽出エネルギの供給
部60の電圧から問題なく得られる。抽出電圧を表わし
、したがってビームエネルギを表わす信号を得るために
、10KVから20KVで動作するエネルギ供給部から
の信号は、2000 :1の電圧分割回路62に入れら
れ、そこで電圧信号は5〜IOV のレンジに縮小され
、この電圧信号が、′峰H二、/周波数の変換器64に
よって周波数信号f2に変換され、そして元ファイバ式
信号伝送装置の発信器68および受信器70を経て、第
2のカウンター66に入力される。Bを表わす信号につ
いる必要がある場合に採用されるものである0周波数信
号f2のカウンター66は、時間固定のケート信号発生
器72によってゲート開閉され、ここでビームエネルギ
V+こ比例した出力信号が作られる。この信号が、Bを
表わす信号と共にディジクルの除算回路74に入力され
、ここで13/■に比例した信号が得られる。この信号
が次(ζスケールレンジの設定回路76に入力され、こ
こて式AMU = K]32/Vi、: 従−) テ、
AMUヲ直1eeテきル出力信号が得られるよう、比例
定数Kか適用され、この出力信号が、適当なディジタル
の表示装置78に入れられて、そこで表示されることに
なる。
の信号は、イオン注入装置のイオン抽出エネルギの供給
部60の電圧から問題なく得られる。抽出電圧を表わし
、したがってビームエネルギを表わす信号を得るために
、10KVから20KVで動作するエネルギ供給部から
の信号は、2000 :1の電圧分割回路62に入れら
れ、そこで電圧信号は5〜IOV のレンジに縮小され
、この電圧信号が、′峰H二、/周波数の変換器64に
よって周波数信号f2に変換され、そして元ファイバ式
信号伝送装置の発信器68および受信器70を経て、第
2のカウンター66に入力される。Bを表わす信号につ
いる必要がある場合に採用されるものである0周波数信
号f2のカウンター66は、時間固定のケート信号発生
器72によってゲート開閉され、ここでビームエネルギ
V+こ比例した出力信号が作られる。この信号が、Bを
表わす信号と共にディジクルの除算回路74に入力され
、ここで13/■に比例した信号が得られる。この信号
が次(ζスケールレンジの設定回路76に入力され、こ
こて式AMU = K]32/Vi、: 従−) テ、
AMUヲ直1eeテきル出力信号が得られるよう、比例
定数Kか適用され、この出力信号が、適当なディジタル
の表示装置78に入れられて、そこで表示されることに
なる。
第5図には本発明の前記とは異った実施態様を示す。こ
の実施態様は本質的にはε42図の実施態様と同じであ
るが、カウンター48および6G、自乗回路58、ディ
ジクル除算回路74、およびスケールレンジ設定回路7
6が、1つのマイクl」ブロセ゛ノサ80で置き換えら
れている。
の実施態様は本質的にはε42図の実施態様と同じであ
るが、カウンター48および6G、自乗回路58、ディ
ジクル除算回路74、およびスケールレンジ設定回路7
6が、1つのマイクl」ブロセ゛ノサ80で置き換えら
れている。
このマイクロプロセッサの中では、Bに対応した周波数
は、電源周波数の128サイクルの間にわたって計数さ
れる。この計数の時間l]は、ノイズの影響を最小にす
るのに十分であり、そしてAMUの値を読み出す際のお
くれが問題になる程に、長い時間ではない。Bのカウン
トはそれ故にとなる。たたしf 1ine は電源周波
数、flはBおよび電源周波数に比例する周波数である
。この電源周波数に関係しないカウノト数が、AMUの
算出に用いられる。
は、電源周波数の128サイクルの間にわたって計数さ
れる。この計数の時間l]は、ノイズの影響を最小にす
るのに十分であり、そしてAMUの値を読み出す際のお
くれが問題になる程に、長い時間ではない。Bのカウン
トはそれ故にとなる。たたしf 1ine は電源周波
数、flはBおよび電源周波数に比例する周波数である
。この電源周波数に関係しないカウノト数が、AMUの
算出に用いられる。
■1こ対応するカウント数を得るのにも、同様の方法で
、先ず電源周波数あるいはその高調波に同期したノイズ
をすべて除くことが行われる。すなわち、 となる。ただしfli。θ は電源周波数、f2は■に
比例した5周波数である。■カウントは■に比例し、そ
して電源周波数とは無関係でなければならない故、■カ
ウントに対する補正のため、既知の周波数の計数を、電
源周波数の1サイクルの整数倍の間にわたって行う。実
際」二、 を用いる0ただしf 11nθは電源周波数、fMpu
iま、それによりマイクロプロセッサが計数するとこ
ろの一定の周波数(クロック周波数)である。13とあ
るのは、計数を行う時間巾が電源周波数の13サイクル
の間にわたることを示す。この13なる値は、電源鼠波
数の測定における分解能(すなわち精度)をできるだけ
高くし、しかも扱われる数値を記憶に便利な限度内に止
めるという方針の下で決められたものであるO補正され
た、電源周波数に無関係なり力、ラントは、 13 J二×上二×亘X fMPU X訂−X K。
、先ず電源周波数あるいはその高調波に同期したノイズ
をすべて除くことが行われる。すなわち、 となる。ただしfli。θ は電源周波数、f2は■に
比例した5周波数である。■カウントは■に比例し、そ
して電源周波数とは無関係でなければならない故、■カ
ウントに対する補正のため、既知の周波数の計数を、電
源周波数の1サイクルの整数倍の間にわたって行う。実
際」二、 を用いる0ただしf 11nθは電源周波数、fMpu
iま、それによりマイクロプロセッサが計数するとこ
ろの一定の周波数(クロック周波数)である。13とあ
るのは、計数を行う時間巾が電源周波数の13サイクル
の間にわたることを示す。この13なる値は、電源鼠波
数の測定における分解能(すなわち精度)をできるだけ
高くし、しかも扱われる数値を記憶に便利な限度内に止
めるという方針の下で決められたものであるO補正され
た、電源周波数に無関係なり力、ラントは、 13 J二×上二×亘X fMPU X訂−X K。
fline fgpL113
=f2XK、。
と言1算される。ここに、K、はスケールレンジを決め
る定数で、 となるように定められている。
る定数で、 となるように定められている。
そこてAMUは、電係周波数に無関係なりカウントおよ
び、重分周波数に無関係なVカウントを用いて、 の関係から算出さ、1″′Lる。
び、重分周波数に無関係なVカウントを用いて、 の関係から算出さ、1″′Lる。
第1図はイオン注入装置の組立て概念図、第2図は第1
図に示す形式の装置において発生され分−11されンγ
イオンの質量を屓1)定するシステムのブロッククイア
クラム、第3図は本発明によるガウスメー ターの出力
電圧の時間的変化を示すクラ7、様ニおけるブロックダ
イアダラムである。 10:イオン注入装置(全体) 12:イオン発生源 13:イオン抽出エネルギ・供給部 14:イオン分離マクネット 36:発信コイル 58二自乗回路 60:イオン抽出エネルギ供給部 62 : 2000: 1電圧分割回路64:電圧/周
波数変換器 74:除算回路 76:スケールレンジ設定回路 78:デイシタル表示装置 80:マイクログロセソザ ’%許出出8人 イートン コーポレーンヨノ代 理
人 若 林 忠 手 続 補 正 書 (自発) ■、小事件表示 昭和59年特許願 第26192号2
、発明の名称 原子質量の測定システム 3、補正をする者 事件との関係 出願人 イートン コーポレーション 4、代理人 5、補正の対象 図面 手 続 補 正 書(方 式) %式% 1、事件の表示 昭和59年特許願 第26192号2
、発明の名称 原子質量の測定システム 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 イートン コーポレーション 4、代理人 住所 東京都港区赤坂!丁目9番2o号第16興和ビル
8階 6補正の対象 明細書の「図面の簡単な説明」の欄。 7補正の内容 ■)明細書の第19頁末行目の次に下記の文章を加入す
る。 「第4図は時間でライン電圧の変化を説明するグラフ、
」
図に示す形式の装置において発生され分−11されンγ
イオンの質量を屓1)定するシステムのブロッククイア
クラム、第3図は本発明によるガウスメー ターの出力
電圧の時間的変化を示すクラ7、様ニおけるブロックダ
イアダラムである。 10:イオン注入装置(全体) 12:イオン発生源 13:イオン抽出エネルギ・供給部 14:イオン分離マクネット 36:発信コイル 58二自乗回路 60:イオン抽出エネルギ供給部 62 : 2000: 1電圧分割回路64:電圧/周
波数変換器 74:除算回路 76:スケールレンジ設定回路 78:デイシタル表示装置 80:マイクログロセソザ ’%許出出8人 イートン コーポレーンヨノ代 理
人 若 林 忠 手 続 補 正 書 (自発) ■、小事件表示 昭和59年特許願 第26192号2
、発明の名称 原子質量の測定システム 3、補正をする者 事件との関係 出願人 イートン コーポレーション 4、代理人 5、補正の対象 図面 手 続 補 正 書(方 式) %式% 1、事件の表示 昭和59年特許願 第26192号2
、発明の名称 原子質量の測定システム 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 イートン コーポレーション 4、代理人 住所 東京都港区赤坂!丁目9番2o号第16興和ビル
8階 6補正の対象 明細書の「図面の簡単な説明」の欄。 7補正の内容 ■)明細書の第19頁末行目の次に下記の文章を加入す
る。 「第4図は時間でライン電圧の変化を説明するグラフ、
」
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 〕)イオン抽出エネルギ供給部(13)、イオン発生源
(12)、このイオン発生源から発生されるイオンの中
から注入のためにある種のイオンを選択することができ
るようなイオン分離マグネット(14)、および、この
イオン分離マグネットにおける磁界の強さに比例した第
1の電気信号を発生させるための回転コイル(36)を
包含するイオン注入装置(10)であって、イオン分離
マグネットにおけるビームエネルギに比例した第2の電
気信号を発生させる装置(60,62゜64)、上記5
A1および第2の電気信号から選択された種唄のイオン
の原子質量をめるための計算を遂行する計算装置(58
,74,,76,80)、および請求められた原子質量
を目視で読みとるための表示装置(78)を有すること
を特徴とするイオン注入装置。 2)前記回転コイル(36)が商用交流成分を用いる同
期電動機(38)で駆動されること、および、前記第1
の電気信号を前記イオン分離マクネットの磁界の強さお
よび電源周波数に比例した第1の周波数信号に変換する
装置(46)を包含することを特徴とする特許請求の範
囲第1項に記載の装置。 3)前記第1の周波数信号を電源周波数の周期に対応し
た時間にわたって計数することにより、前記イオン分離
マグネットの磁界の強さに比例し電源周波数には無関係
な第1のディジタルカウントを得て、これを前記計算装
置に送出する装置(48,54,56)を有することを
特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の装置。 4)前記第2の電気信号を第2の周波θ信号に変換する
装置(64)、および、この第2の周波数信号をゲート
で仕切って計数することによって前記イオン分離マグネ
ットにおけるヒームエ不ルギに比例した第2のディジタ
ルカウントを得てこれを前記計算装置に送出する装置(
66,72)をイjし、前記装置は、磁界の強さの自乗
をビームエネルギで除したものに比例した計算結果をイ
↓)ることにより、選択された種類のイオンの原子質量
に比例した信号を出すことができるものであることを特
徴とする特許請求の範囲第3項にδ己威の装置。 5)前記躬】および′−82の周波数信号が光フアイバ
式の1言号伝送装置(50,52,68,70)によっ
て伝送されることを特徴とする特許請求の範囲第・1項
に記載の装置0 6)前記第1の信号が入力されるマイクロプロセッサ(
80)かあって、このマイクロプロセッサはこのQ↓1
の周波数信号を予めきめられた数の電源周波数のサイク
ル数にわたって計数する装置を包含していることを特徴
とする特許請求の範囲第2項に記載の装置。 7)前記マイクロプロセッサ(80)か前記第2の周波
数信号を予めきめられた数の電源周波数のサイクル数に
わたって計数する装置およびこの周波数カウントを補正
して、前記イオン分離マグネットにおけるビームエネル
ギに比例し電源周波数には無関係な第2の周波数信号と
なす装置を包含しでいるこさを特徴とする特許請求の範
囲第6項に記載の装置。 8)前記イオン分離マクネットのエアキャップ内でコイ
ル(36)を回転させてこのイオン分離′7グ不ソトの
磁界の強さに比タリした第1の′電気信号を発生させる
こと、イオン分離マグネットにおけるビームエネルギに
比例した第2の・電気信号を発生させること、および、
磁界の強さの信号値の自乗をビームエネルギの信号値で
除し友ものに比例する信号を出さしめること、の各ステ
ップで成る、イオン注入装置(1o)のイオン分離マグ
ネッ)(14)によって選択された種類のイオンの原子
質量を測定する方法。 9)前記コイルを商用交流電源を用いる同期′1IfI
vJ機(38)で駆動すること、前記第1の電気信号を
周波数信号に変換すること、および、この周波数信号を
電源周波数の周期に対応した時間にわたって計数するこ
とにより、前記イオン分離マグネットの磁界の強さに比
例し電源周波数には無関係な信号を得ること、の各ステ
ップがあることを特徴とする特許請求の範囲第8項に記
載の方法。 10)I′l1fl記コイルを面コイル電源を用いる同
期電動機(38)で連動すること、前記第1の電気信号
を周波数信号に変換すること、および、この周波数信号
を予めきめられた数の電源周波数のサイクル数にわたっ
て計数すること、の各ステップがあることを特徴とする
特許請求の範囲第8項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/469,184 US4514637A (en) | 1983-02-24 | 1983-02-24 | Atomic mass measurement system |
| US469184 | 1983-02-24 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6068543A true JPS6068543A (ja) | 1985-04-19 |
Family
ID=23862788
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59026192A Pending JPS6068543A (ja) | 1983-02-24 | 1984-02-16 | 原子質量の測定システム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4514637A (ja) |
| EP (1) | EP0120576A3 (ja) |
| JP (1) | JPS6068543A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0668219U (ja) * | 1993-02-26 | 1994-09-22 | スタンレー電気株式会社 | 車両用部品の蓋状部の紛失防止構造 |
| JP2023501895A (ja) * | 2019-10-25 | 2023-01-20 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 絶縁されたライナック共振器ピックアップ回路 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4700077A (en) * | 1986-03-05 | 1987-10-13 | Eaton Corporation | Ion beam implanter control system |
| US4761559A (en) * | 1986-09-24 | 1988-08-02 | Eaton Corporation | Ion beam implantation display method and apparatus |
| KR100189995B1 (ko) * | 1995-12-22 | 1999-09-01 | 윤종용 | 이온 주입장치 및 이를 이용한 이온주입방법 |
| US5811823A (en) * | 1996-02-16 | 1998-09-22 | Eaton Corporation | Control mechanisms for dosimetry control in ion implantation systems |
| US6661017B1 (en) * | 2002-05-29 | 2003-12-09 | Ibis Technology Corporation | Ion implantation system having an energy probe |
| RU2256963C2 (ru) * | 2003-06-02 | 2005-07-20 | Федеральное государственное унитарное предприятие "Сибирский химический комбинат" Министерства Российской Федерации по атомной энергии | Способ контроля массовой доли изотопа уран-235 в газовой фазе гексафторида урана и система измерения для его реализации |
| RU2330308C1 (ru) * | 2006-11-03 | 2008-07-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "УРАЛЬСКИЙ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ" | Способ контроля массовой доли изотопа уран-235 в газовой фазе гексафторида урана и система измерения для его реализации |
| RU2325672C1 (ru) * | 2006-11-03 | 2008-05-27 | Федеральное государственное унитарное предприятие "УРАЛЬСКИЙ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ" | Способ контроля массовой доли изотопа уран-235 в газовой фазе гексафторида урана и система измерения для его реализации |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2964627A (en) * | 1957-07-01 | 1960-12-13 | Trub Tauber & Co A G | Double-focussing spectrometer for electrically charged particles |
| DE1498531C3 (de) * | 1963-11-27 | 1973-11-29 | Varian Mat Gmbh, 2800 Bremen | Vorrichtung zur Bestimmung der Massenzahl aus der im Spalt des Trenn magneten eines Massenspektrometers herrschenden Feldstarke |
| GB1039003A (en) * | 1964-04-27 | 1966-08-17 | Ass Elect Ind | Improvements in or relating to the measurement of magnetic flux density |
| GB1088594A (en) * | 1964-04-29 | 1967-10-25 | Ass Elect Ind | Improvements in or relating to mass spectrometers |
| US3733601A (en) * | 1969-05-20 | 1973-05-15 | Infotronics Corp | Digital readout system for analytical measuring instruments |
| JPS5546420A (en) * | 1978-09-29 | 1980-04-01 | Hitachi Ltd | Mass spectroscope |
| US4320340A (en) * | 1979-09-13 | 1982-03-16 | Dresser Industries, Inc. | Apparatus for measuring magnetic flux density resulting from galvanic current flow in subsurface casing using a plurality of flux gates |
| GB2098793A (en) * | 1981-05-18 | 1982-11-24 | Varian Associates | Method of and apparatus for deflecting an ion beam of an ion implantater onto an ion absorbing target |
-
1983
- 1983-02-24 US US06/469,184 patent/US4514637A/en not_active Expired - Fee Related
-
1984
- 1984-02-14 EP EP84300913A patent/EP0120576A3/en not_active Withdrawn
- 1984-02-16 JP JP59026192A patent/JPS6068543A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0668219U (ja) * | 1993-02-26 | 1994-09-22 | スタンレー電気株式会社 | 車両用部品の蓋状部の紛失防止構造 |
| JP2023501895A (ja) * | 2019-10-25 | 2023-01-20 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 絶縁されたライナック共振器ピックアップ回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0120576A2 (en) | 1984-10-03 |
| US4514637A (en) | 1985-04-30 |
| EP0120576A3 (en) | 1986-08-20 |
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