JPS6068644U - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Ｉｃ試験装置

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JPS6068644U
JPS6068644U JP16050083U JP16050083U JPS6068644U JP S6068644 U JPS6068644 U JP S6068644U JP 16050083 U JP16050083 U JP 16050083U JP 16050083 U JP16050083 U JP 16050083U JP S6068644 U JPS6068644 U JP S6068644U
Authority
JP
Japan
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test equipment
endless mechanism
section
straight
endless
Prior art date
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Pending
Application number
JP16050083U
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English (en)
Inventor
岩永　雄司
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来のＩＣ試験装置におけるＩＣ通路の構成を
説明するための正面図、第２図はこの考案によ６ＩＣ試
験装置の一実施例を説明するための正面図、第３図及び
第４図はＩＣ収納部の具体的な構造を説明するための側
面図である。 １・・・・・・ＩＣ試験装置、２・・・・・・供給側マ
ガジン、３Ａ・・・・・・未試験ＩＣ，３Ｂ・・・・・
・試験完了ＩＣ，４・・・・・・受側マガジン、８・・
・・・・試験部、９・・・・・・ＩＣ分類機構、１１・
・・・・・エンドレス機構、ｌｌａ・・・・・・上側直
線部、ｌｌｂ・・・・・・下側直線部、１２・・・・・
・ＩＣ収納部。 １７−　　［−１″ ＋　　＋　　　ＩＩ　　ＩＩ　　ＩＩ　　ｌ　　　ｌ−
４？２　図

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ　直線部分を持つように架設されたエンドレス機構と
    、 Ｂ　このエンドレス機構に取付けられた複数のＩＣ収納
    部と、 Ｃ上記エンドレス機構の一方の直線部分に位置するＩＣ
    収納部にＩＣを供給するＩＣ流通路と、 Ｄ　上記エンドレス機構の他方の直線部分に位置するＩ
    Ｃ収納部からＩＣを受は取る複数の受側マガジンと、 を具備して成るＩＣ試験装置。　・
JP16050083U 1983-10-17 1983-10-17 Ｉｃ試験装置 Pending JPS6068644U (ja)

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JP16050083U JPS6068644U (ja) 1983-10-17 1983-10-17 Ｉｃ試験装置

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JP16050083U JPS6068644U (ja) 1983-10-17 1983-10-17 Ｉｃ試験装置

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JPS6068644U true JPS6068644U (ja) 1985-05-15

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ID=30353000

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JP16050083U Pending JPS6068644U (ja) 1983-10-17 1983-10-17 Ｉｃ試験装置

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4717779U (ja) * 1971-03-31 1972-10-30
JPS5714000U (ja) * 1980-06-26 1982-01-25

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4717779U (ja) * 1971-03-31 1972-10-30
JPS5714000U (ja) * 1980-06-26 1982-01-25

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